• OLYMPUS® THIẾT BỊ SIÊU ÂM KHUYẾT TẬT

SÊ RI EPOCH 1000 Your Vision, Our Future

EPOCH 1000, EPOCH 1000iR, EPOCH 1000i

SIÊU ÂM THÔNG THƯỜNG SIÊU ÂM THƯỜNG VÀ PHASED ARRAY

Thiết bị siêu âm khuyết tật cao cấp với công nghệ Phased Array tạo hình ảnh

920-163A-EN

SÊ RI EPOCH 1000 - Thiết bị siêu âm khuyết tật cao cấp với công nghệ Phased Array (PA) tạo hình ảnh

Đặc điểm nổi trội

• Lựa chọn hơn 30 bộ lọc thu kỹ thuật số

• Tốc độ lặp xung 6 kHz cho quét kiểm tra tốc độ cao

• Tự động nhận biết đầu dò phased array

• Chuẩn độ nhạy và độ trễ của nêm đầu dò một cách trực quan cho mọi quy luật thiếp lập định dạng chùm tia

• Khả năng kiểm tra bằng công nghệ Phased Array Sê ri thiết bị siêu âm khuyết tật kỹ thuật số EPOCH 1000 kết hợp các tính năng cao cấp nhất của một thiết bị siêu âm kiểu xách tay truyền thống với khả năng kiểm tra bằng công nghệ phased array • Phù hợp chuẩn EN12668-1 tạo hình ảnh. Các model EPOCH 1000, 1000iR và 1000i đặc biệt nổi bật ở kiểu dáng thiết kế nằm ngang mới với màn hình hiển thị VGA lớn, nút tròn xoay và các phím bấm đa chiều cho phép thay đổi các thông số kiểm tra, và hoàn toàn thoả mãn chuẩn EN12668-1. Chức năng một thiết bị siêu âm cao cấp của Sê ri EPOCH 1000 được củng cố thêm bởi model EPOCH 1000i với khả năng kiểm tra bằng công nghệ Phased Array tạo hình ảnh.

• Khả năng lập chương trình cho các cổng ra cảnh báo tương tự

• Cấp độ bảo vệ IP66 đối với môi trường khắc nghiệt

• Thiết kế kiểu dáng nằm ngang với các phím bấm đa chiều và phím tròn xoay để thay đổi nhanh chóng các thông số

• Bộ thu tín hiệu kỹ thuật số, dải rộng

• Sử dụng các con trỏ tham chiếu và con trỏ đo kích

thước khuyết tật ngay trên màn hình

• Hiển thị VGA toàn màn hình cho phép quan sát dễ dàng

satsdễ dàng đọc dữ liệu dưới ánh sáng mặt trời • Đánh giá tín hiệu A – scan tốt hơn với tính năng ClearWave ™

• Phần mềm dựng đường cong DAC/TVG tiêu chuẩn

• Phần mềm DGS/AVG cài đặt sẵn

Ba mức cấu hình thiết bị đáp ứng nhiều yêu cầu kiểm tra.

EPOCH 1000 Thiết bị siêu âm cao cấp EPOCH 1000 là thiết bị siêu âm cao cấp trong dòng thiết bị siêu âm khuyết tật truyền thống, cho phép nâng cấp phần cứng và phần mềm trở thành thiết bị Phased array bằng cách gửi thiết bị đến tru• ng tâm kỹ thuật của Hãng.

EPOCH 1000iR EPOCH 1000i Thiết bị siêu âm cao cấp + Thiết bị siêu âm cao cấp phần cứng cho kiểm tra PA + Phased Array

EPOCH 1000i cũng gồm tất cả các chức EPOCH 1000iR có đầy đủ các chức năng năng của thiết bị siêu âm khuyết tật cao của EPOCH 1000 nhưng đã được cài sẵncấp EPOCH 1000 và sẵn có đầy đủ tínhphần cứng kiểm tra bằng PA. Việc nâng năng kiểm tra khuyết tật bằng hình ảnh

cấp trở thành thiết bị PA đơn giản và không sử dụng công nghệ Phased Array . phải gửi máy đến trung tâm kỹ thuật củaHãng.

Các lĩnh vực công nghiệp & Ứng dụng chính

• Kiểm tra mối hàn

• Kiểm tra , xác định kích thước vết nứt

• Kiểm tra tại các nhà máy điện

• Kiểm tra mối hàn theo tiêu chuẩn AWS D1.1/D1.5

• Kiểm tra khuyết tật của các kết cấu rèn, đúc

• Xác định kích thước khuyết tật theo DGS/AVG

• Hệ quét kiểm tra tích hợp cơ bản

• Kiểm tra tách lớp và khuyết tật của kết cấu composite

• Kiểm tra trong công nghiệp hàng không

• Kiểm tra trong công nghiệp chế tạo ô tô và các phương

tiện vận tải

Sê ri thiết bị siêu âm cao cấp, có khả năng nâng cấp thành thiết bị kiểm tra Phased Array

- EPOCH 1000 Series

EPOCH 1000, EPOCH 1000iR và EPOCH 1000i cung cấp khả năng của một thiết bị siêu âm khuyết tật tiên tiến, và phù hợp với mọi cấp độ kỹ thuật viên kiểm tra. Thiết bị kiểu xách tay này còn có thể được tích hợp thành các hệ thống kiểm tra cơ bản cho ứng dụng quét kiểm tra tốc độ cao và kiểm tra bằng hình ảnh đơn kênh. Các thiết bị bao gồm một loạt các đặc trưng kỹ thuật cao cấp, như tốc độ cặp xung (PRF) cực đại 6 kHz với các phép đo đơn điểm cho các ứng dụng quét kiểm tra tốc độ cao đòi hỏi độ chính xác cao, bộ phát xung vuông có thể điều chỉnh sử dụng công nghệ PerfecrSquaret, và đầy đủ các cài đặt cho bộ lọc kỹ thuật số để thu được tỷ số tín hiệu/nhiễu cao nhất.

CÁC ĐẶC TÍNH TIÊU CHUẨN• Dựng DAC/TVG theo ASME, ASME-III, JIS, 20-

80%, tuỳ biến, và bảng TVG

• Có thể điều chỉnh tần số lặp xung (PRF) trong dải: 5 Hz đến 6 kHz

• Phép đo kiểu đơn điểm ở mọi chế độ tiêu chuẩn

• Bộ tạo xung vuông có thể điều chỉnh sử dụng công nghệ

PerfecrSquaret

• Khả năng lập trình cho các cổng ra cảnh báo tương tự

• Hơn 30 cài đặt cho bộ lọc kỹ thuật số

• Digital high dynamic range receiver CÁC ĐẶC TÍNH PHẦN MỀM TĂNG KHẢ NĂNG QUAN SÁT VỚI EPOCH 1000 CLEARWAVE™

EPOCH 1000 nổi bật với một loạt cải tiến nâng cao khả năng • Cổng giao diện - Cổng đo tuỳ chọn thứ ba cho phép theo dõi theo quan sát mới và đặc biệt, nhằm cải tiến chất lượng hiển thị và thời gian thực sự thay đổi đối với một xung tín hiệu để duy trì cáctạo sự thoải mái cho người vận hành trong nhiều ứng dụng kiểm phép đo dạng số. tra nâng cao. • Kiểm tra mối hàn theo AWS – Tính toán và đưa ra trực tiếp các giá• SureviewTM- đặc tính dựa trên chức năng của hiển thị tương tự trị “D” theo AWS D1.1/D1.5 đối với các chỉ thị trong cổng gate.

CRT cho phép kỹ thuật viên quan sát các đỉnh chỉ thị từ các bề • Onboard DGS/AVG - Kỹ thuật DGS/AVG sử dụng các đường mặt phản xạ ngay cả khi dải đo của thiết bị không cho phép các cong suy giảm được tính toán trước để giúp kỹ thuật viên đo đỉnh chỉ thị này nằm trong khả năng trực giác con người kích thước các khuyết tật. Một thư viện gồm nhiều mã đầu dò

• Composite A-scan – tính năng hiển thị tất cả sóng A-scan thu đượcđược cài sẵn trong máy cho phép kỹ thuật viên dễ dàng cài đặt giữa các mức tần suất cập nhật hiển thị trên màn hình ( nhiều sóngnhanh đường DGS/AVG và thực hiện đo khuyết tật chính xác. A-scan khi PRF > 60 Hz) và sắp xếp chúng cùng nhau trên màn

hình

• Max Amplitude - chỉ hiển thị sóng A-scan cùng với giá trị biên độ cao nhất theo cổng gate.

• Min Thickness - chỉ hiển thị sóng A-scan ứng với giá trị chiều dày nhỏ nhất.

• Averaged A-scan - chức năng mới cho phép kỹ thuật viên quan sát một giá trị trung bình của các sóng A-scan thu được.

• Persistence Mode - giữ lại sóng A-scan thu được trước đó trên màn hình trong một khoảng thời gian xác định trước.

• Baseline Break - hiển thị các điểm nối zero như là các đường nối các điểm riêng biệt trên sóng A-scan đến đường thời gian trong trong chế độ chỉnh lưu toàn sóng.

Đường DAC/TVG trên Sê ri EPOCH 1000

Thiết bị dò khuyết tật cao cấp, tích hợp sẵn công nghệ kiểm tra

• bằng hình ảnh, Model EPOCH 1000i

EPOCH 1000i tích hợp khả năng kiểm tra khuyết tật bằng siêu âm truyền thống và siêu âm khuyết tật bằng hình ảnh trên một thiết bị

kiểu xách tay, chắc chắn. Điều này cho phép nâng cao khả năng phát hiện khuyết tật, quan

sát vùng kiểm tra trực quan hơn và làm tăng

hiệu quả kiểm tra bởi một thiết lập cài đặt đơn để quan sát hiển thị A-scan trên màn hình theo nhiều góc quét (các quy luật thiết lập định dạng chùm tia) và không cần phải sử

dụng đến nhiều đầu dò và nêm tạo góc. Kỹ thuật viên vẫn có thể sử dụng chế độ kiểm tra

bằng siêu âm truyền thống của EPOCH 1000

trong khi có thêm tất cả các tiện ích kiểm tra bằng siêu âm tổ hợp pha Phased array của model EPOCH 1000i. EPOCH 1000i cho

phép kỹ thuật viên thực hiện kiểm tra theo các tiêu chuẩn chấp nhận ứng với các tiêu chuẩn kiểm tra truyền thống với những tiện

ích của kiểm tra bằng Phased Array nhằm

tăng độ chính xác và hiệu quả kiểm tra.

Với cấu hình tiêu chuẩn 16:16, EPOCH

1000i cũng bao gồm nhiều đặc tính xác định kích thước khuyết tật để hỗ trợ cho việc kiểm tra khuyết tật. Thiết bị tiêu

Đặc trưng kiểm tra bằng Phased Array EPOCH 1000i chuẩn với các con trỏ định vị đối chứng và con trỏ định vị đo để đánh giá kích Số qui luật hội tụ

thước của khuyết tật. EPOCH 1000i còn cung cấp khả năng xây dựng các đường DAC/TVG cho mọi quy luật thiết lập định dạng chùm tia, cho phép xác định đặc tính của khuyết tật ứng với một xung siêu âm A-scan được lựa chọn, dựa trên một đường cong DAC đã có.

60

Số biến tử đầu dò 16 biến tử

Số biến tử làm việc 16 biếntử

Lọc tín hiệu hình ảnh Tắt, Mức thấp, Mức cao

Các chế độ hiển thị A-scan, A-scan/S-scan, S-scan

Tốc độ cập nhật ảnh 60 Hz đối với A-scan; 20 Hz đối với hình ảnh

Sê ri Đầu dò Phased Array cho EPOCH 1000i EPOCH 1000i hoạt động tương thích với các sê ri đầu dò Phased Array mới, đáp ứng các yêu cầu kiểm tra nhiều kếtcấu khó tiếp cận. Sê ri đầu dò này bao gồm các đầu dò dòkiểm tra mối hàn tiêu chuẩn và cả các đầu dò thiết kế chuyên dụng kiểm tra phù hợp với các chuẩn. Các đầu dò Phased Array này được thiết kế dạng có nêm tạo góc gắn liền hoặcnêm rời.

CHUYỂN ĐỔI NHANH TỪ SIÊU ÂM THÔNG THƯỜNG SANG PHASED ARRAY EPOCH 1000i hoạt động hoàn toàn tương thích với các đầudò một biến tử ở chế độ siêu âm thông thường. Việc chuyểnđổi giữa kiểm tra bằng đầu dò siêu âm thông thường và đầudò Phased Array rất dễ dàng, chỉ bằng cách nhấn một phím! EPOCH 1000i cho phép chuyển đổi rất nhanh chóng từ chế độ siêu âm truyền thống (UT) sang chế độ siêu âm Phased Array, cho phép kỹ thuật viên vận hành dễ dàng kết hợp kiểm tra bằng siêu âm truyền thống cà cả siêu âm bằng hình ảnh Phased Array.

•

KIỂM TRA MỐI HÀN THEO AWS

Kiểm tra mối hàn theo AWS - Hiển thị giá trị “D” theo đối với góc quét 60 độ

Hiển thị đồng thời A-scan và S-scan (-20° đến +20°)

DỰNG ĐƯỜNG DAC/TVG TIÊU CHUẨN CHO MỌI QUY LUẬT HỘI TỤ CHÙM TIA

Thiết bị EPOCH 1000i tiêu chuẩn với đường DAC/TVG cho mọi quy luật thiết lập định dạng chùm tia. Điều này cho phép người vận hành thu được đường DAC hoặc thiết lập một cài đặt TVG từ các mặt phản xạ đã biết cho tất cả các góc đã xác định/các quy luật thiết lập định dạng chùm tia đồng thời. Sau khi hoàn tất cài đặt này, người vận hành sử dụng hình ảnh S-scan để dò các khuyết tật tại các vị trí hội tụ chùm tia khác nhau.

EPOCH 1000i được trang bị phần mềm chuyên dụng, tính toán các thông số kiểm tra mối hàn theo AWS D1.1/D1.5. Kết hợp với các đầu dò Phased Array kiểm tra mối hàn theo tiêu chuẩn AWS, thiết bị cho phép người vận hành sửdụng khả năng kiểm tra bằng hình ảnh để dò khuyết tật, trong khi vừa xác địnhkích thước khuyết tật theo các góc quét 45°, 60° và 70° bằng kỹ thuật siêu âm A-scan thông thường, vừa đọc giá trị đánh giá chất lượng mối hàn D hiển thịtrên màn hình theo bất kỳ tín hiệu A-scan được lựa chọn.

HIỂN THỊ ĐÔNG THỜI TÍN HIỆU A-SCAN VÀ S-SCAN EPOCH 1000i cho phép hiển thị đồng thời tín hiệu A-scan và S-scan trên mànhình, chỉ ra cho người vận hành một hình ảnh biểu diễn dữ liệu A-scan từ tất cảcác góc giữa hai giá trị đầu và cuối xác định trước. Mỗi góc quét riêng biệt, tham chiếu tới qui luật thiết lập định dạng chùm tia, có thể được lựa chọn đểhiển thị trên A-scan. Điều này cho phép người kiểm tra dò và xác định đặc tínhkhuyết tật theo nhiều góc quét cùng một lúc, sử dụng hình ảnh phased array.

ĐẦU DÒ*

Mã đầu dò Ứng dụng/Chuẩn chấp nhận Tần số (MHz) Số biến tử

Khoảng cách tâm 2 biến tử

liền kề

Kích thước nhóm biến tử tạo chùm

(mm)

Độ cao của biến tử (mm)

Kích thước đầu dò mm (in.) Dài x Rộng x Cao

2.25L8-Al0P 2.25 8 1.2 9.6 x 10 10 22.5 (0.89) 15.6 (0.61) 20 (0.79)

5L 16-Al OP Ứng dụng kiểm tra thông thường 5.0 16 0.6 9.6 x 10 10 22.5 (0.89) 15.6 (0.61) 20 (0.79)

1 OL 16-Al OP 10 16 0.6 9.6 x 10 10 22.5 (0.89) 15.6 (0.61) 20 (0.79) 2.25L16-AWS AWS D1.1/D1.5 2.25 16 0.94 16 x 16 16 37.6 (1.48) 25.4 (1.0) 17.8 (0.70)

2L8-0GS Nêm liền theo chuẩn châu Âu/ 2.0 8 1.0 8x9 9 27.3 (1.07) 16.8 (0.66) 22.3 (0.88)

4L 16-0GS DGS-AVG 4.0 16 0.5 8x9 9 27.3 (1.07) 16.8 (0.66) 22.3 (0.88) 5L64-A12 Mục đích kiểm tra thông thường 5.0 64 0.6 9.6 x 10** 10 44.6 (1.76) 22.5 (0.89) 20 (0.79)

NÊM TẠO GÓC

* Tất cả đầu dò trên đều có cáp liền tiêu chuẩn dài 2.5 m và có đầu kết nối kiểu OmniScan. Xin vui lòng liên hệ với chúng tôi để có thêm thông tin. ** Với nhóm 16 biến tử tạo xung

Mã nêm Tương thích với đầu dò Góc khúc xạ danh định

của chùm tia (trong thép)

Dải góc quét (độ) Định hướng đầu dò

Kích thước nêm mm (in.) Dài xRộng xCao

SA10-0L 2.25L8-Al0P, 5L16-Al0P, 10L16-Al0P 0° LW -30 đến 30 Bình thường 25.4 (1.0) 23.1 (0.91) 20 (0.79)

SAlO-N55S 2.25L8-Al0P, 5L16-Al0P, 10L16-Al0P 55° SW 30 đến 70 Bình thường 23 (0.91) 23.2 (0.91) 14.2 (0.56) SAWS-OL 2.25L16-AWS 0° LW -30 đến 30 Bình thường 38 (1.49) 37.6 (1.48) 40 (1.57) SAWS-N55S 2.25L16-AWS 55° SW 30 đến 70 Bình thường 45.3 (1.78) 38 (1.49) 30.3 (1.19)

SA12-0L 5L64-A12 0° LW -30 đến 30 Bình thường 61.8 (2.43) 23 (0.91) 53.4 (2.1) SA12-N55S 5L64-A12 55° SW 30 đến 70 Bình thường 58 (2.28) 23 (0.91) 23 (0.91)

Chắc chắn. Kiểu xách tay. Thoả mãn QUẢN LÝ DỮ LIỆU

các môi trường kiểm tra khắc nghiệt Phần mềm GageviewTM Pro – Sê ri EPOCH 1000 hoàn toàn tương thích với chương trình giao diện

nhất! máy tính tiêu chuẩn của thiết bị xách tay của Olympus, GageView Pro. Với phần mềm này, kỹ thuật viên kiểm tra có thể tải dữ liệu kiểm tra, xem

Sê ri EPOCH 1000 được thiết kế đạt chuẩn IP66 về môi trường làm việc. lại kết quả kiểm tra trên máy tính, truy xuất các kết Thiết bị đã được kiểm tra va chạm, rung động, cháy nổ, và dải nhiệt độ môi

quả và dữ liệu hiệu chuẩn vào các chương trình trường làm việc, đảm bảo cho thiết bị có thể hoạt động trong những môi

xứ lý thông dụng trên máy tính, sao lưu dữ liệu trường làm việc rất khắc nghiệt. Một số đặc tính vật lý nổi trội khác của Sê ri

hiệu chuẩn máy và dữ liệu kiểm tra từ thiết bị, và EPOCH 1000 bao gồm:

thực hiện các công việc cơ bản như nâng cấp • Màn hình hiển thị VGA màu, rộng, độ phân giải cao (640x480) cho khả chương trình cơ sở của máy và thu các tín hiệu

chụp màn hình. năng quan sát tối ưu trong những điều kiện ánh sáng yếu hoặc ánh sáng

CÁC PHỤ KIỆN chói

• Quai cầm chắc chắn bằng cao su, dễ dàng di chuyển máy Có nhiều phụ kiện cho Sê ri EPOCH 1000, cho phép khai thác đầy đủ các đặc tính kỹ thuật và • Bền, chắc – có gắn thêm các còng chữ D để sử dụng quai đeo cổ công năng của thiết bị: • Có các chân đứng phía trước và sau máy để dựng máy thẳng đứng hoặc• Cáp ra tín hiệu VGA (P/N: EPXT-C-VGA-6) nghiêng cho dễ quan sát • Cáp USB client (P/N: EP4P/C-USB-6) • Cổng giao tiếp USB Client và Host port cho kết nối máy tính, in trực tiếp và• Cáp kết nối RS-232 (P/N: kết nối với các thiết bị ngoại vi

EP1000-C-RS232-6) • Cổng ra VGA để trình diễn, đào tạo, và chiếu ra các màn hình ở xa • Cáp vào/ra phần cứng (các cổng ra tương

• Các cổng ra tương tự có thể lập trình, cổng ra cảnh báo, và kết tự/cảnh báo, kết nối RS-232) nối qua chuẩn RS-232 (P/N: EP1000-C-HWI0-6) • Pin xạc tiêu chuẩn lithium ion

• Quai đeo cổ (P/N: EP4/CH) Thông số chung • Bộ xạc ngoài (P/N: EPXT-EC)

• Pin dự phòng (lithium-ion) 277 mm x 150 mm x 51 mm (tại vị trí tay cầm) 71 mm ( tại vị trí Kích thước tổng quan (P/N: EPXT-BAT-L) mặt hiển thị)

(Rộng x Cao x Chéo) Trọng lượng 3.67 kg, bao gồm cả pin

Bàn phím Anh, Quốc tế, Nhật Bản, Trung Quốc

Ngôn ngữ Tiếng Anh, Tây Ban Nha, Pháp, Đức, Nhật Bản, Trưng Quốc

Kết nối BNC hoặc Lemo 1

Lên tới 10,000 file định dạng cùng với hình ảnh dạng sóng, thẻ Lưu dữ liệu nhớ ngoài tiêu chuẩn 2GB

Kiểu pin 1 Pin xạc Lithium Ion tiêu chuẩn

Tuổi thọ pin 8 giờ với chế độ siêu âm thường; 7 giờ với chế độ phased array

Nguồn cung cấp Nguồn AC: 100VAC đến 120 VAC, 200 VAC đến 240 VAC,

50 Hz - 60 Hz

Hiển thị LCD, VGA, màu (640 x 480 pixels), tốc độ làm tươi màn Kiểu hiển thị hình 60 Hz

Kích thước màn hiển thị 132.5 mm x 99.4 mm, 165.1 mm (Rộng x Cao, Chéo) Bảo hành 1 năm

Các cổng vào/Ra Các cổng USB 1 cổng USB Client, 2 cổng USB Host

RS-232 Có

Cổng ra Video VGA tiêu chuẩn

Cổng ra tương tự 4 cổng ra tương tự, có thể lựa chọn 1V/10V, dòng cực đại 4 mA

Cổng ra cảnh báo 6 cổng ra cảnh báo, 5V TTL, 10 mA

Đầu vào/ra Trigger Đầu vào Trigger 5V TTL; đầu ra trigger,5V TTL, 10 mA

Cổng ra Encoder Mã hoá theo 2 trục quét chỉ đối với siêu âm thường

Thông số môi trường Tiêu chuẩn về môi trường Đạt yêu cầu của chuẩn IP66 Thế hệ máy siêu âm EPOCH Tiêu chuẩn về cháy nổ MIL-STD-810F qui trình 1, NFPA 70E, Phần 500, Phân mức 1,

Sê ri EPOCH 1000 kế tiếp EPOCH XT và EPOCH mục 2, nhóm D Thử va chạm Theo IEC 600689-2-27, 60 g’s, 6 μsec H.S., đa trục LTC như một phiên bản bổ sung mới nhất của

Olympus cho dòng thiết bị siêu âm khuyết tật kiểuDao động theo hình Sin, IEC 60068-2-6, 50 Hz - 150 Hz 0.03 Thử rung inches xách tay. Vui lòng liên hệ với chúng tôi để có thêm

DA hoặc 2 g's, 20 chu trình quét thông tin về các sản phẩm này! Nhiệt độ vận hành -10° C đến 50° C

Nhiệt độ bảo quản 0° C đến 50° C

Thông số kỹ thuật của Sê ri EPOCH 1000, kiểm tra bằng siêu âm thường/ Phased Array*

EPOCH 1000, EPOCH 1000iR, EPOCH 1000i EPOCH 1000i (chế độ siêu âm thông thường) (chế độ kiểm tra Phased Array)

PHÁT TÍN HIỆU

Kiểu xung Xung vuông có thể điều chỉnh

Tần số lặp xung (PRF) 5 Hz đến 6000 Hz theo các mức 5 Hz Tự động. Cực đại 1360 Hz

Cài đặt mức năng lượng 50 V đến 475 V theo các mức 25 V 40 V hoặc 80 V

Độ rộng xung Có thể thay đổi từ 30 ns đến 10,000 ns (0.1 MHz) Có thể thay đổi từ 40 ns đến 1000 ns

Dập nhiễu 50, 100, 200, 400 Ω Không áp dụng

Độ trễ tạo xung Không áp dụng 0 đến 10 ps, mức phân giải 2.5 ns

NHẬN TÍN HIỆU Khuếch đại 0 đến 110 dB 0 đến 80 dB

Tín hiệu đầu vào cực đại 20 Vp-p 250 mVp-p/kênh

Trở kháng đầu vào thu 400 Ω ± 5% 50 Ω ± 10%

Dải tần số thu 0.2 đến 26.5 MHz @ -3 dB 0.5 đến 12.5 MHz @ -3 dB

Độ trễ thu tín hiệu NA 0 đến 10 ps, mức phân giải 2.5 ns

Cài đặt lọc tín hiệu số Tự động bởi đầu dò Cài đặt tiêu chuẩn ( kiểm tra và phù hợp theo EN12668-1): 7 cài đặt Cài đặt nâng cao (chưa kiểm tra theo EN12668-1): 30 cài đặt

Chỉnh lưu Toàn sóng, nửa sóng dương, nửa sóng âm, sóng radio

Cắt nhiễu o đến 80% chiều cao màn hình với cảnh báo trực quan

Đo biên độ 0% đến 110% chiều cao màn hình với phân giải 0.25%

HIỆU CHUẨN Chuẩn tự động • Vận tốc, Zero Offset, Độ nhạy

• Soundpath or Depth

• Vận tốc, Zero Offset • Chùm tia thẳng (phản hồi đáy lần thứ nhất hoặc xung dội - tới xung dội) • Chùm tia xiên ( quãng truyền hoặc độ sâu)

Chế độ kiểm tra Xung dội, Truyền qua, hoặc Phát thu Xung dội

Đơn vị Millimeters, Inches, or Microseconds

Dải đo 1.86 mm đến 25,400 mm Đến 762 mm

Vận tốc 635 đến 15,240 m/s

Bù điểm không 0 ps đến 750 ps Không áp dụng

Độ trễ hiển thị -59 mm đến 25,400 mm 0 đến dải đo cực đại

Góc khúc xạ 0° đến 85° theo các bước 0.10 60 quy luật thiết lập định dạng chùm tia theo góc, với các bước 0.50

CỔNG ĐO Cổng đo 2 cổng đo độc lập cho các phép đo biên độ và thời gian truyền âm

Cổng giao diện Tuỳ chọn, với cổng kiểm tra 1 và 2 Không áp dụng

Gate Start Có thể thay đổi trên toàn dải hiển thị

Gate Width Có thể thay đổi điểm bắt đầu của cổng đến hết dải hiển thị

Gate Height Có thể thay đổi từ 2% đến 95% chiều cao màn hình

Cảnh báo • Theo ngưỡng dương và âm • Theo ngưỡng dương và âm ( theo một quy luật thiết lập định dạng chùm tia lựa chọn) • Độ sâu nhỏ nhất • Độ sâu nhỏ nhất (theo một quy luật thiết lập định dạng chùm tia lựa chọn) • Mất tín hiệu (LOS) trên tuỳ chọn cổng IF

Các con trỏ tham chiếu 2 con trỏ tham chiếu cho hiển thị A-scan 2 con trỏ tham chiếu cho A-scan; 4 con trỏ tham chiếu cho hình ảnh

PHÉP ĐO

Hiển thị đo tại 6 vị trí ( thủ công hoặc tự động lựa chọn)

Cổng 1 Chiều dày, Quãng truyền, Hình chiếu, Độ sâu, Biên độ, Thời gian truyền, Độ sâu cực đại/Cực tiểu, Biên độ cực đại/cực tiểu

Cổng 2 Tương tự như cổng 1

Cổng IF ( tuỳ chọn) Đo chiều dày

Xung dội-đến- xung dội Tiêu chuẩn. Lựa chọn giữa cổng 2-1, Cổng 2-IF, Cổng l-IF Không áp dụng

Các phép đo khác Giá trị Khuếch đại (dB) cho DGS/AVG, FBH (kích thước phản xạ tương đương) cho DGS/AVG, AWS D1.1/D1.5 (D), Giá trị loại bỏ

DAC/TVG Tiêu chuẩn

Các điểm dựng DAC Lên tới 50 điểm, dải khuếch đại110 dB Lên tới 50 điểm, dải 40 dB/góc quét

Các chế độ DAC đặc biệt 20% đến 80% DAC, DAC tuỳ biến (lên tới 6 đường) Không áp dụng

Bảng TVG Lên tới 50 điểm, dải 110 dB, tương thích với cổng IF tại tất cả các cài đặt tần số lặp xung Lên tới 50 điểm, dải 40 dB/góc quét

Hiệu chỉnh bề mặt cong Tiêu chuẩn. Hiệu chỉnh bề mặt cong theo đường kính ngoài (OD) hoặc bên trong (ID) cho kiểm tra bằng đầu dò góc