propriétés optiques de cavité micro-disques à base de nitrures d'éléments iii
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Propriétés optiques de micro-disques à base de nitrures d’éléments III
Stéphane Mattei
16 mars 2007
Directeur du projet :Prof. Nicolas Grandjean
Assistants:Dr. Raphaël ButtéDobri Simeonov
Plan de la présentation
• Intérêt et caractéristiques des nitrures d’éléments III
• Intérêt et caractéristiques des structures micro-disques
• Modes de galerie
• Fabrication des micro-disques
• Mesures optiques
• Simulations numériques
Nitrures d’éléments III – Micro-disques – Modes de galerie – Fabrication – Mesures optiques – Simulations - Conclusion
Intérêt et caractéristiques des nitrures d’éléments III
• Structure cristalline wurtzite (stable)• Stabilité et solidité mécanique• Gravure chimique possible par la
face azote• Polarisation spontanée• Polarisation piézo-électrique
• (Ga, Al, In)N• Forte utilisation en optoélectronique• SC directs dont les composés
couvrent une large gamme de bandes interdites
• Puits quantiques InGaN/GaN• Effet Stark• Décalage de Stokes
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Intérêt et caractéristiques des structures micro-disques
Gayral et al., APL 75(13) 1999
GaAs, diam. 3 µm
Tamboli et al.,Nature Phot., 1, 2007
GaN sur InGaN, diam. 1.2 µm
• Petit volume modal
• Concept simple
• Confinement optique élevé grâce à la séparation
entre le disque et le substrat par le pilier
• Fabricable par des méthodes de gravure
puits quantiques InGaNQ jusqu’à 3’700
puits quantiques InGaAsQ jusqu’à 2’000
boîtes quantiques InAsQ jusqu’à 12’000
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Modes de galerie ayant un facteur de qualité (Q = / élevé
Modes de galerie
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Modes de galerie «à chuchotement»• Whispering gallery modes (WGM)
• Modes acoustiques dans les galeries de structures architecturales
• Produits par le confinement latéral
• Propagation dans le bord de la structure par réflexion sur la paroi
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Modes de galerie dans les micro-disques
• Modes de galerie présents dans les micro-cavités ayant une
symétrie cylindrique (r, θ, z)
• Propagation le long du bord du disque
• Confinement 3D
• Confinement transverse par le rayon (r)
-> définit un rayon effectif
• Confinement longitudinal par la circonférence du disque (θ)
-> définit la fréquence résonnante
• Confinement en guide d’onde par la hauteur du disque (z)
-> définit l’indice effectif
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Classification des modes de galerie
diam. 1.2 µm WGM34,0
diam. 4 µm WGM92,4
diam. 1.2 µm WGM26,1
•Ordres radial et azimutal (nombre de nœuds), WGM#θ#r
•Monomode selon z
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Composante du champ électrique perpendiculaire (Ez) au plan du disque
Fabrication des micro-disques
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Croissance par épitaxie en phase vapeur aux organométalliques (EPVOM)
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Processus de gravure
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Processus de gravure
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Structure finale fabriquée
1 m
1 m0.2 m
• Diamètre supérieur
d’environ 4 µm
• Côté incliné à 45°
• Surfaces lisses
Images par microscopie électronique à balayage
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Mesures optiques
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Mesures optiques en micro-photoluminescencePompage optique par un laser argon ionisé doublé à 244 nm (5 eV) ou par laser Nd-YAG à 266 nm (4.7 eV)
Mesure par un spectromètre (monochromateur + CCD)
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Emission spontanée dans les micro-disques
Sans cavité optique Micro-disque
300 K, Puissance d’excitation ~ 200 W/cm2
Q > 4000
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Emission stimulée dans les micro-disques
Seuil d’émission laser Emission au-dessus du seuil
300 K
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Observation de l’émission par microscopie optique
0.1 MW/cm2 juste en dessousdu seuil
0.7 MW/cm2 2 MW/cm20 MW/cm2 Seuil à ~0.4 MW/cm2
augmentation de la puissance d’excitation
Disque de 4 µm sous pompage optique par le laser Nd-YAG à 266 nm
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4 m
Motif d’émission
• Emission plus importante dans le bord du disque
• Symétrie centrale
• Caractéristique des modes de galerie
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Simulations numériques
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Méthode des éléments finis
• Discrétisation de l’espace (éléments finis)
• Evolution temporelle pas à pas avec
résolution des équation de Maxwell à
chaque étape
• Liaison entre les éléments par des
conditions aux limites
• Quasi-continuité
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Méthodologie utilisée pour les simulations
Investigation des modes optiques dans la cavité micro-disque
• Positionnement dans la cavité d’une source qui fournit un pulse gaussien
• Observation des modes optiques formés après le pulse
• Détection des fréquences résonnantes par analyse harmonique
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Etude du confinement par le rayon
Calcul de l’espacement modal:
Il est important de faire la distinction Reffectif ≠ Rdisque !
Condition de résonance des modes de galerie longitudinaux:
Définition du paramètre caractérisant le confinement du mode:
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diminution lorsque la taille du disque augmente
augmentation avec l’ordre azimutal
Dépendance du rapport entre le rayon effectif et le rayon du disque
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Disque de 1.2 µm de diamètre, mode WGM34,0
Distribution de l’amplitude du champ électrique dans le disque
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Distribution de l’amplitude du champ électrique dans le disque
Disque de 1.2 µm de diamètre, mode WGM26,1
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Etude des différences entre la structure de disque et de cône
Disque Cône tronqué inversé
Considéré sans pilier
GaN
Pas de substrat dans les deux cas
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Comparaison du champ interne du disque et du cône
Diamètre supérieur 4 µm
Cône tronqué inverséDisque
Coupe parallèle à la surfaceau milieu de la couche de GaN
Coupe perpendiculaire à la surface passant par le centre
WGM22,0WGM24,0
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Cône tronqué inverséDisque
Comparaison du champ d’émission du disque et du cône
Logarithme du carré de l’amplitude
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Évolution temporelle des modes
Isolement des modes ayant un facteur de qualité élevé après la fuite des autres modes
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Modes obtenus par simulation
Cône tronqué inversé, diamètre supérieur 1.7 µm
Comparaison des modes résonnants obtenus par simulation avec un spectre expérimental
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Dispersion d’indice
La dispersion n’est pas négligeable car on travaille proche du gap de GaN
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Introduction de la dispersion d’indice
avec dispersion d’indicesans dispersion d’indice
Cône tronqué inversé, diamètre supérieur 2.1 µm
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Perspectives et conclusion
• Introduction de la dispersion
• Variation de la structure (par exemple introduction de défauts)
• Mesures optiques sur des tailles différentes et connues plus
précisément
• Fabrication de micro-disques ayant des bonnes propriétés
d’émission spontanée et stimulée
• Observation des modes de galerie dans ces structures
• Etude des modes optiques par la méthode des éléments finis
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