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JEOL Application Data Sheet JEOL Application Data Sheet 関連装置:大気圧走査電子顕微鏡(クレアスコープ) スラリーの大気圧SEM観察 SM-B014-00 ClairScope は,大気圧走査電子顕微鏡 (ASEM, Atmospheric Scanning Electron Microscope) と光学顕微鏡で試料を観察する 装置です。試料は観察中,常に大気圧下・溶液中にあるので,本来 の自然な姿を捉えることができます. 大気 薄膜ディッシュ(試料ホルダ) (a) ASEMによる観察原理. (b) 前処理不要.濡れた試料もそのまま載せられます. 1. ASEMの観察原理. 真空 ASEM x20,000 scale bar: 1 μm x5,000 scale bar: 5 μm x1,000 scale bar: 10 μm 2. 銀ペースト.分散状態と数10 nm1 μm 粒子の観察. 8 0 ASEM (a) 溶媒:水.網目状構造. (b) 溶媒:エタノール.一様分散. 3. 酸化チタン粒子 (100 nm) スラリーの分散状態観察. x1,000 scale bar: 10 μm 51 26 Copyright(C) 2013 JEOL Ltd., All Rights Reserved 日本電子株式会社 http://www.jeol.co.jp/ x15,000 scale bar: 1 μm 4. 層状酸化物の加水反応. (試料ご提供:金沢工業大学 渡辺雄二郎先生)

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Page 1: スラリーの大気圧SEM観察 - 日本電子株式会社 … Application Data Sheet 関連装置:大気圧走査電子顕微鏡(クレアスコープ) スラリーの大気圧SEM観察

JEOL Application Data SheetJEOL Application Data Sheet 関連装置:大気圧走査電子顕微鏡(クレアスコープ)

スラリーの大気圧SEM観察

SM-B014-00

ClairScope は,大気圧走査電子顕微鏡 (ASEM, Atmospheric

Scanning Electron Microscope) と光学顕微鏡で試料を観察する

装置です。試料は観察中,常に大気圧下・溶液中にあるので,本来

の自然な姿を捉えることができます.

大気 薄膜ディッシュ(試料ホルダ)

(a) ASEMによる観察原理. (b) 前処理不要.濡れた試料もそのまま載せられます.

図1. ASEMの観察原理.

真空

ASEM

x20,000 scale bar: 1 µmx5,000 scale bar: 5 µmx1,000 scale bar: 10 µm

図2. 銀ペースト.分散状態と数10 nm~1 µm 粒子の観察.

8 分0 分ASEM

(a) 溶媒:水.網目状構造. (b) 溶媒:エタノール.一様分散.

図3. 酸化チタン粒子 (100 nm) スラリーの分散状態観察.

x1,000 scale bar: 10 µm51 分26 分

Copyright(C) 2013 JEOL Ltd., All Rights Reserved

日本電子株式会社 http://www.jeol.co.jp/

x15,000 scale bar: 1 µm

図4. 層状酸化物の加水反応.(試料ご提供:金沢工業大学 渡辺雄二郎先生)