r r2 rout2 r,1 ± 3v lvdsクワッド cmos r3 adn4668 r...

13
3V LVDSクワッド CMOS差動ライン・レシーバ ADN4668 Rev. 0 アナログ・デバイセズ社は、提供する情報が正確で信頼できるものであることを期していますが、その情報の利用に 関して、あるいは利用によって生じる第三者の特許やその他の権利の侵害に関して一切の責任を負いません。また、 アナログ・デバイセズ社の特許または特許の権利の使用を明示的または暗示的に許諾するものでもありません。仕様 は、予告なく変更される場合があります。本紙記載の商標および登録商標は、各社の所有に属します。 ※日本語データシートは REVISION が古い場合があります。最新の内容については、英語版をご参照ください。 ©2008 Analog Devices, Inc. All rights reserved. 社/〒105-6891 東京都港区海岸 1-16-1 ニューピア竹芝サウスタワービル 電話 0354028200 大阪営業所/〒532-0003 大阪府大阪市淀川区宮原 3-5-36 新大阪 MT ビル 2 電話 0663506868 特長 レシーバ入力ピンに±15 kV ESD 保護機能を内蔵 スイッチング・レート: 400 Mbps (200 MHz) フロー・スルー・ピン配置により PCB レイアウトを簡素化 チャンネル間スキュー: 150 ps (typ) 差動スキュー: 100 ps (typ) 最大伝搬遅延: 2.7 ns 電源電圧: 3.3 V パワーダウン時に高インピーダンス出力 低消費電力デザイン:静止時 3 mW (typ) 既存の 5 V LVDS ドライバと互換 310 mV (typ)の小振幅差動入力信号レベルを許容 オープン入力、短絡入力、終端入力のフェイルセーフをサポート 0 V100 mV のスレッショールド領域 TIA/EIA-644 LVDS 規格に準拠 工業用動作温度範囲: −40℃~+85薄型 TSSOP パッケージを採用 アプリケーション 1 対1データ送信 マルチドロップ・バス クロック分配回路 バックプレーン・レシーバ 機能ブロック図 R1 R2 R3 R4 R IN1+ V CC GND ADN4668 R IN1– R IN2+ R IN2– R IN3+ R IN3– R IN4+ R OUT1 R OUT2 R OUT3 R OUT4 R IN4– EN EN 07237-001 1. 概要 ADN4668 は、クワッド・チャンネルの CMOS 低電圧差動シグ ナリング(LVDS)ライン・レシーバであり、400 Mbps (200 MHz) を超えるデータ・レートと超低消費電力を提供します。フロ ー・スルー・ピン配置を採用しているため、PCB レイアウトお よび入力信号と出力信号の分離が容易になります。 このデバイスは低電圧(310 mV typ)差動入力信号を入力して、シ ングルエンドの 3 V TTL/CMOS ロジック・レベルへ変換します。 ADN4668 4 個のレシーバを制御するアクティブ・ハイとアク ティブ・ローのイネーブル/ディスエーブル入力(EN EN )を持 っています。これらの信号は、レシーバをディスエーブルし、 出力を高インピーダンス状態に切り替えます。 この高インピーダンス状態により、1 個または複数の ADN4668 の出力をマルチプレクスすることができるため、静止消費電力 3 mW (typ)まで削減することができます。 ADN4668 とこれと対になる LVDS ドライバの組み合わせは、高 速な 1 1 データ伝送に対する新しいソリューションを提供し、 ECL (emitter-coupled logic) または PECL (positive emitter-coupled logic)に対する低消費電力の代替品を提供します。

Upload: others

Post on 22-Jan-2021

0 views

Category:

Documents


0 download

TRANSCRIPT

Page 1: R R2 ROUT2 R,1 ± 3V LVDSクワッド CMOS R3 ADN4668 R V...キュー仕様は、同相モード範囲で200 mV ≤ VID ≤ 800 mVに対して適用されます。 5 出力短絡電流(I

3V LVDSクワッド

CMOS差動ライン・レシーバ

ADN4668

Rev. 0

アナログ・デバイセズ社は、提供する情報が正確で信頼できるものであることを期していますが、その情報の利用に関して、あるいは利用によって生じる第三者の特許やその他の権利の侵害に関して一切の責任を負いません。また、アナログ・デバイセズ社の特許または特許の権利の使用を明示的または暗示的に許諾するものでもありません。仕様は、予告なく変更される場合があります。本紙記載の商標および登録商標は、各社の所有に属します。 ※日本語データシートは REVISION が古い場合があります。最新の内容については、英語版をご参照ください。 ©2008 Analog Devices, Inc. All rights reserved.

本 社/105-6891 東京都港区海岸 1-16-1 ニューピア竹芝サウスタワービル 電話 03(5402)8200

大阪営業所/532-0003 大阪府大阪市淀川区宮原 3-5-36 新大阪 MT ビル 2 号 電話 06(6350)6868

特長

レシーバ入力ピンに±15 kV の ESD 保護機能を内蔵

スイッチング・レート: 400 Mbps (200 MHz)

フロー・スルー・ピン配置により PCB レイアウトを簡素化

チャンネル間スキュー: 150 ps (typ)

差動スキュー: 100 ps (typ)

最大伝搬遅延: 2.7 ns

電源電圧: 3.3 V

パワーダウン時に高インピーダンス出力

低消費電力デザイン:静止時 3 mW (typ)

既存の 5 V LVDS ドライバと互換

310 mV (typ)の小振幅差動入力信号レベルを許容

オープン入力、短絡入力、終端入力のフェイルセーフをサポート

0 V~−100 mV のスレッショールド領域

TIA/EIA-644 LVDS 規格に準拠

工業用動作温度範囲: −40~+85

薄型 TSSOP パッケージを採用

アプリケーション 1 対1データ送信

マルチドロップ・バス

クロック分配回路

バックプレーン・レシーバ

機能ブロック図

R1

R2

R3

R4

RIN1+

VCC

GND

ADN4668

RIN1–

RIN2+

RIN2–

RIN3+

RIN3–

RIN4+

ROUT1

ROUT2

ROUT3

ROUT4RIN4–

EN

EN

07

23

7-0

01

図 1.

概要

ADN4668 は、クワッド・チャンネルの CMOS 低電圧差動シグ

ナリング(LVDS)ライン・レシーバであり、400 Mbps (200 MHz)

を超えるデータ・レートと超低消費電力を提供します。フロ

ー・スルー・ピン配置を採用しているため、PCB レイアウトお

よび入力信号と出力信号の分離が容易になります。

このデバイスは低電圧(310 mV typ)差動入力信号を入力して、シ

ングルエンドの 3 V TTL/CMOS ロジック・レベルへ変換します。

ADN4668 は 4 個のレシーバを制御するアクティブ・ハイとアク

ティブ・ローのイネーブル/ディスエーブル入力(EN とEN)を持

っています。これらの信号は、レシーバをディスエーブルし、

出力を高インピーダンス状態に切り替えます。

この高インピーダンス状態により、1 個または複数の ADN4668

の出力をマルチプレクスすることができるため、静止消費電力

を 3 mW (typ)まで削減することができます。

ADN4668 とこれと対になる LVDS ドライバの組み合わせは、高

速な 1 対 1 データ伝送に対する新しいソリューションを提供し、

ECL (emitter-coupled logic)または PECL (positive emitter-coupled

logic)に対する低消費電力の代替品を提供します。

Page 2: R R2 ROUT2 R,1 ± 3V LVDSクワッド CMOS R3 ADN4668 R V...キュー仕様は、同相モード範囲で200 mV ≤ VID ≤ 800 mVに対して適用されます。 5 出力短絡電流(I

ADN4668

Rev. 0 - 2/13 -

目次 特長 1

アプリケーション 1

機能ブロック図 1

概要 1

改訂履歴 2

仕様 3

AC 特性 4

テスト回路と波形 5

絶対最大定格 7

ESD の注意 7

ピン配置およびピン機能説明 8

代表的な性能特性 9

動作原理 12

イネーブル入力 12

アプリケーション情報 12

外形寸法 13

オーダー・ガイド 13

改訂履歴

3/08—Revision 0: Initial Version

Page 3: R R2 ROUT2 R,1 ± 3V LVDSクワッド CMOS R3 ADN4668 R V...キュー仕様は、同相モード範囲で200 mV ≤ VID ≤ 800 mVに対して適用されます。 5 出力短絡電流(I

ADN4668

Rev. 0 - 3/13 -

仕様 特に指定のない限り、VDD = 3.0 V~3.6 V、CL = 15 pF (GND に接続)、すべての仕様は TMIN~TMAXで規定。1、2

表 1.

Parameter Min Typ Max Unit Conditions/Comments

LVDS INPUTS (RINx+, RINx−)

Differential Input High Threshold, VTH at RINx+, RINx−3 −35 0 mV VCM = 1.2 V, 0.05 V, 2.95 V

Differential Input Low Threshold, VTL at RINx+, RINx− −100 −35 mV VCM = 1.2 V, 0.05 V, 2.95 V

Common-Mode Voltage Range, VCMR at RINx+, RINx−4 0.1 2.3 V VID = 200 mV p-p

Input Current, IIN at RINx+, RINx− −10 ±5 +10 μA VIN = 2.8 V, VCC = 3.6 V or 0 V

−10 ±1 +10 μA VIN = 0 V, VCC = 3.6 V or 0 V

−20 ±1 +20 μA VIN = 3.6 V, VCC = 0 V

Input High Voltage, VIH 2.0 VCC V

Input Low Voltage, VIL GND 0.8 V

Input Current, II −10 ±5 +10 μA VIN = 0 V or VCC, other input = VCC or GND

Input Clamp Voltage, VCL −1.5 −0.8 V ICL = −18 mA

OUTPUTS (ROUTx)

Output High Voltage, VOH 2.7 3.3 V IOH = −0.4 mA, VID = 200 mV

2.7 3.3 V IOH = −0.4 mA, input terminated

2.7 3.3 V IOH = −0.4 mA, input shorted

Output Low Voltage, VOL 0.05 0.25 V IOL = 2 mA, VID = −200 mV

Output Short-Circuit Current, IOS5 −15 −47 −100 V Enabled, VOUT = 0 V

Output Off State Current, IOZ −10 ±1 +10 μA Disabled, VOUT = 0 V or VCC

POWER SUPPLY

No Load Supply, Current Receivers Enabled, ICC 12 15 mA EN = VCC, inputs open

No Load Supply, Current Receivers Disabled, ICCZ 1 5 mA EN = GND, inputs open

ESD PROTECTION

RINx+, RINx− Pins ±15 kV Human body model

All Pins Except RINx+, RINx− ±3.5 kV Human body model

1 デバイス・ピンに流入する電流を正としています。デバイス・ピンから流出する電流を負としています。特に注記がない限り、すべての電圧は GNDを基準にします。

2 すべての typ 値は、VCC = 3.3 V、TA = 25における値です。 3 VCCは、RINx+ と RINx−の電圧より常に高い値です。RINx−と RINx+ の電圧範囲は−0.2 V~VCC − VID/2 です。ただし、AC 仕様を満たすためにコモン電圧範囲は 0.1 V

~2.3 V になります。 4 高い VIDに対して VCMR は小さくされます。たとえば、VID = 400 mV の場合 VCMR は 0.2 V~2.2 V。0 V~2.4 V の全同相モード範囲で入力短絡でのフェイルセー

フ状態はサポートされていませんが、外部からの同相モード電圧がない場合の入力短絡についてはサポートされています。同相モード電圧を VCC/2 に設定すると、最

大 VCC − 0 V までの VID を RINx+/RINx−入力に加えることができます。VID を 200 mVから 400 mVに上げると、伝搬遅延と差動パルス・スキューが減少します。ス

キュー仕様は、同相モード範囲で 200 mV ≤ VID ≤ 800 mV に対して適用されます。 5 出力短絡電流(IOS)は大きさだけを規定するため、マイナス符号は向きのみを示します。同時に 1個の出力のみを短絡させて、最大ジャンクション温度仕様を超えない

ように注意する必要があります。

Page 4: R R2 ROUT2 R,1 ± 3V LVDSクワッド CMOS R3 ADN4668 R V...キュー仕様は、同相モード範囲で200 mV ≤ VID ≤ 800 mVに対して適用されます。 5 出力短絡電流(I

ADN4668

Rev. 0 - 4/13 -

AC 特性

特に指定のない限り、VDD = 3.0 V~3.6 V、CL = 15 (GND に接続)、すべての仕様は TMIN~TMAXで規定。1、2、3、4

表 2.

Parameter5 Min Typ Max Unit Conditions/Comments6

Differential Propagation Delay, High-to-Low, tPHLD 1.2 2.0 2.7 ns CL = 15 pF,7 VID = 200 mV, see Figure 2 and Figure 3

Differential Propagation Delay, Low-to-High, tPLHD 1.2 1.9 2.7 ns CL = 15 pF, 7 VID = 200 mV, see Figure 2 and Figure 3

Differential Pulse Skew |tPHLD − tPLHD|, tSKD18 0 0.1 0.4 ns CL = 15 pF, 7 VID = 200 mV, see Figure 2 and Figure 3

Differential Channel-to-Channel Skew,

Same Device, tSKD23

0 0.15 0.5 ns CL = 15 pF,7 VID = 200 mV, see Figure 2 and Figure 3

Differential Part-to-Part Skew, tSKD34 1.0 ns CL = 15 pF,7 VID = 200 mV, see Figure 2 and Figure 3

Differential Part-to-Part Skew, tSKD49 1.5 ns CL = 15 pF, 7 VID = 200 mV, see Figure 2 and Figure 3

Rise Time, tTLH 0.5 1.0 ns CL = 15 pF,7 VID = 200 mV, see Figure 2 and Figure 3

Fall Time, tTHL 0.35 1.0 ns CL = 15 pF, 7 VID = 200 mV, see Figure 2 and Figure 3

Disable Time, High-to-Z, tPHZ 8 14 ns RL = 2 kΩ, CL = 15 pF, 7 see Figure 4 and Figure 5

Disable Time, Low-to-Z, tPLZ 8 14 ns RL = 2 kΩ, CL = 15 pF,7 see Figure 4 and Figure 5

Enable Time, Z-to-High, tPZH 9 14 ns RL = 2 kΩ, CL = 15 pF, 7 see Figure 4 and Figure 5

Enable Time, Z-to-Low, tPZL 9 14 ns RL = 2 kΩ, CL = 15 pF, 7 see Figure 4 and Figure 5

Maximum Operating Frequency, fMAX10 200 250 MHz All channels switching

1 すべての typ 値は、VCC = 3.3 V、TA = 25における値です。 2 特に指定のない限り、すべてのテストに対するジェネレータ波形は f = 1 MHz、ZO = 50 Ω、RINx+/RINx−の tRと tF (0%~100%) は 3 ns 以下とします。 3 チャンネル間スキュー tSKD2は、入力で任意のイベントがある場合の、同一チップ上の 1 つのチャンネルの伝搬遅延と他のチャンネルの伝搬遅延との間の差として定

義されます。 4 デバイス間スキューtSKD3は、デバイス間で任意のイベントが発生したときの差動チャンネル間スキューです。この仕様は、各デバイスが同じ VCCと動作温度範囲内相

互差 5°C 以内に適用されます。 5 AC パラメータは、デザインおよびキャラクタライゼーションにより保証。 6 デバイス・ピンに流入する電流を正としています。デバイス・ピンから流出する電流を負としています。特に注記がない限り、すべての電圧は GNDを基準にします。 7 CL はプローブと治具の容量を含みます。 8 tSKD1 は、同じチャンネルの正のエッジと負のエッジとの間の差動伝搬遅延の大きさの差です。 9 デバイス間スキューtSKD4は、デバイス間で任意のイベントが発生したときの差動チャンネル間スキューです。この仕様は、推奨動作温度範囲と推奨電圧範囲を超えた

デバイス、および製造プロセス分布間に適用されます。tSKD4は|Max − Min|差動伝搬遅延として定義されます。 10 fMAXジェネレータ入力条件: f = 200 MHz、tR = tF < 1 ns (0%~100%)、50%デューティ・サイクル、差動(1.05 V~1.35 Vp-p)。出力基準: 60%/40%デューティ・サイクル、

VOL (maximum = 0.4 V)、VOH (minimum = 2.7 V)、負荷 = 15 pF (漂遊とプローブ)。

Page 5: R R2 ROUT2 R,1 ± 3V LVDSクワッド CMOS R3 ADN4668 R V...キュー仕様は、同相モード範囲で200 mV ≤ VID ≤ 800 mVに対して適用されます。 5 出力短絡電流(I

ADN4668

Rev. 0 - 5/13 -

テスト回路と波形

SIGNALGENERATOR

RECEIVERIS ENABLED

RINx+

RINx–

CL

CL = LOAD AND TEST JIG CAPACITANCE

VCC

ROUTx

50Ω 50Ω

07

23

7-0

02

図 2.レシーバの伝搬遅延と変化時間のテスト回路

80%80%

20%

1.5V

20%

1.5V

tPLHD tPHLD

RINx–

RINx+

0V (DIFFERENTIAL)

tTLH tTHL

VOH

VOL

1.2V

1.3V

1.1V

ROUTx

VID = 200mV

07

23

7-0

03

図 3.レシーバの伝搬遅延と変化時間の波形

図 4.レシーバのイネーブル/ディスエーブル遅延のテスト回路

Page 6: R R2 ROUT2 R,1 ± 3V LVDSクワッド CMOS R3 ADN4668 R V...キュー仕様は、同相モード範囲で200 mV ≤ VID ≤ 800 mVに対して適用されます。 5 出力短絡電流(I

ADN4668

Rev. 0 - 6/13 -

3V

0V

3V

0V

tPLZ

tPHZ tPZH

tPZL

VOH

GND

VOL

VCC

EN WITH EN = GNDOR OPEN CIRCUIT

EN WITH EN = VCC

50%

50%

ROUTx WITH VID = –100mV

ROUTx WITH VID = +100mV

0.5V

1.5V

1.5V

0.5V

07

23

7-0

05

1.5V

1.5V

図 5.レシーバ・イネーブル/ディスエーブルの遅延波形

Page 7: R R2 ROUT2 R,1 ± 3V LVDSクワッド CMOS R3 ADN4668 R V...キュー仕様は、同相モード範囲で200 mV ≤ VID ≤ 800 mVに対して適用されます。 5 出力短絡電流(I

ADN4668

Rev. 0 - 7/13 -

絶対最大定格 特に指定のない限り、TA = 25。

表 3.

Parameter Rating

VCC to GND −0.3 V to +4 V

Input Voltage (RINx+, RINx−) to GND −0.3 V to VCC + 0.3 V

Enable Input Voltage (EN, EN) to GND −0.3 V to VCC + 0.3 V

Output Voltage (ROUTx) to GND −0.3 V to VCC + 0.3 V

Operating Temperature Range

Industrial −40°C to +85°C

Storage Temperature Range −65°C to +150°C

Junction Temperature (TJ MAX) 150°C

Power Dissipation (TJ MAX − TA)/θJA

TSSOP Package

θJA Thermal Impedance 150.4°C/W

Reflow Soldering Peak Temperature

Pb-Free 260°C ± 5°C

上記の絶対最大定格を超えるストレスを加えるとデバイスに恒

久的な損傷を与えることがあります。この規定はストレス定格

の規定のみを目的とするものであり、この仕様の動作の節に記

載する規定値以上でのデバイス動作を定めたものではありませ

ん。デバイスを長時間絶対最大定格状態に置くとデバイスの信

頼性に影響を与えます。

ESD の注意

ESD(静電放電)の影響を受けやすいデバイスで

す。電荷を帯びたデバイスや回路ボードは、検知

されないまま放電することがあります。本製品は

当社独自の特許技術である ESD 保護回路を内蔵

してはいますが、デバイスが高エネルギーの静電

放電を被った場合、損傷を生じる可能性がありま

す。したがって、性能劣化や機能低下を防止する

ため、ESD に対する適切な予防措置を講じるこ

とをお勧めします。

Page 8: R R2 ROUT2 R,1 ± 3V LVDSクワッド CMOS R3 ADN4668 R V...キュー仕様は、同相モード範囲で200 mV ≤ VID ≤ 800 mVに対して適用されます。 5 出力短絡電流(I

ADN4668

Rev. 0 - 8/13 -

ピン配置およびピン機能説明

1

2

3

4

5

6

7

8

RIN1+

RIN2+

RIN2–

RIN4+

RIN3+

RIN3–

RIN1–

RIN4–

16

15

14

13

12

11

10

9

ROUT1

ROUT2

VCC

ROUT4

EN

ROUT3

GND

EN

ADN4668TOP VIEW

(Not to Scale)

07

23

7-0

06

図 6.ピン配置

表 4.ピン機能の説明

ピン番号 記号 説明

1 RIN1− レシーバ・チャンネル 1 の反転入力。この入力が RIN1+より負側にある場合、ROUT1はハイ・レベル。この入力が RIN1+

より正側にある場合、ROUT1はロー・レベル。

2 RIN1+ レシーバ・チャンネル 1 の非反転入力。この入力が RIN1-より正側にある場合、ROUT1はハイ・レベル。この入力が RIN1-

より負側にある場合、ROUT1はロー・レベル。

3 RIN2+ レシーバ・チャンネル 2 の非反転入力。この入力が RIN2-より正側にある場合、ROUT2はハイ・レベル。この入力が RIN2-

より負側にある場合、ROUT2はロー・レベル。

4 RIN2− レシーバ・チャンネル 2 の反転入力。この入力が RIN2+より負側にある場合、ROUT2はハイ・レベル。この入力が RIN2+

より正側にある場合、ROUT2はロー・レベル。

5 RIN3− レシーバ・チャンネル 3 の反転入力。この入力が RIN3+より負側にある場合、ROUT3はハイ・レベル。この入力が RIN3+

より正側にある場合、ROUT3はロー・レベル。

6 RIN3+ レシーバ・チャンネル 3 の非反転入力。この入力が RIN3-より正側にある場合、ROUT3はハイ・レベル。この入力が RIN3-

より負側にある場合、ROUT3はロー・レベル。

7 RIN4+ レシーバ・チャンネル 4 の非反転入力。この入力が RIN4-より正側にある場合、ROUT4はハイ・レベル。この入力が RIN4-

より負側にある場合、ROUT4はロー・レベル。

8 RIN4− レシーバ・チャンネル 4 の反転入力。この入力が RIN4+より負側にある場合、ROUT4はハイ・レベル。この入力が RIN4+

より正側にある場合、ROUT4はロー・レベル。

9 EN プルダウン付きのアクティブ・ロー・イネーブルおよびパワーダウン入力(3 V TTL/CMOS)。EN をハイ・レベルに維

持すると、ENがロー・レベルまたは断線のときに各レシーバ出力をイネーブルし、ENがハイ・レベルのときに、各レ

シーバ出力を高インピーダンス状態にして、デバイスをパワーダウンさせます。

10 ROUT4 レシーバ・チャンネル 4 の出力(3 V TTL/CMOS)。RIN4+と RIN4−との間の差動入力電圧が正のとき、この出力はハイ・レ

ベルになります。差動入力電圧が負のとき、この出力はロー・レベルになります。

11 ROUT3 レシーバ・チャンネル 3 の出力(3 V TTL/CMOS)。RIN3+と RIN3−との間の差動入力電圧が正のとき、この出力はハイ・レ

ベルになります。差動入力電圧が負のとき、この出力はロー・レベルになります。

12 GND デバイス上の全回路に対するグランド基準電圧ポイント。

13 VCC 電源入力。これらのデバイスは 3~3.6 V の電源で動作することができます。

14 ROUT2 レシーバ・チャンネル 2 の出力(3 V TTL/CMOS)。RIN2+と RIN2−との間の差動入力電圧が正のとき、この出力はハイ・レ

ベルになります。差動入力電圧が負のとき、この出力はロー・レベルになります。

15 ROUT1 レシーバ・チャンネル 1 の出力(3 V TTL/CMOS)。RIN1+と RIN1−との間の差動入力電圧が正のとき、この出力はハイ・レ

ベルになります。差動入力電圧が負のとき、この出力はロー・レベルになります。

16 EN アクティブ・ハイのイネーブルおよびパワーダウン入力(3 V TTL/CMOS)。ENをハイ・レベルに維持するか断線する

と、EN がハイ・レベルのときに各レシーバ出力をイネーブルし、EN がロー・レベルのときに、各レシーバ出力を高

インピーダンス状態にして、デバイスをパワーダウンさせます。

Page 9: R R2 ROUT2 R,1 ± 3V LVDSクワッド CMOS R3 ADN4668 R V...キュー仕様は、同相モード範囲で200 mV ≤ VID ≤ 800 mVに対して適用されます。 5 出力短絡電流(I

ADN4668

Rev. 0 - 9/13 -

代表的な性能特性

3.6

3.5

3.4

3.3

3.2

3.1

3.0

2.9

3.0 3.1 3.2 3.3 3.4 3.5 3.6

OU

TP

UT

HIG

H V

OL

TA

GE

, V

OH

(V)

POWER SUPPLY VOLTAGE, VCC (V)

ILOAD = –400µA

TA = 25°C

VID = 200mV

07

23

7-0

07

図 7.出力高電圧 VOH対電源電圧 VCC

33.60

33.55

33.50

33.45

33.40

33.35

33.30

33.25

3.0 3.1 3.2 3.3 3.4 3.5 3.6

OU

TP

UT

LO

W V

OL

TA

GE

, V

OL (

mV

)

POWER SUPPLY VOLTAGE, VCC (V)

ILOAD = 2µA

TA = 25°C

VID = –200mV

07

23

7-0

08

図 8.出力ロー・レベル電圧 VOL対電源電圧 VCC

–35

–37

–39

–41

–43

–45

–47

–49

–51

–53

–55

3.0 3.1 3.2 3.3 3.4 3.5 3.6

OU

TP

UT

SH

OR

T-C

IRC

UIT

CU

RR

EN

T,

I OS (

mA

)

POWER SUPPLY VOLTAGE, VCC (V) 07

23

7-0

09

VOUT = 0V

TA = 25°C

図 9.出力短絡電流 IOS対電源電圧 VCC

–0.06

–0.07

–0.08

–0.09

–0.10

–0.11

–0.12

–0.13

–0.14

–0.15

3.0 3.1 3.2 3.3 3.4 3.5 3.6

OU

TP

UT

TR

IST

AT

E C

UR

RE

NT

, I O

S (

nA

)

POWER SUPPLY VOLTAGE, VCC (V) 07

23

7-0

10

VOUT = 0V

TA = 25°C

図 10.出力スリーステート電流 IOS対電源電圧 VCC

図 11.スレッショールド電圧 VTH対電源電圧(VCC)

100

90

80

70

60

50

40

30

20

10

010k 100k 1M 10M 100M 1G

PO

WE

R S

UP

PL

Y C

UR

RE

NT

, I C

C (

mA

)

BIT RATE (bps) 07

23

7-0

12

ALL CHANNELS SWITCHING

ONE CHANNEL SWITCHING

図 12.電源電流 ICC対ビット・レート

0

–5

–10

–15

–20

–25

–30

–35

–40

–45

–50

3.0 3.1 3.2 3.3 3.4 3.5 3.6

THRESHOLD VOLTAGE, V

TH (mV)

POWER SUPP L Y VO LT AGE, V CC (V) 07237-0

1 1

V OUT = 0V T A = 25°C

Page 10: R R2 ROUT2 R,1 ± 3V LVDSクワッド CMOS R3 ADN4668 R V...キュー仕様は、同相モード範囲で200 mV ≤ VID ≤ 800 mVに対して適用されます。 5 出力短絡電流(I

ADN4668

Rev. 0 - 10/13 -

93.5

93.0

92.5

92.0

91.5

91.0

90.5

90.0–40 –15 10 35 60 85

07

23

7-0

22P

OW

ER

SU

PP

LY

CU

RR

EN

T,

I CC

(m

A)

AMBIENT TEMPERATURE, TA (°C)

VCC = 3.3V

VID = 200mV

FREQ = 200MHz

ALL CHANNELS

SWITCHING

図 13.電源電流 ICC対周囲温度(TA)

2.35

2.30

2.25

2.20

2.15

2.10

2.05

2.00–40 –15 10 35 8560

07

23

7-0

14

AMBIENT TEMPERATURE, TA (°C)

DIF

FE

RE

NT

IAL

PR

OP

AG

AT

ION

DE

LA

Y,

t PL

HD

,t P

HL

D (

ns)

tPHLD

tPLHD

VCC = 3.3V

VID = 200mV

FREQ = 200MHz

CL = 15pF

図 14.差動伝搬遅延 tPLHD、tPHLD対周囲温度 TA

4.0

3.5

3.0

2.5

2.0

1.50 0.5 1.0 1.5 3.02.0 2.5

07

23

7-0

15

COMMON-MODE VOLTAGE, VCM (V)

DIF

FE

RE

NT

IAL

PR

OP

AG

AT

ION

DE

LA

Y,

t PL

HD

,t P

HL

D (

ns)

TA = 25°C

FREQ = 200MHz

VID = 200mV

CL = 15pF

tPHLD

tPLHD

図 15.差動伝搬遅延 tPLHD、tPHLD対同相モード電圧 VCM

2.40

2.35

2.30

2.25

2.20

2.15

2.10

2.05

2.00

1.953.0 3.1 3.2 3.3 3.63.4 3.5

07

23

7-0

16

POWER SUPPLY VOLTAGE, VCC (V)

DIF

FE

RE

NT

IAL

PR

OP

AG

AT

ION

DE

LA

Y,

t PL

HD

,t P

HL

D (

ns)

tPHLD

tPLHD

TA = 25°C

VID = 200mV

FREQ = 200MHz

CL = 15pF

図 16.差動伝搬遅延 tPLHD、tPHLD対電源電圧 VCC

8

7

6

5

4

3

2

1

00 500 1000 1500 30002000 2500

07

23

7-0

17

DIFFERENTIAL INPUT VOLTAGE, VID (mV)

DIF

FE

RE

NT

IAL

PR

OP

AG

AT

ION

DE

LA

Y,

t PL

HD

,t P

HL

D (

ns)

TA = 25°C

FREQ = 200MHz

VCM = 1.2V

CL = 15pF

tPHLD

tPLHD

図 17.差動伝搬遅延 tPLHD、tPHLD対差動入力電圧 VID

200

150

100

50

0

–50

–100

–150

–2003.0 3.1 3.2 3.3 3.4 3.5 3.6

07

23

7-0

18

DIF

FE

RE

NT

IAL

SK

EW

,t S

KD

(p

s)

POWER SUPPLY VOLTAGE, VCC (V)

TA = 25°CVID = 200mVFREQ = 200MHzCL = 15pF

図 18.差動スキューtSKD対電源電圧 VCC

Page 11: R R2 ROUT2 R,1 ± 3V LVDSクワッド CMOS R3 ADN4668 R V...キュー仕様は、同相モード範囲で200 mV ≤ VID ≤ 800 mVに対して適用されます。 5 出力短絡電流(I

ADN4668

Rev. 0 - 11/13 -

80

60

40

20

0

–20

–40

–60

–80–40 –15 10 35 60 85

07

23

7-0

19

DIF

FE

RE

NT

IAL

SK

EW

,t S

KD

(p

s)

AMBIENT TEMPERATURE, TA (°C)

VCC = 3.3VVID = 200mVFREQ = 200MHzCL = 15pF

図 19.差動スキューtSKD対周囲温度 TA

550

540

530

520

510

500

490

480

470

4603.0 3.1 3.2 3.3 3.63.4 3.5

07

23

7-0

20

POWER SUPPLY VOLTAGE, VCC (V)

TR

AN

SIT

ION

TIM

E,t T

LH

,t T

HL (

ps)

TA = 25°C

VID = 200mV

FREQ = 25MHz

CL = 15pF

tTHL

tTLH

図 20.変化時間 tTLH、tTHL対電源電圧 VCC

560

550

540

530

520

510

500

490

480

470

460

450–40 –15 10 35 60 80

07

23

7-0

21

AMBIENT TEMPERATURE, TA (°C)

TR

AN

SIT

ION

TIM

E,t T

LH

,t T

HL (

ps)

tTHL

tTLH

VCC = 3.3V

VID = 200mV

FREQ = 25MHz

CL = 15pF

図 21.変化時間 tTLH、tTHL対周囲温度 TA

Page 12: R R2 ROUT2 R,1 ± 3V LVDSクワッド CMOS R3 ADN4668 R V...キュー仕様は、同相モード範囲で200 mV ≤ VID ≤ 800 mVに対して適用されます。 5 出力短絡電流(I

ADN4668

Rev. 0 - 12/13 -

動作原理 ADN4668 は、低電圧差動シグナリング用の 4 チャンネル・ライ

ン・レシーバです。このデバイスは低電圧(310 mV typ)差動入力

信号を入力して、シングルエンドの 3 V TTL/CMOSロジックへ変

換します。

ツイストペア・ケーブルのような伝送媒体を介して受信した差

動電流入力信号が、終端抵抗 RTの両端に電圧を発生させます。

この抵抗は、媒体の特性インピーダンス(一般に約 100 Ω)にマ

ッチングさせるように選択されます。レシーバは差動電圧を検

出して、これをシングルエンド・ロジック信号に戻します。

非反転レシーバ入力 RINx+が反転入力 RINx−に対して正のとき(電

流は RT を通り RINx+から RINx−へ流れます)、ROUTxがハイ・レベル

になります。非反転レシーバ入力 RIN+が反転入力 RINx−に対して

負のとき(電流は RT を通り RINx−から RINx+へ流れます)、ROUTx は

ロー・レベルになります。

ADN4667 をドライバとして使うと、受信差動電流は±2.5 mA~

±4.5 mA (typ 値は±3.1 mA)の範囲となり、100 Ω終端抵抗の両

端に±250 mV~±450 mV の範囲を発生します。受信電圧は 1.2

V のレシーバ・オフセットを中心とする電圧になります。言い

換えると、非反転レシーバ入力のロジック 1 は (1.2 V +

[310 mV/2]) = 1.355 V (typ)で、反転レシーバ入力のロジック 1 は

(1.2 V − [310 mV/2]) = 1.045 V (typ)です。ロジック 0 に対しては、

反転と非反転の入力電圧は逆になります。差動電圧は極性が逆

になるので、RT両端のピーク to ピーク電圧振幅は差動電圧の 2

倍になることに注意してください。

電流モード・シグナリングは、RS-422 ドライバのような電圧モ

ード・シグナリングより優れた利点を提供します。

動作電流はスイッチング周波数が高くなっても一定ですが、電

圧モード・ドライバでは多くの場合動作電流は指数的に増加し

ます。これは、内部ゲートがハイ・レベルとロー・レベルとの

間でスイッチするときに発生するオーバーラップによるもので、

このオーバーラップにより電流が VCC からグラウンドへ流れま

す。電流モード・デバイスでは 2 つの出力間で一定電流を切替

えるだけなので、大きなオーバーラップ電流は発生しません。

同じことが ECL (emitter-coupled logic)と PECL (positive emitter-

coupled logic)に対してもいえますが、ECL と PECL では大きな

静止電流が流れます。

イネーブル入力

ADN4668 は、アクティブ・ハイとアクティブ・ローのイネーブ

ル入力を持っており、ディスエーブル状態ですべてのロジック

出力を高インピーダンスにして、デバイス消費電流を 9 mA

(typ)から 1 mA (typ)へ削減します。イネーブル入力の真理値表

については表 5 を参照してください。

表 5.イネーブル入力の真理値表

EN EN RINx+ RINx− ROUTx

High Low or Open 1.045 V 1.355 V 0

High Low or Open 1.355 V 1.045 V 1

Any other combination of

EN and EN

X X High-Z

アプリケーション情報

図 22 に、ADN4667をドライバとして、ADN4668をレシーバとし

てそれぞれ使った場合の、1 対1データ伝送の一般的なアプリケ

ーションを示します。

図 22.代表的なアプリケーション回路

Page 13: R R2 ROUT2 R,1 ± 3V LVDSクワッド CMOS R3 ADN4668 R V...キュー仕様は、同相モード範囲で200 mV ≤ VID ≤ 800 mVに対して適用されます。 5 出力短絡電流(I

ADN4668

Rev. 0 - 13/13 -

外形寸法

16 9

81

PIN 1

SEATINGPLANE

4.50

4.40

4.30

6.40BSC

5.10

5.00

4.90

0.65BSC

0.15

0.05

1.20MAX

0.20

0.09 0.75

0.60

0.450.30

0.19

COPLANARITY0.10

COMPLIANT TO JEDEC STANDARDS MO-153-AB

図 23. 16 ピン薄型シュリンク・スモール・アウトライン・パッケージ[TSSOP]

(RU-16)

寸法: mm

オーダー・ガイド

Model Temperature Range Package Description Package Option

ADN4668ARUZ1 −40°C to +85°C 16-Lead Thin Shrink Small Outline Package [TSSOP] RU-16

ADN4668ARUZ-REEL71 −40°C to +85°C 16-Lead Thin Shrink Small Outline Package [TSSOP] RU-16

1 Z = RoHS準拠製品

D07237

-0-3

/08

(0)-

J