literaturverzeichnis - springer978-3-642-57402...trag zum oecd-workshop "innovation, patents...
TRANSCRIPT
Literaturverzeichnis
Archibugi, D. (2000): The Globalisation ofTechnology and the European Innovation System. Paper prepared as part of the project "Innovation Policy in aKnowledge-Based Economy", commissioned by the European Commission.Revised Version - 15 May 2000, Mimeo.
Archibugi D. et al. (Hrsg.) (1999): Innovation Policy in aGlobai Economy. Cambridge: Cambridge University Press.
Archibugi, D.; Michie, 1. (1995): The Globalisation of Technology: A New Taxonomy. In: Cambridge Journal ofEconomics 19; S.121-140.
Archibugi, D.; Iammarino S. (1999): The Policy Implications of the Globalisationof Innovation. In: Archibugi, D. et al. (Hrsg.), Innovation Policy in aGlobaiEconomy. Cambridge: Cambridge University Press; S. 242-271.
Arvantis, S.; Hollenstein, H. (2001): Technologiestandort Schweiz im Zuge derGlobalisierung: Eine explorative Analyse der F&E-Aktivitäten schweizerischer Industrieunternehmen im Ausland. Schweizerische Zeitschrift fürVolkswirtschaft und Statistik 137 (2); S. 129-148.
Barre, R. (1994): Interferences Between International Innovation Networks WithinMNF's and National Innovation Systems: "Residual" or New Paradigms. Beitrag zum OECD-Workshop "Innovation, Patents and Technological Strategies". Paris, 8.-9. Dezember 1994.
Beise, M. (2001): Lead Markets. Country-Specific Success Factors of the GlobalDiffusion ofInnovations. Heidelberg, New York: Physica.
Beise, M.; Belitz H. (1998): Trends in the Internationalisation of R&G - The German Perspective. In: Vierteljahreshefte zur Wirtschaftsforschung des DIW 67(2); S. 67-85.
Belitz, H. (2002): Deutschland als Forschungsstandort multinationaler Unternehmen. DIW-Wochenbericht 16/02.
Belsley, D.; Kuh, E.; Welsch, R.(1980): Regression Diagnostics. New York: JohnWiley & Sons.
BMBF (Bundesministerium für Bildung und Forschung) (Hrsg.) (1998): Zur technologischen Leistungsfähigkeit Deutschlands. Aktualisierung und Erweiterung 1997; Bonn.
184
BMBF (Bundesministerium für Bildung W1d Forschung) (Hrsg.) (2001): Zur technologischen Leistungsfahigkeit Deutschlands. Zusammenfassender Endbericht 2000; Bonn.
BouteIlier, R. et al. (Hrsg.) (1999): Managing Global Innovation. Uncovering theSecrets ofFuture Competitiveness. Berlin et al.: Springer.
Brockhoff, K. (1998): Internationalization of Research and Development. Heidelberg u. a.: Springer.
CantweIl, J. (1995): The Globalisation of Technology: What Remains of the Product Life Cycle Model. In: Cambridge Journal of Economics 19 (1); S. 155174.
CantweIl, 1.; Harding, R. (1998): The Internationalisation of German Companies'R&D. In: National Institute Economic Review 163; S. 99-124.
CantweIl, J.; Iammarino, S. (1998): MNCs, Technological Innovation and RegionalSystems in the EU: Some Evidence in the Italian Case. International Journalofthe Economics ofBusiness 5(3); S. 383-408.
CantweIl, 1.; Kosmopoulou, E. (2001): What Determines the Internationalisation ofCorporate Technology. In: Forsgren, M. et al. (Hrsg.), Critical Perspectives onInternationalisation. Mimeo.
Cantwell, 1.; Noonan, C. (2001): The Regional Distribution of Technological Development. In: Feldmann, M.; Massard, N. (Hrsg.), Institutions and Geography in the Geography ofInnovations. Kluver; S. 199-230.
CantweIl, J; Janne, O. (1999): Technological Globalisation and Innovation Centres:the Role of Corporate Technolgoical Leadership and Loactional Hierarchy.In: Research Policy 28; S. 119-144.
Döhrn, R. (2002): Bestimmungsgründe und Auswirkungen von Direktinvestitionender deutschen Chemischen Industrie. RWI-Papiere 79. Essen: RWI.
Döhrn, R.; Radmacher-Nottelmann, N. (2000): A Database on the Globalization ofGerman Manufactoring Companies: Conception and Some Results. RWIPapiere 69. Essen: RWI.
Dunning, J. (1977): Trade, Location ofEconomic Activity and the MNE: A Searchfor an Eclectic Approach: In: Ohlin, B.; Hasseiborn, P.; Wijkrnan, P. (Hrsg.),The International Allocation of Economic Activity. London; S. 395-431.
185
Dunning, J. H.; Wymbs, C. (1999): The Geographical Sourcing of TechnologyBased Assets by Multinational Enterprises. In: Archibugi D. et al. (Hrsg.), Innovation Policy in aGlobaI Economy. Cambridge: Cambridge UniversityPress; S. 185-224.
Dunning, J.; Narula, R. (1995): The R&D Activities ofForeign Firms in the UnitedStates. International Studies of Management & Organization 25 (1-2); S. 3973.
Edler, J. (2001): Wissensmanagement in Unternehmen. Pilotstudie im Auftrag desStifterverbands für die Deutsche Wissenschaft und des Bundesministeriumsfür Bildung und Forschung. Karlsruhe: Unveröffentlichtes Manuskript.
Edler, l; Meyer-Krahmer, F.; Reger, G. (2000): Global Survey ofthe Strategic Management ofTechnology. Summarizing Report. Karlsruhe: UnveröffentlichtesManuskript.
Edler, l; Meyer-Krahmer, F.; Reger, G. (2001): Managing Technology in the TopR&D Spending Companies Worldwide - Results of aGlobaI Survey. In: Special Issue of the Engineering Management Journal "Managing High TechnologyResearch Organizations" 13, No I, March 2001; S. 5-11.
Florida, R. (1997): The Globalization of R&D: Results of a Survey of Foreignaffiliated R&D Laboratories in the USA. In: Research Policy 26 (1997);S.85-103.
Gassmann, 0.; von Zedtwitz, M. (1996b): Internationales Innovationsmanagement - ein Referenzrahmen. München: Vahlen.
Gassmann, 0.; von Zedtwitz, M. (1996a): Internationales Innovationsmanagement ein Referenzrahmen. In: dies. (Hrsg.), Internationales Innovationsmanagement; München: Vahlen; S. 3-16.
Gassmann, 0.; von Zedtwitz, M. (1999): New Concepts and Trends in InternationalR&D Organisation. In: Research Policy 28 (1999); S. 231-250.
Gerybadze, A. (1999): Die Auswirkungen der Internationalisierung und Globalisierung auf das Management von Forschung dun Entwicklung. Vortrag im Rahmen der Internationalen Konferenz "R&D Management 2000 - Challengesand Concepts". Universität Stuttgart, 23.07.1999.
Gerybadze, A.; Reger, G. (1999): Globalization of R&D: Recent Changes in theManagement of Innovation in Transnational Corporation. In: Research Policy28; S. 251-271.
186
Gerybadze, A.; Meyer-Krahmer, F.; Reger, G. (1997) (Hrsg.): Globales Management von Forschung und Innovation. Stuttgart: Schäffer-Poeschel Verlag.
Gerybadze, A.; Meyer-Krahmer, F.; Schlenker, F. (1997): Strategietypen und FuEStandortentscheidungen in der internationalen Wertschöpfungskette. In: Gerybadze, A.; Meyer-Krahmer, F.; Reger, G. (Hrsg.), Globales Managementvon Forschung und Innovation. Stuttgart: Schäffer-Poeschel Verlag; S. 174195.
Grandstrand, O. (1999): Internationalisation ofCoporate R&D: A Study of Japaneseand Swedish Corporations: In: Research Policy 28; S. 275-302.
Granstrand, O. et al. (1993): Internationalisation of R&D: A Survey of Some Recent Research. In: Research Policy 22 (5-6); S. 213-230.
Grupp, H. ; Schmoch U.(1992): Wissenschaftsbindung der Technik. Panorama derinternationalen Entwicklungen und sektorales Tableau für Deutschland. Heidelberg: Physica-Verlag.
Guellec, D.; Van Potteisberghe, B. (2001), The Internationalisation of TechnologyAnalysed with Patent Data. In: Research Policy 30; S. 1253-1266.
Hirschey, R.; Caves, R. (1981): Research and Transfer ofTechnology by Multinational Enterprises. In: Oxford Bulletin of Economics and Statistics 43 (2);S.115-130.
Imai, K.; Baba, Y. (1991): Systemic Innovation and Cross-border Networks. Transcending Markets and Hierarchies to Create a New Techno-economic System.In: OECD (Hrsg.), Technology and Productivity - The Challence for Economic Policy. Paris; S. 389-406.
Jungmittag, A.; Reger, G.; Reiss, T. (2000): Changing Innovation in the Pharmaceutical Industry. Globalization and New Ways of Drug Development. Heidelberg: Springer.
Just, R. (1997): Die Internationalisierung der Unternehmensbereiche Forschung undEntwicklung. Theoretische Erklärungsansätze, Determinanten und Indikatorenunter Berücksichtigung des Wirtschaftsstandortes Deutschland. Frankfurt amMain u. a.: Peter Lang.
Koopmann, G.; Münnich, F. (1999): National and International Developments. In:Technology, Intereconomics 39 (6); S. 267-278.
187
Kuemmerle, W. (1997): Building Effective R&D Capabilites Abroad. In: HarvardBusiness Review; March-April; S. 61-70.
Kuemmerle, W. (1999): Foreign Direct Investment in Industrial Research in thePharmaceutical and Electronics Industry - Results From a Survey of Multinational Firms. In: Research Policy 28; S. 179-193.
Kumar, N. (2001): Determinants of Location of Overseas R&D Activity of Multinational Enterprises: The Case ofUS and Japanese Corporations. In: ResearchPolicy 31; S. 159-174.
Le Bas, c.; Sierra, C. (2002): Location Versus Horne Country Advantages. In:R&D Activities: Some Further Results on Multinationals' Location Strategies,Research Policy 31; S. 589-609.
Leg1er H. u. a. (2000): Innovationsstandort Deutschland. Chancen und Herausforderungen im internationalen Wettbewerb. LandsbergiLech: mi, Verlag ModemeIndustrie.
Legler, H.; Grupp, H.; Gehrke, B.; Schasse, U. (1992): Innovationspotential undHochtechnologie. Wirtschaftswissenschaftliche Beiträge 70. Heidelberg: Physica-Verlag.
Levy, D. (1993): International Production and Sourcing - Trends and Issues. In:STiReviewNr. 13;S. 13-59.
Mathieu, E. (1994): Filiales Etrangeres et Brevets. Beitrag zum OECD-Workshop"Innovation, Patents and Technological Strategies". Paris, 8.-9. Dezember1994.
Meyer-Krahmer, F. et al. (1998): Internationalisation of Research and Technology:Trends, Issues, and Implications for Science and Technology Policies in Europe. Brusselsl Luxembourg (ETAN Working Paper, prepared for the European Commission).
Meyer-Krahmer, F. et al. (1998): Internationalisation of Research and Technology:Trends, Issues and Implications for Science and Technology Policies in Europe. Brusselsl Luxembourg (ETAN Working Paper, prepared for the EuropeanCommission).
Meyer-Krahmer, F.; Reger, G. (1997): Konsequenzen veränderter industriellerFUE-Strategien für die nationale Forschungs- und Technologiepolitik. In: Gerybadze, A.; Meyer-Krahmer, F.; Reger, G., Globales Management von Forschung und Innovation. Stuttgart: Schäffer-Poeschel; S. 196-215.
188
Meyer-Krahmer, F.; Reger, G. (1999): New Perspectives on the Innovation Strategies of Multinational Companies: Lessons for Technology Policy in Europe.In: Research Policy 28; S. 751-776.
Narula, R. (2000): Explaining Inetria in R&D Internationalisation: NorwegianFirms and the Role of Horne Country Effects. MERIT Research Memoranda2000-021.
Niosi, J. (1999): The Internationalisation of Industrial R&D. From TechnologyTransfer to Learning Organisation. In: Research Policy 28; S. 107-117.
Niosi; Godin (1999): Canadian R&D Abroad Management Practices. In: ResearchPolicy 28 (1999); S. 215-230.
NIW et al. (1995): Zur technologischen Leistungsfähigkeit Deutschlands. Berichtan das Bundesministerium für Bildung, Wissenschaft und Technologie.
NIW et al. (1998): Berichterstattung zur technologischen LeistungsfähigkeitDeutschlands 1997. Hannover.
OECD (1998a): Internationalisation ofIndustrial R&D. Patterns and Trends. Paris:OECD.
OECD (1998b): Science Technology Industry Review No. 22. Special Issue on"New Rationale and Approaches in Technology and Innovation Policy". Paris.
OECD (1999a): Managing National Innovation Systems. Paris: OECD.
OECD (1999b): Science, Technology and Industry Scoreboard 1999. BenchmarkingKnowledge-Based Economies. Paris: OECD.
OECD (2000): Science, Technology and Industry Outlook 2000. Paris: OECD.
OECD (2001a): Main Science and Technology Indicators. Paris: OECD.
OECD (2001b): Science, Technology and Industry Scoreboard 2001 - Towards aKnowledge-based Economy. Paris: OECD.
OECD (Hrsg.) (1998a): Globalisation of Industrial R&D: Policy Implications.DSTVSTP/TIP(98)4/REV I.
OECD (Hrsg.) (1998b): Internationalisation of Industrial R&D. Patterns andTrends. Paris: OECD.
189
OECD (Hrsg.) (1999): Measuring Globalisation. The Role of Multinationals In
OECD Economies. Paris: OECD.
Patel, P. (1994): Are Large Firms Internationalising the Generation of Technology:Some New Evidence. Beitrag zum OECD-Workshop "Innovation, Patents andTechnological Strategies". Paris, 8.-9. Dezember 1994.
Patel, P.; Pavitt, K. (2000): National Systems of Innovation Under Strain: The Internationalisation of Corporate R&D. In: Barre, R. et al. (Hrsg.), Productivity,Innovation and Economic Performance. Cambridge: Cambridge UniversityPress, Mimeo.
Patel, P.; Vega, M. (1999): Patterns of Internationalisation of Corporate Technology: Location vs. Horne Country Advantages. In: Research Policy 28 (1999);S.145-155.
Pearce, R. (1999): Decentralised R&D and Strategie Competitiveness: GlobalisedApproaches to Generation and Use of Technology in Multinational Enterprises (MNEs). In: Research Policy 29; S. 157-178.
Pearce, R; Singh, S (1997): Motivation and Organization ofDecentraliced R&D: In:Pearce, R.: Global Competition and Technology: PALGRAVB.
Pearce, R; Singh, S. (1992): Globalizing Research and Development; London:Macmillan.
Reger G.; Beise, M.; Belitz, H (1999): Innovationsstandorte multinationaler Unternehmen. Internationalisierung technologischer Kompetenzen in der Pharmazeutik. Heidelberg: Physica-Verlag.
Reger, G. (1997): Koordinierung und strategisches Management internationalerInnovationsprozesse. Heidelberg: Physica-Verlag.
Riedel N. (1999): Improving Local Conditions for Innovation in the PharmaceuticalIndustry. In: Meyer-Krahmer, F. (Hrsg.), Globalisation of R&D and Technology Markets. Consequences for National Innovation Policies. Heidelberg:Physica-Verlag.
Saggi, K. (2000): Trade, Foreign Direct Investment and International TechnologyTransfer: A Survey. Mimeo.
Schmaul, B. (1995): Organisation und Erfolg internationaler Forschungs- und Entwicklungseinheiten. Wiesbaden: Deutscher Universitäts-Verlag.
190
Schmoch, U. (1999a): Eignen sich Patente als Innovationsindikator? In: Bloch, R.(Hrsg.), Patentschutz und Innovation in Geschichte und Gegenwart. Frankfurtam Main u. a.: Peter Lang; S. 113-126.
Schmoch, U. (1999b): Impact ofInternational Patent Applications Upon Patent Indicators. In: Research Evaluation 8 (2); S. 119-131.
Schmoch, U. (1994): International Patenting Strategies of Multinational Concerns The Example of Telecommunication Manufacturers. Beitrag zum OECDWorkshop "Innovation, Patents and Technological Strategies". Paris, 8.-9.Dezember 1994.
Schmoch, u., Jungmittag, A., Rangnow, R. (2000): Innovationsstandort Schweiz.Studie für das Bundesamt fUr Berufsbildung und Technologie. Karlsruhe:FhG-ISI.
Schmoch, u.; Licht, G.; Reinhard, M. (2000): Wissens- und Technologietransfer inDeutschland. Studie im Auftrag des BMBF. Stuttgart: IRB-Verlag.
Schmoch, U. (2001): Interaktion von akademischer und industrieller Forschung.Unveröffentlichtes Manuskript. Karlsruhe.
Schnell, R. (1997): Nonresponse in Bevölkerungsumfragen. Ausmaß, Entwicklungund Ursachen. Opladen: Leske + Budrich.
Serapio, M.; Dalton, D. (1999): Globalization of Industrial R&D: An Examinationof Foreign Direct Investments in R&D in the United States. Research Policy(28)2-3 ; S. 303-316.
Soete, L. (1993): Die Herausforderung des "Techno-Globalismus": Auf dem Wegzu neuen Spielregeln. In: Meyer-Krahmer, F. (Hrsg.), Innovationsökonomieund Technologiepolitik - Forschungsansätze und politische Konsequenzen.Heidelberg: Physica.
SV-Wissenschaftsstatistik (1999): Datenreport 1999. Forschung und Entwicklung inder Wirtschaft 1997-1999. Essen.
UNCTAD (Hrsg.) (1999): World Investment Report 1999. Foreign Direct Investment and the Challenge ofDevelopment. New York and Geneva: UNCTAD.
UNESCO (1998): World Science Report 1998. New York: United Nations.
191
Vieweg, H.-G. u. a. (2001): Der mittelständische Maschinenbau am StandortDeutschland - Chancen und Risiken im Zeitalter der Globalisierung und"New Economy". Studie im Auftrag des Bundesministeriums für Wirtschaftund Technologie. München.
Von Boehmer, A. (1995): Internationalisierung industrieller Forschung und Entwicklung. Typen, Bestimmungsgründe und Erfolgsbeurteilung. Wiesbaden:DVU.
Von Zedtwitz, M.; Gassmann, O. (2002): Market Versus Technology Drive in R&DInternationalisation: Four Different Patterns of Managing Research and Development. Research Policy 31; S. 569-588.
Welge, K.; Holtbrügge, D. (2000): Wissensmanagement in multinationalen Unternehmen - Ergebnisse einer empirischen Untersuchung. In: zfb 52 (Dezember); S. 762-777.
Zander, I. (1999): How Do You Mean "Global"? An Empirical Investigation ofInnovation Networks in the Multinational Corporation. In: Research Policy28; S. 195-213.
ZEW et al. (2000): Zur technologischen Leistungsfähigkeit Deutschlands. Zusammenfassender Endbericht 1999. Mannheim.
Tab
elle
Al:
Die
Pat
enta
ktiv
ität
ende
rde
utsc
hen
mul
tina
tion
alen
Kon
zern
ede
sS
ampi
esim
Inla
ndun
dA
usla
nd;
1990
und
1998
*
gesa
mt
1990
gesa
mt
1990
gesa
mt
1990
Aus
land
squo
tege
sam
t19
98ge
sam
t19
98ge
sam
t19
98A
usla
ndsq
uote
Inla
ndA
usla
nd19
90(P
roze
nt)
Inla
ndA
usla
nd19
98(P
roze
nt)
Che
mie
BA
SF52
245
7,94
765
127
892
14,2
4?;*~'i\.7W
~'};
~,:i
&#M
'p
a
Hoe
chst
'1'58
413
018
,21
321
82,n
403
20,3
5-
_H
l"'
"
Mer
ck99
1110
116
6217
834
,83
;;;;;:;;
:u
Hen
kel
230
4.
1,71
269
3330
2~
10,9
3,
,
Boe
hrin
ger
3321
5438
,89
4331
7441
,89
!J,,"ü16J~''',.
~'"
"';",,",
:::60;-'
,21
,81
==25
,93::
J~
Sche
ring
480
I',
5\0
"',-_'k"
"~~-_:
'11IY
-J..
-tk~~_~~
Her
aeus
402
424,
7633
1952
36,5
4
B.B
raun
153
1816
,67
2914
4332
,56
ilL
~;\A":~'"
,a"11
90,
84,'h
1145
"24
,44
039
075
1085
11,7
6i
•..
.-Fr
eude
nber
g.
43'"
245
4,44
.",
476
5311
,32
Hül
s11
32
115
1,74
156
2128
,57
l~
#iß
tt-'d
.;:r
*"J
dJ-.
....
.....,
•.:,
:#;~
"~~~
,,
Fres
eniu
s1
911
,1I
427
14,8
1--
:1.~i
rt~'xi"
-"y
.D
ynam
itN
obel
61
714
,29
333
368,
33
gesa
mt
1990
ge
sam
t 19
90
gesa
mt
1990
A
us1a
ndsq
uote
ge
sam
t 19
98
gesa
mt
1998
ge
sam
t 19
98
Aus
land
squo
te
Inla
nd
Aus
land
19
90 (
Pro
zent
) In
land
A
usla
nd
1998
(P
roze
nt)
Che
mie
(For
tset
zung
)
SK
W T
rost
berg
14
0
14
0 14
3
17
17,6
5
Bei
ersd
orf
14
0 14
0
141
142
0,7
RU
tger
s 15
0
15
0 9
10
10
Sch
war
z P
harm
a 6
0 6
0 9
0 9
0 ~
'-0
00
Ehl
ebra
cht
0 0
0 0
0 0
Sto
5
0 5
0 0
0 0
0
Ele
ktro
nik
Bos
ch
518
10
528
1,89
93
5 70
10
05
6,97
Qua
nte
2 0
2 0
4 5
9 55
,56
gesa
mt
1990
gesa
mt
1990
gesa
mt
1990
Aus
land
squo
tege
sam
t19
98ge
sam
t19
98ge
sam
t19
98A
usla
ndsq
uote
Inla
ndA
usla
nd19
90(p
roze
nt)
Inla
ndA
usla
nd19
98(P
roze
nt)
Ele
ktro
nik
(For
tset
znng
)."
's:
'y"
;,~
~,
~~,
~,",.
_ifl
~t'<
:"BI
~:,,
~i"
"~iJe
nopt
lk,"
("$
®'~,
;a.:
&W*i"
00
"..
nOn
",."~"'*"
5..
n21
rn~3,81
Vos
s1oh
00
00
73
1030
Gru
ndig
61
714
,29
360
360
Siek
'''',
20
20
"'~/{5+i
0I
,I15
"0
'N',
.qi
i_
_..
...
pm
Sart
oriu
s3
03
08
08
0;
"yw;~"
•.;,2
,.
Var
ta",,
15'
015
O~.
,,~8
-~'0
,8
".
0h
ittr=
c*1
,;;,:r
§
Schn
eide
r0
00
04
04
0_
.•
<:-:,~J~:,;_,'
l<
,*!"
~"@
iL
"/«:
@~'~':
**I;'\
%~,
ifi~
Pfel
lfe:
."
.~'~~'k!j'i'lJ.r'&.
0,11
...
,.!5
_',
i'73
,.~~
.:::.;~~']
03
.....2
Vog
tEle
ktro
nik
100
100
10
10
Eff
Eff
00
00
00
00
Ges
amt
'~'L
14d'X
,.·17
215
73]0
,93
1131
'67
..51
036
7713
,87
L,,;
kAi
•'U
""y'
'",
.•
,••"
Mas
chin
enba
u
Hei
deIb
erge
rDru
ck9
442
0,4
5"
61'
4911
044
,55
MA
N11
132
8,33
213
1622
96,
99
V'h
"",
,..'il'7
fW<3
"4",',
,;,·i,.,
·<l'3
,"'3
7"j\
81'1
1%!';
;;l'.8
'M',;
;'"""
1620
08
Olt
".b~
't'#Jd~k~m~F",
x;}
4-....'
>'.I
7ni%
;L~*»1;i00;(;;;
;'WW&
tl1n_
_
BSH
380
380
156
1517
18,
77
gesa
mt
1990
gesa
mt
1990
gesa
mt
1990
Aus
land
squo
tege
sam
t19
98ge
sam
t19
98ge
sam
t19
98A
usla
ndsq
uote
Inla
ndA
usla
nd19
90(P
roze
nt)
Inla
ndA
usla
nd19
98(P
roze
nt)
Mas
chin
enba
u(F
orts
etzu
ng)
IWK
A11
213
15,3
838
846
17,3
9
Sch
mal
bach
411
1573
,33
36
966
,67
KS
B9
09
08
513
38,4
6
Thy
ssen
3811
4922
,45
483
515,
88IV 0 0
Bud
erus
78
1553
,33
13
475
Dt.
Bab
cock
141
156,
6734
034
0
Deu
tz20
020
014
014
0
R.S
tahl
10
10
60
60
All
wei
ler
20
20
20
20
gesa
mt
1990
gesa
mt
1990
gesa
mt
1990
Inla
ndA
usla
ndA
usla
ndsq
uote
1990
(pro
zent
)ge
sam
t19
98ge
sam
t19
98ge
sam
t19
98In
land
Aus
land
Aus
land
squo
te19
98(P
roze
nt)
Fah
rzeu
gbau
VJ
N 0
VW
654
695,
838
743
430
10-
~1'
&<.....
194
2,58
!b
!W
h
Con
tinen
tal
1019
2965
,52
122
612
84,
69..
....
...l'I1'r~
••Ia
&l!I
:i:i
,?/tL
-...
,'iii
-~
Frie
dric
hsha
fen
''f'i'!f
'!b',6
"i"
6''-
w
Man
n+H
umm
el13
147,
1449
352
5,77
--..
",;}W
39'w
;;"'J
lhf:,
t-'!
,.j%~~~J
iil4H~wJ
,,
;;rx
si~,&:W"
Hel
la~L
ift.~'~
40~1:12..l
2"5
.::
x-.
'iM!
'.,.
~"
Kno
rrB
rem
se25
631
19,3
520
121
4,76
~-
At:..;
;.H
fk?ll
,11!-1
{4H
}dL
;,""
'iiJ
N;;
'lt>..
&4J
Ji'r:i
N'
Ebe
tspä
cher
<;;!"
:~-lW
'10
..,~
0'
4Fi4'
L,10
'4;i:'
;'iJGu
01_
__
<j.
rfll"
E"7
W,;#
:'6....
..,
Pors
che
660
660
2~,
0"~.•K,~,
,;;-K
olbe
nsch
'mid
t"''
'7
§/,q
(2
0~~Ä
9~'r:.WT
"22
,22
gesa
mt
1990
gesa
mt
1990
gesa
mt
1990
Aus
land
squo
tege
sam
t19
98ge
sam
t19
98ge
sam
t19
98A
usla
ndsq
uote
Inla
ndA
usla
nd19
90(P
roze
nt)
Inla
ndA
usla
nd19
98(P
roze
nt)
Fah
rzeu
gbau
(For
tset
zung
)
Eds
cha
70
70
150
150
Kie
kert
00
00
20
20
Hym
er0
00
00
00
0
Son
stig
eN 0 N
Tel
ekom
00
00
111
011
10
*So
rtie
rtna
chSe
ktor
enun
dPa
tent
anm
eldu
ngen
imA
usla
nd19
98.
Que
lle:
WO
-Pat
ente
/EP-
Pate
nte;
Ber
echn
unge
nde
sFH
G-I
S1.
Tabelle A2:
Technikfeld
203
Wissensbindung: Zahl der Wissenschaftszitate proPatentanrneldung in Prüfberichten des Europäischen Patentamtesfür die Prioritätsjahre 1989 bis 1992.
Index der Wissensbindung
Pharmazie (Haupt- und Nebenklasse) 1,87
Organische Chemie 1,66
Datenverarbeitung 1,26
Audiovisuelle Technik 1,16
Werkstoffe 1,13
Grundstoffchemie 0,99
Obertlächentechnik 0,93
E1ektr. Energie 0,75
Materialverarb., Textil 0,61
Werkzeugmaschinen 0,6
Motoren, Turbinen 0,45
Thermische Prozesse 0,4
Transport und Raumfahrt, Waffen 0,3
Konsumgüter 0,22
Quelle: Schmach 2001, S. 141.
204
Tabelle A3: Patente im fu1and und Ausland sowie Auslandsquoten des Samp1es
der deutschen Unternehmen im Ausland 1990 und 1998 nachTechnikfe1dern156
1990 1998
Inland Ausland Inland Ausland
Audiovisuelle Technik 52 10 16,13 70 5 6,67
Datenverarbeitung 67 4 5,63 264 35 11,71
143 26 139 27 16,27
Medizintechnik 88 45 33,83 101 63 38,41
Lebensmittel 18 2 10,00 18 2 10,00
Oberflächentechnik 132 17 11,40 145 26 15,20
Nahrungsmittelverarb. 9 10,00 15 6 28,57
VVerkzeugmaschinen 112 6 5,08 197 24 10,86
Thermische Prozesse 68 o 0,00 117 13 10,00
Bauwesen 60 2 3,22 102 10 8,93
* Auslandsquote, defmiert als Anteil der ausländischen Patenten an den Patenten gesamt.
Quelle: WO-Patente/EP-Patente; Berechnungen des FHG-ISI.
156 Die hervorgehobenen Linien in dieser Tabelle trennen Technikbereiche voneinander ab, vonoben nach unten: Elektrotechnik, Instrumente, Chemie, Prozesstechnik und Maschinenbau.
Abbildung Al:
205
Spezialisierungsmuster des deutschen Untemehmenssamples imVergleich zum Profil Deutschlands 1990157
Elektr. Energie .-Audio-visuelle Technik -'"
Ir·S
Telekonununikation ""u<l)E-<
Datenverarbeitung I 0 lnlandspatente der Konzerne I ~
Halbleiter~ DiI Patente Deutschland
Optik B
"Messen, Regeln und Nukleartechnik C Eg
Medizintechnik - ]
Org. Chemie
Ir--'liIPharmazie
Biotechnologie
Lebensmittel <l)·E
Werkstoffe
Ir=?l!U
Oberflächentechnik
Polymere[IiBlIi .
Grundstoffchemie -Verfahrenstechnik -Materialverarb., Textilr~
~,.
Handhabung, Druck
-~-'"·S
Nahrungsmittelverarb. ""lIIlII uB
Umwelttechnik ~N
I""' eWerkzeugmaschinen Cl...
Motoren, Turbinen rrrTherm. Prozesse
Maschinenelemente --Transport und Raumfahrt, Waffen ::lII"Konsumgüter<l)c
I - :.2u
Bauwesen [q-- ~
-100 -80 -60 -40 -20 0 20 40 60 80 100
RPA-Index
Quelle: WO-Patente/EP-Patente; Berechnungen des FHG-ISI.
157 Die Linien, in dieser und den folgenden GrafIken zur Patentspezialisierung, trennen - soferndie Felder nach Technikbereiche geordnet sind - diese voneinander ab, von oben nach unten:Elektrotechnik, Instrumente, Chemie, Prozesstechnik und Maschinenbau.
Abbildung A2:
206
Spezialisierungsmuster des deutschen Untemehmenssamples imVergleich zum Profil Deutschlands 1998
Elektr. Energie ~Audio-visuelle Technik
-'"r ·2Telekommunikation -'"u
"E-Datenverarbeitung ~
r l o Inlandspatente der Konzerne IHalbleiter llII Patente Deutschland
Optik EMessen, Regeln und Nukleartechnik C. 8
.5Medizintechnik .5-Org. Chemie
Ir-'I!I
Phannazie
Biotechnologie
Lebensmittel "E"-'"Werkstoffe
IF?U
Oberflächentechnik
Polymere -Grundstoffchemie _I
Verfahrenstechnik -Materialverarb., Textilr~
-'"!EIl ·2
-'"r uHandhabung, Druck 2
-lill ~Nahrungsmittelverarb. - E
c..
Umwelttechnik
Werkzeugmaschinen r
Motoren, Turbinen
Therm. Prozesse ..• :::l1l
Ir---' c"Maschinenelemente c
:Eiu
Transport und Raumfahrt, Waffen gj::2
Konsumgüter -Bauwesen
-\ 00 -80 -60 -40 -20 0 20 40 60 80 100
Quelle:
RPA-Index
WO-PatenteIEP-Patente; Berechnungen des FHG-ISI.
Abbildung A3:
207
Differenz derAuslandsquoten der deutschen Konzerne desSampIes zwischen 1998 und 1990 für Technikfelder
Halbleiter
Nahrungsmittelverarb.
Pharmazie
Biotechnologie
Org. Chemie
Therm. Prozesse
Elektr. Energie
Polymere
Datenverarbeitung
Werkzeugmaschinen
Bauwesen
Maschinenelemente
Umwelttechnik
Medizintechnik
Transport und Raumfahrt, Waffen
Messen, Regeln und Nukleartechnik
Verfahrenstechnik
Materialverarb., Textil
Konsumgüter
Oberflächentechnik
Motoren, Turbinen
Werkstoffe
Grundstoffchemie
Optik
Handhabung, Druck
Lebensmittel
Telekommunikation
Audio-visuelle Technik
--&IiIiiil--11I
11
I
--10 -5 o 5 10 15 20
Quelle:
Differenz Auslandsquoten 1998 ·1990
WO-PatenteIEP-Patente; Berechnungen des FHG-ISI.
Abbildung A4:
208
Auslandsquoten deutscher Konzerne (gesamtes Sample) für dieJahre 1990 und 1998 für Technikfelder, geordnet nachabnehmender Wissensbasierung
Biotechnologie
Pharmazie
Halbleiter
Org. Chemie
Lebensmittel
Datenverarbeitung
Optik
Audio-visuelle Technik
Telekommunikation
Werkstoffe
Messen, Regeln und Nukleartechnik
Grundstoffchemie
Oberflächentechnik
Polymere
Elektr. Energie
Umwelttechnik
Materialverarb., Textil
Verfahrenstechnik
Werkzeugmaschinen
Nahrungsmittelverarb.
Motoren, Turbinen
Handhabung, Druck
Therm. Prozesse
Medizintechnik
Transport und Raumfahrt, Waffen
Maschinenelemente
Konsumgüter
Bauwesen
,----,
---J,
I~ol1li1998
--,
~
r------,..r---,
o 5 10 15 20 25 30 35 40 45
Quelle: WO-PatenteIEP-Patente; Berechnungen des FHG-ISI.
Abbildung A5:
209
Spezialisierungsmuster der deutschen Konzerne (Sample) imInland und in den USA sowie Patentprofil USA gesamt, 1990
Elektr. Energie1-
Audio-visuelle Technik.".c.r. 'E
Telekommunikation ..c:u
"E--Datenverarbeitung ili
Halbleiter
Optik
~r- B
"Messen, Regeln und Nukleartechnik E
~ 5Medizintechnik
~.5
Org. Chemie
Pharmazie
Biotechnologie
Lebensmittel "-r- E"Werkstoffe ..c:.- U
Oberflächentechnik -Polymere--I
Grundstoffchemie I!!--Verfahrenstechnik
...-'-----' .".'EMaterialverarb., Textil ..c:- uB
Handhabung, Druck ~- ~..c:Nahrungsmittelverarb. ff. <{j
"
r.l >Umwelttechnik
Werkzeugmaschinen
"Motoren, Turbinen '".D
"""Therm. Prozesse :Eugj
Maschinenelemente ::E
Transport und Raumfahrt, Waffen -~ o Inlandspatente der KonzerneKonsumgüter ...... liiI Patente der Konzerne in USA
Bauwesen :IIIliii • Patente USA gesamt
-100 -80 -60 -40 -20 o 20 40 60 80 100
Quelle:
RPA-Index
WO-Patente/EP-Patente; Berechnungen des FHG-ISI.
Abbildung A6:
210
Spezialisierungsmuster der deutschen Konzerne (Sample) imInland und in den USA sowie Patentprofil USA gesamt, 1998
Elektr. Energie -Audio-visuelJe Technik
~-'"'2
Telekonununikation lI.i ..cQ
"E-Datenverarbeitung ~
Halbleiter
Optik - .. 2c"Messen, Regeln und Nukleartechnik • E2
Medizintechnik ]
Org. Chemie ...Phannazie
Biotechnologie
Lebensmittel "..L.j E"Werkstoffe ..cU
Oberflächentechnik -Polymere
Grundstoffchemie
Verfahrenstechnik,-c -'"
'2Materialverarb., Textil ..c1
IQ<:!
Handhabung, Druck IL...-- b"I l!J!:!..c
Nahrungsmittelverarb.
==~">
Umwelttechnik
Werkzeugmaschinen:::l
Motoren, Turbinen .ßc
e "cTherm. Prozesse :.a
Q~
Maschinenelemente ::E
Transport und Raumfahrt, WaffenDInlandspatente der Konzerne
Konsumgüter11 Patente der Konzerne in USA-Bauwesen
~ • Patente USA gesamt
-100 -80 -60 -40 -20 o 20 40 60 80 100
Quelle:
RPA-Index
WO-PatenteIEP-Patente; Berechnungen des FHG-ISI.
Abbildung A7:
211
Patentspezialisierung Deutschland gesamt
Elektr. Energie
Audio-visuelle Technik
Telekommunikation
Datenverarbeitung
Halbleiter
Optik
Messen, Regeln und Nukleartechnik
Medizintechnik
Org. Chemie
Pharmazie (Haupt- und Nebenklasse)
Biotechnologie
Lebensmittel
Werkstoffe
Oberflächentechnik
Polymere
Grundstoffchemie
Verfahrenstechnik
Materialverarb., Textil
Handhabung, Druck
Nahrungsmittelverarb.
Umwelttechnik
Werkzeugmaschinen
Motoren, Turbinen
Therm. Prozesse
Maschinenelemente
Transport und Raumfahrt, Waffen
Konsumgüter
Bauwesen
;-I ....,
I
II1II
)mr---
IIIp
[~
b~ 01990 I
IEIl 1998
~~
~~
r--------,
~
lIIiiPr-------,
-100 -50 o 50 100
Quelle:
RPA-Index
WO-PatenteIEP-Patente; Berechnungen des FHG-ISI.
Abbildung A8:
212
Patentspezialisierung USA gesamt
Elektr. Energie
Audio-visuelle Technik
Telekommunikation
Datenverarbeitung
Halbleiter
Optik
Messen, Regeln und Nukleartechnik
Medizintechnik
Org. Chemie
Pharmazie (Haupt- und Nebenklasse)
Biotechnologie
Lebensmittel
Werkstoffe
Oberflächentechnik
Polymere
Grundstoffchemie
Verfahrenstechnik
Materialverarb., Textil
Handhabung, Druck
Nahrungsmittelverarb.
Umwelttechnik
Werkzeugmaschinen
Motoren, Turbinen
Therm. Prozesse
Maschinene1emente
Transport und Raumfahrt, Waffen
Konsumgüter
Bauwesen
cf:~
tmD..1--""'"
mPr- 01990 I
111998I---.-
FE~
~
~,.L---:
,.L---:
~
Quelle:
-100 -80 -60 -40 -20 0 20 40 60 80 100
RPA-Index
WO-PatenteIEP-Patente; Berechnungen des FHG-ISI.
Abbildung A9:
213
Patentspezialisierung Japan gesamt
Elektr. Energie
Audio-visuelle Technik
Telekommunikation
Datenverarbeitung
Halbleiter
Optik
Messen, Regeln und Nukleartechnik
Medizintechnik
Org. Chemie
Pharmazie (Haupt- und Nebenklasse)
Biotechnologie
Lebensmittel
Werkstoffe
Oberflächentechnik
Polymere
Grundstoffchemie
Verfahrenstechnik
Materialverarb., Textil
Handhabung, Druck
Nahrungsmittelverarb.
Umwelttechnik
Werkzeugmaschinen
Motoren, Turbinen
Therm. Prozesse
Maschinenelemente
Transport und Raumfahrt, Waffen
Konsumgüter
Bauwesen
I " I
f,i
W!iI
I,,Ii r--
I ,L.......!
II [~I -r--
,J..-.:I
E2=a,-
~ -101990,
I 01998I IEI I c: DI I
I II L
IIe::I,Ir-r '-----T
i , u.......!
~
~-
! -,
:
Quelle:
-100 -80 -60 -40 -20 0 20 40 60 80 100
RPA-Index
WO-PatenteIEP-Patente; Berechnungen des FHG-ISI.
214
Abbildung AlO: Patentspezialisierung Schweiz gesamt
Elektr. Energie
Audio-visuelle Technik
Telekommunikation
Datenverarbeitung
Halbleiter
Optik
Messen, Regeln und Nukleartechnik
Medizintechnik
Org. Chemie
Pharmazie (Haupt- und Nebenklasse)
Biotechnologie
Lebensmittel
Werkstoffe
Oberflächentechnik
Polymere
Grundstoffchemie
Verfahrenstechnik
Materialverarb., Textil
Handhabung, Druck
Nahrungsmittelverarb.
Umwelttechnik
Werkzeugmaschinen
Motoren, Turbinen
Therm. Prozesse
Maschinenelemente
Transport und Raumfahrt, Waffen
Konsumgüter
c::p:=i
-=--~..,-
r---
r--l'IiJiiiI-~ 1°1990
- 111998-1-
11..---,
--,111
1-
Quelle:
Bauwesen
-100 -80 -60 -40 -20 0 20 40 60 80 100
RPA-Index
WO-PatenteIEP-Patente; Berechnungen des FHG-ISI.
Abbildung All:
215
Patentspezialisierung Frankreich gesamt
Elektr. Energie
Audio-visuelle Technik
Telekommunikation
Datenverarbeitung
Halbleiter
Optik
Messen, Regeln und Nukleartechnik
Medizintechnik
Org. Chemie
Pharmazie (Haupt- und Nebenklasse)
Biotechnologie
Lebensmittel
Werkstoffe
Oberflächentechnik
Polymere
Grundstoffchemie
Verfahrenstechnik
Materialverarb., Textil
Handhabung, Druck
Nahrungsmittelverarb.
Umwelttechnik
Werkzeugmaschinen
Motoren, Turbinen
Therm. Prozesse
Maschinenelemente
Transport und Raumfahrt, Waffen
Konsumgüter
Bauwesen
Quelle:
-100 -80 -60 -40 -20 0 20 40 60 80 100
RPA-Index
WO-PatenteIEP-Patente; Berechnungen des FHG-ISI.
216
Abbildung A12: Patentspezialisierung Vereinigtes Königreich gesamt
Elektr. Energie
Audio-visuelle Technik
Telekommunikation
Datenverarbeitung
Halbleiter
Optik
Messen, Regeln und Nukleartechnik
Medizintechnik
Org. Chemie
Pharmazie (Haupt- und Nebenklasse)
Biotechnologie
Lebensmittel
Werkstoffe
Oberflächentechnik
Polymere
Grundstoffchemie
Verfahrenstechnik
Materialverarb., Textil
Handhabung, Druck
Nahrungsmittelverarb.
Umwelttechnik
Werkzeugmaschinen
Motoren, Turbinen
Therm. Prozesse
Maschinenelemente
Transport und Raumfahrt, Waffen
Konsumgüter
Bauwesen
r-'--
.~mP
'--
r--m
llIl.-_a.-
h
h
P
• 1°1990 I111998
•.--
•..emi
p
•r-1iI_1lIl_~
~-~~
-100 -80 -60 -40 -20 0 20 40 60 80 100
RPA-Index
Quelle: WO-PatenteIEP-Patente; Berechnungen des FHG-ISI.
Abbildung AU:
217
Patentspezialisierung Italien gesamt
Elektr. Energie
Audio-visuelle Technik
Telekonununikation
Datenverarbeitung
Halbleiter
Optik
Messen, Regeln und Nukleartechnik
Medizintechnik
Org. Chemie
Phannazie (Haupt- und Nebenklasse)
Biotechnologie
Lebensmittel
Werkstoffe
Oberflächentechnik
Polymere
Grundstoffchemie
Verfahrenstechnik
Materialverarb., Textil
Handhabung, Druck
Nahrungsmittelverarb.
Umwelttechnik
Werkzeugmaschinen
Motoren, Turbinen
Therm. Prozesse
Maschinenelemente
Transport und Raumfahrt, Waffen
Konsumgüter
Bauwesen
[-
Ei
-~.-Ill_-~
r-~ lIll
111~
~01990 I
I. 111998
r---L,
WI~
R.~
-100 -80 -60 -40 -20 0 20 40 60 80 100
RPA-Index
Quelle: WO-PatenteIEP-Patente; Berechnungen des FHG-ISI
218
Abbildung A14: Patentspezialisierung Niederlande gesamt
Elektr. Energie
Audio-visuelle Technik
Telekommunikation
Datenverarbeitung
Halbleiter
Optik
Messen, Regeln und Nukleartechnik
Medizintechnik
Org. Chemie
Phannazie (Haupt- und Nebenklasse)
Biotechnologie
Lebensmittel
Werkstoffe
Oberflächentechnik
Polymere
Grundstoffchemie
Verfahrenstechnik
Materialverarb., Textil
Handhabung, Druck
Nahrungsmittelverarb.
Umwelttechnik
Werkzeugmaschinen
Motoren, Turbinen
Therm. Prozesse
Maschinenelemente
Transport und Raumfahrt, Waffen
Konsumgüter
Bauwesen
-ililI i
C_
-r--~'-r-
lIi
-,~
-..,
~-~-:-:~d.- ---
~..•,..,
-.-n--100 -80 -60 -40 -20 0 20 40 60 80 100
RPA-Index
Quelle: WO-PatenteIEP-Patente; Berechnungen des FHG-ISI.
219
Abbildung AIS: Patentspezialisierung Schweden gesamt
Elektr. Energie
Audio-visuelle Technik
Telekommunikation
Datenverarbeitung
Halbleiter
Optik
Messen, Regeln und Nukleartechnik
Medizintechnik
Org. Chemie
Pharmazie (Haupt- und Nebenklasse)
Biotechnologie
Lebensmittel
Werkstoffe
Oberflächentechnik
Polymere
Grundstoffchemie
Verfahrenstechnik
Materialverarb., Textil
Handhabung, Druck
Nahrungsmittelverarb.
Umwelttechnik
Werkzeugmaschinen
Motoren, Turbinen
Therm. Prozesse
Maschinenelemente
Transport und Raumfahrt, Waffen
Konsumgüter
Bauwesen
Icm,..,
1-
~-- lfiI
1°1990 I
~111998
liI,....--11--
,-
~~I
•~~-
-100 -80 -60 -40 -20 0 20 40 60 80 100
RPA-Index
Quelle; WO-PatenteIEP-Patente; Berechnungen des FHG-ISI.
Tabelle A4:
220
Konkordanz der Wissenschaftsfelder zur Publikationsrechercheund der Technikfelder zur Patentrecherche
PubHkationsanalyse
Wissenschaftsgebiet Wissenschaftsfeld(Basis SCI)
Patentanalyse
Technikfeld (Basis IPC) Technikbereich
Instrumente Optik
Meß-,RegeltechnikNukleartechnik
Medizintechnik
Optik
Messen, Regeln, Nukleartechnik
Medizintechnik
Instrumente
Prozesstechnik
Chemie! Pharmazie
Prozesstechnik
Verfahrenstechnik
Materialforschung,Oberflächentechnik
Umwelttechnik
Verfahrenstechnik
Werkstoffe,Oberflächentechnik
Umwelttechnik
Prozesstechnik
Physik Physik Kein Äquivalerit
Sonstige Biologie Kein Äquivalent
Ökologie, Klima Kein Äquivalent
Landwirtschaft Kein Aquivalent
Mathematik Kein Äquivalent
Geowissenschaften Kein Äquivalent
Sonstiges Kein Äquivalent
Tabelle A5:
221
Publikationsprofile Deutschlands und der Zielländer 1998/99(RLA-Indizes)
Wissensfeld
Elektrotechnik
Telekommunikation
Datenverarbeitung
Optik
Messen! Regeln, Nukleartechnik
Medizintechnik
Organische Chemie
Polymere
Pharmazie
Biotechnologie
Lebensmittel
Grundstoffchemie
Verfahrenstechnik
Materialforschung
Umwelttechnik
Maschinenbau
Thermische Prozesse
Bauwesen
Physik
Medizin
Biologie
Ökologie, Klima
Mathematik
Geowissenschaften
Sonstiges
Tab
elle
A6:
Pat
ent-
und
Pub
lika
tion
sakt
ivit
äten
der
ausl
ändi
sche
nU
nter
nehm
enin
Deu
tscW
and*
Ko-
Publ
ilca
tion
enK
o-P
ubli
kati
onen
ohne
d!.
Par
tber
mit
d!.
Par
tner
Unt
erne
hmen
Mut
ter
Grü
ndun
gsja
hrSi
tzP
aten
tein
All
einp
ub\.
T+
MT
.m
itau
s\.
deut
sche
Mut
ter
Pub
\.M
.in
DM
utte
rD
TP
artn
erT
ocht
ergl
obal
Che
mie
Cla
rian
tC
lari
antA
G19
62C
H70
143
418
12
...H
offm
ann
La
Roc
heR
oche
1929
CH
7028
113
7411
869
5...
---.
..--
--
---
Solv
ay.
Sol
vay
S.A
.18
80B
EL9
.3
412
19o
83--
...B
un
a'
The
Dow
Che
mic
alC
ompa
ny19
36U
SA
53
00
5,1
364
5-
-ow
The
Dow
Che
mic
alC
ompa
ny19
59U
SA
44
02
l.3
1364
5--
---
-----
-A
cord
isA
cord
isIn
dust
rial
Ned
erla
nd18
99N
L3
41
28
012
V~'-
q..
IN
'BP
BP
Eur
ope
Hol
ding
sL
td.
1904
30
02
00
8N N
Du
Pon
tE
.I.
duP
ontd
eN
emou
rs&
Co.
Inc.
1866
US
A2
11
0I
3715
81-
--
4"'
'i'j'
d,0
She
llS
hell
Pet
role
umN
.V.
1902
NL
1'j1;
0,
~:0
010
222
.-
IL
--.:
3MM
inne
sota
Min
ing
&M
anuf
actu
ring
1951
US
A0
0I
02
029
4C
ompa
ny
'Con
oco
--
---
----
Con
oco
Inc.
nach
1950
US
A0
00
00
026
--E
lfO
ilE
lfA
quit
aine
1963
F0
01
00
220
1--
---
---
-----
Ess
oE
xxon
Mob
il18
90U
SA
05
10
612
506
Fina
Tot
alfi
naS.
A.
\cA
F0
00
00
I5
Q!.a
xoW
ellc
ome
=G
laxo
Wel
lcom
eIn
t.19
64V
K0
12
09
1186
0
Rec
kitt
&C
olm
anR
ecki
tt&
Col
man
PL
C19
10-1
920
VK
00
00
00
0
CI,e
m;e
gesa
mt
.-.1
67
63:1
~,
1535
:r14
521
857
85
*S
orti
ertn
ach
Sek
tore
nun
dP
aten
tein
Deu
tsch
land
.M
=M
utte
r,T
=T
ocht
er.
Tab
elle
A6
(For
ts.)
:P
aten
t-un
dP
ubli
kati
onsa
ktiv
ität
ende
rau
slän
disc
hen
Unt
erne
hmen
inD
euts
chla
nd
Ko-
Pub
lika
tion
enm
itdt
.P
artn
er
Unt
erne
hmen
Ele
ktr
on
ik
Mut
ter
GrÜ
lldu
ngsj
ahr
inD
Sit
zM
utte
rP
aten
tein
D.
All
ein
pub!
.T
Ko-
Pub
lika
tion
enoh
nedt
.P
artn
er
T+
MT
.mit
ausL
Par
tner
deut
sche
Toc
hter
Mut
ter
Pub!
.M
.gl
obal
Bra
unT
heG
ille
tte
Cor
npan
y19
21U
SA
38o
oo
32
Alc
atel
HP
Alc
atel
Hew
lett
Pac
kard
..
1905
1959
F
US
A
2 o
13 17
5 2
10 15
3 19
11 11.
206
597
IV IV w
*S
orti
ertn
ach
Sek
tore
nun
dP
aten
tein
Deu
tscW
and.
M=
Mut
ter,
T=
Toc
hter
.
Tab
elle
A6
(For
ts.)
:P
aten
t-un
dP
ubli
kati
onsa
ktiv
ität
ende
rau
slän
disc
hen
Unt
erne
hmen
inD
euts
chla
nd
Ko-
Pro
dukt
ione
nm
itdt
.P
artn
ern
Unt
erne
hmen
Mut
ter
Grü
ndun
gsja
hrin
DS
itz
Mut
ter
Pat
ente
inD
.A
llei
npu
b!.
T
Ko-
Pub
lika
tion
enoh
nedt
.P
artn
er
T+
MT
.m
itau
s!.
Par
tner
deut
sche
Toc
hter
Mut
ter
Pub!
.M
.gl
obal
KF
Z
N N "'"2
35,8101338
1874
1925
1893
1989
1978
1862
Som
rtie
rAll
iber
tS.A
.
TR
Wln
c.
GK
NOve!sea~):r~dingsLtd.
Hon
daM
otor
Co.
.
Del
phi
Aut
omot
ives
Sys
tem
sC
orpo
rati
on
AB
SK
F
Tve
coN
.V.
Pil
king
ton
Sum
itom
o
Fed
eral
MO
Tgtll
Gen
.iral
Mot
ors
Cor
pora
tion
t-
'''-._
llII
IW'M
.
For
Mot
orC
ompa
ny
Hon
da
TR
W
*S
orti
ertn
ach
Sek
tore
nun
dP
aten
tein
Deu
tsch
land
.M
=M
utte
r,T
=T
ocht
er.
Tab
elle
A6
(For
ts.)
:P
aten
t-un
dP
ubli
kati
onsa
ktiv
ität
ende
rau
slän
disc
hen
Unt
erne
hmen
inD
euts
chla
nd
Ko-
Pub
lika
tion
enK
o-P
rodu
ktio
nen
olm
edt
.P
artn
erm
itdt
.P
artn
ern
Unt
erne
hmen
Mut
ter
GfÜ
ndun
gsja
hrSi
tzPa
tent
ein
Alle
in-
T+
MT
.m
itau
s!.
deut
sche
Mut
ter
Pub!
.M.
inD
Mut
ter
D.
pub!
.TP
artn
erT
ocht
ergl
obal
AG
**k.
A.
CH
31
00
01
9
Uni
leve
r(N
ahru
ngs-
IU
nile
ver
N.V
.18
88N
LIV
K1
00
13
819
8G
enus
smit
tel)
N N Vl
Cor
us(M
-Bau
)C
orus
Sta
alve
rwer
king
enH
ande
lB.V
.19
69N
L0
00
00
00
Nes
tle
Nes
tle
S.A
.18
74C
H0
00
1I
2022
7
*So
rtie
rtna
chS
ekto
ren
und
Pat
ente
inD
euts
cWan
d.**
Alu
suis
seab
2000
Toc
her
von
Alc
an.
M=
Mut
ter,
T=
Toc
hter
.
Tabelle A7:
226
Die Patentanmeldungen der ausländischen Unternehmen desSamples in Deutschlandnach Technikfeldern und der jeweiligeAnteil an den Gesamtanmeldungen der Konzerne weltweit im Jahr1998.158
Audiovisuelle Technik ° 684 0,00
Datenverarbeitung 685 0,15
Optik 8 335 2,39
Medizintechnik 5 314 1,59
Lebensmittel ° 141 0,01
Oberflächentechnik 3 132 2,27
Grundstoffchemie 29 508 5,71
Therm. Prozesse 21 68 30,88
Bauwesen 12 57 21,05
Quelle: WO-Patente/EP-Patente; Berechnungen des FHG-ISI.
158 Die hervorgehobenen Linien in dieser Tabelle trerihen Technikbereiche voneinander ab, vonoben nach unten: Elektrotechnik, Instrumente, Chemie, Prozesstechnik und Maschinenbau.
Abbildung A16:
227
Patentspezialisierung ausländischer Konzerne weltweit vs.Töchter in DeutscWand, 1998.
Elektr. Energie
Audio-visuelle Technik-'"
Telekommunikation '"-="~
Datenverarbeitung ~
Halbleiter
Optik.----
10 Konzerne - weltweit I ~EMessen, Regeln und Nuklearteehnik
lIliIIiIlIiII ausl- Töchter in D g
Medizintechnik...- !J
Org. Chemie
Pharmazie (Haupt- und Nebenklasse)
---~Biotechnologie r-~ lIliIIiI
Lebensmittel "E"Werkstoffe -=
~U
Oberflächentechnik
Polymere r
Grundstoffchemie
Verfahrenstechnik -'"
'"-=Materialverarb., Textil <>2i9
Handhabung, Druck ~-=<fjNahrungsmittelverarb. ~
Umweltteehnik
Werkzeugmaschinen
Motoren, Turbinen;:l
'"Therm. Prozesse JO<::1J
Maschinenelemente :.2~
<>~
Transport und Raumfahrt, Waffen :::E
Konsumgüter
Bauwesen I I 1 1-
-100 -80 -60 -40 -20 0 20 40 60 80 100
Quelle:
RPA"Index..
WO-Patente/EP-Patente; Berechnungen des FHG-ISI.
Abbildung A17:
228
Patentspezialisierung ausländischer Töchter in Deutschland vs.Deutschland gesamt, 1998
Elektr, Energier---,
Audio-visuelle Technik..:<
Telekommunikation 'S-"'U
'"Datenverarbeitung E--~
Halbleiterr-
IOD gesamt 1___
Optik I. aus!- Töchter in D 2
".. '"Messen, Regeln und NukJeartechnik Eg
Medizintechnik .sOrg, Chemie r-
Pharmazie (Haupt- und Nebenklasse)
I-r-Biotechnologie --
Lebensmittel '"'EWerkstoffe
,gU
Oberflächentechnik "Polymere
Grundstoffchemie,..,
Verfahrenstechnikn
Materialverarb" Textil rI ..:<'S-"
r-1U
Handhabung, Druck 2l!J
n ~Nahrungsmittelverarb. -"
~n '"Umwelttechnik >
Werkzeugmaschinen,----'-,
IMotoren, Turbinen
Therm. Prozesse ::s
r------J, 11"Maschinenelemente
I~;g
:EiU
Transport und Raumfahrt, Waffen gj::E
Konsumgüter
BauwesenI..
-100 -80 -60 -40 -20 0 20 40 60 80 100
Quelle:
RPA - Index
WO-Patente/EP-Patente; Berechnungen des FHG-ISI.
Abbildung A18:
229
Patentspezialisierung ausländische Konzerne weltweit vs.Töchter in D. vs. Deutschland gesamt, 1998
Elektr. Energie "......-
Audio-visuelle Technik
"'"Telekommunikation
'S..c::- ".~
Datenverarbeitung . W
Halbleiter . ... o Konzern global -Optik IliITöchter_in_D .3c
Messen, Regeln und Nukleartechnik .. lliI Deutschland gesamt E2
~ ]Medizintechnik .Org. Chemie ..
Pharmazie (Hauptklasse) ~
Pharmazie (Haupt- und Nebenklasse)
r-'Biotechnologie
0)Lebensmittel '6
0)..c::Werkstoffe U--,.....-..;
Oberflächentechnik'"
Polymere -Grundstoffchemie ..
"""Verfahrenstechnik . -- ~
Materialverarb., Textil ..c::- ".3Handhabung, Druck 19.... ~..c::
Nahrungsmittelverarb. .... <E0)
Umwelttechnik >
Werkzeugmaschinen
Motoren, Turbinen
Therm. Prozesse . ;;;l
".- oncMaschinenelemente
0)c
:E"Transport und Raumfahrt, Waffen~
Konsumgüter -Bauwesen
-100 -50 o 50 100
Quelle:
RPA- Index
WO-Patente/EP-Patente; Berechnungen des fllG-ISI.
Abbildung A19:
230
Spezialisierungsmuster der Alleinpublikationen der Töchter inDeutschland vs. (Ko-)Publikationen der ausländischen Töchterin Deutschland vs. Publikationsprofil Deutschland
Elektrotechnik
Telekommunikation
Datenverarbeitung
Optik
Messen, Regeln, Nukleartechnik
Medizintechnik
Organische Chemie
Polymere
Phannazie
Biotechnologie
Lebensmittel
Grundstoffchemie
Verfahrenstechnik
Materialforschung
Umwelttechnik
Maschinenbau
Thennische Prozesse
Bauwesen
Physik
Medizin
Biologie
Ökologie, Klima
Mathematik
Geowissenschaften
Sonstiges
I
JI•-_I
~-Ph
--_9J-
-.. o Töchter Alleinpublikationen in D
11 Töchter Ko-Publikationen in D
• Publikationen Deutschland
•...-100 -80 -60 -40 -20 o 20 40 60 80 100
Quelle:
RLA-Index
SCI-Datenbank, Berechnungen des FHG-ISI.
Abbildung A20:
231
Spezialisierungsmuster der (Ko-)Publikationen derausländischen Töchter in Deutschland VS. Ko-Publikationen derKonzernmütter in Deutschland vs. PublikationsprofilDeutschland
Elektrotechnik
Telekommunikation
Datenverarbeitung
Optik
Messen, Regeln, Nukleartechnik
Medizintechnik
Organische Chemie
Polymere
Phannazic
Bioteclmologie
Lebensmittel
Grundstoffehernie
Verfahrenstechnik
Matetialforschung
Urnwelttechnik
Maschinenbau
Thennische Prozesse
Bauwesen
Physik
Medizin
Biologie
Ökologie, Klima
Mathematik
Geowissenschaften
Sonstiges
~
---..I-r
F--"1
I
~
o Ko-Publikationen der Mütter mitdeutschen Forschern
l!!I Töchter Gesamtpublikationen in D(Allein- und Ko-Publikationen)
lIIIIIIIIIIl • Deutsche Publikationen-~liIiiJli
-100 -80 -60 -40 -20 20 40 60 80 100
Quelle:
RLA-Index
SeI-Datenbank, Berechnungen des FHG-ISI.
Tab
elle
A8:
Ko-
Pub
lika
tion
enun
dK
onta
ktst
rukt
uren
der
ausl
ändi
sche
nU
nter
nehm
enin
Deu
tsch
land
,tec
hnik
nahe
Fel
der
Ko-
PubL
Kon
t.K
-Int
.I-
ant.
Ko-
Publ
.K
ont.
K-I
nt.
I-an
t.K
o-Pu
bLK
ont.
K-i
nt.
I-an
t.
N w10
877
0,71
6,49
6378
1,24
14,1
045
551,
225,
45N
Mat
erif
llfor
schu
ng,
8310
11,
2225
,74
5369
1,30
28,9
930
371,
2318
,92
Obe
rflä
chen
tech
nik
Mas
chin
enba
u22
281,
2710
,71
910
1,11
30,0
013
201,
5410
Bau
wes
en1
11,
000
00
0,00
01
11,
000
Ko-
Publ
:A
nzah
lder
Ko-
Pub
lika
tion
en.
Kon
t:A
nzah
lder
Kon
takt
em
itde
utsc
hen
Fors
cher
n.K
-int
:K
onta
ktin
tens
ität
,du
rchs
chni
ttli
che
Anz
ahl
der
Kon
takt
epr
oK
o-Pu
blik
atio
n.I-
ant:
Ant
eild
erIn
dust
rie
anal
len
Koo
pera
tion
spar
tner
n.
233
Abbildung A21: Spezialisierungsmuster der deutschen (Ko-)Publikationen derTöchter und Konzernmütter vs. Spezialisierung der Publikationen der Konzernmütter weltweit, Wissenschaftsgebiete
Elektronik/ETechnik
Instrumente
ChemielPharmazie
Prozesstechnik
Maschinenbau(ohne
Konsumgüter)
Physik
Medizin
Sonstiges (inkl.Konsumgüter)
-100 -80 -60 -40 -20 20 40 60 80 100
RLA-Index
Quelle: SeI-Datenbank, Berechnungen des FHG-ISI.
Abbildung A22:
234
Spezialisierungsmuster der deutschen(Ko-)Publikationen derTöchter und Konzernmütter vs. Spezialisierung der Publikationen der Konzernmütter weltweit
Elektrotechnik
Telekommunikation
Datenverarbeitung
Optik
Messen, Regeln, Nukleartechnik
Medizintechnik
Organische Chemie
Polymere
Pharmazie
Biotechnologie
Lebensmittel
Grundstoffchemie
Verfahrenstechnik
Materialforschung
Umwelttechnik
Maschinenbau
Thennische Prozesse
Bauwesen
Physik
Medizin
Biologie
Ökologie, Klima
Mathematik
Geowissenschaften
Sonstiges
'---l
l
IIIIIIIIC.h..~
I'
ef'--•
I/I1II
o Publikationen Mütterweltweit
r lIIiI Publikationen der Mütterund Töchter in D
-100 -80 -60 -40 -20 20 40 60 80 100
Quelle:
RLA-Index
SCI-Datenbank, Berechnungen des FHG-ISI.
Abb
ildun
gA
23:
Kon
zent
ratio
nsgr
ade
ausl
ändi
sche
rU
nter
nehm
en,S
ekto
rC
hem
ie
Pa
ten
teT
öch
ter
inD
Pa
ten
teM
utt
erw
eltw
eit
Pub
l,M
utte
rwe
ltwe
it
Pub
LM
utte
r +T
öch
ter
inD
Pub
LT
öch
ter
inD
Pub
LM
utte
rin
D
I;:"
14
6,3
5
n"
''l
68,2
3
.!'
19
2,1
9
II
'.;',"
"'j"i<li!~42,32
,84
""
79,5
3
II
.----
'""'
*,,,
,"1
42
,52
DK
3.'
""
60,1
7_
,K5
'""
.,,;
'i'
i'",,,
'l8
1,7
7~
ILi
iII""I
!",
-§ii!
:_.
67,4
7
.,.....
;,
,."18
7,95
II
1~~.,".
.'-,:)&;~
48,9
0
'",67
,84
",
,",
l86
,78
I'...~
'"'~
Pv!\
i"Ji',j
75,
4
I,:,
;,
.'
"I
-:S
',
r",
19
61
9
N w Vl
0,00
20,0
040
,00
60,0
080
,00
100,
0012
0,00
K3,
K5,
KlO
=A
ntei
lde
rP
aten
telP
ubli
kati
onen
der
3bz
w,
5bz
w,
10w
icht
igst
enT
echn
ik-/
Wis
sens
feld
eran
alle
nP
aten
ten/
Pub
lika
tion
enfü
rdi
een
tspr
eche
nde
Reg
ion
und
den
ents
prec
hend
enA
kteu
r,
Que
lle:
PC
TP
AT
/EP
AT
bzw
.S
CI-
Dat
enba
nk,B
erec
hnun
gen
des
FH
G-I
SL
Abb
ildun
gA
24:
Kon
zent
ratio
nsgr
ade
ausl
ändi
sche
rU
nter
nehm
en,
Sekt
orE
lekt
roni
k
Pat
ente
Tö
chte
rin
0
Pat
ente
Mut
terw
eltw
eit
Pub
l.M
utte
rwel
twei
t
Pub
l.M
utte
r +T
öch
teri
n0
Pub
l.T
öch
teri
n0
Pub
l.M
utte
rin
0
.K3
11K
5
ElK
10
""
""."
,,9
3,5
3i
i
N w 0\
0,00
10,0
020
,00
30,0
040
,00
50,0
060
,00
70,0
080
,00
90,0
010
0,00
K3,
K5,
KlO
=A
ntei
lder
Pate
ntel
Publ
ikat
ione
nde
r3
bzw
.5
bzw
.10
wic
htig
sten
Tec
hnik
-/W
isse
nsfe
lder
anal
len
Pate
nten
lPub
lika
tion
enfü
rdi
een
tspr
eche
nde
Reg
ion
und
den
ents
prec
hend
enA
kteu
r.
Que
lle:
PCT
PAT
IEPA
Tbz
w.
SCI-
Dat
enba
nk,B
erec
hnun
gen
des
FR
G-I
SI.
Abb
ildun
gA
2S:
Kon
zent
ratio
nsgr
ade
ausl
ändi
sche
rU
nter
nehm
en,
Sekt
orK
FZ
Pat
ente
Tö
chte
rin
D
Pat
ente
Mut
terw
eltw
eit
Pub
l.M
utte
rwe
ltwe
it
Pub
l.M
utte
r+T
öch
ter
inD
Pub
l.T
öch
ter
inD
Pub
l.M
utte
rin
D
0,00
25,0
050
,00
75,0
0
.K3
Il1lK
5
[JK
10
"H
~.'11
00,0
0
100,
00
t0 w -.J
K3,
K5,
KlO
=A
ntei
lde
rP
aten
telP
ubli
kati
onen
der
3bz
w.
5bz
w.
10w
icht
igst
enT
echn
ik-I
Wis
sens
feld
eran
alle
nP
aten
tenI
Pub
lika
tion
enfu
rdi
een
tspr
eche
nde
Reg
ion
und
den
ents
prec
hend
enA
kteu
r.
Que
lle:
peT
PA
T/E
PA
Tbz
w.
SC
I-D
aten
bank
,Ber
echn
unge
nde
sF
HG
-IS
l.
Abb
ildu
ngA
26:
Bed
eutu
ngvo
nw
isse
nsre
leva
nten
Akt
ivit
äten
imIn
-un
dA
usla
ndna
chS
ekto
rena
Che
mie
IV w 00
FuE
-Koo
pera
tion
enm
itU
nive
rsit
äten
und
ande
ren
öffe
ntli
chen
Inst
itut
en
For
schu
ngsk
oope
rati
onim
Rah
men
staa
tlic
her
För
derp
rogr
amm
e
emei
nsam
eN
utzu
ngvo
nw
isse
nsch
aft!
.In
stru
men
ten
mit
Dri
tten
Dur
chfl
ihru
ngvo
nF
orsc
hung
flir
Dri
tte
Ad-
hoc
Auf
bau
von
For
schu
ngsk
apaz
ität
endu
rch
Akq
uise
von
Unt
emel
unen
(} .5
f-+
--H
.{(
((
(iJtD
*:K
))
))
)j...
..jj)
-)F
uE-K
oope
rati
onen
mit
Fir
men
Vcr
gabe
von
For
schu
ngs-
und
Ber
atun
gsau
fträ
gen
anD
ritt
e
Join
tVen
ture
sm
itsp
ezia
lisi
erte
nH
ight
ech
Fir
men
Rek
ruti
erun
gvo
nne
uem
FuE
-Per
sona
lbzw
.
'"P
erso
nala
usta
usch
Qua
lifi
zier
ung
eige
ner
Mit
arbe
iter
durc
hA
ufen
thal
teim
Aus
land
info
rmel
lew
isse
nsch
aftl
iche
Kon
takt
e(K
onfe
renz
en,
tech
nisc
heV
erei
neet
c.)
a1=
unw
icht
ig,
5=se
hrw
icht
ig.
Que
lle:
Erg
ebni
sse
der
RW
I/IS
I-U
nter
nehm
ensb
efra
gung
.G
rund
lage
der
Aus
wer
tung
:C
hem
ie:
8F
rage
böge
n.
Abb
ildu
ngA
26:
Fort
setz
ung:
Bed
eutu
ngvo
nw
isse
nsre
leva
nten
Akt
ivit
äten
imIn
-un
dA
usla
ndna
chSe
ktor
en"
Mas
chin
enba
u
N w 'C!
For
schu
ngsk
oope
rati
onim
Rah
men
staa
tlic
her
För
derp
rogr
amm
e
FuE
-Koo
pera
tion
enm
itU
nive
rsit
äten
und
ande
ren
öffe
ntli
chen
Inst
itute
n
emei
nsam
eN
utzu
ngvo
nw
isse
nsch
aft!
.In
stru
men
ten
mit
Dri
tten
'Our
chft
ihru
ngvo
nF
orsc
hung
für
Dri
tte
Ad-
hoc
Auf
bau
von
For
schu
ngsk
apaz
ität
endu
rch
Akq
uise
von
Unt
erne
hmen
5:
1-+
---+
<.4
::(
(II(O
I)
))
)")
),)
).)
FuE
-Koo
pera
tion
enm
itFi
rmen
Kau
fvon
Liz
enze
n
Join
tV
entu
res
mit
spez
iali
sier
ten
Hig
htec
hFi
rmen
Rek
ruti
erun
gvo
nne
uem
FuE
-Per
sona
lbz
w.
Per
sona
laus
taus
ch
Qua
lifi
zier
ung
eige
ner
Mit
arbe
iter
durc
hA
ufen
thal
teim
Aus
land
info
rmel
lew
isse
nsch
aftl
iche
Kon
takt
e(K
onfe
renz
en,
tech
nisc
heV
erei
neet
c.)
a1=
unw
icht
ig,
5=
seh
rw
icht
ig.
Que
lle:
Erg
ebn
isse
der
RW
IIIS
I-U
nte
meh
men
sbef
rag
un
g,
Gru
nd
lag
ed
erA
usw
ertu
ng
:M
asch
inen
bau
7F
rag
ebö
gen
.
Abb
ildu
ngA
26:
Fort
setz
ung:
Bed
eutu
ngvo
nw
isse
nsre
leva
nten
Akt
ivit
äten
imIn
-un
dA
usla
ndna
chS
ekto
rena
Stra
ßenf
ahrz
eul!
bau
IV .j:>. o
FuE
-Koo
pera
tion
enm
itU
nive
rsit
äten
und
ande
ren
öffe
ntli
chen
Inst
itut
en
For
schu
ngsk
oope
rati
onim
Rah
men
staa
tlic
hcr
För
derp
rogr
amm
e
emei
nsam
eN
utzu
ngvo
nw
isse
nsch
aft!
.In
stru
men
ten
mit
Dri
tten
Dur
chfU
hrun
gvo
nF
orsc
hung
fUrD
ritt
e
Ad-
hoc
Auf
bau
von
For
schu
ngsk
apaz
ität
endu
rch
Akq
uise
von
Unt
erne
hmen
5-
f--+\
.--k
((
((
110%
))
)N,~
FuE
-Koo
pera
tion
enm
itF
irm
en
Ver
gabe
von
For
schu
ngs-
und
Ber
atun
gsau
fträ
gen
anD
ritt
e
Join
tVen
ture
sm
itsp
ezia
lisi
erte
nH
ight
ech
Firm
en
Rek
ruti
erun
gvo
nne
uem
FuE
-Per
sona
lbz
w.
Per
sona
laus
taus
ch
Qua
lifi
zier
ung
eige
ner
Mit
arbe
iter
durc
hA
ufen
thal
teim
Aus
land
info
rmel
lew
isse
nsch
aftl
iche
Kon
takt
e(K
onfe
renz
en,t
echn
isch
eV
erei
neet
c.)
I=un
wic
htig
,5=
sehr
wic
htig
.
Que
lle:
Erg
ebni
sse
der
RW
IIIS
I-U
nter
nehm
ensb
efra
gung
.G
rund
lage
der
Aus
wer
tung
:S
traß
enfa
hrze
ugba
u:4
Fra
gebö
gen.
Abb
ildu
ngA
26:
Fort
setz
ung:
Bed
eutu
ngvo
nw
isse
nsre
leva
nten
Akt
ivit
äten
imIn
-un
dA
usla
ndna
chS
ekto
rena
Ele
ktro
nik
Ad-
hoc
Auf
bau
von
For
schw
lgsk
apaz
ität
endu
rch
Akq
uise
von
Unt
erne
hmen
N -l:>o
FuE
-Koo
pera
tion
enm
itU
nive
rsit
äten
und
ande
ren
öffe
ntli
chen
Imti
tute
n
For
schu
ngsk
oope
rati
onim
Rah
men
staa
tlic
her
För
derp
rogr
amm
e
emei
nsam
eN
utzu
ngvo
nw
isse
nsch
aft!
.In
stru
men
ten
mit
Dri
llen
Dur
chfü
hrun
gvo
nF
orsc
hung
flir
Dri
llc
((
((
\-+
-f-l-
Je*
))
II'
.))
I)
FuE
-Koo
pera
tion
enm
itFi
rmen
Join
tV
entu
res
mit
spez
iali
sier
ten
Hig
htec
hFi
rmen
Rek
ruti
erun
gvo
nne
uem
FuE
-Per
sona
lbz
w.
Per
sona
laus
taus
ch
Qua
lifi
zier
ung
eige
ner
Mit
arbe
iter
durc
hA
ufen
thal
teim
Aus
land
info
rmel
lew
isse
nsch
aftl
iche
Kon
takt
e(K
onfe
renz
en,
tech
nisc
heV
erei
neet
c.)
a1=
unw
icht
ig,
5=se
hrw
icht
ig.
Que
lle:
Erg
ebni
sse
der
RW
I/IS
I-U
nter
nehm
ensb
efra
gung
.G
rund
lage
der
Aus
wer
tung
:E
lekt
roni
k4
Fra
gebö
gen.
Tab
elle
A9:
Indi
kato
ren
der
Inte
rnat
iona
lisi
erun
gvo
nF
orsc
hung
und
Tec
hnol
ogie
imin
tern
atio
nale
nV
ergl
eich
Deu
tsch
land
Fran
krei
chIt
alie
nO
EC
DE
U
3565
6157
7376
4666
6165
6675
14,7
10,6
27,7
4,7
16,6
16,7
2225
2131
3129
3242
209
2728
3117
3540
6,5
3,1
8,2
14,1
13,3
3,0
5,5
14,5
N ~ N
0,23
-0,0
1-0
,09
0,04
0,25
0,11
-0,1
30,
08~
!.S','L(1l';,rl~",~
__J.Z,,7~-J.l?
'.I".. 18
15,2
1826
,7
4,8
1,5
3,2
7,2
....--
-....
~"'~""""'i
'"."'
''''...
...'''''
:2.'''•
•"...
....
......
.j;rM
2,5
1,2
3,0
2,6
11,4
0,9
16,0
1,8
36 59 39 56
52 79 52 79G
renz
über
schr
eite
nde
Rec
hte
anE
rfm
dung
enna
chE
PO-A
nmel
dung
en,
1995
-97
Aus
länd
isch
esE
igen
tum
anhe
imis
chen
Erf
indu
ngen
9,0
12,4
Inlä
ndis
ches
Eig
entu
man
ausl
ändi
sche
nE
rfm
dung
en8,
311
,1T
echn
olog
isch
eB
alan
ceof
Pay
men
ts,A
ntei
lam
BIP
1990
-0,0
4-0
,05
-0,0
50,
12-0
,07
1998
-0,1
8-0
,04
-0,0
70,
21~~~'"'""I_
""
"ii
"'"
....pw
..,E
",
,,~~Nn''f1TI'fff~~~i
lpte
rnat
iona
leZ
usam
men
arbe
itbe
ider
Entwicklung"2!!!·-~"''''-~"-""
,,"'
.nn
",'
Ant
eil
wis
s.V
eröf
fent
l.m
itausländ~
Co-
Aut
hor
33,7
35,6
35,3
39,4
29,3
Ant
eil
der
Pate
nte
gem
eins
amm
itau
slän
d.E
rfin
der
4,7
5,6
4,3
68,
9~
,",t
h;~:
>0-<
,,?i
-i:.
il~~."
.,·ir
-fut
;;'n
;tio
nale
W;~C
'4nc
:on4
n.o.
..i.o.
;:::'1rN
m:lk
1111
~'1-~·r·.
-··-tr
r··,
-:i
l!(w
''''''
fry'
Fors
chun
gsin
tens
itäti
mPr
oduz
iere
nden
Gew
erbe
,19
94A
uslä
ndis
che
Nie
derl
assu
ngen
3,2
1,8
2,4
2,1
heim
isch
eU
nter
nehm
en6,
32,
73,
81,
6
Fors
chun
gdu
rch
ausl
ändi
sche
Toc
hter
unte
rneh
men
impr
oduz
.G
ewer
be(A
ntei
lean
der
Fors
chun
gin
sges
amt)
1990
23,1
14,5
16,4
1998
14,5
18,6
16,0
31,5
,V
erw
ertu
ngvo
nH
ande
lm
itH
ocht
echn
olog
iegü
tern
Exp
orte
(als
Ant
eil
der
Prod
uktio
n)
1990
1998
Impo
rte
(als
Ant
eild
erIn
land
snac
hfra
ge)
1990
1998
Que
lle:
Ang
aben
der
OE
CD
(ST
ISc
oreb
oard
2001
;In
tem
atio
nalis
atio
nof
Indu
stri
alR
&D
2000
).
Tab
elle
AIO
:E
insc
hätz
ung
ausl
ändi
sche
Unt
erne
hmen
hins
icht
lich
der
Bed
ingu
ngen
fiir
FuE
inD
euts
chla
ndim
inte
rnat
iona
len
Ver
glei
ch,
Sekt
oren
und
Mut
terl
ände
r
I-"
IM
utte
rlän
der
Sek
tore
nIGes
amt!
USA
(n=5
)N
L(n
=3)
eH(0
=3)
,C
hem
ie(n
=5)
Ele
ktro
nik
(n=
4)K
FZ
(n=3
)(n
=15
)'.
Koo
pera
tion
sber
eits
chaf
tvo
nF
inne
nm
it4,
23,
673,
674,
403,
754,
003,
93Ih
rem
Unt
erne
hmen
,
Pot
enzi
alan
unte
rstü
tzen
den
Tec
hnik
ern/
3,6
44
3,40
4,25
3,67
3,79
Inge
nieu
ren
Koo
pera
tion
sber
eits
chaf
tvon
öffe
ntli
chen
43,
673
3,00
3,75
3,75
,3,
47F
orsc
hern
mit
Ihre
mU
nter
nehm
en
Pot
enzi
alan
hoch
wer
tige
nW
isse
nsch
aftl
ern
3,2
33,
673,
204,
003,
003,
33in
den
For
schu
ngsb
erei
chen
ihre
sU
nter
nehm
ens
Inih
rem
For
schu
ngsb
erei
chen
FuE
-rel
evan
te2
~,~
2,67
'3;
672,
753,
503,
67~,18
Reg
ulie
rung
en~
;"Ji
;.,
Ste
uerl
iche
Beh
andl
ung
von
FuE
23
J,JJI2,
803,
004,
003,
00
Sta
atli
che
Sub
vent
ione
n!3,
253
2;67
2,20
3,67
3,00
2,92
'O
ffen
heit
von
För
derp
rogr
amm
en
Que
lle:
RW
IIIS
I-U
ntem
ehm
ensb
efra
gung
;B
erec
hnun
gde
sF
HG
-IS
I,so
rtie
rtna
chab
nehm
ende
rB
edeu
tung
für
das
Sam
pIe
insg
esam
t
IV .j:>. w
244
Tabelle All: Indikatoren der Auslandsforschung nach Unternehrnensgröße 1998(gewichtete Indikatoren)
Indikator"
Beschäftigte
Forschungsintensität
Patentneigung
Patentintensität
Auslandsquote
Auslandspatentintensität
" Zur Definition der Indikatoren siehe Text.
Quelle: Eigene Berechnungen.
Tabelle A12: Indikatoren der Auslandsforschung nach Sektoren 1998(gewichtete Indikatoren)
Indikator" Insgesamt Fahrzeugbau Elektronikb Chemie Maschinenbau
Forschungsintensität 5,3 5,0 7,0 5,9 2,5
Patentneigung 33,8 13,8 54,5 38,3 54,1
Patentintensität 1,8 0,7 3,8 2,2 1,4
Auslandsquote 14,5 5,6 13,5 20,2 12,2
Auslandspatentintensität 0,25 0,04 0,51 0,46 0,10
" Zur Definition der Indikatoren siehe Kapitel 3.2.3.b Der Sektor "Elektronik" umfasst auch E-Technik, Feinmechanik und Optik.
Quelle: Eigene Berechnungen.
245
Erläuterung der Datenbasis und Berechnungsmethoden fürtechnologische Spezialisierungen
Basis für die Patentzahlen sind die Anmeldungen am Europäischen Patentamt(EPA) sowie die Zahlen zu Anmeldungen im PCT-Verfahren (Patent CooperationTreaty). Damit sind die zentralen internationalen Verfahren abgedeckt, die es prinzipiell ermöglichen, angemeldete Patente auf mehrere Länder zu überführen. Inbeiden Verfahren muss zur endgültigen Sicherung des Patentes eine Überführung innationale Patentverfahren kommen. Eine Erstanmeldung am Europäischen Patentamt ermöglicht nach der Erteilung eine spätere Überführung in nationale Patenteder Mitgliedsländer des Europäischen Patentabkommens; die Frist zur Erstveröffentlichung der Anmeldung beträgt 18 Monate. Beim teureren PCT-Verfahren isteine Überführung in über 100 Länder weltweit bzw. in das europäische Verfahrenmöglich. Eine Entscheidung, in welche Länder man überführen möchte, muss hiererst nach 30 Monaten gefällt werden. Um sowohl die Patentanmeldungen zu erfassen, die auf den europäischen Raum beschränkt sind, als auch diejenigen, die potenziell für alle Regionen der Welt in Frage kommen, wurde fur beide Jahre 1990 und1998 die Summe der Anmeldezahlen nach beiden Verfahren gebildet. Damit ist dieinternationale Patentaktivität der Unternehmen breit abgedeckt. Da bei der Zählungder europäischen Patente nur solche Patente aufgenommen wurden, die nicht vomPCT-Verfahren überfuhrt wurden (sogenannte EPO-Direktanmeldungen), ist gewährleistet, dass es zu keinen Doppelzählungen kommt. 159
Für das Patentprofil einer Gruppe von Unternehmen (z. B. das SampIe insgesamtoder einer Gruppe von Unternehmen eines Sektors) gibt der Index RPAijk die Spezialisierung für die definierte Gruppe von Unternehmen k im Technikfeld i mit demLänderbezugj (in Deutschland, im Ausland etc.) an. Er berechnet sich wie folgt:
RPAijk = 100 tanh In [(Patijk I Li Patijk) I (Lj Patij I Lij Patij)]
Darin ist1 = Technikfeld,J = Land (bzw. Ländergruppe zur Bestimmung von "Auslandsprofilen" der deut
schen Unternehmen),k = definierte Gruppe von Unternehmen (gesamtes Sampie oder Sektorgruppe).
Der Zähler setzt also jeweils die Anmeldungen der Gruppe von Unternehmen ineinem bestimmten Land (bzw. in bestimmten Ländern) in einem Technikfeld insVerhältnis zu den Gesamtanmeldungen dieser Gruppe von Unternehmen im selbenLand (bzw. den selben Ländern). Der Bezug im Nenner besteht aus dem Verhältnisder Summe aller Patente in den betrachteten Datenbanken EPAT und PCTPAT imjeweiligen Technikfeld über alle Länder (weltweit) und der Summe aller Patente
159 Für eine ausflihrliche Analyse der Bedeutung von peT-Verfahren siehe Schmach 1999b.
246
über alle Technikfelder über alle Länder (weltweit). Er ist für alle Spezialisierungsberechnungen dieser Studie immer der Selbe.
Für die Spezialisierungsprofile von Ländern insgesamt gilt analog:
RPAij = 100 tanh In [(Patij / Li Patij) / (Li Patij / Lij Patij)]
miti = Technikfeld,J = Land.
Der Zähler besteht hier also aus dem Verhältnis der Anmeldungen eines Landes(einer Ländergruppe) in einem Technikfeld zu den gesamten Anmeldungen diesesLandes (der Ländergruppe) über alle Technikfelder.
Die Einführung des Logarithmus sorgt für einen symmetrischen Wertebereich umden neutralen Punkt 0, der Tangens Hyperbolicus führt zu einer Begrenzung auf denWertebereich ± 1. Der Faktor 100 wird aus Gründen einer besseren graphischen Illustration eingeführt. Da der Index im Nenner eine internationale Referenzzahlaufweist, ist er eine gute Maßzahl für die internationale Wettbewerbsfahigkeit. Zuwächse von Absolutzahlen in einzelnen Feldern wirken sich nur dann als verbesserte Leistungsfahigkeit aus, wenn sie stärker sind als die relativen Zuwächse derinternationalen Referenz.
247
Methodische Ergänzung für die Publikationsprofile derdeutschen Unternehmen im Ausland
Die Profile der Publikationen, und damit der Schwerpunkte grundlagenorientierterForschungsarbeiten, ermitteln sich analog der im vorangegangenen Teilkapitel dargestellten RPA, insbesondere entsprechen sich auch die mathematischen Transformationen.
Für die grundlagenorientierte Spezialisierung emes Sampies von UnternehmenRLAijk gilt:
RLA;jk = 100 tanh In [(Publ;jk / Li Publijk) / (Lj Publij / Lij Publij)]mitI = Wissenschaftsfeld,J = Land (bzw. Ländergruppe zur Bestimmung von "Auslandsprofilen" der deut
schen Unternehmen),k = definierte Gruppe von Unternehmen (gesamtes Sampie oder Sektorgruppe).
Für die Spezialisierungsprofile von Ländern gilt analog:
RLAij = 100 tanh In [(Publij / Li Pubi;) / (Lj Publ ij / Lij Publij)]mit:I = Wissenschaftsfeld,J = Land.
Der Bezug im Nenner ist in allen Berechnungen also immer derselbe, er besteht ausdem Verhältnis der Summe aller Publikationen im SCI im jeweiligen Wissenschaftsfeld über alle Länder (weltweit) und der Summe aller Publikationen über alleWissenschaftsfelder über alle Länder (weltweit).
892:�(; .�+8�92<�8 ��� =>?�8�(������� �� �� � � �������� �������������� ���� �� ����� ��� �������������������� ���
;��� LA ;C ���2���**�������� ��� �� ��� ����������������������������� ���977:C ��;� :!<78=!867:!�
;��� :A �C G��00 3���'C4����������� �� ������ ��� ��� �����������LC ��*C977�C ��;� :!<78=!8=6L!=
;��� �A .C ��*��%� �C �C������� ��� ������� �������������������������977:C ��;� :!<78=!8<:L!>
;��� �A �C *�� GC ;����� �C ,�*0� �C ���*$��� 1C ����/� (C �� �%!�"#��$������ ��� ���������� �������� %���������977�C ��;� :!<78=!8<�6!>
;��� 6A �C �*/&�� �����'�� ��(������)� �� ��� %*+��� �� ��&977�C ��;� :!<78=!8<67!7
;��� <A �C I ��� 3���'C4,����)�������� )- ��� ��)���������������977�C ��;� :!<78=!8<78!<
;��� =A ;C G���%� �C G��00�����������$�������� ��� ,���������������LC ��*C977�C ��;� :!<78=!8=8�!8
;��� 7A 1C ���� �����������"#������������ �� �-�.�����977�C ��;� :!<78=!8=96!�
;��� 98A �C � �$�#�� ;C �"���'�C .�N��**�� �C ���N������������� ���������� �� /���������977�C ��;� :!<78=!8=9<!L
;��� 99A GC ��'�� �C ���*$�����$ ����� �����������$������ �� &����������977�C ��;� :!<78=!8=L�!:
;��� 9LA �C ���*$��� ,C � **������������ ��� �����������$�������� &����������977�C ��;� :!<78=!8=L<!>
;��� 9:A .C �*�$$��))�'���' �� ���$�������-�'��� !�������977�C ��;� :!<78=!8=:6!7
;��� 9�A �C �*�����%�����������'����� �� �������� ������� ����977�C ��;� :!<78=!8=��!>
;��� 9�A �C ���*$��� ,C � **���)����)������ �� (������)�������!�������977�C ��;� :!<78=!8=��!=
;��� 96A ,C � **��� �C ���*$��� 3���'C4*0����(����� ��� ����������� ����������977�C ��;� :!<78=!8=�9!L
;��� 9<A GC ��# 3���'C4*�����(����� �� �������������� �������������-����������977�C ��;� :!<78=!8=67!�
;��� 9=A �C ,����� (C �*��' .C ����������'��.C �*�$$��1��� 2������������'�$���� �� ��������� ��������977�C ��;� :!<78=!8==6!�
;��� 97A �C ����'�����������$������ )- ���� 2���������"������������ �� #��� ��� &����������9776C ��;� :!<78=!8=7:!=
;��� L8A GC �'���� �C �C��)�-��� �� !��������)3�������) /����'��.��� ��� 1����.�������� %�(��������'9776C ��;� :!<78=!878�!<
;��� L9A GC ."��&0����� ��� ���������� ��� +�4��������9776C ��;� :!<78=!878�!�
;��� LLA .C ��*��%� 1C �00����*���������������$���� )- �������������������������9776C ��;� :!<78=!87L7!L
;��� L:A �C � �����/%#��������������������� �� �����������$�'�4977<C ��;� :!<78=!87<<!L
;��� L�A �C ���N �C � �����/%#��������������977<C ��;� :!<78=!87=�!:
;��� L�A GC ��'��#���������� ��� ������������ ����������������������� �����������$�'����977<C ��;� :!<78=!989�!8
;��� L6A �C ;������&�� *��'��� �� 5����)�977<C ��;� :!<78=!98�8!9
;��� L<A .C ��*��%� 1C ;� N 1C G�����$������������������ ��� ��������� '�!3����� ������ ��� ������� %���������977<C ��;� :!<78=!98�6!8
;��� L=A GC �'���� �C ��00 ,C � **���1C ����/�%�(�������������� �� *������ &����������977<C ��;� :!<78=!986:!8
;��� L7A �C ���*������������������ �� ��$��977=C ��;� :!<78=!98<7!<
;��� :8A (C �*��'%�(��������' �� �� ��������� 2��������977=C ��;� :!<78=!98=8!8
;��� :9A �C ���*$��� �C ;F���' �C ���*�5C ��������������� ��� �-�)���� ����������(�������977=C ��;� :!<78=!987�!8
;��� :LA 1$2�*�)������$� 3���'C4�����������$��������� ��� %�(���������������977=C ��;� :!<78=!99L�!�
;��� ::A �C �*�����% �C ������������������������� %����������"�-������� �� ��� ����� ������� ����977=C ��;� :!<78=!99::!�
;��� :�A .C ������� �C .�#��!����$���C �*�����% 3���'C4������������ �� 6�������������977=C ��;� :!<78=!99��!8
;��� :�A �C .�#��!����$�� �C ���'� 3���'C4/������(���������)��� ��� ������������9777C ��;� :!<78=!997<!9
;��� :6A ;C G��'�� �C G��)�� C .�'�*��������.���� ��� ���$���� �� /�(�.��,����� ��� &�������������9777C ��;� :!<78=!9L96!9
;��� :<A GC ��'�� .C ;���� �C ;�*��/������������������� ��������������%���������9777C ��;� :!<78=!9LL�!8
;��� :=A �C � * �C �������**�� �C �-00�*�����)�������9777C ��;� :!<78=!9L�9!L
;��� :7A �C ;�����*� �� �*C�����0����������� 78��� ����� �� ��������.���9L888C ��;� :!<78=!9L�8!9
;��� �8A �C ��00�����������$�'���� �� &�������������������L888C ��;� :!<78=!9L6�!9
;��� �9A 1C ;� N��������������'(��� �� ����)��������"� ����L888C ��;� :!<78=!9L=<!8
;��� �LA �C �*�����% .C ������� �C ���$$����������)������� �� ��� ����� ������� ����L888C ��;� :!<78=!9L==!7
;��� �:A ������ �������' �� �*C������$��� 7 #���������' �� ���� ������L888C ��;� :!<78=!9L7�!:
;��� ��A 1C ;-�� �C G��)��#���������' ��� ��'���� 2�'���L889C ��;� :!<78=!9:9<!6
;��� ��A C ��**$���������������� 8����������)� ������������� 8�����L889C ��;� :!<78=!9�9:!>
;��� �6A 5C ������������������ �� �����������$�'���L88LC ��;� :!<78=!9�6L!=
;��� �<A �C �*�����% �C �C/-����� ��� 8�������!�"��������� %���������L88LC ��;� :!<78=!9�<=!�
;��� �=A �C G��00 �C �C&�� �������� ������������0�������� �� �������-�����L88LC ��;� :!<78=!9�<7!L
;��� �7A �C ;*��� �C �C*�)�(��"2������L88:C ��;� :!<78=!9��8!:
;��� �8A �C .����� �C �C/��������� �� �� :���(������)��2)���'��'���� ��� :�.���������$��������L88:C ��;� :!<78=!88L9!>
;��� �9A �C ������������������ ��� *�����(������.��� ;.����� '� ���� ��������))�'������#������)(������)�L88:C ��;� :!<78=!88L:!6
;��� �LA .C �������� �C G��)��<����=��������"!�������L88:C ��;� :!<78=!88:�!>
;��� �:A �C �����* �C �C+���������� �� ����������8������������ ���+.(������������� 7 +#8+ ��>>L88:C ��;� :!<78=!88:<!6