ポジトロニウムの ボース・アインシュタイン凝縮 …...1 ps 生成( t=0 ) 300 ns...

20
ポジトロニウムの ボース・アインシュタイン凝縮 に向けたレーザー冷却 東大理,東大素セ A ,東大工 B ,産総研 C 石田明,周健治,村吉諄之,樊星,難波俊雄 A 浅井祥仁,吉岡孝高 B ,五神真,大島永康 C オロークブライアン C ,鈴木良一 C 平成28915日本物理学会2016年秋季大会 金沢大学角間キャンパス 1

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Page 1: ポジトロニウムの ボース・アインシュタイン凝縮 …...1 Ps 生成( t=0 ) 300 ns ②強度:40 µJ 時間[ns] 強度) Ps-BEC 実現のためには高速かつ十分な冷却が必要

ポジトロニウムのボース・アインシュタイン凝縮

に向けたレーザー冷却東大理,東大素セA,東大工B,産総研C

石田明,周健治,村吉諄之,樊星,難波俊雄A,

浅井祥仁,吉岡孝高B,五神真,大島永康C,

オロークブライアンC,鈴木良一C

平成28年9月15日

日本物理学会2016年秋季大会

金沢大学角間キャンパス 1

Page 2: ポジトロニウムの ボース・アインシュタイン凝縮 …...1 Ps 生成( t=0 ) 300 ns ②強度:40 µJ 時間[ns] 強度) Ps-BEC 実現のためには高速かつ十分な冷却が必要

目次

• ポジトロニウム (Ps) とそのボース・アインシュタイン凝縮 (BEC) 実現の目的

• ポジトロニウム冷却の新しい方法:シリカ (SiO2)との衝突による熱化とレーザー冷却の組み合わせ

• 冷却用レーザーシステムの開発状況

• 熱化による冷却の実験的評価

• まとめ

2

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temperature (K)9−10 7−10 5−10 3−10 1−10 10 210

)3cr

itica

l den

sity

(/cm

310

610

910

1210

1510

18101910

1995年87Rb

線の上がBEC領域

ポジトロニウム(Ps)-BEC

3

臨界温度 (K)

密度

(/cm

3 )ポジトロニウム(Ps)

• 電子と、その反物質である陽電子の束縛系

• 世の中で最も軽い原子

Ps-BECのモチベーション• 初の反物質含む系でBEC特徴• 軽くてBEC臨界温度が高い

(14 K @ 1018 /cm3)• 寿命が短い

(142 nsでγ線に崩壊)様々な応用p 物質波干渉による

反物質重力の精密測定p消滅γ線を利用した

511 keV γ線レーザー

現状*

* : S. Mariazzi et al. Phys. Rev. Lett. 104, 243401 (2010)* : D. Cassidy et al. physica status solidi 4, 3419 (2007)

1998年1H

Ps目標値

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time (ns)

0100

200300

400500

600700

800

number of particles

0200040006000800010000

time (ns)

0100

200300

400500

600700

800

population ratio

00.10.20.30.40.50.60.70.80.91

Time (ns)

0100

200300

400500

600

Temperature (K)

1102 103 10

Time (ns)

300350

400450

500550

600650

C R

00.10.20.30.40.50.60.70.80.91冷却① 冷たいシリカとの衝突(熱化)

4

新しいアイデア K. Shu et al. J. Phys. B 49, 104001 (2016)

拡大図

高密度陽電子源

陽電子をバンチ化

中に空孔(~100 nm)Psをトラップ

冷やしたシリカ (SiO2) 電子供給源(e+ + e- → Ps)できたとき Ps 温度 8000 K

(実験概念図)

e+

Ps生成からの時間(ns)

推定の不定性

温度

(K)

BEC臨界温度

Psの温度

ある程度 O(100K)まで冷えるが、これだけでは

BEC には不十分

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time (ns)

0100

200300

400500

600700

number of particles

0200040006000800010000

time (ns)

0100

200300

400500

600700

population ratio

00.10.20.30.40.50.60.70.80.91

Time (ns)

0100

200300

400500

600

Temperature (K)

1102 103 10

Time (ns)

300350

400450

500550

600650

C R

00.10.20.30.40.50.60.70.80.91冷却② レーザー冷却

5

新しいアイデア K. Shu et al. J. Phys. B 49, 104001 (2016)

拡大図

高密度陽電子源

陽電子をバンチ化

中に空孔(~100 nm)Psをトラップ

冷やしたシリカ (SiO2) 冷却用レーザーに透明

(実験概念図)

e+

Ps生成からの時間(ns)

温度

(K)

BEC臨界温度

Psの温度

熱化とレーザー冷却を組み合わせることで、

Ps生成から 400 ns 付近でBEC が起こる

冷却用レーザー6方向波長 243 nm(1s ↔ 2p 準位)

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time (ns)

0100

200300

400500

600700

number of particles

0200040006000800010000

time (ns)

0100

200300

400500

600700

population ratio

00.10.20.30.40.50.60.70.80.91

Time (ns)

0100

200300

400500

600

Temperature (K)

1102 103 10

Time (ns)

300350

400450

500550

600650

C R

00.10.20.30.40.50.60.70.80.91冷却② レーザー冷却

6

新しいアイデア K. Shu et al. J. Phys. B 49, 104001 (2016)

拡大図

高密度陽電子源

陽電子をバンチ化

中に空孔(~100 nm)Psをトラップ

冷やしたシリカ (SiO2) 冷却用レーザーに透明

(実験概念図)

e+

Ps生成からの時間(ns)

温度

(K)

BEC臨界温度

Psの温度

熱化とレーザー冷却を組み合わせることで、

Ps生成から 400 ns 付近でBEC が起こる

冷却用レーザー6方向波長 243 nm(1s ↔ 2p 準位)

Ps(ほかあらゆる反物質系)レーザー冷却はまだ誰も成功していない挑戦

Ps冷却用に最適化したオリジナルの光源を開発中

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���

���

���

���

���

����� � ���� ��� ���� ��� ���� ��� ��������������������������������� ������������������������������

必要なレーザー特性

Time (ns)200− 0 200 400 600

Inte

nsity

(Arb

.)

0

0.2

0.4

0.6

0.8

1

Ps 生成( t=0 )

300 ns

②強度:40 µJ

時間[ns]

レー

ザー

強度

(Arb

.)

Ps-BEC実現のためには高速かつ十分な冷却が必要

→以下の特性を持つ243nm紫外光レーザー作成を目指す

①長パルス幅

レーザー強度×時間

0 0.20.1

1s-2p共鳴

強度

(Arb

.) ④0.035nmシフトを

300 nsで

0.08 nm

③広線幅

①持続時間:300ns→ Ps寿命=142 ns②強度:40µJ →冷却サイクルを飽和

③線幅:0.08nm (140GHz)→Psは軽いので広い速度分布④波長シフト:0.035nm (60GHz)→Psの減速に合わせ300nsで

レーザー波長スペクトル

0

1

0.8

0.6

0.4

0.2

7

0.3波長シフト[nm]

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必要なレーザー特性

Time (ns)200− 0 200 400 600

Inte

nsity

(Arb

.)

0

0.2

0.4

0.6

0.8

1

Ps 生成( t=0 )

300 ns

②強度:40 µJ

時間[ns]

レー

ザー

強度

(Arb

.)

Ps-BEC実現のためには高速かつ十分な冷却が必要

→以下の特性を持つ243nm紫外光レーザー作成を目指す

①長パルス幅

レーザー強度×時間

0 0.20.1

1s-2p共鳴

強度

(Arb

.) ④0.035nmシフトを

300 nsで

0.08 nm

③広線幅

①持続時間:300ns→ Ps寿命=142 ns②強度:40µJ →冷却サイクルを飽和

③線幅:0.08nm (140GHz)→Psは軽いので広い速度分布④波長シフト:0.035nm (60GHz)→Psの減速に合わせ300nsで

レーザー波長スペクトル

0

1

0.8

0.6

0.4

0.2

8

0.3波長シフト[nm]

• 広波長域・長持続時間のパルスレーザーは光学的に非常に特殊

• 紫外線領域での大幅な波長シフトはまだない技術

Ø非常にチャレンジングなスペックであり、新しい光源開発が必要

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波長変換1/2倍

波長変換1/3倍

広線幅化

Ti:Sapphire

243 nm729 nm365 nm 40µJ

532nmパルス

レーザー

波長シフト

ポンプ光

必要スペックを達成するため、既存の技術を組み合わせて①シード光生成→②波長制御→③増幅、パルス化→④波長変換の4ステップでPs冷却用レーザーを作る

Ps冷却用レーザーシステムの設計

①シード光生成②電気光学変調 (EOM) による

波長制御

③増幅、パルス化

④非線形効果を用いた波長変換

~10mJ

9

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波長変換1/2倍

波長変換1/3倍

広線幅化

Ti:Sapphire

243 nm729 nm365 nm 40µJ

532nmパルス

レーザー

波長シフト

ポンプ光

必要スペックを達成するため、既存の技術を組み合わせて①シード光生成→②波長制御→③増幅、パルス化→④波長変換の4ステップでPs冷却用レーザーを作る

Ps冷却用レーザーシステムの設計

①シード光生成②電気光学変調 (EOM) による

波長制御

③増幅、パルス化

④非線形効果を用いた波長変換

~10mJ

10

箱の中外部共振器型半導体レーザー(ECDL)

729nm出力光

半導体レーザー(InGaAsP)

回折格子

共振

729nm 出力光

8cm

ここは完成

シード光の要求スペック: l 連続発振(CW)l 波長729nml 強度数 mW以上のl 線幅1.8pm(1GHz)以内l 波長のドリフト1.8pm以内

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波長変換1/2倍

波長変換1/3倍

広線幅化

Ti:Sapphire

243 nm729 nm365 nm 40µJ

532nmパルス

レーザー

波長シフト

ポンプ光

必要スペックを達成するため、既存の技術を組み合わせて①シード光生成→②波長制御→③増幅、パルス化→④波長変換の4ステップでPs冷却用レーザーを作る

Ps冷却用レーザーシステムの設計

①シード光生成②電気光学変調 (EOM) による

波長制御

③増幅、パルス化

④非線形効果を用いた波長変換

~10mJ

11

この部分を製作中

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カップラー

=部分透過ミラー

シード光増幅・パルス化のしくみ

ポンプ光:532nmパルスレーザー

729nmCWシード光:ECDL

Ti:sapphire結晶

729nmパルス出力

12

• シード光の波長で発振• ポンプ光:パルス

レーザーによる増幅→出力がパルス化

• ポンプ光として532nmパルスレーザーをTi:sapphire結晶に照射して励起し、エネルギーをためる。

• シード光を共振器に注入すると、結晶部分で増幅されて発振→ このとき波長スペクトルは維持

• パルスレーザーでポンプしているため出力もパルス化される

• 出力はカップラー(部分透過ミラー)から取り出す

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共振器プロトタイプの様子

13

Ti:sapphire結晶532nm ポンプ光 共振器

光学系プロトタイプ

• 532nmポンプ光:最大~0.5mJ/pulse で稼働

• ECDLの光(729nm,CW)をシード光として入れる

• 共振器のサイズ:1周750mm、ビーム径:0.1mmオーダー

ECDLシード光

出力光

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• 自然放出光 (~780 nm) による発振パルス と シード光(=729 nm) の増幅パルスをそれぞれフォトダイオードに入力

14

自然放出光のパルス発振(少し低くなる)

シード光注入時

強度

(arb

.)

時間 (ns)

持続時間~100ns

0.0

0.1

0.2

0.15

0.05

- 400 - 200 0 200 400 600

シード光=729 nm の増幅パルス

• シード光の注入で自然放出光の発振強度が1,2割弱くなる

Ø代わりにシード光が増幅されてパルス化している(持続時間~100nsec )

Ø今後、自然放出光の発振をなくし、シード光増幅効率を上げる。

(自然放出光~780 nm のみのときのピーク高さ)

発振の現状 - 波形と強度

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低温における Ps 熱化の実測方法

15

uPs温度(速度分布の拡がり、今回は速さの平均値)はどうやって測る?

Ø PsがPick-off 2光子崩壊することを用いる

Ps → γ線崩壊模式図 (2つのモード)

シリカ微粒子

Ps

速さ v

e+e-

e-Pick-off 2光子崩壊• Ps内の陽電子と

シリカ内の電子が対消滅

• 511 keV 単色

Pse+e- 3光子自己崩壊

• Ps内の陽電子と電子が対消滅

• 0 ~ 511 keV連続スペクトル

Pick-off 2光子消滅γ線量∝シリカ中電子密度 x 断面積(v) x v(古典的な衝突 → 消滅 モデル)→ 2光子消滅γ線量の時間変化から,

Ps温度の時間発展が分かる

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Time (ns)

01002

003004

00500

s) µ Pick-off rate (/

00.20.40.60.811.21.4

Ps temperature (K)

0200400600800100012001400

Time (ns)

01002

003004

00500

s) µ Pick-off rate (/

00.10.20.30.40.50.60.70.8

Ps temperature (K)

0200400600800100012001400フィット結果(Pick-off 崩壊率・Ps温度)

16

エアロゲル0.11 g cm-3

エアロゲル0.06 g cm-3

線はフィット結果

360 K300 K

220 K130 K

360 K300 K

230 K150 K

Pick

-off

崩壊

率(µs-1)

Pick

-off

崩壊

率(µs-1)

Ps 温

度(K)

Ps 温

度(K)

Ps生成からの時間(ns) Ps生成からの時間(ns)

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Time (ns)

01002

003004

00500

s) µ Pick-off rate (/

00.20.40.60.811.21.4

Ps temperature (K)

0200400600800100012001400

Time (ns)

01002

003004

00500

s) µ Pick-off rate (/

00.10.20.30.40.50.60.70.8

Ps temperature (K)

0200400600800100012001400フィット結果(Pick-off 崩壊率・Ps温度)

17

エアロゲル0.11 g cm-3

エアロゲル0.06 g cm-3

線はフィット結果

360 K300 K

220 K130 K

360 K300 K

230 K150 K

Pick

-off

崩壊

率(µs-1)

Pick

-off

崩壊

率(µs-1)

Ps 温

度(K)

Ps 温

度(K)

エアロゲル温度によるPick-off 崩壊率の違いがはっきり見えている

Ps生成からの時間(ns) Ps生成からの時間(ns)

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Time (ns)

01002

003004

00500

s) µ Pick-off rate (/

00.20.40.60.811.21.4

Ps temperature (K)

0200400600800100012001400

Time (ns)

01002

003004

00500

s) µ Pick-off rate (/

00.10.20.30.40.50.60.70.8

Ps temperature (K)

0200400600800100012001400フィット結果(Pick-off 崩壊率・Ps温度)

18

エアロゲル0.11 g cm-3

エアロゲル0.06 g cm-3

線はフィット結果

360 K300 K

220 K130 K

360 K300 K

230 K150 K

Pick

-off

崩壊

率(µs-1)

Pick

-off

崩壊

率(µs-1)

Ps 温

度(K)

Ps 温

度(K)

密度が小さいエアロゲルでは,Ps - シリカ衝突頻度が減るため,ゆっくり冷えていくのが見えている

Ps生成からの時間(ns) Ps生成からの時間(ns)

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測定の結果

19

Ps温度の推定(T=1 K, L=100 nm)

time (n

s)0

100200

300400

500600

700800

number of particles

0

2000

4000

6000

8000

10000

time (n

s)0

100200

300400

500600

700800

population ratio

00.10.20.30.40.50.60.70.80.91

Time (n

s)0

100200

300400

500600

Temperature (K)

1102 103 10

Time (n

s)300

350400

450500

550600

650

C R

00.10.20.30.40.50.60.70.80.91

BEC臨界温度

過去実験によるBest fit

u異なる密度のエアロゲルで,コンシステントな測定結果が得られた

u室温 ~ 低温での測定によって,Pick-off 崩壊率 - 温度間較正ができた

u今回の測定(120 ~ 360 K)では,Best fitよりも熱化が速

いという結果が得られた

u今後、4 K 付近での熱化を調べる。

過去実験による推定の不定性

本実験結果領域は± 1σ

Ps生成からの時間(ns)

温度

(K)

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まとめ• 電子とその反物質である陽電子の束縛系、ポジトロニウム (Ps)

のボース・アインシュタイン凝縮 (BEC) 実現を目指している。

• Ps-BEC が実現すれば、反物質重力測定や、511 keV ガンマ線レーザーに用いることができる。

• 冷たいシリカにトラップし、壁との衝突による冷却 (熱化) と、レーザー冷却を組み合わせることで Ps-BEC を実現する新しい手法を提案した。

• Ps 冷却用レーザーシステムを開発中。729 nm の CW シード光は完成し、現在、パルス増幅部の開発を行っている。今後、増幅率・パルス幅を上げるとともに、広線幅化、波長シフトを電気光学変調で実現するシステムを開発する。

• 熱化については、過去の実験に不定性が大きかったが、Pick-off 崩壊率を用いた測定により、精度よく求めることができた。今後、4 K での熱化を測定する。

• 陽電子ビーム開発を進めるとともに、3~4年後をメドに世界初の反物質レーザー冷却を実現し、Ps-BEC の早期実現を目指す。

20