jornada dedifusión deresultados deproyectos CEM
15 noviembre2010
10:00 Apertura10:00 Apertura
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PROGRAMA
ProyectosProyectos
15 noviembre 201015 noviembre 2010
La investigación, el desarrollo tecnológico y la innovación en metrología residen en:
la generación de nuevos conocimientosen la ciencia de la medida,
la realización de nuevos desarrollos de patrones, instrumentos y métodos de medida,
capaces de apoyar a las industrias en sus desarrollos tecnológicos haciéndolas más innovadoras y competitivas y con ello proporcionando una mayor calidad de vida a la sociedad.
C/ Alfar, 2 28760 – Tres Cantos – Madrid Telefono: +34 91 807 47 00 Fax: + 34 91 807 48 07 Email: [email protected] Web: http:// www.cem.es
Superficie Total: 70 000 m²Superficie Construida: 18 000 m²Superficie Laboratorios: 10 000 m²
PATRONES NECIONALES DE MEDIDA
TRAZABILIDAD A PATRONES
CONTROL METROLÓGICO DEL ESTADO
PROYECTOS I+D+i
ASESORAMIENTO METROLÓGICO
FORMACIÓN DE ESPECIALISTAS
Independencia e Integridad
Confidencialidad
Profesionalidad y experiencia
Atención personalizada
Laboratorios altamente equipados
Vocación y dedicación al servicio de la sociedad.
Compromiso con el medio ambiente
Miembro fundador de la CGPM
Miembro de EURAMET - EMRP
Miembro de WELMEC
Miembro de OIML
Firmante del Acuerdo MRA del CIPM
Secretaria de CTN 82 de metrología de AENOR
Representante español en la Comisión UE y el Consejo, en materia metrológica
El Centro Español de Metrología (CEM) es un organismo autónomo adscrito a la Secretaría General de Industria del Ministerio de Industria, Turismo y Comercio.
Fue creado por la Ley 31/1990 de Presupuestos Generales del Estado de acuerdo con lo previsto en la Ley 3/1985, de 18 demarzo, de Metrología.
En aplicación del Artículo 149 de la Constitución Española, es el máximo órgano técnico en el campo de la metrología en España
PRINCIPIOS DE SELECCIÓN DE PROYECTOS
Excelencia en materia de patrones nacionales relevantes.
Satisfacer las prioridades en materia de metrología científica que respondan a las necesidades estratégicas nacionales.
Colaboración con los NMi en proyectos I+D+i que respondan a las necesidades nacionales, en consonancia con las prioridades establecidas y que permitan consolidar las capacidades metrológicas básicas, garantizar el régimen de propiedad intelectual y fomentar criterios de excelencia.
European Metrology Research Programme (EMRP).Outline2007
Estudio de Prospectiva sobre necesidades metrológicas en España. 2007
Informe de la CLA al CSM sobre la situación de la metrologíacientífica en España y en su entorno europeo
LÍNEAS ESTRATÉGICAS:
OBJETIVOS:
NUEVOS NUEVOS PROYECTOS CEMPROYECTOS CEM
Uso sin conocimiento
Uso experto
Asimilación
Adaptación
Apropiación
Contribución
Generación
Nivel Uso Tecnológico
I+D+i
Dependencia total
Utilización más eficiente. Dependencia fuerte
Uso optimizado. Generación de conocimiento 1
Uso optimizado a la necesidad. Generación de conocimiento 2
Uso optimizado. Generación de conocimiento 3
GeneraciGeneracióón y uso de los n y uso de los productos tecnolproductos tecnolóógicos y gicos y del conocimientodel conocimiento
PROYECTOS CEM
• Desarrollo del comparador interferométrico universal CEM-TEK 1200 para calibración de patrones materializados de longitud hasta 1200 mm. Posterior actualización añadiendo un software más amigable desarrollado en entorno LabView. (Tekniker)
• Desarrollo de mesa generadora de ángulos. Campo de medida 360º; Resolución 0,036” (U=0,1”; k=1)(Tekniker)
• Desarrollo patrón nacional de resistencia eléctricamediante el efecto Hall-cuántico (U. Politécnica Madrid)
• Desarrollo patrón nacional de tensión mediante el efectoJosephson (U. Politécnica Madrid)
• Patrón nacional de potencia y energía eléctrica mediante muestreo digital (Univ Politécnica Málaga)
• Patrón nacional de capacidad eléctrica (U. Polit. Madrid)
• Sistema de vacío de expansión dinámica (U.Polit. Madrid)
• Patrón nacional de par de torsión (CEM - PTB)
• Desarrollo de los procedimientos y equipos para la construcción de termopares de metales nobles tipos S, B, R y en especial los de oro/platino (CEM)
HistóricoHistórico
(1990 (1990 –– 2005)2005)
Proyectos CEM 2007 Proyectos CEM 2007 -- 20102010
Coste: 1 945 800 €
Proyectos 2009 Proyectos 2009 -- 20132013 Coste: 3 801 215 €
Ampliación, mejora y diseminación de las capacidades de medida y calibración del laboratorio de presión del CEM / ALABPRE
Desarrollo de patrones en el campo de las microfuerzas / MICROFUERZAS
Desarrollo de patrones de masa menores del miligramo / MICROPESAS
Nuevo patrón cuántico para la caracterización de sistemas de medida digitales en corriente continua y alterna / PACMED
Sistema de medida patrón de resistencias en CA./ RECAP
Aplicación de técnicas de separación de errores en la medida de defectos de forma y análisis de filtros analógicos mediante el empleo de patrones multionda. / FORMER
Título/ Acrónimo
1 TS1 FPII21Masa.
Presión
1 TS20Masa.Fuerza
1 TS19Masa.Masa
1 TS1 FPII18Electricidad.
Tensión continua
1 TS1 FPII17Electricidad.
Impedancia CA
1 TS16Longitud.Control de Formas
PersonalcontratadoNúmeroCampo de
investigación
Coste: 1 919 498 €Proyectos 2010 Proyectos 2010 -- 20142014
El CEM participa en el subproyecto HIPARCO, el cual tiene como objetivo principal abordar el desarrollo de técnicas y metodologías de verificación y calibración de máquinas y sistemas de medida de elevada precisión.
Desarrollo de Técnicas y Metodologías de Inspección de Daños y Metrología Dimensional de Nueva Generación para los sectores Aeronáutico, Ferroviario, Naval y Eólico.
Tarea 1. Verificación y compensación de errores en máquinaTarea 2. Tomografía computerizadaTarea 3. Calibración y métodos de corrección en técnicas de medición de alto rango
Coste: 123 084 €
Financiado por Financiado por MICINNMICINN: 37 233,6 €: 37 233,6 €
Programa de investigación Europeo en Metrología
“el conocimiento, que engloba la investigación y el desarrollo (I+D), la innovación y la educación, es un motor esencial del incremento de la productividad”
EUROPEAN METROLOGY RESEARCH PROGRAMEEUROPEAN METROLOGY RESEARCH PROGRAME
CoordinaciónCoordinación de de ProgramasProgramas NacionalesNacionales
Inversiones conjuntas y coordinadas son imprescindibles para satisfacer las necesidades
EMRP 2007 EMRP 2007 -- ProyectosProyectos
- “Caracterización trazable de nanopartículasCaracterización trazable de nanopartículas”: Establecimiento de métodos de medida y calibración dotados de trazabilidad a la unidad básica.- “Medida de grandes distanciasMedida de grandes distancias”: Desarrollo de instrumentación y metodología para medida de grandes distancias con reducción de incertidumbres.- “Nueva generación de técnicas de medida de potencia y energíaNueva generación de técnicas de medida de potencia y energía”: Nuevas técnicas de muestreo digital de señales sinusoidales y no sinusoidales en presencia de armónicos. Parámetros de calidad.- “Nueva generación de sistemas cuánticos de tensiónNueva generación de sistemas cuánticos de tensión”: Desarrollo de nuevos sistemas para la generación de tensiones en corriente alterna.- “Desarrollo de dispositivos de efecto Hall cuánticoDesarrollo de dispositivos de efecto Hall cuántico”: Diseño y construcción de muestras Hall para aplicaciones en la industria de la microelectrónica.- “Determinación de la constante de BoltzmannDeterminación de la constante de Boltzmann”: Medida de la constante de Boltzmann por diversos métodos con baja incertidumbre para la nueva definición de la unidad de temperatura.
PROYECTOS CON PARTICIPACIÓN ESPAÑOLA. CEMPROYECTOS CON PARTICIPACIÓN ESPAÑOLA. CEM
Inicio de los proyectos EMRP ( Art 169 7 PM) Programa Energía con la participación del CEM.
Characterization of energy gasesENG1
Metrology for new generation of nuclear power plantsENG8Metrology for smart electrical grids ENG4
Proyectos participación CEM
EMRP 2009 EMRP 2009 -- ProyectosProyectos
MEDIOAMBIENTE MEDIOAMBIENTE METROLOGÍA PARA LA INDUSTRIAMETROLOGÍA PARA LA INDUSTRIA
CALENDARIO
Convocatoria SRT 12/02 al 28/03
Convocatoria ayudas 1/04 al 7/05
Reunión SC EMRP 3-4/05
Reunión Comité EMRP 27-28/05
Convocatoria JRPs 21/06 al 11/10
Conferencias informativas (5) Junio/Julio
Conferencia de revisión 22-25/11 Budapest
Reunión Comité EMRP 29/11 Berlín
Consejo de Desarrollo 16/12 Paris
INDUSTRIA
28 SRT 16 JRP
44,2 M€
MEDIOAMBIENTE
18 SRT 12 JRP
38,4 M€
Máxima cuota España:
Industria: 1,66 M€
Medioambiente: 1,28 M€
Propuesta Participación CEM: 1,2 M€
SI: Intermedio entre SI Fundamental y SI industria.
Nuevas tecnologías: se incluirán los campos de: seguridad y protección; biotecnología; nuevos meta materiales, matemática e ITC.
Salud (II): continuación de salud I). Explorar nuevos campos.
Presupuesto por TP: 25,8 M€aprox. 10 JRPs por TP con un presupuesto medio de 2,6 M€overbooking aprox. 1,7
Nuevo patrón nacional de potencia eléctrica mediante muestreo digitalEstablecimiento de los Patrones Nacionales de Inductancia y de Capacidad Eléctrica18 nuevos servicios correspondientes a calibración de resistencias patrón de alto valor, desde 0,1 GΩ a 10 TΩ y a calibración de intensidades de CC desde 0,1 nA hasta 100 A.Nuevo sistema de medida trifásico en el rango comprendido entre 200 mA y 120 A y de 60 V a 600 V.Calibración de termopares por comparación a termómetros de radiación hasta 1600 ºCPatrón de presión que es capaz de funcionar de forma estática entre 1 000 Pa y 0,0001 Pa……………….
1.1.-- Nuevas realizaciones de patrones y sistemas de medidaNuevas realizaciones de patrones y sistemas de medida
• Realización de un sistema de expansión estático como patrón nacional de presión absoluta en la región de vacío en el rango de 10-4 Pa a 1000 Pa. IV Congreso Español de Metrología (Santander 2009)
• Volume ratio determination in static expansion systems by means of twopressure balances, IMEKO XIX WORLD CONGRESS (Lisboa 2009)
• Calibración de patrones de redondez (hemisferios) por el método multi-step. IV Congreso Español de Metrología (Santander 2009).
• Patrones Nacionales de Alterna basados en Convertidores Térmicos. IV Congreso Español de Metrología (Santander 2009)
• Patrón nacional de inductancia. IV Congreso Español de Metrología (Santander 2009)
• Cadena de trazabilidad en resistencia corriente continua. Sistemas de medida. Congreso Español de Metrología (Santander 2009)
• Calibración de termopares de metales nobles por comparación a termómetros de radiación hasta 1600 ºC”. IV Congreso Nacional de Metrología (Santander 2009).
• Doping experiments in triple point of mercury cells. III International Workshop Toward more accurate fixed points. 17th Symposium onThermophysical propierties.
2.2.-- Publicaciones y difusión del conocimientoPublicaciones y difusión del conocimiento
• Fomento y mejora del conocimiento básico sobre la realización de medidas de precisión en las diferentes áreas científicas desarrollados
• Potenciar el conocimiento sobre las tecnologías de diseño industrial necesarias para desarrollar sistemas de alta tecnología y exactitud
• Potenciar el desarrollo de productos que necesiten trazabilidad a sistemas de medida implementados.
• Mejorar los procesos, componentes y medios de fabricación que necesitan precisión en la medida de las magnitudes eléctricas y mecánicas.
3.3.-- Desarrollo del talento del personal del organismo Desarrollo del talento del personal del organismo y potenciación de su motivación y dedicacióny potenciación de su motivación y dedicación..
4.4.-- Consecución de varios objetivos generales:Consecución de varios objetivos generales:
Impulso I+D de patrones•6 proyectos (2006 – 2010).Finalizan en 2010
•9 proyectos de desarrollo de patrones e instalaciones. (2009 – 2013).
•6 + 1 nuevos proyectos a iniciar en 2010 y finalizar en 2014. Informe positivo del Ministerio de Presidencia y del Ministerio de Economía y Hacienda para poder dotar con 9 + 1 plazas de técnicos y científicos. Proceso de selección inicia en junio de 2010.
•10 proyectos EMRP en curso ampliables según éxito en convocatorias
CONCLUSIONESCONCLUSIONES
CONCLUSIONESCONCLUSIONES
Los proyectos constituyen:Realización de nuevos desarrollos de patrones, instrumentos y métodos de medida que incidirán directamente en:
un aumento de la exactitud de las medidas,
declaración de nuevas o mejores capacidades de medidas (CMCs) dentro del acuerdo MRA-CIPM y
un mayor soporte a las industrias en sus desarrollos tecnológicos ayudándolas a ser más innovadoras y competitivas.
Para el CEM:
elemento dinamizador de la actividad científica del organismo y una mejor posición tecnológica.
mecanismo para el incremento de los conocimientos científicos y tecnológicos
Un estimulo profesional para su plantilla, altamente vocacional
MetrologíaMetrología
• No es solo calibrar instrumentos
• Es alta tecnología y promoción de I+D+i
La investigación en ciencias de la medida es una actividad a largo plazo que necesariamente debe hacerse por adelantado a las necesidades industriales y de la sociedad.
La investigación de hoy proporcionará la base para los servicios de calibración de mañana.
“Solamente aquel que construye el futuro tiene derecho a juzgar el pasado”.
Friedrich Nietzsche
Gracias