情報デバイス工学特論 第4回...switch networks nmosfet pmosfet full-swing logic signal =...
TRANSCRIPT
平成17年度 前期 大学院
情報デバイス工学特論第4回
中里 和郎
基本CMOSロジック回路
今回の講義内容は
William J. Dally and John W. PoultonDigital Systems EngineeringCambridge University Press, 1998
4.3.1~4.3.3 (pp. 165-191)の内容に従っ
ている
回路 = 比較的少ない基本回路の組み合わせ
基本回路 circuit idiomsswitch networksgatessource followerscurrent sourcessource-coupled pairs
回路設計 : どの基本回路を選び、どう組み合わせるか
Switch Networks
NMOSFET
PMOSFET
Full-swing logic signal = VH or VL
VH = VDD (電源電圧), VL = 0 (Ground)
x = H : ONx = L : OFF
ただし、a = b = Hの時はOFF
x = H : ONx = L :OFF
ただし、a = b = Lの時はOFF
ソース ドレイン
ゲート
ソース ドレイン
ゲート
x
a b
x
a b
xa b
xa b
Pass Gate
NMOSFET
x
a b
x
a b
初期状態 x = La = H (VDD)b = L (0V)
からON (x = H) にスイッチした時
b は VDD − VT までしか上昇しない
xa b
注意!!x
a b
負荷
Complementary Pass Gate
x
xx b= =
x
x
a b
a , b の値に依存しないスイッチ
full-swing の出力が得られる
a b a
x yAND = x y∧
ORx
y= x y∨
Series and Parallel Combinations
a
bc
s1 s2
Circuits using switches
s1
s2
a
b
c
Multiplexer
b
a a
bc
a
a
b
b
c
Exclusive OR (XOR)
Current-Steering Network
IS
a
b
IaIb
Loads
IS
IaIb
Loads
b a
( )f x
( )f x
H
L
( )f x
H
L
x y∧
x y∧
x y∧ =
H
L
x y∧
x y∨ x y
x
y
H
L
=
xy
例: CMOS NAND gate
static CMOS gate
Inverter DC Transfer Characteristics
Vin Vout
NMOSVDS =Vout , VGS =Vin
PMOS−VDS = VDD − Vout , − VGS = VDD − Vin
D
D
S
S
VDDVout
II
0は Vin を増加させた時の変化
MOSFET 動作領域
OFF VGS - VTN <0 Vin < VTN
線形領域 VDS < VGS - VTN Vout < Vin -VTN
飽和領域 0 < VGS - VTN < VDS Vin > VTN
Vout > Vin -VTN
OFF VGS - VTP >0 Vin > VDD+VTPPMOSFET
線形領域 VDS > VGS - VTP Vout > Vin -VTP
NMOSFET
飽和領域 0 > VGS - VTP > VDS Vin < VDD+VTP
Vout < Vin -VTP
インバーター
Vin
Vout
0 VDD
VDD
NMOS:OFF
PMOS:OFF
NMOS:PMOS:飽和
NMOS:飽和PMOS:線形
NMOS:線形PMOS:飽和
VTN VDD+VTP
Threshold Volatage of Inverter
Vin
Vout
0 VDD
VDD
NMOS:PMOS:飽和
VTN VDD+VTPVinv
Vinv = Vin = Vout
NMOS, PMOS ともに飽和領域
( )212 N inv TNI V Vβ= −
( )212 P inv DD TPV V Vβ= − −
( )N TN P DD TPinv
N P
V V VV
β ββ β+ +
=+
・ NMOSFET, PMOSFET のゲート幅を調整することにより、 Vinv を
調整することができる。通常は Vinv = VDD /2 に設定。
・立ち上がり時間か立下り時間のどちらかを短くするためにあえて
Vinv を VDD /2 からずらすことがある。
0
0.5
1
1.5
2
2.5
3
3.5
0 0.5 1 1.5 2 2.5 3
実際のインバータ伝達特性
Vin [V]
Vout [V]
VDD = 3V
・ NMOSFET, PMOSFET ともに W = 2μm, L = 0.4μm(VDEC:CMOS0.35μm, ローム株式会社)
・ NMOSFETの移動度~2xPMOSFETの移動度 のため、βN ~ 2 βP
このため、Vinv が VDD /2 より小さくなっている。
・ Vinv ~ VDD /2 とするには WP = 2 WN とする必要がある。
Vinv
Inverter Gain
NMOS
PMOS
VDDVout
I
0
Vin
Vout
0 VDD
VDD
NMOS:PMOS:飽和
Δ
接線の傾き= gain
channel-length modulation parameter λ = 0 では Δ = 0 となりゲインは無限大となる。
( )2
2 1N Pout
in N P DD TP TNN P
VV V V V
β β
λ λ β β
+Δ=
Δ + + −
やや細かい計算をするとゲインは次のように与えられる(レポート問題1)
0
0.5
1
1.5
2
2.5
3
3.5
0 0.5 1 1.5 2 2.5 3
-12
-10
-8
-6
-4
-2
0
0 0.5 1 1.5 2 2.5 3
Vin [V]
実際のインバータ・ゲイン
out
in
VV
∂∂
Vout [V]
Transient Response
VGSC
V
VGS
t
0
V
t
0
VDD
飽和領域 DSSDD
IV V tC
= −
( )
0
DD TV Vt
CV V eβ −
−=線形領域
DD
DSS
V CI
τ =
ロジック回路の遅延時間
C = CG + CD
( )DD G D
DSS
V C CI
τ+
=
2
1
2
1
3τ
トランジスタに付随した数値はゲート幅の比
CG
CD
2
2
2
2
2
2
2
2
4τ
2-input NAND gatesInverter driving inverter
1
1
4
4
1
1
4
4
5τ
2-input NOR gates
1 4/3 5/3logical effort(Sutherland & Sproull 1991)
遅延時間
ロジック回路
Propagation Delay and Nonzero Rise Time
50%
50%
td
trVin ~ VDD /2 から Vout が下降
Vin
Vout
2O DSS
r
tI It
≅ −
2
0
14 4
rt DSS r DD rout O
I t V tV I dtC C τ
Δ = = − = −∫
Vin が VDD に到達した時
その後は飽和電流による時定数で決まる
22
DDout
rd
DD
V VttV
τ+ Δ
= +
4 2r
dtt τ
= + (tr / 2 < td の場合)
tr / 2 > td の場合は0
12
dt DDout O
VV I dtC
Δ = = −∫ から
2r
dtt τ
= (tr / 2 < td の場合)
Miller-Effect Capacitance
CM
Vin = 0 , Vout = VDD 0 VDDQ-Q
Vin = VDD , Vout = 0 0VDDQ-Q
Q = CM VDD
Q = -CM VDD
ΔQ = 2CM VDD
キャパシタンスが2倍に見える
2CM 2CM
AC-ground とみなせる
+ −
2CM 2CM
full-swing での平均として
小信号の Miller capacitance
( ) ( )1MiM in M in
in
QC V C A VV
δδ
= = −⎡ ⎤⎣ ⎦
0
2
4
6
8
10
12
0 1 2 3
Vin [V]
CiM
/ CM
Gain-Bandwidth Product
Frequency ( f )
1f1fc
1ff
ADC
fc : cutoff frequency
f1 : unity-gain frequency
GainA(f)
C
out m indv g vidt C C
= =
DSSm
DD
IgV
≈ out indv vdt τ
=1 1
2out
in
vv fπ τ
=
11
2f
πτ=
Exponential Horn
CL
大きな負荷容量を駆動
DD L
DSS
V CI
τ = IDSS 増加 ( W 増加)
インバータ入力側のキャパシタンスも増大
C = Wf CG0 + Wi CD0
Wf
総ゲート長=Wi
CL
Wi α k Wi α k+1 Wi Wf=α n-1 Wi
等比的にゲート幅を変えたインバータを直列接続
Ck = α k+1 Wi CG0 + α k Wi CD0
IDSS = α k Wi IDSS0
α n Wi CG0 = CL
( )0
0
1DD Dk
DSS
V CI
τ αη= +
0 0G DC Cη =
( )( )
0lnln
L i GC W Cn
α=
( )
総遅延時間1lnk
αητα
+= ∝∑
0
2
4
6
8
10
0 2 4 6 8 10
( )1ln
αηα
+
α
最小
1.5η =
Dynamic Latch
D QS
φ
φ
=
Complementary Pass Gate
φ = H S = Dφ = L S = storing the value
CS : 寄生容量 D
φ
S
tS th
ta
tS : setup timeth : hold timeta : aperture time
データを長時間保持するにはrefresh が必要
Srfsh
subth
C VtI
Δ=
Dynamic Latch (2)
D QS
φ
Complementary Pass Gate の代わりに NMOSFET のみのPass Gate を使用
問題点: S の電位は VDD - VT 以上
にはならない
解決法:(1) インバータの閾値 Vinv を低く設定(2) PMOSFET keeper device を使う
D QS
φ w
w : 駆動能力が強くならないように小さなゲート幅 を使用
D QS
φ
φ
Gate-isolated latch
φ
φ
φ
φD S D S=
tristate inverter
φ = H 通常のインバータ動作
φ = L S : high-impedance 状態
入力 D が S の影響 ( charge sharing 等)
を受けないようにする
Single-phase latch(Svensson latch 1989)
φ
D QX
φ = H 2つのインバータが直列接続
φ = L
X の電圧が下がることはないQ の電圧が下がることはない
下のNMOSFETがOFF
Q の電圧が上がることはない
Q の信号が保たれる
実際にはノイズ対策で X, Q に keeper を設ける
Precharged Gates
f(x)x
φ
f(x)
φ = L
φ = H
出力 = H (precharged)
f(x) = true であれば 出力 = L
入力 x は時間とともに増加する信号で
なければならない
A
φ
B
C
Dynamic NAND
f(x)x
φ
f(x)
4/1
w
ノイズ対策 : Dynamic gate with Keeper
Domino Logic
f(x)x
φ
4/1
w
g(.)
φ
4/1
w
h(.)
φ
4/1
w
Two-Phase Domino Logic with Integral Latch
f(x)x
φ1 w φ2
4/1
w
f(x)
φ1 φ2
Dual-Rail Domino
Dynamic Dual-Rail XOR Gate
φ
φ
b1
b0
a1
a0
c1
c0
Bootstrap Circuits
en b
φ φq
en = Hφ = L
b = VDD - VT
φ = H
b > VDD - VT
b > VDD + VT まで上げる
レポート (4)
1.CMOSインバータのゲインの式を導け。
2.右は3bit入力 (a0 , a1 , a2) 4bit出力 (y0 , y1 , y2 , y3) のスイッチ論理回路である。
a0 a1 a2
y0
y1
y2
y3
(1)この回路はどのような関数を表わしているか
(2)NAND/NORロジック・ゲー
トで同等の関数を実現せよ。このときのトランジスタ数、遅延時間を比較せよ。