半導体 IC テストソリューション

Turnkey Test & Automation Solution Provider

ウエハ/チップ/パッケージ

www.chroma.co.jp

ターンキー 半導体 IC テストソリューション

クロマは、テスト＆オートメーションのターンキーソリューションを提供するメーカーとして、テスト装置や測定装置、自動テストシステム、製造システムのカスタマイズソリューションを統合し提供しています。

この数年間、私達は半導体のテスト分野の経験を積み上げてきました。そのため、ATE、PXIシステムから、ICハンドラーやシステムレベルのテストソリューションに至るまで、半導体テストソリューションに関する幅広いポートフォーリオを持っております。

ATEとPXIのソリューションでは、コンシューマーSOC（MCU、コントローラ、オーディオ、ペリフェラル）、パワーマネージメントIC（レギュレータ、LDO、DC/DC、AC/DC、LEDドライバ）、RF（FEM、コネクティビティ、モバイル）、その他アプリケーション（CIS、光センサ、RFID）をカバーします。

また、ハンドラーと自動システムのソリューションでは、温度制御、拡張デバイスのハンドリング技術、ベアダイのハンドリング、CISターンキーソリューション、システムレベルのテストソリューションをカバーします。

これらのターンキーソリューションにより、私達クロマは、テスト品質とテストパフォーマンスを保ちつつ、テストコスト削減へのベストアプローチをお客様へ提供致します。

VLSI Test Systems SoC/Analog Test Systems

Automatic System LevelTest Handler CIS Turnkey Solution

MiniatureIC Handler

オープン/ショートテスト

自動システムファンクションテスト　 出荷

組立・パッケージウエハプロセス

ファイナルテスト

Double Sides WaferInspection System

RF SolutionIntegrated Handler

Hybrid Single SiteTest Handler

Final TestHandler

ウエハソート

半導体自動テスト装置 (ATE)

PVI 100 VI 45 HDADDA

3650 シリーズ オプション特長☑ PVI100 アナログ オプション☑ VI45 アナログ オプション☑ HDADDA ミックスドシグナル オプション☑ ミックスドシグナル＆RF Box (MRX)☑ タイミングインターバルアナライザ オプション

soC/アナログ テストシステム

Model 3650-EX 特長☑50/100MHz クロックレート☑I/O 最大1024ピン☑パターンメモリ 32/64M☑DPS 最大96CH☑SCAN/ALPG☑パラレルテスト 512DUT☑Microsoft Windows® 7 /XP OS

Model 3650 特長☑50/100MHz クロックレート☑I/O 最大640ピン☑パターンメモリ 16/32M☑DPS 最大32CH☑SCAN/ALPG☑パラレルテスト 32DUT☑Microsoft Windows® 7 /XP OS

クロマの半導体向けATEは、ファブレス、IDM、テストハウスの方々に、最もコスト効果の高いソリューションを提供することを目標に、高スループット、高いマルチサイトテスト能力を実現できる様に特別設計されています。高機能、高精度、パワフルなソフトウエアツール、及び高信頼性を持つ私達のATEは、コンシューマデバイス、ハイパフォーマンスのマイクロコントローラ、アナログデバイス、SoCデバイスをテストするにあたって理想的です。

Model 3650-CX特長☑ 50/100MHz クロックレート☑ I/O 最大256ピン☑ パターンメモリ 16/32M☑ DPS 最大16CH☑ SCAN/ALPG☑ パラレルテスト 32DUT☑ Microsoft Windows® 7 /XP OS

ConsumerDevices

SoCMCU

Mixed-SignalDevice

EmbeddedFlash

PMIC

Wireless

TouchSensor

CHROMA ATE

特長☑低コストシステムかつハイパフォーマンス☑高いマルチサイトテスト能力☑試作から量産までフレキシビリティに使用可能☑パワフルなソフトウエアツール☑省スペースが可能となる小型フットプリント☑他のプラットフォームに直接接続可能な アダプターボードを用意

STBUSx1UR+I/F

Flexible Slots

LXPG2x1 (No Outlet) PMUVIx1

pXI IC テストシステム

VlsI テストシステム

プログラマブル ピンエレクトロニクス モジュール Model 36010特長☑PXI/PXIeハイブリッドに適合☑50/100MHz クロックレート☑パターンメモリ 32M☑パーピンPMU☑SCAN 4chain/256M☑Labview/LabWindowsをサポート☑Microsoft Windows® 7/XP OS

dUT 電源Model 36020特長☑PXI/PXIeハイブリッド コンパチブル☑電圧レンジ +10V/-2V☑電流レンジ 6通り選択可能☑電圧印加 16-bit分解能☑電流測定 18-bit分解能☑Labview/LabWindowsをサポート☑Microsoft Windows® 7/XP OS

Mini ATEModel A360101特長☑ I/O 最大64ピン☑ DPS 8CH☑ ユニバーサル ロードボード☑ Labview/LabWindowsをサポート☑Windows® 7 /XP OS

Model 3380 特長☑50/100MHz クロックレート☑I/O 最大1280ピン☑パターンメモリ 32/64/128M☑DPS 最大128CH (4 wires)☑SCAN/ALPG☑パラレルテスト 1024DUT☑Microsoft Windows 7 OS☑フレキシブルな構成

フレキシブルな構成☑フレキシブルなスロットをサポート☑フレキシブルなスロットは、I/O、UVI、ADDA、PXIeなど幅広い機能を差し込み可能☑3360-D : 2 slots; 3360P: 8 slots; 3380-P: 9 slots; 3380: 20 slots☑時間、周波数測定ユニット

Model 3380-p, 3380-d特長☑50/100MHz クロックレート☑I/O 最大576ピン （3380-Dは256ピン）☑パターンメモリ 32/64/128M☑DPS 最大64CH (4 wires)☑SCAN/ALPG☑パラレルテスト 512DUT (3380-Dは256DUT）☑Microsoft Windows 7 OS☑フレキシブルな構成

Model 3360-p, 3360-d特長☑ 50MHz クロックレート☑ I/O 最大256ピン （3360-Dは64ピン）☑ パターンメモリ 8/16M☑ フレキシブルな構成☑ SCAN/ALPG☑ パラレルテスト 32DUT☑ Microsoft Windows® 7 /XP OS

アドバンスド TEC コントローラ

3温度フルレンジ ファイナルテストハンドラーModel 3110-40℃~125℃

Model 3110-FT-40℃~125℃

Model 3160-A40℃~125℃

Model 3180Ambient~125℃

Model 54100 シリーズ特長☑150W(24A/8A), 300W(27V/12A), もしくは 800W(40V/20A)による双方向駆動☑電流リップル20mA以下でリニア駆動を維持しながら、90% 以上の駆動パワー効率を持つフィルターを通したPWM出力☑温度レンジ -50～+150℃ (分解能：0.01℃、絶対精度：0.3℃)☑最適なPID制御により短時間 (1時間) ±0.01℃、 長時間±0.05℃の安定性を実現☑TECシグナルとPID自動制御により最適な制御を実現☑２つのT-Type熱電対 (制御フィードバック用に1つ、 モニタとオフセット用に1つ) により幅広い制御モードを提供

Time

Temp.

25

Stability±0.01℃

Chroma 54100 Series

800W

TEC Modules

125

0

50

-40

℃

125

0

50

-40

℃

125

Am

bie

nt

℃

40

125

℃

0 75 150 225 300 350 400

-30-1010

305070

90

85℃ ~ -40℃ : 400 sec. (Tc of Kit)

* Only for 3110 thermal head

Sec.

Temp.

TT Chart - Hot to Cold

0 75 150 225 300 350 400

-30-1010

305070

90

-40℃ ~ 85℃ : 120 sec. (Tc of Kit)

* Only for 3110 thermal head

Sec.

Temp.

TT Chart - Cold to Hot

ピックアップ＆プレース ハンドラー : ファイナルテスト とシステムレベルテスト

ファイナルテスト (FT) ファイナルテストは、お客様へ製品を出荷する前に実施されるテストです。テストパターンを用い、デバイスのファンクションや電気的特性が、要求される仕様と合致するかどうかをテストします。テストの目的は以下の通りです。

☑製品設計通りか確認すること☑高品質を実現すること☑製造の品質をコントロールすること☑製造歩留りを絶えず改善すること

システムレベルテストハンドラー

Wafer Process

Wafer Sort

Assembly &Package

ASFTManual

Package Test Shipping

Auto. System Function Test

Cycle Probe Test

Wafer

Probe Card ATE Module Boards

ICs ICs

Final Test System Level Test

IC Module BoardWafer

disruptive process Implement in semiconductor Test

ミニ卓上シングルサイトテストハンドラー

Model 3111特長☑ ICパッケージ：5x5mm～45x45mm☑ソフトウエア設定可能なBIN制御☑エアダンパーを用いたコンタクト☑コンタクト圧バランス最適化☑テストソケット寿命最大化☑2重のスタック保護☑連続的な自動再テスト☑リモートコントロール制御☑リアルタイム システムカメラ モニタリング☑モバイル機器で制御可能

システムレベルテスト (slT)多くの会社は、ICの後行程においてデバイスの品質を確保するためにパッケージされたデバイスをフルファンクションでテストします。しかしながら、この方法は下記のような問題を引き起こす可能性があります。【1】 ATEと実際の動作環境との差異の発生【2】 数か月に及ぶATEテスト用プログラムの開発により、市場への投入は遅れる【3】 テストコストがシリコンコストの減少と対比し割高になっていく

Model 3260特長☑RC (リチェック、リテスト）によりオーバーキルの割合を軽減☑時間とリソースを軽減☑歩留り向上☑様々なテスタに適用☑オプションのPoP(Package on Package)ソリューション☑オーダーメイドのテスト処理設計☑独特なFACT(Fault Auto Correlation Test)により個人の ハンドリングタイムを軽減

市場への投入スピード ☑ ATEプログラムの準備より早く出荷可能☑ 大きなデバイスに対応☑ 有用性が高い

システムレベルテストへの牽引

コスト☑ ATEに比べて低い投資コスト (COO)☑ マニュアルテストと比較して高能率 （低コスト）

故障検出率☑ DPPMコントロール☑ 品質保証☑ 個々の取り組みを軽減☑ システム評価☑ コンプライアンス☑ テストしやすさ☑ ソフトウエアとハードウエアの間の 矛盾を検出

LED Light Source

Capture Cards

MIB Board

Chroma Tester

CIs ターンキーテストソリューション

CIS (CMOS Image Sensor) テストソリューションは、クロマ特有のターンキーソリューションの一つです。ファンクションテストや画像検査に対してパフォーマンスとクオリティを提供する最適化されたリソースを用い、最高のUPHを実現します。私達のCISソリューションは、お客様に最高のCOO(Cost Of Ownership、総保有コスト)を提供します。

特長☑ハンドラーモデル3270 - 16サイトパラレル☑16/16光源 (FT)/IPC☑ATE 3380P 100MHzクロックレート☑パターンメモリ 128M☑I/O 192ピン☑UVI 16CH (4 wires)☑RMB2 スイッチングボード☑キャプチャカード (MIPI 1G)

クロマ ATE、キャプチャカード、MIB☑3380シリーズ 100MHz ATE ソリューション☑MIBによりフレキシブルかつ最適化された構成 (Matrix Interface Board)☑従来のフル構成のATEソリューションに対して 2～3倍コスト削減☑最新のキャプチャカードソリューション :　 MIPI CSI1/2 マルチプルレーンをサポート

光源☑ハロゲン光源に対して10倍以上の寿命☑オーバーヒートの問題なし☑D65光源に対してスペクトル反応の差は1%以下☑16サイトパラレル化のご要求に対してサイズ拡張可能なLED光源☑ハロゲン光源よりも8～10倍コスト削減

IC ハンドラー☑16サイトまでサポート可能な ハイスピードハンドラー☑様々なパーッケージをハンドリング可能 (外形 2x2mm～14x14mm)☑それぞれのサイトに対してFT光源をインテグレート☑Model 3110-FTにより、4サイトで低温(-40℃)サポート

Tri-temp Test HandlerModel 3110-FT

Miniature IC HandlerModel 3270

Circuit Probing

Light Source Light Source

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66 Hwaya 1st Rd., KueishanHwaya Technology Park,Taoyuan County 33383, Taiwan

T +886-3-327-9999F +886-3-327-8898

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