xafs解析の概要と応用例 -...

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  • Chiba University

    SPring-8講習会「XAFSデータ解析」 2004/8/26 Tokyo

    XAFS解析の概要と応用例

    千葉大学工学部一國 伸之

  • Chiba University

    SPring-8講習会「XAFSデータ解析」 2004/8/26 Tokyo

    XAFSとは

    入射X線 電子波

    吸収原子 散乱原子

    電子波の干渉現象によりX線吸収係数に微細構造が発生

    12200120001180011600photon energy / eV

    吸収係数

    吸収端付近:電子状態,対称性吸収端~1000 eV:散乱原子の数・種類,散乱原子との距離,          散乱原子の分布(配置)

  • Chiba University

    SPring-8講習会「XAFSデータ解析」 2004/8/26 Tokyo

    XAFSスペクトル

    12800124001200011600

    photon energy / eV

    XANES (X-ray absorption near-edge structure)

    EXAFS (Extended X-ray absorption fine structure)

    XAFS: XANES, EXAFS

    吸収係数

  • Chiba University

    SPring-8講習会「XAFSデータ解析」 2004/8/26 Tokyo

    EXAFS解析の流れ

    (1)データ収集   適切なデータ

    (2)バックグラウンド処理   バックグラウンド除去,規格化,E0,EXAFS振動抽出 

    (3)フーリエ変換   範囲,(2)との対応

    (4)カーブフィッティング解析   モデル,フィッティングパラメータ数

  • Chiba University

    SPring-8講習会「XAFSデータ解析」 2004/8/26 Tokyo

    バックグラウンド処理

    -1.0

    -0.5

    0.0

    0.5

    1.0

    1280012400120001160011200photo energy / eV

    -1.0

    -0.5

    0.0

    0.5

    1.0

    1280012400120001160011200photon energy / eV

    吸収係数

    Victoreen式

    spline curve:  EXAFS振動の抽出

    µ(λ) =Cλ3 −Dλ4 + const

  • Chiba University

    SPring-8講習会「XAFSデータ解析」 2004/8/26 Tokyo

    EXAFS振動の抽出

    -1.0

    -0.5

    0.0

    0.5

    1.0

    1280012400120001160011200photo energy / eV

    吸収係数

    2.0

    1.5

    1.0

    0.5

    0.01280012400120001160011200

    photon energy / eV

    吸収係数

    EXAFS振動の抽出

    バックグラウンド除去後のスペクトル

  • Chiba University

    SPring-8講習会「XAFSデータ解析」 2004/8/26 Tokyo

    EXAFS振動の抽出吸収係数

    規格化・ 振動抽出後k3の重み付け

    2.0

    1.5

    1.0

    0.5

    0.01280012400120001160011200

    photon energy / eV

    -20

    -10

    0

    10

    20

    151050k / 10 nm-1

    k 3 χ(

    k)

  • Chiba University

    SPring-8講習会「XAFSデータ解析」 2004/8/26 Tokyo

    動径分布関数の導出

    窓関数をかけた後にフーリエ変換

    k 3 χ(

    k)

    -20

    -10

    0

    10

    20

    151050k / 10 nm-1

    -30

    -20

    -10

    0

    10

    20

    30

    0.60.50.40.30.20.10.0r / nm

    FT

    逆フーリエ変換カーブフィッティング

  • Chiba University

    SPring-8講習会「XAFSデータ解析」 2004/8/26 Tokyo

    EXAFS振動の数式

    EXAFS振動

    χ(k) = µ(E) −µs(E)µ0(E )

    = S02NiFi(ki)kiri

    2 exp(−2ki2σ i

    2)sin(2kiri + φi(ki))i∑

    吸収係数ー(振動のない)吸収係数エッジジャンプ

    配位数

    後方散乱強度

    多体効果による振幅減衰項

    波数

    Debye-Waller 因子

    phase-shift散乱原子との距離

  • Chiba University

    SPring-8講習会「XAFSデータ解析」 2004/8/26 Tokyo

    EXAFS解析の流れ

    (1)データ収集   適切なデータ

    (2)バックグラウンド処理   バックグラウンド除去,規格化,E0,EXAFS振動抽出 

    (3)フーリエ変換   範囲,(2)との対応

    (4)カーブフィッティング解析   モデル,フィッティングパラメータ数

  • Chiba University

    SPring-8講習会「XAFSデータ解析」 2004/8/26 Tokyo

    バックグラウンド除去・振動抽出

    -1.0

    -0.5

    0.0

    0.5

    1.0

    1280012400120001160011200photon energy / eV

    吸収係数

    μS(E) スプライン関数など

    μ0(E)

    Victoreen式

    µ(λ) =Cλ3 −Dλ4 + const

    1180011750117001165011600photon energy / eV

    吸収係数

    悪い例:振動に追随

    良い例:振動を抽出

  • Chiba University

    SPring-8講習会「XAFSデータ解析」 2004/8/26 Tokyo

    振動抽出

    1180011750117001165011600photon energy / eV

    吸収係数

    悪い例:振動に追随

    良い例:振動を抽出

    -4

    -2

    0

    2

    4

    141210864k / 10 nm-1

    4

    3

    2

    1

    00.60.50.40.30.20.10.0

    r / nm

    アルミナ上に高分散したPt種

    k 3 χ(

    k)

    |FT|

  • Chiba University

    SPring-8講習会「XAFSデータ解析」 2004/8/26 Tokyo

    0.7

    0.6

    0.5

    0.4

    0.3

    0.2

    0.1

    0.077407730772077107700

    photon energy / eV

    エッジ位置の決定

    µt

    ab

    c

    d

    a: 吸収の立ち上がりb: プレエッジのピーク位置c: 変曲点d: 吸収の最大値

    k = 2mh2(E − E0)

    エネルギー (eV)から波数ベクトル (Å-1)への変換

    ki = k 2 −2mh2

    ΔEi0

    カーフフィッティングの際に補正が可能

  • Chiba University

    SPring-8講習会「XAFSデータ解析」 2004/8/26 Tokyo

    EXAFS解析の流れ

    (1)データ収集   適切なデータ

    (2)バックグラウンド処理   バックグラウンド除去,規格化,E0,EXAFS振動抽出 

    (3)フーリエ変換   範囲,(2)との対応

    (4)カーブフィッティング解析   モデル,フィッティングパラメータ数

  • Chiba University

    SPring-8講習会「XAFSデータ解析」 2004/8/26 Tokyo重み付け

    20

    10

    0

    -10

    -2016141210864

    k / 10 nm-1

    k1 (x50) k2 (x10) k3

    25

    20

    15

    10

    5

    00.60.50.40.30.20.10.0

    r / nm

    k1(x70) k2(x10) k3

    k n χ(

    k)

    |FT|

    Nb-C

    Nb-Nb

    k3の重み付けが一般的 軽元素等でk1やk2が有効な時もある

    NbC: NaCl型構造

  • Chiba University

    SPring-8講習会「XAFSデータ解析」 2004/8/26 TokyoFT範囲

    -15

    -10

    -5

    0

    5

    10

    15

    1816141210864k / 10 nm-1

    k 3 χ(

    k)

    (a) 35 - 125 nm-1 (b) 35 - 155 nm-1

    (c) 35 - 185 nm-1

    20

    15

    10

    5

    00.60.50.40.30.20.10.0

    r / nm

    |FT|

    (a) 35 - 125 nm-1

    (b) 35 - 155 nm-1 (c) 35 - 185 nm-1

    8配位 0.286 nm 6配位 0.330 nm

    Nb: 体心立方構造

  • Chiba University

    SPring-8講習会「XAFSデータ解析」 2004/8/26 Tokyo

    EXAFS解析の流れ

    (1)データ収集   適切なデータ

    (2)バックグラウンド処理   バックグラウンド除去,規格化,E0,EXAFS振動抽出 

    (3)フーリエ変換   範囲,(2)との対応

    (4)カーブフィッティング解析   モデル,フィッティングパラメータ数

  • Chiba University

    SPring-8講習会「XAFSデータ解析」 2004/8/26 Tokyo

    経験パラメータ作成時の注意(1)

    -4

    -2

    0

    2

    4

    141210864k / 10 nm-1

    8

    6

    4

    2

    00.60.50.40.30.20.10.0

    r / nm

    obs NbC/SiO2 calc [NbC] calc [Nb Foil]

    担持NbCのNb-Nbをフィッティング(NbC, Nb foil)

    1.66 %0.0071±0.0061.902±1.000.315±0.0045.0±0.5

    1.00 %0.0044±0.0100.464±0.940.316±0.0043.7±0.3

    (0.315 nm)NbC

    (0.286 nm)Nb foil

    R-factorDW / nmdE0 / eVr / nmN(Nb-Nb)model compound

    系に適合した化合物から作成する方が好ましいー適切なモデルが必要

    |FT|

    k 3 χ(

    k)

  • Chiba University

    SPring-8講習会「XAFSデータ解析」 2004/8/26 Tokyo

    経験パラメータ作成時の注意(2)

    k 空間の範囲をなるべく揃える

    -20

    -10

    0

    10

    20

    151050k / 10 nm

    -1

    35-135 nm-1 35-165 nm-1

    FT

    30

    25

    20

    15

    10

    5

    00.60.50.40.30.20.10.0

    r / nm

    35-165 nm-1 35-135 nm-1

    |FT|

    k 3 χ(

    k)

    Pt foil: 12配位 0.2775 nm k 空間の範囲が異なるパラメータでの解析?

  • Chiba University

    SPring-8講習会「XAFSデータ解析」 2004/8/26 Tokyo

    経験パラメータ作成時の注意(2)30

    25

    20

    15

    10

    5

    00.60.50.40.30.20.10.0

    r / nm

    35-165 nm-1 35-135 nm-1

    |FT|

    Pt foil: 12配位 0.2775 nm

    k 空間の範囲が解析対象と異なる パラメータでの解析 → 十分な注意が必要

    35-165 nm-1をFTの範囲としたfoilからパラメータを抽出し解析

    7.55 %

    0.15 %

    ±0.003±0.50±0.002±0.6(35-135 nm-1)0.00681.200.27814.7Pt foil±0.001±0.37±0.001±0.3(35-165 nm-1)0.0060-0.0040.27712.0Pt foil

    R-factorDW / nmdE0 / eVr / nmN

  • Chiba University

    SPring-8講習会「XAFSデータ解析」 2004/8/26 Tokyo

    カーブフィッティングの前に考慮すべき事

    FT図にピークが現れない→結合が存在しないのか?

    -30

    -20

    -10

    0

    10

    20

    30

    0.60.50.40.30.20.10.0r / nm

    -10

    -5

    0

    5

    10

    0.60.50.40.30.20.10.0r / nm

    Pd foil PdS Pd-Pd Pd-S

    Pd-Pdは無い?

    PdSの構造パラメータ原子間距離:Pd-S, 0.226, 0.229, 0.234, 0.243 nm原子間距離:Pd-Pd, 0.354 nm

    観測できるはず

  • Chiba University

    SPring-8講習会「XAFSデータ解析」 2004/8/26 Tokyo

    カーブフィッティングの前に考慮すべき事

    FT図のピーク位置に結合があるのか?

    -6

    -4

    -2

    0

    2

    4

    6

    0.60.50.40.30.20.10.0r / nm

    Mo-Oは2種類?

    MoO3

    FT

    結晶構造からは3種類のMo-O結合~0.17 nm~0.195 nm~0.23 nm

  • Chiba University

    SPring-8講習会「XAFSデータ解析」 2004/8/26 Tokyo

    XAFS解析における注意点

    得られる情報は(基本的には)1次元構造

    適切なモデルをたてる

    他の測定手法等と同時に使用する事で非常に信頼性の高い結果が得られる

  • Chiba University

    SPring-8講習会「XAFSデータ解析」 2004/8/26 Tokyo

    参考文献など

    参考文献○X線吸収分光法ーXAFSとその応用ー  太田俊明編 アイピーシー(2002年)○X線吸収微細構造 XAFSの測定と解析  宇田川康夫編 学会出版センター(1993年)

    関連学会○日本XAFS研究会  http://msmd.ims.ac.jp/jxs/○The International XAFS Society  http://ixs.iit.edu/