Transmission Electron MicroscopeTransmission Electron MicroscopeEM 902 ( Zeiss )EM 902 ( Zeiss )

Spezifikationen:Spezifikationen:•Beschleunigungsspannung: 80 kV•Auflösung - garantierte Linienauflösung: 0,344 nm - garantierte Punktauflösung: 0,5 nm

Transmission Electron MicroscopeTransmission Electron MicroscopeJEM-1011 ( JEOL)JEM-1011 ( JEOL)

Spezifikationen:Spezifikationen:•Beschleunigungsspannung: 40 - 100 kV•Auflösung - garantierte Linienauflösung: 0,2 nm - garantierte Punktauflösung: 0,4 nm

UltraHigh-Resolution UltraHigh-Resolution Transmission Electron MicroscopeTransmission Electron Microscope

JEM-2200FS ( JEOL)JEM-2200FS ( JEOL)

Spezifikationen:Spezifikationen:

•Beschleunigungsspannung: 80 - 200 kV

•TEM Auflösung - garantierte Linienauflösung: 0,10 nm - garantierte Punktauflösung: 0,19 nm

•STEM Auflösung - garantierte Punktauflösung: 0, 2 nm

• Energiedispersive Röntgenanalys (EDX)

•Elektronen-Eneergieverlustspektroskopie (EELS)

• Tomographie

Ultrahochauflösendes Ultrahochauflösendes Rasterelektronenmikroskop Rasterelektronenmikroskop

S- 4800 S- 4800 (Hitachi)(Hitachi)Spezifikationen:Spezifikationen:

HochauflösungHochauflösung 1.0 nm / 15 kV 1.4 nm / 1 kV

EDX- SystemEDX- System:: Thermo - NORAN system SIX (Energiedispersive Röntgenstrahl Mikroanalyse)

KryopräparationssystemKryopräparationssystem: : Gatan – Alto 2500-S

EBSD- System:EBSD- System: HKL - Channel 5 (Elektronenrückstreubeugung)

STEM ImagingSTEM Imaging

REM deutsch