przedmioty ogÓlne technologie informacyjnehome.agh.edu.pl/~kca/ei-im-pytania.pdf · 10. unicode...
TRANSCRIPT
PRZEDMIOTY OGÓLNE
Technologie informacyjne
1. Budowa komputera – podstawowe elementy, ich funkcje i parametry. 2. Kodowanie informacji w systemach cyfrowych – dane numeryczne, alfanumeryczne,
grafika. 3. System operacyjny – pojcia podstawowe oraz funkcje systemu. 4. Aplikacje dla inynierów. 5. Internet – podstawowe protokoły i usługi sieciowe. 6. Rodzaje urzdze sieciowych i ich typowe zastosowanie. 7. Bazy danych – pojcia podstawowe, zasady tworzenia i wykorzystania. 8. Podpis cyfrowy, infrastruktura klucza publicznego – zasada działania, obszary
zastosowa. 9. Zakres liczb, które moemy zakodowa w komputerze zaley od: a) liczby bitów przeznaczonych na reprezentacj liczby b) pojemnoci pamici operacyjnej c) złoonoci algorytmu obliczeniowego d) liczby bitów w rejestrach mikroprocesora.
10. Unicode to: a) standard kodowania znaków b) sposób kodowania dostpny jedynie w systemie Windows c) format plików zawierajcych grafik d) algorytm kompresji stratnej.
11. Grafika rastrowa umoliwia zakodowanie: a) obrazów o rozdzielczoci nie wikszej ni 300 dpi b) maksymalnie 256 kolorów c) jednego piksela na jednym lub kilku bitach, w zalenoci od liczby kolorów d) obrazów, które mog by dowolnie powikszane bez utraty jakoci.
12. W relacyjnej bazie danych: a) wszystkie wartoci atrybutów oparte s na prostych typach danych b) wszystkie wartoci atrybutów oparte s na złoonych typach danych c) nie jest moliwy współbieny dostp do danych
d) wielko zbioru danych nie moe by wiksza ni pojemno pamici operacyjnej.
13. Programy typu CAD umoliwiaj: a) komputerowe wspomaganie projektowania, b) zaawansowane przetwarzanie tekstu i przygotowanie stron gazet do druku, c) tworzenie oprogramowania systemów pomiarowych d) obsług poczty elektronicznej.
14. 32 bitowy adres IP, w klasie redniej B (podział adresu 14:16) pozwala na dołczenie: a) 256 sieci, po 16777216 komputerów b) 4096 sieci, po 16384 komputery c) 16384 sieci, kada po 65536 komputerów d) 65536 sieci, kada po 262144 komputery
15. Parametr RPM dysków twardych okrela: a) redni czas pomidzy dwoma kolejnymi odczytami danych zapisanych w rónych
sektorach dysku twardego b) liczb obrotów talerzy na minut c) szybko dostpu głowicy do danych zapisanych w szukanym sektorze d) opónienie obrotowe głowicy
16. Router, to urzdzenie sieciowe słuce do: a) łczenia rónych rodzajów sieci i okrelania optymalnej trasy dla pakietów b) łczenia osobnych segmentów sieci ze sob, rozszerzajc sie poza maksymalne
wymiary pojedynczego segmentu c) komunikacji rónych sieci ze sob i tłumaczenia rónych typów protokołów d) komunikacji wewntrz segmentów sieci lokalnej 17.DES (Data Encryption Standard), to: a) amerykaski standard szyfrowania z 56 – bitowym kluczem symetrycznym, b) standard NIST z symetrycznym kluczem 128 bitowym c) amerykaski standard szyfrowania z asymetrycznym kluczem 64 bitowym d) amerykaski standard szyfrowania, wykorzystywany w podpisie cyfrowym
18.Firewall słuy do
a) ochrony sieci wewntrznej przed atakami z zewntrz, zezwalajc na autoryzowany dostp do danych wewntrznych
b) ochrony sieci wewntrznej przed atakami z zewntrz, zezwalajc na swobodny dostp do danych wewntrznych
c) ochrony sieci wewntrznej przed atakami z zewntrz, zezwalajc na modyfikacje dowolnych danych wewntrznych
d) ochrony sieci wewntrznej przed atakami z zewntrz, zezwalajc na nieautoryzowany dostp do wybranych zasobów
Wstp do filozofii przyrody
1. Granice poznania - sceptycyzm 2. Realizm naukowy 3. Determinizm w fizyce klasycznej 4. Metoda naukowa 5. Emergencja w chemii 6. Prawa przyrody 7. Symetria i zasady zachowania 8. Przyczynowo w mechanice kwantowej 9. Sceptycyzm, to doktryna filozoficzna, zgodnie z któr:
a) nasza wiedza jest ograniczona do wiata widzialnego b) nasza wiedza obejmuje równie w ograniczonym stopniu własnoci wiata
niewidzialnego c) nasza wiedza o wiecie nie moe by w aden sposób uzasadniona d) nasza wiedza o wiecie jest wiarygodna
10. Korespondencyjna teoria prawdy głosi, e:
a) dane przekonanie jest prawdziwe, jeli jest spójne z całym systemem przekona danej osoby
b) dane przekonanie jest prawdziwe, jeli reprezentuje/przedstawia to, jakie naprawd s rzeczy s w wiecie rzeczywistym
c) dane przekonanie jest prawdziwe, jeli wierzenie w nie jest praktycznie uyteczne d) dane przekonanie jest prawdziwe, jeli jego prawdziwo mona uzasadni w
sposób wiarygodny
11. Realizm naukowy, to pogld, zgodnie z którym: a) teorie naukowe dostarczaj nam wiarygodnej wiedzy na temat rzeczywistego wiata
b) teorie naukowe opisuj rzeczywisty wiat taki jaki naprawd jest c) terminy naukowe opisuj rzeczywiste obiekty, a twierdzenia naukowe s
prawdziwe d) terminy naukowe maj odniesienia przedmiotowe, natomiast twierdzenia naukowe
s na ogół, co najmniej czciowo prawdziwe
12. Abdukcja jest form wnioskowania, polegajc na: a) wybieraniu tej sporód postawionych hipotez, która najlepiej wyjania dane
zjawisko lub fakt b) gromadzeniu faktów i wyciganiu na ich podstawie wniosków c) stawianiu hipotezy i analizie płyncych z niej konsekwencji d) formułowaniu zbioru aksjomatów, z których nastpnie wyprowadza si wnioski
praktyczne
13. Instrumentalizm jest antyrealistyczn postaw filozoficzn, zgodnie z któr: a) teorie s narzdziami słucymi przewidywaniu zjawisk, zarówno
obserwowalnych, jak i nieobserwowalnych, a stwierdzenia odnonie obiektów s zdaniami prawdziwociowymi
b) teorie s narzdziami słucymi przewidywaniu obserwowalnych zjawisk, a stwierdzenia odnonie obiektów nieobserwowalnych s bezsensowne
c) teorie s narzdziami słucymi przewidywaniu zjawisk, a stwierdzenia odnonie przynajmniej niektórych obiektów nieobserwowalnych mog by sensowne
d) teorie s narzdziami słucymi przewidywaniu obserwowalnych zjawisk, ale stwierdzenia odnonie obiektów nie s zdaniami prawdziwociowymi
14. Przyczynowo to:
a) czasowa relacja zakładajca wymian energii pomidzy obiektami lub zdarzeniami b) czasowa relacja pomidzy zdarzeniami, oparta na dowiadczeniu kadorazowego
wystpowania dwóch zdarze po sobie c) relacja pomidzy zdarzeniami, oparta na stałej koniunkcji zdarze d) relacja pomidzy jednym zdarzeniem (przyczyn), a drugim zdarzeniem
(skutkiem), przy czym drugie zdarzenie jest konsekwencj pierwszego 15. Emergencja to:
a) pojawienie si nowych własnoci na skutek oddziaływa pomidzy obiektami, moliwych do przewidzenia na podstawie własnoci samych obiektów
b) pojawienie si nowych własnoci na skutek oddziaływa pomidzy obiektami, niemoliwych do przewidzenia na podstawie własnoci samych obiektów
c) tworzenie układów złoonych wskutek oddziaływa pomidzy prostszymi elementami, o własnociach identycznych jak własnoci tych elementów
d) tworzenie układów złoonych wskutek oddziaływa pomidzy prostszymi elementami, o własnociach cile okrelonych na podstawie własnoci obiektów składowych
16. Silny determinizm, to stanowisko filozoficzne, zgodnie z którym:
a) wszystkie działania maj przyczyn i adne działanie nie jest wolne b) wszystkie działania maj przyczyn i niektóre działania s wolne c) niektóre działania nie maj przyczyny i wszystkie działania s wolne d) niektóre działania nie maj przyczyny i niektóre działania s wolne
17. Mechanika klasyczna Newtona:
a) jest teori w pełni deterministyczn b) jest teori w praktyce deterministyczn, poza nielicznymi przypadkami
niefizycznych układów modelowych c) jest teori indeterministyczn d) jest teori indeterministyczn, z wieloma praktycznymi przypadkami łamania
determinizmu
18. Sporód współczesnych teorii fizycznych, najbardziej deterministyczn teori jest: a) klasyczna mechanika punktowa Newtona b) szczególna teoria wzgldnoci c) ogólna teoria wzgldnoci d) mechanika kwantowa
PRZEDMIOTY PODSTAWOWE
Chemia
1. Powłoki elektronowe w atomach i reguły ich zapełniania. 2. Układ okresowy pierwiastków. 3. Wizania jonowe, kowalencyjne, kowalencyjne spolaryzowane, metaliczne. 4. Stany skupienia materii – stan stały, ciekły, gazowy. 5. Równowaga w roztworach elektrolitów – stopie dysocjacji, stała dysocjacji, pH. 6. Kwasy i zasady wg teorii Arrheniusa, Bronsteda i Lewisa. 7. Reakcje utleniania i redukcji. 8. Podstawowe prawa i definicje w chemii. 9. Budowa atomu wodoru (stan podstawowy). 10. Podstawowe właciwoci cieczy i gazów. Prawa gazowe. Gazy rzeczywiste. 11. Mechanizm dysocjacji elektrolitycznej. Stopie i stała dysocjacji. 12. Przemiany promieniotwórcze i prawo rozpadu promieniotwórczego. 13. Pierwiastki wchodzce w skład tej samej grupy w układzie okresowym maj:
a. tak sam liczb powłok elektronowych; b. tak sam liczb elektronów walencyjnych; c. tak sam energi powłoki walencyjnej; d. tak sam energi wszystkich powłok elektronowych.
14. Właciwoci chemiczne pierwiastków zmieniaj si okresowo, gdy: e. ich masy molowe rosn za kadym razem o podobn warto;
f. liczba izotopów pierwiastków w grupie jest taka sama; g. decyduje o nich liczba powłok elektronowych; h. decyduje o nich konfiguracja powłoki walencyjnej.
15. Wizanie jonowe tworz m.in. pierwiastki, które: i. maj niski potencjał jonizacyjny i wysokie powinowactwo elektronowe; j. maj wysoki potecjał jonizacyjny i wysokie powinowatcwo
elektronowe; k. maj wysoki potencjał jonizacyjny i niskie powinowactwo elektronowe; l. maj niezbyt wysoki potencjał jonizacyjny i niezbyt wysokie
powinowactwo elektronowe. 16. W wizaniu kowalencyjnym spolaryzowanym:
m. wspólna para elektronowa znajduje si dokładnie pomidzy jdrami atomów tworzcych wizanie;
n. wspólna para elektronowa jest przesunita w stron jednego z pierwiastków;
o. wspólna para elektronowa jest przesunita w stron obu pierwiastków; p. wspólna para elektronowa znajduje si przy jednym z pierwiastków.
17. W wizaniu metalicznym elektrony walencyjne kadego z atomów: q. znajduj si w pobliu tego atomu; r. znajduj si pomidzy ssiednimi atomami; s. znajduj si w sferze przycigania wszystkich elektronów; t. znajduj si w pobliu powierzchni metalu.
18. W stanie gazowym materii: u. atomy znajduj si daleko od siebie, a ich oddziaływania s silne; v. atomy znajduj si blisko siebie, a ich oddziaływania s silne; w. atomy znajduj si daleko od siebie, a ich oddziaływania s słabe; x. atomy znajduj si blisko siebie, a ich oddziaływania s słabe.
19. W roztworze słabego elektrolitu: y. stopie dysocjacji jest niski i nie zaley od stenia elektrolitu; z. stopie dysocjacji jest wysoki i nie zaley od stenia elektrolitu; aa. stopie dysocjacji jest wysoki i zaley od stenia elektrolitu; bb. stopie dysocjacji jest niski i zaley od stenia elektrolitu;
20. Wykładnik jonów wodorowych, pH, jest wielkoci charakterystyczn dla: cc. wodnych roztworów kwasów, zasad i soli; dd. roztworów kwasów i zasad w rozpuszczalnikach
amfiprotycznych; ee. wodnych roztworów mocnych elektrolitów; ff. wodnych roztworów słabych elektrolitów.
21. Wg teorii Bronsteda, w reakcji kwasowo-zasadowej: gg. kwas jest dawc pary elektronowej , a zasada jej akceptorem; hh. kwas jest dawc protonu, a zasada akceptorem protonu; ii. zasada jest dawc protonu, a kwas akceptorem protonu; jj. zasada jest dawc pary elektronowej , a kwas jej akceptorem;
22. W reakcji utleniania i redukcji KMnO4 + HCl KCl + MnCl2+Cl2+H2O po jej uzgodnieniu w oparciu o bilans elektronowy suma współczynników stechiometrycznych wynosi:
kk. 29 ll. 31 mm. 33 nn. 35
23. Prawo stosunków stałych jest spełnione dla:
a. bertolidów b. daltonidów c. wszystkich zwizków nieorganicznych d. wszystkich ciał stałych
24. Pierwiastek chemiczny to substancja zbudowana z atomów o takiej samej:
a. liczbie masowej b. masie atomowej c. liczbie protonów w jdrze d. liczbie nukleonów w jdrze
25. Dysocjacja elektrolityczna to rozpad czsteczek niektórych zwizków chemicznych w roztworach na:
a. atomy pod wpływem rozpuszczalnika b. jony pod wpływem prdu elektrycznego c. jony pod wpływem rozpuszczalnika d. jony w trakcie elektrolizy
26. W trakcie przemiany promieniotwórczej α jdra o liczbie atomowej Z i liczbie masowej A powstaje nuklid, którego:
a. liczba masowa = M-2 b. liczba atomowa = Z-4 c. liczba masowa = M+2 d. liczba masowa = M-4
27. Szybko rozpadu promieniotwórczego w chwili t>0 pierwiastka zawierajcego N(t) jder (w chwili t=0 liczba jader wynosiła N0) jest w kadej chwili wprost proporcjonalna do:
a. N(t) b. [N(t)]-1 c. N0-N(t) d. N0
28. W stanie podstawowym atomu wodoru prawdopodobiestwo napotkania elektronu w funkcji odległoci r od jdra P(r):
a. maleje monotonicznie przy wzrocie r b. osiga warto = 1 dla r λ 52 pm c. osiga warto 0 dla dla r λ 52 pm d. osiga maksimum dla r λ 52 pm
29. Gsto ρ gazu doskonałego o masie czsteczkowej M znajdujcego si pod cinieniem p w temperaturze T wyraa wzór (R – stała gazowa):
a. ρ = pMR-1T-1 b. ρ = RT p-1M-1 c. ρ = p T M-1 R-1 d. ρ = RTM p-1
30. Jeeli temperatura krytyczna wody wynosi Tk to para wodna spełnia w przyblieniu równanie Clapeyrona, gdy jej temperatura Tw spełnia warunek:
a. Tw < Tk b. Tw > 373 K c. Τw > 273 K d. Tw > Tk
31. Napicie powierzchniowe cieczy jest wynikiem:
a. istnienia cinienia hydrostatycznego b. działania siły grawitacji c. lepkoci cieczy d. oddziaływa midzyczsteczkowych
32. Iloczyn rozpuszczalnoci Lr zwizku Ca3(PO4)2·2H2O wyraa równanie:
a. 3[Ca2+]·2[PO43-] b. [Ca2+]3 [PO4
3-]2 c. [Ca2+]3 [PO4
3-]2[H2O]2 d. 3[Ca2+]·2[PO43-]·2[H2O]
Chemia nieorganiczna
1. Wizanie koordynacyjne, zwizki koordynacyjne, trwało zwizków
koordynacyjnych. 2. Hydroliza soli. 3. Otrzymywanie i właciwoci kwasu siarkowego (VI), H2SO4. 4. Kwas azotowy (V) HNO3 i azotany. 5. Ogólne właciwoci metali. 6. Właciwoci kwasowo-zasadowe zwizków pierwiastków przejciowych. 7. Mtody otrzymywania metali i niemetali.. 8. Połczenia pierwiastków z tlenem i wodorem. 9. Liczba koordynacyjna w zwizku kompleksowym to:
a. liczba ligandów połczonych z atomem centralnym; b. liczba wiza, jakie tworzy kadyz ligandów; c. liczba wiza, jakie tworzy atom centralny; d. liczba ligandów połczonych pomidzy sob.
10. Stał trwałoci zwizku kompleksowego to: e. stała równowagi reakcji rozpadu zwizku kompleksowego; f. stała równowagi reakcji tworzenia zwizku kompleksowego; g. stała szybkoci reakcji rozpadu zwizku kompleksowego; h. stała szybkoci reakcji tworzenia zwizku kompleksowego;
11. Sporód poniszych soli wybierz zwizek, który nie ulega hydrolizie: i. CH3COONa; j. NH4Cl; k. NaH2PO4; l. NaNO3.
12. Skutkiem hydrolizy jest zmiana odczynu roztworu. Jaki odczyn w roztworze wodnym bdzie miał roztwór wglanu sodowego:
m. kwany; n. zasadowy; o. obojtny; p. w roztworach stonych obojtny, a w rozcieczonych kwany.
13. Wodór w swoich połczeniach z innymi pierwiastkami wystpuje na stopniu utlenienia:
q. – I w połczeniach z niemetalami, + I w połczeniach z niektórymi metalami; r. zawsze – I; s. zawsze +I, t. + I w połczeniach z niemetalami, – I w połczeniach z niektórymi metalami;
14. Jednym z etapów produkcji kwasu siarkowego jest utlenianie SO2 do SO3. W równowadze, która ustala si w tej reakcji:
u. wzrost temperatury i obnienie cinienia prowadzi do zwikszenia jej wydajnoci;
v. obnienie temperatury i obnienie cinienia prowadzi do zwikszenia jej wydajnoci;
w. wzrost temperatury i podwyszenie cinienia prowadzi do zwikszenia jej wydajnoci;
x. obnienie temperatury i wzrost cinienia prowadzi do zwikszenia jej wydajnoci;
15. Utleniajce właciwoci kwasu azotowego (V) wynikaj z: y. faktu, e jest on kwasem mocnym; z. faktu, e azot moe ulega redukcji; aa. faktu, e azot moe ulega utlenieniu; bb. faktu, e zawiera on atomy tlenu.
16. Metale otrzymuje si z ich rud: cc. na drodze reakcji redukcji; dd. na drodze reakcji utlenienia; ee. przez ich oczyszczanie; ff. przez ich rozpuszczanie w kwasach.
17. Tlenek metalu rozpuszczony w wodzie: gg. przejawia właciwoci zasadowe; hh. przejawia właciwoci kwasowe; ii. przejawia właciwoci amfoteryczne; jj. wszystkie powysze odpowiedzi mog by poprawne.
18. Wraz ze wzrostem stopnia utlenienia właciwoci kwasowo-zasadowe tlenków chromu:
kk. nie ulegaj zmianie, tlenki maj zawsze charakter kwasowy; ll. nie ulegaj zmianie, tlenki maj zawsze charakter zasadowy; mm. ulegaj zmianie, tlenki o niszych stopniach utlenienia maj charakter
zasadowy, tlenki o wyszych stopniach utlenienia charakter kwasowy; nn. ulegaj zmianie, tlenki o niszych stopniach utlenienia maj charakter
kwasowy, tlenki o wyszych stopniach utlenienia charakter zasadowy; 19. Produktami reakcji elaza z kwasem azotowym(V) s:
e. Fe(NO3)2, Fe(NO3)3, H2 f. Fe(NO3)2, Fe(NO3)3, H2O g. Fe(NO3)2, Fe(NO3)3, H2, NO, NO2 h. Fe(NO3)2, Fe(NO3)3, H2O, NO, NO2
20. Produktami elektrolizy wodnego roztworu Na2SO4 s :
e. Na i O2 f. NaOH i SO2 g. NaOH, SO2 i O2 h. NaOH i O2
21. Otrzymywanie wodoru z metanu polega na:
e. rozkładzie termicznym metanu f. reakcji metanu z par wodn g. reakcji metanu z wglem h. reakcji metanu z litowcami
22. Wodorki jonowe to zwizki o budowie (X – atom pierwiastka):
e. (H+)n(Xn-) f. (H+)(X-)
g. (Xn+)(H-)n h. XnHm
23. W cigu reakcji S + O2 R1; R1 + H2O R2; R2 + Ca(OH)2 R3 + R4 substancjami R1, R2, R3 i R4 s odpowiednio :
e. SO3, H2SO4, CaSO4, H2O f. SO2, H2SO4, CaSO4, H2O g. SO2, H2SO3, CaSO3, H2 h. SO2, H2SO3, CaSO3, H2O
24. Produktami reakcji Cl- + MnO2 + H+ mog by midzy innymi :
e. Cl2 i MnO4- f. ClO4
- i Mn4+ g. Cl2 i Mn7+ h. Cl2 i Mn2+
25. ZnO w reakcji z HCl daje ZnCl2 a w reakcji z NaOH powstaje Na2[Zn(OH)4]. Tlenek ten jest :
e. amfoteryczny f. obojtny g. kowalencyjny h. bertolidem
26. Jon NH4+ w wietle definicji kwasów i zasad Brønsteda jest :
e. zasad f. jonem amfoterycznym g. kwasem h. obojtny
27. Jeeli L jest ligandem dwufunkcyjnym to liczba koordynacyjna metalu M w jonie kompleksowym [M(L)3]2+ wynosi :
e. 2 f. 3 g. 3+stopie utlenienia M h. 6
28. Skumulowan stał trwałoci Kr kompleksu jonu kompleksowego [Ag(NH3)2] wyraa równanie (nawiasy oznaczaj stenia równowagowe):
e. Ag+NH32[Ag(NH3)2]-1 f. [Ag(NH3)2]Ag+-1NH3-2 g. Ag++2NH3[Ag(NH3)2]-1 h. Ag+NH32
Fizyka
1. Zasady dynamiki Newtona: sformułowanie oraz zastosowanie w opisie zjawisk fizycznych.
2. Rodzaje oddziaływa podstawowych (grawitacyjne, słabe, elektromagnetyczne i silne): zasig i skutki.
3. Zasady zachowania: masy, pdu, momentu pdu, energii, ładunku. 4. Właciwoci pól elektrycznych i magnetycznych. Ruch ładunku w polu elektrycznym
i magnetycznym. 5. Fale elektromagnetyczne: równanie fali, prawa optyki geometrycznej i falowej,
oddziaływanie fali z materi.
6. Czstka o masie zderza si centralnie w zderzeniu niesprystym z nieruchom
czstk o masie . Po zderzeniu czstki poruszaj si razem. Jaka cz energii kinetycznej zostaje w tym zderzeniu zamieniona w inne formy energii?
a) b) c) d)
7. Pi dodatnio naładowanych czstek, kada o ładunku , rozłoonych jest w
wierzchołkach piciokta równobocznego wpisanego w okrg o promieniu . Pole elektryczne w rodku tego okrgu wynosi:
a) b) c) d)
8. Na rysunku przedstawiajcym sferyczne zwierciadło zaznaczono połoenie ogniska (F) i obiektu (O). Wska połoenie obrazu.
a)
b)
c)
d)
9. Kamie został wyrzucony pod ktem 45o do poziomu. Które z przedstawionych
wykresów reprezentuj zaleno składowych i wektora od czasu. Opór powietrza zaniedbaj.
a) - rys. I; - rys. III
b) - rys. II; - rys. I
c) - rys. II; - rys. III
d) - rys. II; - rys. IV
10. Cewka indukcyjna i kondensator zostały szeregowo połczone w obwód. Równanie
opisujce ruch ładunku w tym obwodzie ma posta: Analogiczne
równanie opisuje ruch oscylatora harmonicznego o masie , współrzdnej połoenia
i stałej harmonicznej . Dopasuj , i do ich analogów mechanicznych.
L C Q a) b) c)
I II III IV F O
I II III IV
d) 11. Prostopadłocienn próbk izolatora o stałej dielektrycznej i podatnoci
dielektrycznej umieszczono w stałym polu elektrycznym o nateniu i kierunku prostopadłym do powierzchni próbki. Natenie pola elektrycznego w próbce wynosi:
a) b) c) d)
12. Człowiek na powierzchni Ziemi way 600N. Ile wayłby ten człowiek na planecie o dwukrotnie wikszej masie i dwukrotnie wikszym promieniu?
a) dwa razy mniej
b) dwa razy wicej
c) tyle samo
d) cztery razy wicej
13. Fala elektromagnetyczna to:
a) fala uderzeniowa
b) fala poprzeczna
c) fala podłuna
d) nałoenie fali poprzecznej i podłunej
14. Interferencja to:
a) zmiana kierunku rozchodzenie fali wskutek odbicia od powierzchni
b) zjawisko nakładania si fal prowadzce do zwikszania lub zmniejszania amplitudy fali wypadkowej
c) zmiana kierunku rozchodzenia fali wskutek załamania na krawdzi
d) zmiana kierunku fali na granicy dwóch orodków
15. Promieniowanie to:
a) wydzielona cz widma elektromagnetycznego
b) zjawisko transportu energii na drodze dyfuzji
c) zjawisko transportu energii za porednictwem fal elektromagnetycznych
d) zjawisko nakładania si pola elektrycznego i magnetycznego
Matematyka
1. Zbiory i funkcje liczbowe 2. Funkcja logarytmiczna 3. Pochodna funkcji 4. Badanie funkcji 5. Liczby zespolone 6. Całki nieoznaczone 7. Rachunek wektorowy 8. Zbiorem wartoci funkcji y = x2 +1 okrelonej na zbiorze liczb rzeczywistych jest: a. zbiór liczb rzeczywistych b. zbiór liczb rzeczywistych ≥ 1 c. zbiór liczb rzeczywistych nieujemnych d. zbiór liczb naturalnych
9. Wyraenie log(ab) mona przedstawi jako: a. log(a)log(b) b. log(a) + b c. log(a) + log(b) d. log(a) – log(b) 10. Podstaw logarytmu naturalnego jest: a. liczba e b. liczba c. liczba 10 d. liczba 2 11. Pochodna dy/dx funkcji y = 2x2 + 5z wynosi: a. 5 b. x3+5zx c. 4x d. 4x+z 12. Pochodna dy/dx funkcji y = x/(1+x) wynosi: a. -1/x2
b. 1 c. 1/(x2+2x+1) d. inna warto ni wymienione w punktach a, b, c 13. W punkcie przegicia pochodna funkcji osiga: a. warto 0 b. ekstremum c. jest nieokrelona d. dy do nieskoczonoci 14. Jeeli liczba zespolona przedstawiona jest jako a+bi to jej moduł dany jest wyraeniem: a. a2+b2 b. a2-b2
c. 22 ba −
d. 22 ba + 15. Całka nieoznaczona dxa x wynosi:
a. a2x + C b. 2ax + C c. ax/lna + C d. ax/lna
16. Iloczyn skalarny wektorów A·B na płaszczynie dany jest wzorem (gdzie Ax Ay Bx By s składowymi wektorów, A,B jest ktem pomidzy wektorami): a. ABsin(A,B) b. AxBx + AyBy c. AxBy + AyBx d. AxAy + BxBy 17. Dywergencja wektora A na płaszczynie dana jest wzorem (gdzie Ax Ay s składowymi wektora, i, j wektorami jednostkowymi odpowiednio na osiach x i y). a. AxAy
b. yA
x
Axy
∂∂−
∂∂
c. y
A
xA yx
∂∂
+∂
∂
d.
∂∂
−∂∂+
∂∂−
∂∂
x
A
yA
jyA
x
Ai yxxy
Statystyka
1. Główne parametry rozkładu zmiennej losowej
2. Estymator- jak mona go okreli, do czego słuy, właciwoci
3. Poda przykład zmiennej losowej cigłej i dwupunktowej .
4. Co to jest poziom ufnoci, co on okrela?
5. Hipotezy statystyczne, opisa standardowy sposób ich weryfikacji
6. Współczynnik korelacji liniowej, co on okrela?
7. Niepewnoci (błdy) pomiarowe sposoby ich okrelania oraz zapisu.
8. Zasada metody najmniejszych kwadratów
9. Dystrybuanta rozkładu F(t) okrela: a) prawdopodobiestwo, e zmienna losowa X jest mniejsza od t:
P(X<t) b) prawdopodobiestwo, e zmienna losowa X wynosi t : P(X=t) c) prawdopodobiestwo, e zmienna losowa X jest zawarta
pomidzy (-t , t) : P( -t<X< t) d) prawdopodobiestwo, e zmienna losowa X jest wiksza od t: P(X
> t) 10. x i y s zmiennymi cigłymi w populacji generalnej , ich współczynnik korelacji liniowej wynosi zero, oznacza to:
a) brak korelacji midzy x i y b) wystpuje silna korelacja midzy x a y c) brak korelacji liniowej midzy x i y d) współczynnik korelacji nigdy nie wynosi zero.
11. Aeby skróci przedział ufnoci naley:
a) zwikszy poziom ufnoci b) zmniejszy liczebno próby c) zwikszy liczebno próby d) wybra now prób
12. Weryfikacja hipotez statystycznych polega na: a) sprawdzaniu hipotezy statystycznej b) odrzuceniu hipotezy alternatywnej c) przyjciu za słuszn hipotez zerow d) przyjciu za słuszn hipotez alternatywn
13. Rozkład normalny standaryzowany N(0, 1) to a) Rozkład zmiennej losowej skokowej b) Rozkład zmiennej losowej cigłej, zero-parametrowy c) Rozkład zmiennej losowej cigłej, dwu-parametrowy d) Rozkład jedno-parametrowy.
14. Standaryzacja rozkładu normalnego N(µ, ) polega na zmiennej x na zmienn z według wzoru:
a)
b)
c)
d) 15. Metoda najmniejszych kwadratów polega na:
a) wyznaczeniu współczynnika korelacji b) wyznaczenie równania najlepszej zalenoci funkcyjnej c) wyznaczeniu błdu pomiaru d) eliminacji błdu systematycznego.
16. Estymatorem wartoci oczekiwanej jest, a) rednia arytmetyczna, b) wariancja, c) poziom ufnoci, d) median 17. Prawidłowy zapis wyniku 9,82±0,02148 N ma posta, a) 9,82±0,02 N, b) 9,82±0,01 N, c) 9,82±0,022 N, d) 9,82±0,0215 N 18. Błd bezwzgldny to:
a) rónica pomidzy wartoci rzeczywist, a wartoci otrzyman z pomiaru, b) stosunek wartoci rzeczywistej do wartoci otrzymanej z pomiaru, c) klasa dokładnoci przyrzdu pomiarowego, d) liczba cyfr znaczcych w wyniku pomiaru,
Grafika inynierska
! "
# $
% " "&'
( ) *
+,-'. -. /
0"-' "-1
-0 2"-' "-1
0 32"-' "-1
032"-' "-
45 67 /
0 1
-0 1
0 '6 1
0 &8
" 68 . 69 61)6 "9 /
0 1
-0 1
0 1
0
$-- - " "/
0" - -& " " 1
-0" - -& " " " 1
0 1
0
: " &6 66 ; 0$ 6 8.&/
0;"6 0"1
-0;"6 0 1
0 ;"6 01" 1
0;"6 0
$ /
$6 6<6 /
#= /
%$ & /
0 1
-0 1 & ' ' 6 &61
0 1
0 1 & ' ' 6 &6
(* / 1 /
+ &' ./
0 -& &' 1
-0 667 '. 1 '. >'1
0 >- &'1
0" -- 19
4) / 191 1 " "67/
0 -"6--6 / 1 - 1 1 " "1
-0 - --6 / 1 - 1 1 " "1
0 "6 1 - 1 1 " "1
0 "6 1 - 1 1 " "
Informatyka
1. Systemy pozycyjne w komputerach. 2. Zapisywanie algorytmów za pomoc schematów blokowych.
3. Najwaniejsze rónice pomidzy funkcjami a procedurami. 4. Narzdzia programistyczne: Debuggery, kompilatory i interpretery. 5. Rónice pomidzy algorytmami iteracyjnymi a rekurencyjnymi. 6. Typy danych w komputerach.
1. Liczba 68 w systemie binarnym wynosi: A. 1000100 B. 0100100 C. 1000000 D. 1010100
2. Iloczyn liczb binarnych 11 * 1001 w systemie binarnym wynosi: A. 10100 B. 11010 C. 11111 D. 11011
3. Typ danych przechowujcych wartoci zmiennoprzecinkowe to: A. Byte B. Double C. Long D. Boolean
4. Ile razy wykona si ponisza ptla
For i = 1 To 20 Step 2 i = i + 2 Next i
A. 1 raz B. Ani raz C. 5 razy D. 10 razy
5. Debugger to program słucy do: A. dynamicznej analizy programów, w celu odnalezienia i identyfikacji
zawartych w nich błdów. B. pisania programów C. automatycznego tłumaczenia kodu napisanego w jednym jzyku (jzyku
ródłowym) na równowany kod w innym jzyku (jzyku wynikowym) D. zbierania informacji o komputerze
6. Metoda rónic skoczonych to metoda: A. Dokładnego rozwizywania równa róniczkowych B. Przyblionego rozwizywania równa algebraicznych C. Przyblionego rozwizywania równa róniczkowych D. Rozwizywania układów równa algebraicznych
7. Ponisze wyraenie
( ) ( )
2f x x f x x
x+ ∆ − − ∆
∆
pozwala obliczy przyblion warto:
A. Pierwszej pochodnej funkcji f w punkcie x B. Drugiej pochodnej funkcji f w punkcie x C. Pierwszej pochodnej funkcji f w punkcie x x+ ∆ D. Wartoci funkcji f w otoczeniu punktu x
8. Dane s dwie zmienne A i B. Uzupełnij poniszy algorytm w ten sposób,
aby w zmiennej A znalazła si pocztkowa warto zmiennej B, natomiast w zmiennej B ma si znale pocztkowa warto zmiennej A.
C = B ....
A = C A. B=A B. B=C C. C=A D. A=B
9. co wypisze poniszy algorytm:
A. 18 B. 29 C. 21 D. 20
10. Program wypisuje wyrazy cigu an = (n+4)/(n-3) od wyrazu ax do ay, gdzie X, Y s
wczytywane z klawiatury. Co powinno si znale w polu INSTR.
START
C <N
STOP
tak
nie
C = A + B
A = B
N = 20
A = 3
B = 4
WYPISZ: A
B = C
A. i=i+1 B. X=X+1 C. i=Tmp D. Y=Y-1
Bezpieczestwo techniczne
1) Ile lat trwaj roszczenia za ceramiczny produkt wadliwy z tytułu rkojmii (z
wyłczeniem budynków) ? a) 1 b) 2 c) 3 d) 5
2) Aprobata techniczna dla wyrobu ceramicznego udzielana jest na wniosek: a) importera, b) producenta, c) sprzedawcy d) producenta i sprzedawcy
3) Czy rodki ochrony indywidualnej oraz ubrania robocze podlegaj certyfikacji? a) tak b) tylko rodki ochrony indywidualnej c) tylko ubrania robocze d) nie
4) Ilo i stopie skomplikowania a take konsekwencje błdnych decyzji wpływaj na: 5) Klasa odpornoci poarowej budynku zaley od:
a) rodzaju i kategorii strefy poarowej a take grupy wysokoci budynku b) nonoci ogniowej, izolacyjnoci ogniowej i szczelnoci ogniowej c) obecnoci sygnalizacji poarowej (SAP) i instalacji głosowej (DSO) d) powierzchni strefy poarowej
6) Bezpiecznym miejscem dla celów ewakuacji jest: a) pomieszczenie wyposaone w stałe urzdzenia ganicze (tryskaczowe), b) korytarze i wymknita klatka schodowa drzwiami w klasie EI 30 CS, c) inna strefa poarowa, oddymiana klatka schodowa z drzwiami EI 30 CS,
miejsce na zewntrz budynku d) pozioma i pionowa droga ewakuacyjna oraz miejsce na zewntrz budynku
7) Zasoby odnawialne to midzy innymi: a) woda, zbiorowiska rolinne, łowiska, zasoby genetyczne i wgiel brunatny b) wgiel kamienny, rudy miedzi oraz zasoby lene c) przede wszystkim surowce energetyczne i surowce mineralne d) zbiorowiska rolinne, łowiska, zasoby genetyczne oraz powietrze
8) Odpady przemysłowe niebezpieczne to: a) przede wszystkim odpady z produkcji, przygotowania, obrotu i stosowania
zwizków nieorganicznych a take przeróbki ropy naftowej i procesów hydrometalurgicznych
b) produkty fermentacji cukrów c) zwizki chemiczne biodegradowalne d) piaski i iły
Elektrotechnika z elektronik
1. Obwód elektryczny i jego analiza.
2. Podstawowe sygnały elektryczne i ich pomiar.
3. Obwody prdu sinusoidalnego, analiza obwodu metod liczb zespolonych.
4. Stany dynamiczne w obwodach elektrycznych pierwszego i drugiego rzdu – równania i przebiegi czasowe.
5. Transformator elektryczny, silnik i prdnica – budowa i zasada działania.
6. Realizacja podstawowych elektronicznych układów analogowych w oparciu o wzmacniacz operacyjny.
7. Podstawowe bramki logiczne w elektronicznych układach cyfrowych.
8. Jakie wartoci maj prdy gałziowe w obwodzie, którego schemat przedstawia rysunek? Dane: E=9V, R1=1Ω, R2=6Ω, R3=3Ω.
a) I1= 3A, I2= 1A, I3= 2A
b) I1= 3A, I2= 2A, I3= 1A
c) I1= 9A, I2= 6A, I3= 3A
d) I1= 1A, I2= 2A, I3= 3A
9. Elektroniczny układ przedstawiony na schemacie, zbudowany w oparciu o wzmacniacz operacyjny to:
+
- R1
UWE UWY
C
UZ+
UZ-
R1
R2 R3 E
I2 I3
I1
a) wzmacniacz odwracajcy
b) układ kondensatorowy
c) układ całkujcy
d) układ róniczkujcy
10. Jak moc wskazuje watomierz w obwodzie prdu sinusoidalnego w stanie ustalonym o napiciu zasilajcym e(t) i impedancji obcienia Z ? Dane:
e(t)=Emsin(ωt), Em=200 2 V, Z=(8+j6)Ω.
a) 1000W
b) 600W
c) 800W
d) 1400W
11. Który z metali ma najwiksz przewodno elektryczn właciw w temperaturze pokojowej (jest najlepszym przewodnikiem elektrycznoci)?
a) złoto
b) srebro
c) mied
d) aluminium
12. Odbiornik (opór R0) dopasowano do ródła napicia tak, aby na nim wydzielała si energia z maksymalna moc. Ile wynosi moc odbiornika P0 ? Dane: E = 12V, RW=3Ω
a) P0 =4W
b) P0 =12W
c) P0 =24W
d) P0 =6W
W
e(t)
RE
R
13. Zasada superpozycji obowizuje tylko w:
a) obwodach prdu stałego
b) obwodach liniowych
c) obwodach prdu sinusoidalnego
d) obwodach nieliniowych
14. Amperomierz cyfrowy True RMS ustawiony w tryb pracy AC przy pomiarze prdu okresowego wskae:
a) =T
A dttiT
I0
)(1
b) =T
A dttiT
I0
2)(1
c) =T
A dttiT
I0
2)(1
d) =T
A dttiT
I0
)(1
15. Jak funkcj logiczn realizuje układ cyfrowy?
a) 132 xxxy ⋅⋅=
b) 132 xxxy +⋅=
c) 132 xxxy ++=
d) 132 )( xxxy ⋅+=
16. W jakim układzie elektrycznym odpowied na skok napicia zasilajcego da przebieg czasowy przedstawiony na oscyloskopie?
a) układ RC
b) układ RLC
c) układ RL
A
i(t)=i(t+nT)
Amperomierz True RMS
x3 x2 x1
y
d) układ LC
17. W symetrycznych układach trójfazowych przy połczeniu tego samego odbiornika w gwiazd i w trójkt obowizuje zaleno midzy mocami:
a) Ptrójkta= 3 Pgwiazdy
b) Ptrójkta= 3Pgwiazdy
c) Pgwiazdy = 3Ptrójkta
d) Pgwiazdy = 3 Ptrójkta
Zarzdzanie jakoci
1. Pojcie jakoci 2. Klient i jego rola w systemach jakoci 3. Koszty jakoci 4. Normy i normalizacja 5. Dokumentacja systemu zarzdzania jakoci 6. Narzdzia zarzdzania jakoci 7. W nauce o jakoci przez jako produktów i usług rozumiemy: a. maestri w wykonaniu b. stopie spełnienia oczekiwa klienta c. moliwo zastosowania produkcji wieloseryjnej d. posiadanie przez organizacj produkcyjn/usługow znaku towarowego TM
10. Klient bezporedni to: a. mieszkaniec terenów w pobliu zakładu b. pracownik przedsibiorstwa c. wiadomy odbiorca oferowanych wyrobów/usług d. internauta odwiedzajcy stron internetow predsibiorstwa 11. Do kosztów utraconych moliwoci nale: a. utracone rynki zbytu i zamówienia b. koszty braków naprawialnych c. koszty szkole pracowników d. koszty spraw sdowych i odszkodowa 12. Podstawowa norma zarzdzania jakoci wdraana w przedsibiorstwie to:
a. PN/ISO 9000 b. PN/ISO 9001 c. PN/ISO 18025 d. GLP
13. Standardowa procedura operacyjna opisuje: a. polityk jakoci przedsibiorstwa b. system zarzdzania przedsibiorstwem c. odpowiedzialno zarzdu przedsibiorstwa
d. w sposób szczegółowy rutynowe czynnoci 14. Wykres Pareto pozwala na: a. okrelenie zalenoci midzy zmiennymi b. identyfikacj czynników powodujcych najwiksze odstpstwa od jakoci. c. kompleksow ocen statystyczn jakoci produktu d. stworzenie nowej koncepcji zarzdzania
PRZEDMIOTY KIERUNKOWE
Chemia organiczna
1. Izomeria zwizków organicznych i jej rodzaje. 2. Typy reakcji i reagentów organicznych. 3. Alkany, alkeny, alkiny - budowa, nazewnictwo, charakterystyczne reakcje. 4. Zwizki aromatyczne - rodzaje, charakterystyczne cechy budowy, typowe reakcje
chemiczne, wpływ podstawników w piercieniach aromatycznych na te reakcje. 5. Halogenki alkilów i arylów - budowa, charakterystyczne reakcje. 6. Alkohole i fenole - budowa, charakterystyczne reakcje, właciwoci kwasowo-zasadowe. 7. Aldehydy i ketony - nazewnictwo, charakterystyczne reakcje. 8. Kwasy karboksylowe - nazewnictwo, moc; pochodne kwasów karboksylowych - rodzaje,
nazewnictwo. 9. Izomery geometryczne moe tworzy: a) heks-3-yn; b) but-2-en; c) oktan; d) pent-1-en.
10. Izomerem kwasu pentanowego jest:
a) kwas 2-metylopentanowy; b) propanian etylu; c) 2-metylobutan-2-ol, d) propanian 2-metyloetylu.
11. W trakcie bromowania etanu przebiegajcego w podwyszonej temperaturze podczas nawietlania mieszaniny reakcyjnej promieniowaniem nadfioletowym powstaj: a) nadtlenki; b) elektrofile; c) nukleofile; d) wolne rodniki.
12. Głównym produktem reakcji 2-metylobut-2-enu z HCl jest: a) 2-chloro-2-metylobutan; b) 1-chloro-2-metylobut-2-en; c) 2-chloro-3-metylobutan; d) 1-chloro-2-metylobutan.
13. Alkohol powstajcy w wyniku reakcji 3-chloro-3-metyloheksanu z NaOH nie wykazuje czynnoci optycznej, gdy:
a) nie zawiera asymetrycznego atomu wgla; b) w czasie tej reakcji ma miejsce odwrócenie (inwersja) konfiguracji podstawników przy asymetrycznym atomie wgla; c) produktem reakcji jest mieszanina racemiczna; d) reakcja przebiega według mechanizmu SN2.
14. Reakcja nitrowania przebiega łatwiej ni w przypadku benzenu, gdy poddaje si jej: a) aldehyd benzoesowy; b) aminobenzen; c) keton fenylowo-metylowy; d) nitrobenzen.
15. Reakcja tworzenia hemiacetalu z propanalu i etanolu jest reakcj:
a) addycji elektrofilowej; b) substytucji wolnorodnikowej; c) addycji nukleofilowej; d) substytucji nukleofilowej.
16. Sporód podanych zwizków z HCl reaguje:
a) 2-metylobutan; b) 2-metylobutan-2-ol; c) 2-metylo-2-chlorobutan; d) chlorobenzen.
17. Sporód podanych zwizków najsilniejsze właciwoci kwasowe wykazuje:
a) kwas octowy; b) kwas dichlorooctowy; c) kwas chlorooctowy; d) kwas trichlorooctowy.
18. Wszystkie atomy le w jednej płaszczynie w czsteczce:
a) metylobenzenu; b) naftalenu; c) etanu; d) propenu.
Podstawy mechaniki i konstrukcji maszyn 1. Rodzaje wizów i uwalnianie od nich elementów maszyn lub konstrukcji. 2. Warunki równowagi płaskich układów sił i przykłady ich zastosowania. 3. Proste przypadki wytrzymałociowe. 4. Dowiadczalne podstawy okrelania właciwoci mechanicznych materiałów
budowlanych oraz ceramicznych. 5. Wymiarowanie złczy nierozłcznych. 6. Dobór elementów złczy rozłcznych. 7. Rodzaje przekładni mechanicznych i ich znaczenie w układach napdowych maszyn. 8. Podpor przegubow przesuwn zastpuje si sił reakcji, której kierunek jest:
a) prostopadły do kierunku ruchu, b) równoległy do kierunku ruchu, c) nieznany i dlatego rozkłada si j na 2 składowe, d) tworzy z kierunkiem ruchu kt 45º.
9. Warto reakcji w punktach A oraz B elementu przedstawionego na schemacie wynosi:
a) RA = 15 kN, RB = 5 kN, b) RA = 5 kN, RB = 10 kN, c) RA = 10 kN, RB = 10 kN, d) RA = 5 kN, RB = 15 kN.
10. Warunkiem koniecznym równowagi płaskiego dowolnego układu sił jest:
a) =
=n
iixP
1
0 , =
=n
iiyP
1
0 , =
=n
iioM
1
0 ,
b) =
=n
iixP
1
0 , =
=n
iiyP
1
0 ,
c) =
=n
iiyP
1
0 , =
=n
iioM
1
0 ,
d) =
=n
iixP
1
0 , , =
=n
iioM
1
0 .
11. Odkształcenie bezwzgldne prta przedstawionego na schemacie wynosi:
a) 2,38 [mm], b) 0,238 %, c) 0,152 [mm], d) 0,0152 %.
12. Sztywno elementu zginanego zaley m.in. od:
a) jego długoci, b) obcienia, c) maksymalnej strzałki ugicia, d) wymiarów przekroju poprzecznego.
13. Wytrzymało na zginanie materiału budowlanego lub ceramicznego okrelona w sposób eksperymentalny stanowi warto:
a) siły niszczcej próbk, b) maksymalnego momentu zginajcego, c) naprenia zginajcego w przekroju złamania próbki, d) naprenia cinajcego w przekroju złamania próbki.
14. Długo obliczeniowa lobl kadej ze spoin pachwinowych przedstawionych na schemacie wynosi:
a) 50 mm, b) 100 mm, c) 35 mm, d) 70 mm.
k’st = 50 MPa, g = 10 mm, P = 70 kN 15. Warto granicy plastycznoci stali, z której wykonana jest ruba M16x80-6.8-A wynosi:
a) 48 MPa, b) 14 MPa, c) 80 MPa, d) 480 MPa.
16. ruba luna w prawidłowo wykonanym złczu rozłcznym powinna by poddana:
a) cinaniu, b) rozciganiu, c) zginaniu, d) skrcaniu.
17. Przekładnie mechaniczne redukujce obroty słu m.in. do:
a) zwikszenia mocy uytecznej, b) zwikszenia momentu obrotowego, c) zwikszenia obrotów na wyjciu z przekładni, d) zmniejszenia momentu na wyjciu przekładni.
Chemia fizyczna
1. Termodynamika przemian gazowych 2. Termodynamika przemian fazowych 3. Równowaga chemiczna, czynniki wpływajce na stał i stan równowagi 4. Równowaga w układach wielofazowych i wieloskładnikowych, diagramy fazowe 5. Czynniki wpływajce na kinetyk reakcji chemicznej 6. Kryteria samorzutnoci procesów w przyrodzie 7. Ogniwa chemiczne, zasada działania, przykłady 8. Prawa elektrolizy, praktyczne wykorzystanie 9. Jeli entalpie podanych reakcji s znane,
to entalpia reakcji utleniania siarki do SO2 w kJ mol-1 wynosi: a) -297, b) +297, c) -493, d) +493
10. Które stwierdzenie jest prawdziwe dla reakcji endotermicznych?
a) wizania w produktach s silniejsze ni w substratach b) wizania w substratach s silniejsze ni w produktach c) entalpia produktów jest nisza od entalpii substratów d) reakcja jest samorzutna w niskich temperaturach i niesamorzutna w wysokich
temperaturach
11. Które z poniszych stwierdze jest prawdziwe w odniesieniu do reakcji z udziałem katalizatora:
a) zmiana entalpii dla reakcji z udziałem katalizatora jest mniejsza ni dla reakcji bez katalizatora
b) zmiana entalpii dla reakcji z udziałem katalizatora jest wiksza ni dla reakcji bez katalizatora
c) zmiana entalpii dla reakcji z udziałem katalizatora jest taka sama jak dla reakcji bez katalizatora
d) energia aktywacji dla reakcji z udziałem katalizatora jest wiksza ni dla reakcji bez katalizatora
12. W zbiorniku o stałej objtoci w temperaturze 350 oC, ustala si stan równowagi dla reakcji:
Które stwierdzenie jest prawdziwe? a) obnienie temperatury spowoduje zwikszenie iloci produktu b) zwikszenie objtoci spowoduje zwikszenie iloci produktu c) podwyszenie temperatury spowoduje zwikszenie iloci produktu d) dodanie katalizatora spowoduje zwikszenie iloci produktu
13. Biorc pod uwag podane standardowe potencjały półogniw
rozstrzygn, która warto odpowiada sile elektromotorycznej ogniwa [V], w którym zachodzi samorzutnie reakcja redoks: a) +1, 69, b) +1,39, c) +0,92, d) +62
14. W oparciu o nastpujce reakcje zachodzce samorzutnie
rozstrzygn, która para reagentów stanowi zestawienie najsilniejszego utleniacza z najsilniejszym reduktorem: a) Ag(s), Zn(s); b) Ag+(aq), Zn(s); c) Zn2+(aq), Ag(s); d) Zn(s), Ag+(aq)
15. Do reaktora o objtoci 1 dm3 wprowadzono po 6,0 moli reagentów P i Q. Po osigniciu stanu równowagi liczba moli produktu R wynosiła 4,0 moli.
Stała równowagi reakcji
)()()()( gSgRgQgP +⇔+ wynosi: a) 0,11; b) 0,25; c) 0,44; d) 4,0
16. Dla której z podanych reakcji zmiana entropii jest najwiksza?
17. Dla rakcji A → B szybko tworzenia produktu B jest proporcjonalna do stenia substanci A [A]. Które z ponizszych równa opisuje kinetyk tej reakcji?
ktAAd
ktAA
c
ktAA
b
ktAa
=−
=−
=
=
][])[
][1
][1
)
][][
ln)
])[
0
0
0
18. Dla prostego układu eutektycznego (2 składniki) prawdziwe jest stwierdzenie:
b) maksymalna liczba współistniejcych faz wynosi 2 c) maksymalna liczba stopni swobody wynosi 4 d) poniej punktu eutektycznego współistniej dwie fazy stałe e) powyej punktu eutektycznego istnieje wyłcznie faza ciekła
Fizykochemia ciała stałego
1. Defekty punktowe w zwizkach stechiometrycznych. 2. Defekty punktowe w zwizkach niestechiometrycznych. 3. Domieszki i ich wpływ na defekty samoistne. 4. Samodyfuzja. 5. Metoda Darkena. 6. Stała zdefektowania Schottky’ego w MO2 jest równa: [ ] KS=[Mi
4•][Oi2’]2.
[ ] KS=[Mi4•]2[Oi
2’]. [ ] KS=[VM
4’]2[VO2•].
[ ] KS=[VM4’][VO
2•]2. 7. Zdefektowanie w kierunku niedomiaru metalu w M2O3 opisuje reakcja: [ ] 3O2 = 2VM
3’ + 6h• +6OO. [ ] 3O2 = 4VM
3’ + 12h• +6OO. [ ] 3O2 = VM
3’ + 3h• +6OO. [ ] 1/2O2 = 2VM
3’ + 6h• +OO. 8. Stała równowagi zdefektowania w kierunku nadmiaru utleniacza w MO jest równa: [ ] K=[Mi
2•][e’]2pO21/2.
[ ] K=[VM2’][h•]2pO2
-1/2. [ ] K=[Oi
2’][h•]2pO2-1/2.
[ ] K=[VO2•][e’]2pO2
1/2. 9. W celu podwyszenia stenia wakancji po metalu w stechiometrycznym M2O3 naley
wprowadzi na pozycje M domieszk: [ ] jednowartociow. [ ] dwuwartociow. [ ] trójwartociow. [ ] adn z powyszych
10. Wprowadzenie trójwartociowej domieszki na pozycje M w stechiometrycznym MO2 powoduje wzrost stenia:
[ ] wyłcznie VO2•.
[ ] wyłcznie Mi4•.
[ ] VO2• oraz Oi
2’. [ ] VO
2• oraz Mi4•.
11. W przypadku dyfuzji up hill kierunek strumienia: [ ] Przynajmniej jednego ze składników jest zgodny z gradientem koncentracji. [ ] Przynajmniej jednego ze składników jest przeciwny do gradientu koncentracji. [ ] Wszystkich składników jest zgodny z gradientem koncentracji. [ ] Wszystkich składników jest przeciwny do gradientu koncentracji. 12. W układzie Cu-Zn zaleno wsp. dyfuzji DCuZn od ułamka molowego jest dana
równaniem: [ ] DCuZn = yCu DZn + yCu DCu. [ ] DCuZn = yCu DZn + (1-yCu) DCu. [ ] DCuZn = yZn DZn + yZn DCu. [ ] DCuZn = yZn DZn + (1-yZn) DCu. 13. Eksperyment Kirkendalla potwierdził wystpowanie nastpujcego mechanizmu dyfuzji: [ ] Wymiany [ ] Piercieniowego. [ ] Wakansowego. [ ] adnego z powyszych. 14. Warstwy A i B (o równych grubociach oraz stosunku wsp. dyfuzji ciepła 5/ =AB αα )
rozdzielaj obszary o temperaturach 10 i 40 °C. Temperatura na granicy warstw w stanie stacjonarnym bdzie równa:
[ ] 20 °C. [ ] 25 °C. [ ] 30°C. [ ] 35°C. 15. Prawo Fouriera opisuje strumie ciepła dla nastpujcego mechanizmu wymiany: [ ] Promieniowania. [ ] Przewodzenia. [ ] Konwekcji. [ ] adnego z powyszych.
Metody badania składu chemicznego
1. Budowa instrumentu pomiarowego 2. Sygnał analityczny 3. Sposób przedstawiania wyniku analizy 4. Etapy procesu analitycznego 5. Parametry metod analitycznych 6. Kalibracja metody analitycznej 7. Metody elektrochemiczne – podstawy
8. Metody optyczne (spektroskopowe) – podstawy 9. Do pomiaru natenia promieniowania elektromagnetycznego słuy: a. elektroda pracujca b. fotoogniwo c. detektor konduktometryczny d. sensor gazowy 10. Sygnał analityczny niesie informacj o: a. nateniu promieniowania b. masie próbki c. składzie chemicznym próbki d. uytego do pomiaru instrumentu 11. Prawidłowo przedstawiony wynik analizy chemicznej to: a. oznaczone stenie (zawarto) +/- niepewno oznaczenia b. oznaczone stenie (zawarto) c. wynik oznaczenia z dokładnoci dwóch miejsc po przecinku d. stenie ladowe pierwiastka w próbce w ppm 12. Czuło metody analitycznej to:
a. najmniejsze stenie moliwe do wykrycia dan metod b. pierwsza pochodna funkcji pomiarowej c. najmniejsze stenie moliwe do oznaczenia dan metod d. pierwsza pochodna funkcji analitycznej
13. Kalibracja metody analitycznej polega na: a. dodaniu roztworu wzorcowego do próbki b. kondycjonowaniu elektrody pomiarowej c. wyprowadzeniu zalenoci teoretycznej odpowiedzi sensora d. eksperymentalnym wyznaczeniu funkcji pomiarowej 14. Błd systematyczny mona wykry poprzez: a. uycie odczynników o wysokiej czystoci b. analiz certyfikowanego materiału referencyjnego c. wycignicie redniej z co najmniej trzech wyników analizy d. dobranie odpowiedniej strategii pobierania próbki 15. Eliminacja lub redukcja błdu przypadkowego jest moliwe poprzez: a. uycie estymatora nieobcionego (np. redniej) b. zastosowanie czystych odczynników c. zastosowanie certyfikowanych materiałów odniesienia d. uycie cyfrowego odczytu wyniku pomiaru 16. W metodzie konduktometrycznej mierzy si a. prd b. napicie c. przewodnictwo elektryczne d. absorbancj 17. Pomiar potencjometryczny realizowany jest w warunkach: a. galwanostatycznych b. potencjostatycznych c. stałej temperatury i cinienia d. bezprdowych 18. Metod fotometrii płomieniowej mona oznacza: a. wszystkie metale b. metale alkaliczne c. wszystkie niemetale
d. tylko lantanowce 19. W metodzie atomowej spektrometrii absorpcyjnej ródłem promieniowania jest: a. płomie palnika b. lampa deuterowa lub lampa wodorowa c. lampa z katod wnkow lub bezelektrodowa d. lampa jodowa lub ksenonowa
PRZEDMIOTY SPECJALNOCIOWE
Krystalografia i krystalochemia
1. Teoria sieci krystalicznej.
2. Symetria punktowa kryształów.
3. Symetria sieci przestrzennej.
4. Dyfrakcja promieniowania rentgenowskiego na sieci krystalicznej.
5. Krystalochemia oparta na krystalografii strukturalnej.
6. Podstawowe typy struktur krystalicznych.
7. Wskaniki (hkl) płaszczyzny jednoznacznie okrelaj: a) Nachylenie płaszczyzn łupliwoci kryształu w stosunku do cian komórki
elementarnej, b) Nachylenie dowolnej płaszczyzny sieciowej wzgldem trzech osi
krystalograficznych, c) Ilo płaszczyzn sieciowych symetrycznych odpowiednio do kierunków X, Y i Z, d) Odległo kadej płaszczyzny sieciowej od wzła 0,0,0.
8. Komórka elementarna dowolnej sieci krystalicznej ma zawsze kształt: a) Szecianu, b) Prostopadłocianu, c) Graniastosłupa o podstawie rombu, d) Równoległocianu.
9. Parametry sieciowe: a=b ≠c, α = β = γ =90o jednoznacznie charakteryzuj układ
krystalograficzny: a) Jednoskony, b) Tetragonalny, c) Regularny, d) Trójskony.
10. Z prawa równoległoci cian wynika, e a) Naturalne zewntrzne ciany kryształu (jeeli s wykształcone) s
zawsze prostopadłe do płaszczyzn sieciowych, b) Naturalne zewntrzne ciany kryształu (jeeli s wykształcone) s
zawsze równoległe do cian komórki elementarnej, c) Naturalne zewntrzne ciany kryształu (jeeli s wykształcone) s
zawsze równoległe do płaszczyzn sieciowych,
d) Proste sieciowe s zawsze równoległe do naturalnych zewntrznych cian kryształu (jeeli ciany s wykształcone).
11. Objto komórki elementarnej danej sieci krystalicznej mona obliczy znajc
wyłcznie: a) Parametry komórki elementarnej, b) Odległoci midzypłaszczyznowe dla wszystkich jej płaszczyzn
sieciowych, c) Wskaniki płaszczyzn sieciowych, d) Układ krystalograficzny i grup przestrzenn.
12. W krystalografii klasycznej dopuszczalne s nastpujce krotnoci osi symetrii: a) 1, 2, 3, 6, b) 1, 2, 3, 4, 6, 8, c) 2, 3, 4, 6, 8, d) 1, 2, 3, 4, 6.
13. Elementami symetrii, jakie mog wystpi w układzie jednoskonym s: a) Osie dwukrotne oraz jednokrotne właciwe lub inwersyjne, b) Płaszczyzny symetrii oraz osie czterokrotne i dwukrotne, c) Wyłcznie centrum symetrii, d) Wszystkie dozwolone w krystalografii elementy symetrii.
14. Zapis midzynarodowy klasy symetrii 6mm jest równowany z zapisami wg. Schoenfliesa oraz
Kreutza- Zaremby: a. C6v oraz L6
zPy, b. D6h oraz L6
zPy, c. C6v oraz L6
zL2yC,
d. D6h oraz L6zL2
yC. 15. Połoenia wzłów w sieci płasko centrowanej (typ F) mona opisa (w najkrótszy sposób) jako:
a) 0,0,0; ½,½,0; ½,0,½; 0,½,½, b) 0,0,0; ½,½,0; ½,0,½; 0,½,½; ½,½,½, c) 0,0,0; ½,½,½, d) 0,0,0; ½,½,0.
16. Symbol grupy przestrzennej w zapisie midzynarodowym zawiera:
a) Wielk liter alfabetu oznaczajc układ krystalograficzny oraz trójpozycyjn sekwencj cyfr i/lub liter (małych) oznaczajcych sekwencj charakterystycznych elementów symetrii tej sieci,
b) Wielk liter alfabetu oznaczajc typ sieci Bravais’a oraz trójpozycyjn sekwencj cyfr i/lub liter (małych) oznaczajcych sekwencj charakterystycznych elementów symetrii tej sieci,
c) Wyłcznie trójpozycyjn sekwencj cyfr i/lub liter (małych) oznaczajcych sekwencj charakterystycznych elementów symetrii tej sieci,
d) Cig cyfr i liter okrelajcych kształt i rozmiary komórki elementarnej tej sieci.
17. Na podstawie danych z Midzynarodowych Tablic Krystalograficznych (tzw. Tablic Wyckoff’a – International Tables for X-ray Crystallography) moemy okreli m.in.:
a. Rozmiary komórek elementarnych dla rónych struktur, b. Ilo odmian polimorficznych, c. Moliwe pozycje atomów w komórce elementarnej, d. Odległoci midzypłaszczyznowe charakterystyczne dla danej fazy krystalicznej.
18. Dane uzyskane na podstawie pomiarów XRD jednoznacznie identyfikuj dan substancj krystaliczn dziki moliwoci obliczenia oraz porównania z danymi z kart identyfikacyjnych (JCPDS ICDD):
a) Długoci fali stosowanego promieniowania rentgenowskiego, b) Rzdu refleksów, c) Zarówno długoci fali stosowanego promieniowania rentgenowskiego jak i rzdu
refleksów, d) Odległoci midzypłaszczyznowych dla poszczególnych rodzin płaszczyzn sieciowych.
19. Współczesna dyfraktometria rentgenowska (XRD) umoliwia wykonanie:
a) Analizy fazowej jakociowej i ilociowej wielofazowych materiałów polikrystalicznych,
b) Analizy fazowej jakociowej i ilociowej wyłcznie wielofazowych materiałów monokrystalicznych,
c) Wyłcznie analizy fazowej jakociowej materiałów jednofazowych polikrystalicznych,
d) Analizy chemicznej jakociowej i ilociowej wielofazowych materiałów polikrystalicznych.
20. Stwierdzeniem nieprawdziwym jest:
a) Polaryzacja wizania kowalencyjnego prowadzi do powstania wizania jonowego,
b) Delokalizacja wizania kowalencyjnego prowadzi do powstania wizania metalicznego,
c) Polaryzacja wizania jonowego prowadzi do powstania wizania kowalencyjnego,
d) Tylko jedna z powyszych odpowiedzi jest nieprawdziwa.
21. W oparciu o skal elektroujemnoci Paulinga jako jonowe okrelamy wizanie, dla którego rónica elektroujemnoci pierwiastków tworzcych wizanie wynosi:
a) Dokładnie 0, b) Nie wicej ni 1, c) Wicej ni ok. 1,7, d) Wicej ni 1, ale mniej ni 1,7.
22. Przykładem polimorfizmu mog by:
a) KCl oraz KBr poniewa rónica promieni jonowych anionów wynosi tu zaledwie ok.8%,
b) SiO2 oraz BeF2 , c) Kwarc i krystobalit – odmiany SiO2, d) Kada z powyszych odpowiedzi jest prawdziwa.
23. Szkło, w odrónieniu od kryształu charakteryzuje brak uporzdkowania: a) Dalekiego zasigu, b) Bliskiego i dalekiego zasigu, c) Bliskiego zasigu, d) Brak uporzdkowania nie odrónia szkła od kryształu.
24. W przypadku struktur krystalicznych dwóch odmian alotropowych wgla wystpuj odpowiednio wizania:
a) Wyłcznie jonowe w diamencie; kowalencyjne i oddziaływania sił dyspersyjnych w graficie,
b) Wyłcznie kowalencyjne w diamencie; kowalencyjne i oddziaływania sił dyspersyjnych w graficie,
c) Wyłcznie kowalencyjne w diamencie; wyłcznie jonowe w graficie,
d) Kowalencyjne i oddziaływania sił dyspersyjnych w diamencie; wyłcznie kowalencyjne w graficie.
25. Wytrzymałoci (wartociowoci) wizania nazywamy wg. Paulinga stosunek:
a) Liczby koordynacyjnej tworzcego wizanie jonu do jego ładunku formalnego,
b) Promienia jonu do jego liczby koordynacyjnej, c) Ładunku formalnego jonu do jego liczby koordynacyjnej, d) Liczby koordynacyjnej jonu do jego promienia.
26. CaCO3, CsCl oraz Mg2[SiO4] to typowe przykłady struktur kolejno: a) Izodesmicznej, mezodesmicznej oraz anizodesmicznej, b) Mezodesmicznej, anizodesmicznej oraz izodesmicznej, c) Mezodesmicznej, izodesmicznej oraz anizodesmicznej, d) Anizodesmicznej, izodesmicznej oraz mezodesmicznej.
Fizyczne podstawy technologii
1. Podstawowe mechanizmy rozdrabniania ciał stałych.
2. Procesy plastycznej obróbki metali.
3. Dyfuzyjne mechanizmy spiekania.
4. Dobór faz kompozytu
5. Warstwy i powłoki powierzchniowe.
6. Ogólna klasyfikacja materiałów polimerowych.
7. Czy gstwa odlewnicza jest: a. jednofazow substancj w stanie ciekłym b. zawiesin fazy stałej w cieczy c. zawiesin koloidaln d. roztworem wodnym 8. Agregat to: a. Zbiór ziaren pozostajcych w kontakcie zapewnianym przez siły Van der Waalsa b. element proszku koherentnie rozpraszajcy promieniowanie rentgenowskie c. zbiór ziaren pozostajcych w kontakcie fazowym d. porowaty zbiór przynajmniej 100 krystalitów
9. Sieciowanie polimerów polega na: a. tworzeniu si łacuchów z pojedynczych merów b. tworzeniu si podwójnych wiza pomidzy merami c. tworzeniu si piercieni cyklicznych w makroczsteczkach d. tworzeniu si wiza poprzecznych midzy ssiednimi makroczsteczkami 10. Syntetyczne masy formierskie wykonuje si z:
a. piasku kwarcowego i bentonitu b. piasku kwarcowego i elektrokurundu c. kaolinu i karborundu d. karborundu i bentonitu 11. Spiekanie w ujciu ogólnym polega na formowaniu si polikryształu: a. w drodze uplastycznienia powierzchni ziaren w temperaturze pokojowej b. w drodze dyfuzji w temperaturach poniej temperatury topnienia spiekanej fazy c. w drodze stopienia i rekrystalizacji spiekanej fazy d. w drodze reakcji chemicznej pomidzy ziarnami ssiadujcymi ze sob 12. Formowanie poprzez prasowanie izostatyczne polega na: a. przyłoeniu cinienia prasujcego w jednej osi z przeciwnych kierunków b. dwukrotnym przyłoeniu maksymalnego cinienia prasujcego c. przyłoeniu cinienia prasujcego ze stał prdkoci jego narastania d. przyłoeniu cinienia prasujcego ze wszystkich kierunków izotropowo 13. Co to znaczy, e płyn jest reologicznie stabilny?: a. jego parametry reologiczne nie zmieniaj si w czasie b. jego parametry reologiczne nie zmieniaj si we wzrostem szybkoci cinania c. jego parametry reologiczne nie zmieniaj si po rozcieczeniu układu d. jego parametry reologiczne nie zmieniaj si z temperatur 14. Proces dewitryfikacji to: a. proces krystalizacji składników szkła pod wpływem zmian cinienia i temperatury b. proces rekrystalizacji ziaren polikryształu pod wpływem zmian cinienia i temperatury c. proces amorfizacji polikryształu pod wpływem zmian cinienia i temperatury d. proces segregacji składników szkła zachodzcy pod wpływem wilgoci 15. Której z wymienionych niej cech materiału nie mona zmodyfikowa przez zastosowanie
cienkich powłok: a. przewodnictwo elektryczne b. moduł sprystoci c. współczynnik tarcia d. twardo 16. Plastyczno materiałów metalicznych wynika z: a. łatwej dyfuzji objtociowej atomów metali b. duej odpornoci metali na kruche pkanie c. amorficznej struktury metali d. moliwoci ruchu dyslokacji
Transport masy i ciepła
17. Przemiany termodynamiczne, odwracalno przemian.
18. Cykl Carnota, obiegi.
19. Silniki cieplne i zibiarki.
20. Mechanizmy wymiany ciepła.
21. Pomiary temperatur.
22. ródła energii.
23. Ciecze; Dynamika płynów.
24. Opadanie czstek w płynach. 25. W obiegu zamknitym suma zmian entalpii jest: a. mniejsza od zera b. równa zero c. wiksza od zera d. równa jednoci 26. Obieg Carnota składa si z: a. przemiany izotermicznej i adiabatycznej b. dwu przemian izotermicznych i dwu adiabatycznych c. przemiany izotermicznej, adiabatycznej, izobarycznej i izochorycznej d. dwu przemian izotermicznych i dwu izobarycznych 27. W pracy sprarki ciepło jest: a. pochłaniane b. wydzielane c. nie zmienia si d. zamieniane na prac 28. Pole temperaturowe jest ustalone, gdy: a. przepływ ciepła nastpuje tylko w jednym kierunku b. nie zaley od kierunku przepływu ciepła c. temperatura nie zmienia si w czasie d. temperatura wzrasta 29. Równanie Fouriera okrela ilo ciepła płyncego: a równolegle do izoterm b. skonie do izoterm c. prostopadle do izoterm d. jest niezalene od rozkładu izoterm 30. Prawidłowy pomiar temperatury w orodku o zmiennej przejrzystoci zapewnia: a. pirometr monochromatyczny b. pirometr całkowitego promieniowania c. pirometr dwubarwowy d. pirometr fotoelektryczny 31. Sił termoelektryczn metali i stopów okrela si wzgldem a. rodu b. platyny c. irydu d. niklu
32. Współczynnik absorpcji ciała doskonale czarnego wynosi:
a. zero b. jest mniejszy od zera c. jest wikszy od zera d. jest równy jednoci.
33. Spalanie całkowite i zupełne to: a. spalenie ze stechiometryczn iloci utleniacza b. spalanie z niedomiarem utleniacza c. spalanie z nadmiarem utleniaczqa d. spalanie całkowite, a produkty spalania s na najwyszym stopniu utlenienia
34. rednica zastpcza przewodu niekołowego o powierzchni O i obwodzie omywanym S
wynosi: a. O/S b. 2O/S c. 4O/S d. O/4S
35. Sił oporu orodka w czasie opadania laminarnego czstek kulistych okrela si z: a. równania Stokesa b. równania Allena c. równania Newtona d. wzoru Grashofa
Metody Bada
1. Dlaczego rednia rednica przekroju ziaren na zgładzie jest mniejsza od rednicy
ziaren w objtoci materiału?
2. W jaki sposób z mikrofotografii za pomoc linijki mona wyznaczy rozwinicie powierzchni właciwej i udział objtociowy faz materiału.
3. Omówi rodzaje błdów popełnianych przy okrelaniu udziału objtociowego faz z mikrofotografii.
4. Omówi zjawisko niesprystoci oraz podział metod pomiaru stałych materiałowych.
5. Omówi tłumienie fal ultradwikowych, współczynniki tłumienia oraz wpływ czstotliwoci na tłumienie.
6. Na czym polega badanie materiałów metod ultradwikow.
7. Na adaptacj wzroku ma wpływ:
a) natenie wiatła
b) szeroko akomodacji
c) punkt bliy
d) zdolno rozdzielcza oka
8. Badania tekstury materiałów ceramicznych przeprowadza si na zgładach przy pomocy:
a) mikroskopu do wiatła przechodzcego
b) elektronowego mikroskopu transmisyjnego
c) mikroskopu do wiatła odbitego
d) mikroskopu stereoskopowego
9. Przy owietleniu preparatu według zasady Köhlera obraz ródła wiatła powstaje:
a) na powierzchni preparatu
b) w płaszczynie przesłony aperturowej kondensora
c) w płaszczynie przesłony polowej preparatu
d) w ognisku przedmiotowym okulara
10. Które równanie stereologiczne mona zastosowa do pomiarów długoci granic ziaren na powierzchni zgładu:
a) VV = AA = LL = PP
b) LV = 2PA
c) SV = (4/π)LA = 2PL
d) D = NA / NV
11. Relief wystpujcy na powierzchni zgładu dwufazowego:
a) zwiksza udział objtociowy faz twardszych
b) zmniejsza udział objtociowy faz twardszych
c) zwiksza udział objtociowy faz twardszych i mikszych
d) zwiksza rozwinicie powierzchni właciwej
12. Długo fali porównywaln z odległoci midzyatomow maj: a) infradwiki
b) hiperdwiki c) ultradwiki d) dwiki słyszalne
13. Jakie cechy materiałów mona okreli metod ultradwikow w sposób
bezporedni: a) anizotropi b) gsto pozorn c) twardo d) porowato
14. Jednostk logarytmicznego dekrementu tłumienia jest:
a) dB/µs b) dB/cm c) dB d) bez wymiaru
15. Moduł Younga w cienkiej płycie mona wyliczy ze wzoru:
16. Któr z metod ultradwikowych mona zastosowa do wykrywania wad w
gruboziarnistych porowatych materiałach ceramicznych: a) przepuszczania b) echa z jednym przetwornikiem c) echa z dwoma przetwornikami d) rezonansu
Nauka o materiałach
1. Opisz budow idealnego polikryształu jednofazowego i wymie znane Ci metody
otrzymywania polikryształów. 2. Zdefiniuj pojcie „ spiekanie” i wymie podstawowe mechanizmy spiekania. 3. Podaj definicj i podział materiałów kompozytowych wraz z odpowiednimi przykładami. 4. Podaj prawo Hooke’a oraz zdefiniuj moduł Younga, moduł sztywnoci G i liczb
Poisson’a . Podaj zakresy ich wartoci. 5. Narysuj krzywe σ=f(ε) dla typowych materiałów ceramicznych, metalicznych i
polimerów. 6. Podaj sens fizyczny wielkoci KIC oraz zakres wielkoci KIC dla ceramiki i metali. 7. Scharakteryzuj pojcie: “odporno materiału na wstrzs cieplny”. 8. Podaj podział materiałów ze wzgldu na właciwoci dieelektryczne. 9. Podaj podział materiałów ze wzgldu na właciwoci magnetyczne.
10. Narysuj krzywe histerezy magnetycznej dla materiałów magnetycznie mikkich i magnetycznie twardych.
11. Wymie typy centrów barwnych w materiałach ceramicznych. 12. Mówic o mikrostrukturze badacz materiałów ma na myli:
a) konfiguracj elektronow składowych atomów, jonów lub czsteczek; b) rodzaje wiza wystpujcych w materiale; c) wzajemne ułoenie przestrzenne atomów; d) rodzaje współistniejcych faz i ich rozmieszczenie w materiale X
13. Które z podanych wielkoci okrelaj wytrzymało teoretyczn materiału? e) moduł Younga i długo szczeliny krytycznej; f) moduł Younga, energia powierzchniowa, porowato; g) energia powierzchniowa, moduł Younga, odległo równowagowa atomów
(jonów); X h) energia powierzchniowa, długo szczeliny krytycznej, odległo
równowagowa atomów (jonów);
14. Od jakich parametrów budowy materiałów zale ich właciwoci spryste? i) od charakteru wiza chemicznych; j) od składu fazowego; k) od mikrostruktury, a w tym od obecnoci porów; l) od wszystkich powyszych cech X
15. Urzdzenia, w których pracuj materiały piezoelektryczne, wykorzystywane s szeroko w technice. Które z wymienionych zjawisk wykorzystuje si w tych zastosowaniach?
m) wysokie przewodnictwo elektryczne; n) wysoki opór elektryczny; o) przetwarzanie energii elektrycznej w mechaniczn i odwrotnie X p) przetwarzanie energii elektrycznej w ciepło i odwrotnie.
16. Wska cechy nie wystpujce adnym znanym ci polikrysztale ceramicznym: a) wysokie przewodnictwo cieplne b) przewodnictwo elektryczne c) przeroczysto d) twardo powyej 10 Mohsa X 17. Celem krystalizacji szkła jest a) podniesienie odpornoci mechanicznej X b) podwyszenie własnoci optycznych c) oczyszczenie szkła z domieszek naturalnych d) podniesienie homogenicznoci 18. Kolor czerwony rubinu otrzymuje si przez domieszkowanie korundu a) elazem b) tytanem c) manganem d) chromem X 19. Wska metod otrzymywania monokryształów w których materiał musi przechodzi
przez faz stopion
a) metoda Czochralskiego X b) metoda hydrotermalna c) CVD d) krystalizacja z roztworów wodnych 20. Siła napdow spiekania jest:
a) obecno w procesie fazy ciekłej b) spadek energii układu ziaren X c) sprasowanie proszku przy formowaniu d) wystpowanie zjawisk dyfuzyjnych
21. Wytrzymało tworzyw nie zaley:
a) od stenia defektów punktowych X b) od siły wiza c) od energii pkania d) od wielkoci defektów strukturalnych
Materiały Ceramiczne
1. Instrumentalne metody okrelania rozkładu wielkoci ziaren w proszkach ceramicznych. 2. Metody otrzymywania proszków ceramicznych. 3. Metody formowania wyrobów z gstw. 4. Polimorfizm, otrzymywanie, właciwoci i zastosowanie dwutlenku cyrkonu. 5. Kryteria doboru i właciwoci biomateriałów ceramicznych. 6. Podstawowe grupy, właciwoci i zastosowanie materiałów ogniotrwałych. 7. Rodzaje, właciwoci i zastosowanie materiałów elektroceramicznych. 8. Materiały ceramiczne:
a. to materiały niemetaliczne i nieorganiczne, b. musz zawiera krzem lub glin, c. zbudowane s wyłcznie z pierwiastków grup głównych, d. w których co najmniej jedno wizanie ma charakter jonowy,
9. Ziarnem w proszku moe by: a. tylko krystalit, b. tylko agregat, c. tylko aglomerat, d. kady z wyej wymienionych.
10. Metodami „wet chemistry” w połczeniu z moliwoci obróbki cieplnej, ale z wyłczeniem procesu spiekania, mona otrzymywa:
a. wyłcznie nanoproszki ceramiczne, b. proszki, warstwy lub włókna, c. wyłcznie mikrometryczne proszki ceramiczne, d. materiały polikrystaliczne,
11. Metod hydrotermaln mona otrzyma: a. wyłcznie materiały tlenkowe, b. pierwiastki i zwizki chemiczne zarówno tlenkowe jak i kowalencyjne, c. zwizki chemiczne zawierajce pierwiastki metaliczne, d. substancje zawierajce tlen lub azot,
12. Metod prasowania izostatycznego wyrobów wstpnie zaprasowanych jednoosiowo mona otrzyma:
a. wyroby o takiej samej gstoci i takiej samej jednorodnoci upakowania ziaren jak w przypadku prasowania jednoosiowego, b. wyroby o wyszej gstoci i wikszej jednorodnoci upakowania ziaren ni w przypadku prasowania jednoosiowego, c. wyroby o takiej samej gstoci, lecz o wikszej jednorodnoci upakowania ziaren ni w przypadku prasowania jednoosiowego, d. wyroby o wyszej gstoci, lecz o takiej samej jednorodnoci upakowania ni w przypadku prasowania jednoosiowego,
13. Tworzywa typu RBG powstaj: a. w procesie spiekania z du iloci fazy ciekłej, b. w procesie spiekania reakcyjnego, c. tylko w procesie spiekania cinieniowego, d. z mieszaniny, co najmniej dwóch tlenków,
14. Porcelana jest tworzywem: a. szklano-krystalicznym, b. w którym porowato jest nie mniejsza ni 5 %, c. o nasikliwoci rzdu 10 %, d. o zawartoci mullitu nie mniejszej ni 75 %,
15. Wysoka odporno na kruche pkanie tworzyw TZP zwizana jest z: a. wystpowaniem przemiany polimorficznej, b. ich wysok twardoci, c. ich dobr przewodnoci ciepln, d. zdefektowaniem podsieci anionowej,
16. Korund jest materiałem: a. wyłcznie konstrukcyjnym, b. wyłcznie ogniotrwałym, c. wyłcznie funkcjonalnym, d. kadym z powyszych,
17. Wzrost porowatoci materiału prowadzi do: a. polepszenia właciwoci mechanicznych, b. spadku przewodnoci cieplnej materiału, c. wzrostu przewodnoci elektrycznej, d. zmiany charakteru właciwoci magnetycznych,
Materiały kompozytowe
1. Analiza właciwoci materiałów konwencjonalnych, cele wzmacniania, zasady
wzmacniania.
2. Model równoległy, załoenia, prawo mieszanin.
3. Długo krytyczna włókien, podział na włókna krótkie i długie.
4. Rola adhezji w przenoszeniu napre osnowa-włókno.
5. Budowa, właciwoci i otrzymywanie włókien wglowych.
6. Relacja wytrzymało - odporno na pkanie w materiałach kompozytowych.
7. Obliczanie anizotropii modułu Younga oraz współczynników wzmocnienia dla
materiałów kompozytowych.
8. We włóknach typu Kevlar usztywnienie struktury nastpuje drog tworzenia wiza: a) kowalencyjnych b) wodorowych c) Wan der Waalsa d) estrowych
9. Jednym z głównych czynników odpowiedzialnych za podwyszenie odpornoci na pkanie w kompozytach włóknistych z osnowami kruchymi jest:
a) tworzenie mikropkni b) mostkowanie połczone z efektem pull-out c) polizg dyslokacyjny d) przemiana fazowa
10. Najwikszym modułem Younga właciwym charakteryzuj sie włókna: a) borowe b) szklane c) wglowe d) Kevlar
11. Głównym celem otrzymywania kompozytów z osnowami kruchymi jest podwyzszenie: a) modułu Younga b) wytrzymałoci c) odpornoci na pkanie d) gstoci
12. Model równoległy dla włóknistych materiałów kompozytowych zakłada: a) νc νf νm b) ρc = ρf = ρm c) σc = σf = σm d) c= f = m
13. Do włókien krótkich zaliczamy włókna o długoci: a) mniejszej od lkryt b) mniejszej 10 razy od lkryt c) pomidzy lkryt a 10 lkryt d) powyej 10 lkryt
14. Efekt wzmocnienia w materiałach kompozytowych zaley głównie od: a) udziału objtociowego włókien b) gstoci włókien c) rednicy włókien d) kształtu przekroju włókien
15. Udział krytyczny włókien to: a) zawarto włókien powyej której obserwujemy wzrost wytrzymałoci b) zawarto włókien powyej której stosuje si prawo mieszanin c) zawarto włókien prowadzca do pkania kompozytu d) zawarto włókien prowadzca do delaminacji kompozytu
16. Wzmacnianie dyspersyjne w materiałach kompozytowych polega na: a) przejmowaniu przez czstki napre b) powstaniu mikropkni c) hamowaniu ruchu dyslokacji d) wywołaniu efektu pull-out
17. Kompozyty wzmacniane tkanin o splocie płóciennym s typu: a) MD b) 2D c) 3D
d) 1D
Materiały polimerowe 1. Definicje polimeru, meru, monomeru, procesu polimeryzacji. 2. Reakcje polimeryzacji: polimeryzacja addycyjna i kondensacyjna. Mechanizmy
polimeryzacji: wolnorodnikowy, jonowy, koordynacyjny Ziglera-Natty, polimeryzacja katalizowana metalocenami, polimeryzacja z otwarciem piercienia.
3. Masa czsteczkowa polimerów. Metody wyznaczania masy czsteczkowej. 4. Poliolefiny, polidieny, polimery kondensacyjne: jakie polimery nale do poszczególnych
grup, właciwoci, zastosowania. 5. Kopolimery, modyfikacja właciwoci polimerów poprzez kopolimeryzacj 6. Polimery termoplastyczne i utwardzalne. Elastomery. Elastomery termoplastyczne. 7. Powizanie właciwoci makroskopowych polimerów z ich budow czsteczkow. 8. Masa czsteczkowa polimeru wyraana jest jako:
a) rednia mas wszystkich czsteczek obecnych w próbce b) Masa czsteczkowa najdłuszych łacuchów c) Procentowa zawarto najdłuszych łacuchów w próbce d) Masa pojedynczego meru
9. Mer jest to: a. Substrat w reakcji polimeryzacji b. Substancja inicjujca polimeryzacj monomeru c. Powtarzalna jednostka w budowie chemicznej łacucha polimeru d. Podstawnik regularnie powtarzajcy si wzdłu łacucha (np. –CH3, -COOCH3)
10. Polimeryzacj wolnorodnikow inicjuj: a. Kwas siarkowy b. Kwasy Lewisa, np. AlCl3 c. Chlorek tytanu(III) d. Nadtlenki
11. Polikondensacja jest to: a. Łczenie si czsteczek zwizków organicznych utworzeniem polimeru i
jednoczesnym wydzieleniem produktów ubocznych b. Łczenie czsteczek alkenu w podwyszonej temperaturze c. Łczenie łacuchów rónych polimerów w kopolimery d. Otrzymywanie polimeru w stanie ciekłym
12. Kopolimeryzacja jest to: a. Tworzenie wiza pomidzy czsteczkami polimeru b. Jedna z przemysłowych metod polimeryzacji etylenu c. Wspólna polimeryzacja dwóch rónych monomerów d. Polimeryzacja przebiegajca w obecnoci kokatalizatora
13. Budow czsteczki kopolimeru statystycznego mona w uproszczeniu przedstawi jako: a. -AAAABBAABBBABAAABBBB- b. -ABABABABABABABABABABABA- c. -AAAAAAAAAABBBBBBBBBBBBB- d. –AABBAABBAABBAABBAABBAABB-
14. Charakterystyczna cecha polimerów termoplastycznych to: a. Dobra pami kształtu
b. Odkształcenie jest nieodwracalne i wraz ze wzrostem przyłoonej siły ronie a do zniszczenia próbki
c. Przechodz w stan plastyczny w bardzo niskich temperaturach d. Ulegaj degradacji termicznej w niskich temperaturach
15. Duroplasty s to polimery, które: a. Pod wpływem prasowania w niskich temperaturach ulegaj plastyfikacji b. Ulegaj sieciowaniu pod wpływem ogrzewania lub czynników chemicznych c. Łatwo rozpuszczaj si w wodzie i rozpuszczalnikach organicznych d. Charakteryzuj si du elastycznoci
16. Stan szklisty w bardzo szerokim zakresie temperatur jest charakterystyczny dla: a. Poliolefin b. Polimerów usieciowanych (duroplastów) c. Elastomerów d. Elatomerów termoplastycznych
17. Temperatura płynicia polimeru to: a. Temperatura przejcia polimeru ze stanu elastycznego do plastycznego b. Temperatura przejcia ze stanu szklistego do elastycznego c. Temperatura w której polimer staje si mikki d. Temperatura topnienia polimeru
Materiały metaliczne
Zagadnienie 1: elazo i jego odmiany alotropowe Pytanie 1: Jak struktur wykazuje odmiana alotropowa Fe?
a) regularn przestrzennie centrowan (RPC), b) regularn ciennie centrowan (RSC), c) heksagonaln zwart (HZ), d) rombow (R).
Pytanie 2: Która z odmian alotropowych elaza wykazuje właciwoci ferromagnetyczne? a) Fe, b) Fe, c) Feε, d) Fe()
Zagadnienie 2: Układ Fe – Fe3C Pytanie 1: Co to jest cementyt?
a) ciecz b) roztwór stały wgla w Fe, c) roztwór stały wgla w Fe, d) wglik elaza Fe3C.
Pytanie 2: Co to jest austenit?
a) roztwór stały wgla w Fe, b) roztwór stały wgla w Fe, c) mieszanina eutektoidalna ferrytu i cementytu, d) zwizek chemiczny.
Zagadnienie 3: Obróbka cieplna stali
Pytanie 1: Jaki jest cel wyarzania stali?
a) uzyskanie wielkiej twardoci, b) zwikszenie odpornoci na cieranie, c) zblienie stopu do stanu równowagi, d) zwikszenie odpornoci na korozj.
Pytanie 2: Jaki jest cel hartowania stali?
a) zmniejszenie twardoci, b) zwikszenie twardoci, c) zwikszenie odpornoci na pkanie, d) zmniejszenie napre wewntrznych.
Zagadnienie 4: Stale o symbolach wskazujcych na zastosowanie Pytanie 1: Jakie jest zastosowanie stali w gat. S235JR (wg norm europejskich)?
a) jest to stal konstrukcyjna, b) jest to stal szybkotnca, c) jest to stal narzdziowa, d) jest to stal odporna na korozj.
Pytanie 2: Jakie jest zastosowanie stali B500A (wg norm europejskich)?
a) na rury bez szwu, b) na czci maszyn, c) na prty ebrowane do zbrojenia betonu, d) na szyny kolejowe.
Zagadnienie 5: Stopy o szczególnych własnociach fizycznych Pytanie 1: Dlaczego materiały magnetycznie mikkie maj wsk ptl histerezy
magnetycznej?
a) bo maj du oporno elektryczn, b) bo reaguj natychmiast na przyłoone pole magnetyczne, c) bo maj mał twardo mechaniczn, d) bo wykazuj trudno w ruchu cianek Blocha.
Pytanie 2: Dla czego stop Fe+46%Ni (Platynit) nadaje si do wtapiania w szkło
a) poniewa jest odporny na korozj,
b) poniewa wykazuje zbliony do szkła współczynnik rozszerzalnoci cieplnej,
c) poniewa ma temperatur topnienia zblion do temperatury topnienia szkła,
d) poniewa jest ferromagnetyczny.
Zagadnienie 6: Metale nieelazne i ich stopy Pytanie 1: Dla czego duraluminium (Al + 4%Cu, 1%Mg, 1%Mn) osiga wytrzymało do
440 MPa.
a) bo zawiera nierozpuszczone wgliki,
b) bo podczas starzenia wydzielaj si w nim wgliki zarodkujce niezalenie,
c) bo tworz si podczas starzenia bogate w Cu strefy Guiniera - Prestona (strefy GP),
d) bo wykazuj drobne ziarno.
Pytanie 2: Stopy Cu z Zn to:
a) brzy,
b) miedzionikle,
c) spie,
d) mosidze.
Elektrochemia Ciała Stałego
1. Wpływ rodzaju wiza chemicznych na właciwoci kryształów
2. metale, półprzewodniki, izolatory
3. Przejcie izolator-metal, rodzaje przej
4. Odstpstwo od składu stechiometrycznego w zwizkach metali przejciowych
5. Elektrolity stałe
6. Interkalacja litu do zwizków metali przejciowych
7. Ogniwa litowe Li-ion batteries
8. Ogniwa paliwowe PEMFC i SOFC
9. Kryształy o wizaniach kowalencyjnych wykazuj właciwoci:
a. metali
b. półmetali
c. półprzewodników
d. izolatorów
10. Substancja o właciwociach metalicznych:
e. wykazuje wzrost przewodnictwa elektrycznego wraz ze wzrostem temperatury
f. wykazuje stałe przewodnictwo elektryczne niezalenie od temperatury
g. charakteryzuje si czciowo obsadzonym pasmem energetycznym z poziomem Fermiego usytuowanym wewntrz tego pasma
h. wykazuje aktywowany charakter ruchliwoci noników
11. Dla półprzewodnika samoistnego jest spełniony warunek:
i. n = p
j. n >> p
k. n << p
l. n = p = const.
n – koncentracja quasi-swobodnych elektronów, p – koncentracja dziur elektronowych.
12. W którym z rodzajów przej izolator-metal ruchliwo noników zmienia si skokowo w punkcie przejcia:
m. Hubbarda
n. Andersona
o. Goodenougha
p. Sommerfelda
13. W tlenku o wzorze Me1-yX s obecne:
q. VMe’’ i h• dajce zbliony wkład do przewodnictwa elektrycznego
r. VMe’’ i h•, jednake dominuje przewodnictwo dziur elektronowych
s. defekty Frenkla w niskich temperaturach
t. Mei•• i e’ dajce zbliony wkład do przewodnictwa
14. Elektrolity w ogniwach elektrochemicznych powinny wykazywa:
u. przewodnictwo jonowo-elektronowe
v. przewodnictwo elektronowe
w. przewodnictwo elektronowo-dziurowe
x. przewodnictwo czysto jonowe
15. Interkalacja litu do zwizków metali przejciowych to:
y. odwracalna reakcja topotaktyczna typu redoks, w której metal przejciowy zmienia swój stopie utlenienia
z. odwracalna reakcja topotaktyczna typu redoks, w której lit zmienia swój stopie utlenienia
aa. reakcja wprowadzania jonów litu i dziur elektronowych do zwizków metali przejciowych
bb. reakcja wprowadzania litu do zwizków metali przejciowych bez adnych zmian w strukturze krystalicznej
16. Akumulatory litowe Li-ion batteries to ogniwa o schemacie:
cc. Li / Li+ / LixCoO2
dd. LixC6 / Li+ / LixCoO2
ee. Li / LiFePO4 / LixCoO2
ff. Li / Li+ / LixC6
17. W przypadku ogniw paliwowych poprawne jest stwierdzenie:
gg. ogniwa SOFC zbudowane s wyłcznie z materiałów bdcych zwizkami metali przejciowych
hh. zachodzi w nich proces odwrotny do procesu elektrolizy wody
ii. na anodzie zachodzi utlenianie paliwa
jj. poprawne s odpowiedzi b i c
18. Roztwór stały którego z wymienionych poniej tlenków oraz ZrO2 bd elektrolitem stałym:
kk. Y2O3
ll. CeO2
mm. CaO
nn. poprawne s odpowiedzi a i c
Ochrona przed korozj
1. Metoda markerów 2. Wpływ domieszek na kinetyk utleniania czystych metali 3. Dysocjacyjny mechanizm powstawania zgorzelin 4. Kinetyczne prawa utleniania metali 5. Podobiestwa pomidzy procesami utleniania i siarkowania czystych metali 6. W układzie Si-O2 wystpuje jedynie jeden tlenek w stanie stałym: SiO2(s). W stanie
gazowym obecne s natomiast zwizki: Si(g), Si2(g), Si3(g), SiO(g), SiO2(g). Zaleno cinienia czstkowego SiO(g) od cinienia tlenu, w zakresie cinie tlenu niszych od cinienia dysocjacyjnego SiO(s) mona przedstawi na wykresie log SiO(g) = f(log pO2) w postaci linii, której współczynnik kierunkowy wynosi: a) 0 b) 1/3 c) 1/2 d) 1
7. Podczas utleniania metalu powstaje zwarta warstwa zgorzeliny. Jeeli szybko procesu parowania metalu oraz zgorzeliny jest pomijalnie mała, a zgorzelina nie odpada od rdzenia metalicznego, wówczas zmiana masy próbki rejestrowana podczas utleniania równa jest:
a) masie zgorzeliny b) masie metalu wchodzcego w skład zgorzeliny c) masie zwizanego z metalem utleniacza d) rónicy mas utleniacza i metalu, tworzcych zgorzelin
8. Jeeli produkt reakcji utleniania metalu jest lotny lub ciekły i opuszcza powierzchni atakowanego metalu w czasie trwania procesu utleniania, w wyniku czego bezporedni kontakt midzy faz metaliczn, a rodowiskiem agresywnym nie zostaje przerwany, wówczas szybko korozji (definiowana jako zmiana gruboci metalu w jednostce czasu):
a) nie zaley od czasu reakcji b) jest wprost proporcjonalna do czasu reakcji c) jest odwrotnie proporcjonalna do czasu reakcji d) zaley od ubytku gruboci utlenianego metalu
9. Obok zamieszczony wykres przedstawia kinetyk zmiany masy, ∆m, płaskiej próbki pewnego metalu. Na podstawie znajomoci tych danych oraz wielkoci powierzchni próbki (10 cm2) i jej masy pocztkowej (1 g), mona wyznaczy paraboliczn stał szybkoci utleniania badanego materiału, która wynosi:
a) 10-5 g2cm-4 s-1 b) 10-7 g2cm-4 s-1 c) 10-11 g2cm-4 s-1 d) 10-13 g2cm-4 s-1
0 50 000 100 0000.0
0.5
1.0T = constp(O2) = const
(∆m
)2 ,
mg2
czas, s
10. W metodzie pastylkowej szybko korozji okrelana jest w oparciu o pomiar kinetyki zmian:
a) masy b) gruboci c) gstoci d) objtoci
11. Wykonano trzy próbki z tego samego materiału metalicznego: amorficzn, polikrystaliczn oraz monokrystaliczn. Naley si spodziewa, e w zakresie wysokich temperatur szybko korozji:
a) wszystkich tych próbek bdzie podobna b) próbki amorficznej bdzie najwiksza c) próbki polikrystalicznej bdzie najwiksza d) próbki monokrystalicznej bdzie najwiksza
12. Jeli zwarta i cile przylegajca do rdzenia metalicznego jednofazowa zgorzelina narasta na metalu w wyniku odrdzeniowej dyfuzji metalu poprzez defekty punktowe, wówczas w poprawnie przeprowadzonym eksperymencie markerowym, marker powinien znajdowa si:
a) na granicy faz metal-zgorzelina b) na granicy faz zgorzelina-faza gazowa c) w pobliu granicy faz zgorzelina-faza gazowa d) dokładnie w rodku zgorzeliny
13. Po całkowitym utlenieniu próbki pewnego metalu o masie pocztkowej 24 mg, uzyskano 30 mg tlenku tego metalu. Wiedzc, e masa atomowa tego metalu wynosi 96, a tlenu 16, oraz e odstpstwo od stechiometrii w wytworzonym tlenku jest zaniedbywalnie małe, wzór stechiometryczny tego tlenku powinien mie posta: a) Me2O b) MeO c) Me3O4 d) Me2O3
14. Metale wysokotopliwe w atmosferach siarkujcych, ulegaj korozji z szybkoci: a) wielokrotnie wiksz ni w atmosferach tlenowych b) porównywaln do szybkoci utleniania w atmosferach tlenowych c) wielokrotnie mniejsz ni w atmosferach tlenowych d) trudn do jednoznacznego okrelenia w odniesieniu do szybkoci utleniania
tych metali w atmosferach tlenowych, gdy nie ma w tym zakresie widocznej korelacji
15. Efektywno siarki w hamowaniu korozji typu pylenia metali (metal dusting) jest tym wiksza, im:
a) wiksza jest aktywno wgla w atmosferze nawglajcej i im wiksze jest stenie dodatku siarki
b) wiksza jest aktywno wgla w atmosferze nawglajcej i im mniejsze jest stenie dodatku siarki
c) mniejsza jest aktywno wgla w atmosferze nawglajcej i im wiksze jest stenie dodatku siarki
d) mniejsza jest aktywno wgla w atmosferze nawglajcej i im mniejsze jest stenie dodatku siarki
1. Formy własnoci przemysłowej
2. Zasada pierwszestwa konwekcyjnego
3. Zasada pierwszestwa z midzynarodowych targów i wystaw
4. Definicja wynalazku i jego uwarunkowania
5. Definicja patentu i jego ograniczenia
6. Rodzaje bada patentowych i omówi jedno z bada
7. Chronione prawa autorskie
Ochrona własnoci intelektualnej
1. Ochrona patentowa trwa:
a) 20 lat
b) 15 lat
c) 25 lat
d) 100 lat
2. Ochrona wzoru uytkowego trwa:
a) 5 lat
b) 15 lat
c) 17 lat
d) 50 lat
3. Twórca ma prawo do:
a) patentu
b) wynagrodzenia
c) sprzeday
d) dyplomu
4. Ochrona prawna wynalazku zaczyna si od:
a) udzielenia ochrony prawnej
b) zgłoszenia do UP
c) opublikowania w Wiadomociach UP
d) pomysłu
5. Czy Patent PCT to patent:
a) regionalny
b) midzynarodowy
c) krajowy
d) branowy
6. Projekt racjonalizatorski ma nowo na skal:
a) wiatow
b) midzynarodow
c) krajow
d) przedsibiorstwa
7. Biuletyn Urzdu Patentowego zawiera wykaz:
a) udzielonych patentów
b) zgłosze do UP
c) zgłosze do ponownego rozpatrzenia
d) prac naukowych
8. Licencj przymusow na stosowanie wynalazku wydaje:
a) UP
b) Sd
c) twórca
d) marszałek
9. Ile działów ma Midzynarodowa Klasyfikacja Patentowa (MKP):
a) 12
b) 8
c) 5
d) 20
10. Czy program komputerowy moe by chroniony:
a) patentem
b) przepisem technicznym
c) prawem ochronnym
d) podlega prawu autorskiemu