omicron test universe.pdf

OMICRON Electronics GmbH OMICRON TEST UNIVERSE

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ENSYS S.A.C. Jun-10 Page: 1

Para:Para:

Red Elctrica AndinaRed Elctrica Andina S.A.C.S.A.C.Presentado por:Presentado por:

Ing. Hctor Frisancho F.Ing. Hctor Frisancho F.

CURSO DE ENTRENAMIENTO

OMICRON TEST UNIVERSEADVANCED PROTECTION PACKAGE

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CONTENIDOCONTENIDO1.1. CMCCMC--256 / 356 Hardware256 / 356 Hardware2.2. Software O.T.U.Software O.T.U. ConceptoConcepto3.3. Mdulo de PruebaMdulo de Prueba QuickCMCQuickCMC4.4. Mdulo de PruebaMdulo de Prueba RampingRamping5.5. Mdulo de PruebaMdulo de Prueba StateState SequencerSequencer6.6. Mdulo de Prueba OvercurrentMdulo de Prueba Overcurrent7.7. Mdulo de PruebaMdulo de Prueba AdvAdv.. DistanceDistance8.8. Mdulo de PruebaMdulo de Prueba AdvAdv.. DifferentialDifferential9.9. Mdulo de PruebaMdulo de Prueba AdvAdv.. TransplayTransplay

10.10. Herramientas de PruebaHerramientas de Prueba11.11. ConfiguracinConfiguracin12.12. Calibracin y DiagnosticoCalibracin y Diagnostico13.13. OMICRON Control CenterOMICRON Control Center


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SistemaSistema dede PruebasPruebas SecundariasSecundariasCMCCMC 356356 -- HardwareHardware

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SistemaSistema dede PruebasPruebas CMCCMC 356356

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Salidas deSalidas deTensinTensin

Fuente deFuente deTensin AuxiliarTensin Auxiliar

SalidasSalidasBinariasBinarias

Entradas deEntradas deMedicinMedicin

Salidas deSalidas deCorrienteCorriente

ConectorConectorUmbilicalUmbilical

Entradas BinariasEntradas Binariasy de Mediciny de Medicin

Botn deBotn deEncendidoEncendido


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Salidas de Tensin:Cuatro (04) salidas de tensin con una sola conexin comn aneutro N y separadas galvnicamente de las dems salidas dela unidad CMC.Todas las salidas de tensin estn protegidas frente a circuitosabiertos, cortocircuitos L-N y sobrecarga.Si se sobrecalienta el disipador trmico, un conmutadortrmico desactiva todas las salidas.

Configuracin Corrientes de Salida Potencia Exactitud

CA trifsica (L-N) 3 x 0 ... 300 V 3 x 100 VA a 100 ... 300 V Tpica:

CA tetrafsica (L-N) 4 x 0 ... 300 V 4 x 75 VA a 100 ... 300 V E < 0,03 % rd. + 0.01% rg

CA monofsica (L-N) 1 x 0 ... 300 V 1 x 200 VA a 100 ... 300 V Garantizada:

CA monofsica (L-L) 1 x 0 ... 600 V 1 x 275 VA a 200 ... 600 V E < 0,08 % rd. + 0.02% rg

CC monofsica (L-N) 4 x 0 ... 300 V 1 x 420 W a 300 VCC

Ventajas:?Cuarto canal ideal para probar rels de sincronismo.?Generacin de tensin homopolar en forma automtica.

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Generadores de Corriente:Dos (02) salidas de corriente trifsicas separadas galvnicamente, cada una consu propia conexin a neutro (N). Cada salida est separada galvnicamente delas dems conexiones de la unidad CMC 356 y protegidas frente a circuitosabiertos, cortocircuitos y sobrecarga.

Configuracin Corrientes de Salida Potencia Exactitud

CA hexafsica (L-N) 6 x 0 ... 32 A (A y B) 6 x 430 VA a 25 A

CA trifsica (L-N) 3 x 0 ... 64 A (A + B en CP:) 3 x 860 VA a 50 A Tpica:

CA bifsica (L-L) 2 x 0 ... 32 A (A y B) 2 x 870 VA a 25 A E < 0,05 % rd.

CA bifsica (L-L) 1 x 0 ... 64 A (A + B en CP.) 1 x 1740 VA a 50 A + 0.02% rg

CA monofsica (L-L-L-L) 1 x 0 ... 32 A (A + B en CS.) 1 x 1740 VA a 25 A Garantizada:

CA bifsica (LL-LN) 2 x 0 ... 64 A (A y B) 2 x 500 VA a 40 A E < 0,15 % rd

CA bifsica (LL-LN) 1 x 0 ... 128 A (A + B en CP.) 1 x 1000 VA a 80 A + 0.05% rg.

CC bifsica (LL-LN) 1 x 0 ... 180 A (A + B en CP.) 1 x 1400 W a 80 A

Ventajas:?Pruebas de reles diferenciales sin la utilizacin de amplificadores externos.?Pruebas de rels electromagnticos de Alto Burden (1740 VA).?Pruebas con alta corriente (128 A).


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Entradas Binarias / Anlogas:Diez (10) entradas binarias divididas en cinco gruposde dos, cada grupo est separado galvnicamente delos dems.

Las seales de entrada se supervisan con una resolucin de 100 ?s y despus se evalanen la CPU.

Las entradas binarias se configuran en el mdulo Configuracin del hardware del softwareOMICRON Test Universe. Al hacerlo, puede especificarse si los contactos tendrn potencialo no. Cuando los contactos tienen potencial, puede fijarse la tensin nominal prevista y elumbral de arranque de cada entrada binaria.

Con la opcin de hardware ELT-1, todas las entradas pueden configurarseindividualmente mediante el software (Enerlyzer) como entradas de medida binarias oanalgicas con lo que la unidad CMC puede ser utilizada como:? Multmetro.? Analizador de armnicos.? Registrador de Tendencias.? Registrador de perturbaciones de hasta 10 canales.

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Salidas Binarias:Cuatro (04) salidas binarias para su utilizacin como contactos de relsin potencial.La posicin de cada una de las salidas binarias se configuran con losmdulos de prueba del software OMICRON Test Universe

Caractersticas:?Capacidad de Ruptura: 300 V / 8 A.Aplicacin:?Simular la posicin de un interruptor, recloser.?Simular una seal externa de un dispositivo externo al equipo en

prueba (disparos transferidos, seales de tele proteccin, etc.)


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Fuente de Tensin Auxiliar:Los equipos en prueba (por ejemplo, rels de proteccin) querequieren una tensin auxiliar de CC pueden alimentarse desde lasalida AUX DC.La salida AUX DC est separada galvnicamente de las dems salidas.Por medio de la Herramienta de Prueba AUX DC incluida en el software OMICRON TestUniverse, puede definirse el valor de tensin deseado. El valor ajustado es guardado enla memoria permanente de la unidad CMC.Unos cuantos segundos despus de activar el suministro de alimentacin a la unidadCMC, se aplica la tensin establecida a la salida AUX DC. Si la tensin de la salida "AUXDC" supera el valor de 42 V, se enciende el indicador luminoso correspondiente.

Caractersticas:?Rango: 0 260 Vcc?Potencia: 50 W mximo.?Exactitud: E


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Fuente deFuente deAlimentacinAlimentacin

Fusible T10AHFusible T10AH Zcalo paraZcalo paraconexin de tierraconexin de tierra

Interfaz deInterfaz decomunicacincomunicacin

Interfaz externoInterfaz externo

LLLL outout 11--66

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Vista Posterior

Interfaz de Comunicacin LPT:Comunicacin mediante el puerto paralelo (opcional).Garantiza mayor velocidad de transferencia de datos que una comunicacinserial..Cuando se arranca el programa OMICRON Test Universe, ste buscaautomticamente el interfaz (LPTx) del PC al que est conectado eldispositivo CMC

Interfaz de Comunicacin NET-1:La opcin NET-1, sustituye la interfaz paralela por una interfaz de controlde Ethernet, con lo que se puede controlar el equipo a travs de una red,as como que se soporta protocolos de comunicacin como son: IEC61850 y UCA 2.0


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A: Led Amarillo:ON: Se enciende cuando el equipo est listo para ser usado.OFF: El equipo est esperando la transferencia un software de emergencia(luego de haber presionado el botn !)

B: Led Verde: Se enciende cuando se ha accesado a la memoria interna de launidad CMC256

Nota: Por seguridad se tienen los siguientes criterios sobre la asociacin:? Slo una PC asociada puede controlar una unidad de prueba.

? La asociacin requiere una accin intencionada e implica proximidad geogrfica.? Slo puede asociarse una PC con una unidad de prueba simultneamente.

Leds Indicadores A y B: Sealizan el estado de la comunicacin.

Si este botn es presionado durante el encendido de la unidad CMC, se reinicia laconfiguracin IP y se vuelve al valor de fbrica que es DHCP/AutoIP.

Vista PosteriorInterfaz de Comunicacin NET-1:

Botn Asociacin:Presionando este botn, se asocia una PC a la unidad de Prueba.

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Vista PosteriorInterfaz de Comunicacin NET-1:

Puerto ETH2: Interfaz de fibra ptica de 100 Mbit. Con un conector del tipoMT-RJ

Botn !El botn ! permite que la unidad CMC se recupere de transferencias de informacin(imagen del software) fracasadas o de otras situaciones de la emergencia.Para reiniciar el equipo y comenzar con una nueva transferencia la imagen del software,presionar el botn ! durante el ciclo inicial del sistema de la prueba.Si se presiona el botn ! mientras que opera la unidad CMC, el sistema de la prueba noiniciar la prueba, sino esperar una nueva transferencia

Puerto ETH1: Interfaz Ethernet de par trenzado de 10/100 Mbit. Con unconector del tipo RJ-45. Por medio de este interfaz se comunicanormalmente con una PC para controlar la unidad CMC.El puerto ETH1, tiene la caracterstica auto-crossing, que permite sepuedan utilizar cables estndar de ethernet o cables del tipo cross-over


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Vista PosteriorInterfaz Externo:

LL out 1-6:- Seis fuentes de seales analgicas de gran precisin que pueden

utilizarse, por ejemplo, para controlar amplificadores externos como: CMA156, CMA 56 y CMS 156.

- Todas las salidas de bajo nivel estn protegidas contra cortocircuitos y sesupervisan continuamente en prevencin de sobrecargas.

- Dos entradas de contador de alta frecuencia (hasta 100 kHz) para probarcontadores.

- Cuatro salidas binarias de transistor 11-14. Ofrecen la ventaja, conrespecto a las salidas de rel, de presentar tiempos de reaccin mnimossin rebote.

- Conexin para accesorios CMLIB B, CMGPS, CMB IO-7

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? Voltaje: 4 x 0 300 V? Corriente: 6 x 0 32 A? Error :

Tensin: Garantizado < 0.08% rd. + 0.02% rg.Tpico < 0.03% rd. + 0.01% rg.

Corriente: Garantizado < 0.08% rd. + 0.02% rg.Tpico < 0.03% rd. + 0.01% rg.

? Estabilidad en Temperatura 0.002%/Grado? Protecciones internas (Sobrecarga, corto, I abierta, alto

burden)? Calibracion Digital (no requiere caja de calibracin)? Bajo nivel de ruido.? Liviano, 16.6 Kgs

DATOS GENERALES

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SoftwareSoftware

OMICRON TEST UNIVERSEOMICRON TEST UNIVERSE


SOFTWARE OMICRON TEST UNIVERSE

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Estructura de Directorio:Cuando se instala el software OMICRON Test Universe en sucomputadora, por defecto se instala en la carpeta: Archivos dePrograma\Omicron

La Licencia es grabada en la carpeta:Archivos de Programa\Archivos comunes\Omicron.


El software de Instalacin crea cuatro subcarpetas principales:

?Archivos de Programa\Omicron\APPS:Contiene los archivos ejecutables, la ayuda en lnea asociada alOCC, Mdulos de prueba, Herramientas de prueba, y Utilitarios.Estos programas tpicamente son iniciados desde la Pgina deInicio o desde un documento de prueba

Estructura de Directorio:

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?Archivos de Programa\Omicron\CMEngine:Contiene herramientas y archivos de ayuda para la interfaz de progra-macin del Hardware CMC-256.


?Archivos de Programa\Omicron\APPS:



Contiene la documentacin tcnica como manuales, especificaciones,etc. en formato PDF.

?Archivos de Programa\Omicron\Doc:?Archivos de Programa\Omicron\CMEngine:




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Contiene las plantillas de prueba, ejemplos de Archivos de Prueba,archivos con las caractersticas de los Equipos en Prueba RIO,archivos con la configuracin de hardware OHC y los archivos usadospor el TEST WIZARD para la generacin de Planes de Prueba del OCC.

?Archivos de Programa\Omicron\Librera de Pruebas:

?Archivos de Programa\Omicron\Doc:

?Archivos de Programa\Omicron\CMEngine:





PRUEBA DE RELES EN TRES PASOS

1- Objeto a Probar

2- Configuracin de HW

3- Ejecucin del Mdulo de Prueba

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En este primer pasodebemos ingresar:

Los datos generales delrel como son: tipo deproteccin, marca,nmero de serie,valores nominales detensin y corriente,valores mximospermitidos.

1: Objeto a ProbarObjeto a Probar

Ajustes de laproteccin a probar.


2: Configuracin del HardwareEn este paso definimosel conexionado entre elrele y el equipo depruebas

Configuramoscableado, potenciadisponible, tensin decumplimiento, etc. dela CMC

Entradas Binariasactivadas, etc.

Salidas Activadas.

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3: Ejecucin del Mdulo de Prueba

Adicionar lospuntos deprueba

Con slo unClickiniciamos laprueba

El Reporte es generado automaticamente

Los Fasorespueden sermostradospara cadapunto deprueba


3: Ejecucin del Mdulo de Prueba

Datos del equipo enprueba

Resultados tabulados

Resultados GrficosResumen

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PRUEBA DE RELES EN TRES PASOS

+ + =Reporte de pruebas,Plan de PruebasNueva plantilla depruebas


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Quick CMCQuick CMC

SoftwareSoftware


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Quick CMC

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Quick CMC

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Pruebas manuales, fciles y rpidas.Pruebas manuales, fciles y rpidas.

- Control simultneo detodas las fuentes (V, I)

- Funcin de estadoestable, por pasos o derampa para todas lasmagnitudes

- Clculo de falla, condiferentes modos defuncionamiento.

- Diagrama vectorial yplano de impedancias.

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Quick CMC

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Barra De Herramientas DelBarra De Herramientas Del QuickCMCQuickCMC

Val. relativos

Val. en el primario

Val. en el secundario

Tiempo en segundosTiempo en ciclos

Temas de Ayuda

Ayuda

Adicionar resultados al informe (F10)

Borrar resultados de la prueba

Encendido / Apagado de las Fuentes

Congelar valores actuales de las fuentes

Configurar Objeto en prueba

Configurar Hardware

Activar Vista del Diagrama VectorialActivar Vista de Impedancia

Activar Vista del informeActivar Vista de la Prueba

AbrirGuardar

Nuevo

Valores de Pre-Falta

Modificar resultados de la prueba

Val. absolutos


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Quick CMC

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Historia de estado8 8

7

Barra de Sobrecarga7

6

Diagrama vectorial6

5

Ventana de rampa5

4Entradas Analgicas4

3Salidas Binarias3

2

Entradas Binarias2

1

Salidas Analgicas1

VENTANA DE PRUEBAVENTANA DE PRUEBA

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Quick CMC

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SALIDAS ANALOGICAS CONFIGURACION


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Quick CMC

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Vista del Diagrama Vectorial:Vista del Diagrama Vectorial:

Vista de ImpedanciaVista de Impedancia

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Quick CMC

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COMO SE REALIZAN LAS PRUEBASCOMO SE REALIZAN LAS PRUEBAS

1.1. Configuracin del Objeto en PruebaConfiguracin del Objeto en Prueba

En este primer paso debemos ingresar:

Los datos generales del rel comoson: tipo de proteccin, marca,nmero de serie, ubicacin.

Valores nominales de frecuencia,tensin y corriente en el ladoprimario y secundario.

Valores mximos permitidos detensin y corriente.

Configuracin del filtro antirebote yantiruido

Configuracin del nivel desensibilidad de proteccin de la CMC


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Quick CMC

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2.2. Configuracin del Hardware de PruebaConfiguracin del Hardware de Prueba

Definimosconfiguracindel equipo depruebas y elconexionadoentre el rel yel equipo depruebas.

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Quick CMC

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2.2. Configuracin del Hardware de PruebaConfiguracin del Hardware de Prueba(continuacin)(continuacin)

En DETALLES

El software nospermiteseleccionar:cableado,potenciadisponible,tensin decumplimiento,etc. de acuerdoal equipo enprueba y laprueba arealizar.


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Quick CMC

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Especificamos lassalidas quequeremos estnactivas, etiquetas,y bornes al queestn conectadas.

SALIDASANALGICAS

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Quick CMC

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Especificamos:? Entradas binarias

habilitadas paraoperar? Tipo de entrada

(contacto seco ocon tensin)? Tensin umbral y

tensin nominalsi son contactoscon tensin? Etiqueta? y borne de

conexin.

ENTRADASBINARIAS


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Quick CMC

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Especificamos:? Salidas binarias

requeridas parala prueba? Etiqueta? y borne de

conexin.

Se utilizan parasimular la posicindel interruptor ode un contactoauxiliar requeridopor la proteccin aprobar.

SALIDAS BINARIAS

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Quick CMC

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Especificamos sideseamos que laprueba se iniciecon la recepcinde un pulsoproveniente de unGPS, IRIG-B, GPS +IRIG-B

Se utiliza pararealizar pruebassincronizadas en eltiempo

IRIG-b y GPS


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Quick CMC

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3.3. Ejecucin de la pruebaEjecucin de la prueba

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Quick CMC

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3.3. Ejecucin de la pruebaEjecucin de la prueba( continuacin)( continuacin)


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Quick CMC

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Rampas con QuickCMC

tamao

hora

Rampa manual oautomtica

tamao

Pulse-Ramping

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Caso 1: Retardo igual a 0 s.

Caso 3: Retardo igual a 0 s

Caso 2: Retardo igual a retardo s.

Caso 4: Retardo igual a retardo s.Durante este tiempo se siguenregistrando cambios en lasentradas binarias

Desactivar Salidas Activado

Desactivar Salidas Desactivado

Men Prueba:Desactivar Salidas con Trigger

Durante este tiempo se siguenregistrando cambios en lasentradas binarias

Caso 1

Caso 2

Caso 3 y 4

Luego de recibir la seal detrigger, no se registra ningncambio en las entradas binarias


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Quick CMC

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Men Prueba:Desactivar segn tiempo

Men Prueba:Parar Rampa en Cero

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Quick CMC

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Men Prueba:Informe Automtico

Men Prueba:Modificar Resultados de la Prueba

El Esta funcin aade automticamente al informe de la prueba todos los datosy valores actuales en el momento en que se produce la seal de trigger (incluidoel trigger en los estados Reposicin y Pre-falta). Los datos se aaden al informede la prueba con ttulos con numeracin creciente (Prueba 1, Prueba 2) y sinevaluacin.


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Para cualquierinformacin en el Per:

Calle Bolognesi N 125 Lima 18 - Per Tel.: 51 1 6523572 / 6523573 Fax: 51 1 6380347 Email: [email protected] Web: www.ensys.pe

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RampingRamping

SoftwareSoftware


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Ramping

Page: 2Jun-10

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Ramping

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Generacin de rampas de amplitud, fase o frecuencia- Prueba automatizada utilizando

secuencias de rampa

- Rampas simultneas para dosvariables independientes.

- Duracin mnima del paso dehasta 1 ms

- Control visual de los valores desalida.

- Visualizacin de los resultadosde la prueba.

- Funcin de repeticin de laprueba con clculos estadsticos

- Clculos de relacin de losvalores de rampa.

- Funcin de Paso atrs

- Evaluacin automtica de losresultados.

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Ramping

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Barra De Herramientas

Ir al ltimo estado

Estado actual

Ir al siguiente estado

Ir al primer estadoIr al estado previo

Pausar la pruebaBorrar resultados de la prueba

Iniciar / Continuar pruebaParar prueba

Configurar Objeto en pruebaConfigurar Hardware

Activar Vista de DetalleActivar Vista de Medidas

Activar Vista del informeActivar Vista de la Prueba

Activar Vista de Oscilografa

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Ramping

Page: 5Jun-10

Ventanas de Ramping

Barra de Sobrecarga

7

7

Historial de estado

6

6

Entradas Binarias

5

5

Vista de Oscilografa

4

4

Vista de Medidas

3

3

Vista de Detalle

2

2

Vista de la prueba

1

1

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Ramping

Page: 6Jun-10

Vista de la PruebaVista de la Prueba

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Ramping

Page: 7Jun-10

Vista de DetalleVista de Detalle

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Ramping

Page: 8Jun-10

Vista de MedidasVista de Medidas

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Ramping

Page: 9Jun-10

Vista de OscilografiaVista de Oscilografia

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Ramping

Page: 10Jun-10

Prueba conPrueba con RampingRamping

IMPORTANTE:

Previamente a la realizacin de la prueba debe configurarse el Objeto y Hardware

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Ramping

Page: 11Jun-10 Page: 11Marzo - 2008

Prueba conPrueba con RampingRamping( continuacin)

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Ramping

Page: 12Jun-10

Prueba conPrueba con RampingRamping( continuacin)

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Ramping


Forzar Fases AbsolutasForzar Fases Absolutas

Forzar Fases Absolutas ActivadaLa rampa 2 comienza con el valor del ngulo de fase programado comoinicio de la rampa 2:

U1 = 0 .U2 = -120 yU3 = 120

Forzar Fases Absolutas DesactivadaLa rampa 2 comienza con un valor del ngulo de fase de:

U1 = 30 + 0 = 30.U2 comienza con -90 (en vez de -120) yU3 con 150 (en vez de 120)

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Ramping

Page: 14Jun-10

Forzar Fases AbsolutasForzar Fases Absolutas

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Ramping


FuncionFuncion Paso AtrsPaso Atrs

Tras la aparicin del trigger, la opcin Paso atrs inicia elsiguiente estado de la rampa de la siguiente manera:

Sirve para determinar el valor exacto del disparo con ms rapidez que si se usa una rampa con untamao del paso muy pequeo para el rango completo.

? Primero va hacia atrs con ? hasta el nivel en el cual se reviertela condicin del trigger (p. ej. el evento inicial del trigger ha sidoarrancar un contacto del rel que ya est repuesto de nuevo)

? Entonces se inicia el siguiente estado de rampa con un paso detamao diferente (generalmente ms pequeosignificativamente).

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OpcionOpcion RetardoRetardo despuesdespues deldel triggertriggerSi se ajusta el parmetro Retardo despus del trigger, se pospone el comienzo de la rampasiguiente por un tiempo t durante el cual se inyecta una seal esttica igual al valor en el momentodel trigger.

El retardo de tiempo puede ajustarse dentro de un rango desde 1 ms hasta 10056 s.

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Ramping

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RetardoRetardo despuesdespues deldel triggertrigger + Paso+ Paso AtrasAtrasSi se ajusta el parmetro Paso Atras y adems el parmetro Retardo despus del trigger, tenemos:

? Al producirse una senal de trigger para el estado actual, la rampa retrocede un paso.? Se inicia el tiempo de retardo, durante el cual se inyecta la seal esttica.? Una vez transcurrido el tiempo de retardo, se inicia el siguiente estado de rampa.





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State SequencerState Sequencer

SoftwareSoftwareOMICRON TEST UNIVERSEOMICRON TEST UNIVERSE

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State Sequencer

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State Sequencer

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Elaboracin de pruebas automaticas mediante secuencias de estado (especial paraprobar tiempos de actuacin).

? Prueba automatizada de cualquiertipo de falla u evento utilizandosecuencias de estado (pre-falta,falta, post-falta, etc)

? Permite probar todas lasfunciones de proteccin de unrel multifuncin, panel deproteccin, Subestacin, etc.

? Secuencias de mas de 500?estados

? Seal de disparo, inici por GPS.

? Control independiente de todaslas seales (magnitud, fase,frecuencia) por cada estado.

? Evaluacin automtica de losresultados.

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State Sequencer

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Ir al ltimo estado

Estado actualIr al sgte estado

Ir al primer estadoIr al estado previo

Pausar la pruebaBorrar resultados de la prueba

Iniciar / Continuar pruebaParar prueba

Configurar Objeto en pruebaConfigurar Hardware

Activar Vista de Detalle

Activar Vista del Diagrama Vectorial

Activar Vista de la Prueba

Activar Vista del Informe

Activar Vista de Impedancia

Activar CMGPS

Activar Vista de MedidasActivar Vista de Oscilografa

Encendido/Apagado (Salida Esttica)

Copiar estado actual

Eliminar estado actual

Bucle de Todos los Estados


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State Sequencer

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Ventanas deVentanas de StateState SequencerSequencer

Vista de la prueba

1

1

Historia de estado8

8

Vista de Detalle

2

2

Vista de Medidas

3

3


4

4

5

Diagrama vectorial5

Entradas Binarias

6

6

7

Barra de Sobrecarga7

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State Sequencer

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State Sequencer

Page: 7Jun-10

Vista de DetalleVista de Detalle

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State Sequencer

Page: 8Jun-10

Vista de MedidasVista de Medidas


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State Sequencer

Page: 9Jun-10

Vista deVista de OscilografiaOscilografia

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State Sequencer

Page: 10Jun-10

Vista del Diagrama Vectorial

Vista de Impedancia


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State Sequencer

Page: 11Jun-10

Secuencia de PruebaSecuencia de Prueba

IMPORTANTE:


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State Sequencer

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Secuencia de PruebaSecuencia de Prueba((continuacioncontinuacion))


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State Sequencer

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State Sequencer

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OvercurrentOvercurrent

SoftwareSoftware


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Prueba manual o automtica de reles direccionales y no direccionales con tiempodefinido y tiempo inverso, trmico I2t y curvas caractersticas definidas por el usuario

? Evaluacin automtica para cadapunto de prueba basada en latolerancia del tiempo de disparopredefinida.

? Prueba con o sin corriente decarga.

? Generacin automtica deinformes.

? Prueba con modelos de secuenciapositiva, negativa y cero.

? Visualizacin de la caractersticatiempo - corriente del rele

? Visualizacin grafica de losvalores de salida en diagramavectorial.

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Barra De HerramientasBarra De Herramientas

Pausar la prueba


Iniciar / Continuar prueba

Parar prueba


Configurar Hardware

Activar Vista del Diagrama Vectorial



Salida Esttica

Iniciar Prueba Individual

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Ventanas deVentanas de OvercurrentOvercurrent

Vista de la prueba

1

1

Diagrama Vectorial

2

2

3

Vista del informe3

4

4 Entradas Binarias

Historia de estado

6

6

55 Barra de Sobrecarga

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Vista de la CaractersticaVista de la Caracterstica

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Objeto en PruebaObjeto en Prueba

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??Punto de Estrella TC:Punto de Estrella TC:

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??Conexin del TP:Conexin del TP:


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ConfiguracionConfiguracion de los puntos de pruebade los puntos de prueba

??Punto a Punto:Punto a Punto:

??AadirAadir barridobarrido::

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ConfiguracionConfiguracion de los puntos de pruebade los puntos de prueba??GrficamenteGrficamente::

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EjecucionEjecucion de la Pruebade la Prueba -- Individual:Individual:

IMPORTANTE:


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EjecucionEjecucion de la Pruebade la Prueba SalidaSalida EstaticaEstatica::

IMPORTANTE:


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EjecucionEjecucion de la Pruebade la Prueba -- Barrido:Barrido:

IMPORTANTE:


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EjecucionEjecucion de la Prueba:de la Prueba:( continuacion)

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Evaluacin de la Prueba - Tolerancias:

Evaluacin de la Prueba - Simbolos:





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Advaced DistanceAdvaced Distance

SoftwareSoftware


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Permite definir de forma eficaz los documentos de prueba, para ejecutarlos automatizarlosy documentar los resultados. Proporciona las mismas caractersticas del ModuloDistance, al que se le han agregado funciones avanzadas.

? Evaluacin automtica para cadapunto de prueba basada en latolerancia de Impedancias y tiempode disparo predefinida.

? Representacin grafica y numricade los resultados

? Generacin automtica de informes.

? Prueba de todos los lazos de faltacon un solo click.

? Visualizacin de: caracterstica deoperacin, diagrama Z/t, diagramaVectorial, Oscilografia, etc para unmejor anlisis de los resultados.

? Modos de Disparo, Bsqueda yVerificacin de la caracterstica

? Ajuste de la impedancia comoporcentaje de los alcances de lazona.

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Pausar la prueba


Iniciar / Continuar prueba

Parar prueba


Configurar Hardware

Activar Vista de Diagrama Z/t



Iniciar Prueba Individual

Activar Vista de diagrama Vectorial

Activar Vista de Oscilografia

Salida Estatica


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Ventanas de Distance

1

Vista de la prueba1

2

Vista de Impedancia2

3 Diagrama vectorial

3

4 Diagrama Z/t

4

5

5 Entradas Binarias

7

Historia de estado7

6

6 Barra de Sobrecarga

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Page: 6

Objeto en Prueba?Dispositivo:


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Page: 7

Objeto en Prueba?Distance Ajustes del Sistema:Ajustes del Sistema:

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Page: 8

Objeto en Prueba?Distance Ajustes del Sistema:??Conexin del TP:Conexin del TP:

??Punto de Estrella TC:Punto de Estrella TC:


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Objeto en Prueba?Distance Ajustes del Sistema:??Tolerancias:Tolerancias:

Se usa el valor mximo derivado de la tolerancia de tiempo absoluta o relativa.

Para la tolerancia del tiempo de disparo se usa la mayor tolerancia de tiempo, ya sea, absoluta positiva(o negativa), o la relativa. La tolerancia de tiempo relativa real se determina para cada tiempo de disparoregistrado.

Para la tolerancia de la impedancia se usa la mayor tolerancia de la impedancia relativa y absoluta. Labanda de la tolerancia relativa real se determina para cada zona en el ngulo de la lnea. La toleranciams grande se aplica uniformemente (es decir, paralela a ambos lados y alrededor de la caractersticanominal) para producir la banda de tolerancia caracterstica

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Objeto en Prueba?Distance Ajustes del Sistema:??Factor de Puesta a Tierra:Factor de Puesta a Tierra:

El factor de puesta a tierra (o factor de compensacin de falta a tierra) compensa la diferencia entre lasimpedancias de falta a tierra y las impedancias de falta entre fases medidas por el rel. Es aplicablesolamente para las faltas monofsicas a tierra.

Seleccionar el modo correcto es decisivo e influye en aquellos puntos que no estn en el ngulo de la lnea

??Separar Resistencia de Arco:Separar Resistencia de Arco:Requerido para quellos rels que tratan la resistencia de arco por separado de la parte de impedancia de lalnea.


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Objeto en Prueba?Distance Ajustes de Zona:Ajustes de Zona:

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Objeto en Prueba

??ZonasZonas::?Distance Ajustes de Zona:

Zona de disparo Es el tipo ms comn. Tiene un tiempo de disparo correspondiente asociado.

Zona de inicio est normalmente fuera de todas las zonas de disparo. Tiene un tiempo de arranque asociado, quedispara el rel en un tiempo de reserva.

Zona extendida es similar a una zona de disparo; sin embargo, slo se activar si se selecciona la opcin Zonasextendidas activas en la pgina Prueba / Ajustes.

Zona de no-disparo se puede usar para indicar las zonas nicamente con carcter informativo o para definir lassecciones de una zona de disparo, donde no est permitido hacer disparos (p. ej., una zona concargas superpuestas).

Zona define qu zonas se corresponden. Si el mismo punto de prueba relativo se debe aplicar a un grupode zonas (p. ej. todas las fases y las caractersticas de falta a tierra de la zona X), es necesariodefinir qu caractersticas de falta a tierra y qu caractersticas de falta entre fases pertenecen a lazona X. Los identificadores de las zonas disponibles son: ZS1 ... ZSn Zonas de inicio, Z1 ... ZnZonas de disparo, ZE1 ... ZEn Zonas extendidas, y ZN1 ... ZNn Zonas de no disparo.

Etiqueta Designacin de la zona individual usada para una identificacin de aplicacin relacionada.

Bucle de falta Especifica los tipos de falta para los cuales son vlidos los ajustes. Es posible especificar ajustesdiferentes para cada bucle de falta de una zona.

La lista de zonas contiene todas las zonas especificadas para todos los bucles de falta.

Para aadir una zona nueva, haga clic en el botn "Nuevo". Para eliminar una zona seleccionada, haga clic en elbotn "Eliminar Para editar los parmetros, o modificar la caracterstica de la zona seleccionada, haga clic en elbotn Edicin....


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Objeto en Prueba

??Detalles de la zonasDetalles de la zonas::?Distance Ajustes de Zona:

Introduzca el Tiempo de disparo para la zona seleccionada. Adems de la banda de tolerancia ajustada en la pginaAjustes del sistema, que es vlida para todas las zonas, la tolerancia se puede modificar aqu para cada zona.

Para las tolerancias de una zona, los ajustes globales se toman como valores por defecto. Si una zona requiere unajuste de tolerancia especfico, active la casilla de verificacin correspondiente y luego introduzca el valor que desee.

??Caracteristica de la zonasCaracteristica de la zonas::Las caractersticas de una zona pueden consistir en n combinaciones de elementos de lnea, crculo o arco.

Estn disponibles los siguientes tipos de elementos: Lnea definida en coordenadas cartesianas: especificada

por medio de un ngulo en grados () y un punto en la lnea.El punto se define por medio del valor X y el valor R, ambosen ohmios.

Lnea definida en coordenadas polares:especificada pormedio de un ngulo en grados () y un punto en la lnea. Elpunto se define por el valor absoluto |Z| en ohmios y el nguloPhi en grados.

Circulo:define un crculo por el centro del mismo y su radio. Elcentro se puede definir en coordenadas polares (arco polar)con |Z| y Phi, o con R y X en coordenadas cartesianas (arcorectangular). Si se tiene que definir un arco, es necesarioespecificar un ngulo inicial y uno final.

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Objeto en Prueba

??Caracteristicas predefinidasCaracteristicas predefinidas -- Mho:Mho:?Distance Ajustes de Zona:

La caracterstica se especifica como un crculo con radio r = (Alcance hacia adelante + Offset)/2. El centro del crculoM = (Alcance hacia adelante - Offset)/2, que se encuentra en la lnea especificada por el ngulo del rel de lacaracterstica.

Alcance alcance (en ohmios) hacia la lnea

Offset alcance (en ohmios) hacia la barra.

ngulo ngulo del rel de la caracterstica, en grados ().


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Objeto en Prueba

??Caracteristicas predefinidasCaracteristicas predefinidas -- Poligonal:Poligonal:?Distance Ajustes de Zona:

La caracterstica poligonal o de cuadriltero ofrece ms flexibilidad en la simulacin independiente del alcancereactivo y resistivo. El polgono bsico se basa en 4 lneas combinadas. Se pueden introducir las lneas individualesen formato polar o cartesiano.Se pueden aadir ms elementos de lnea si lacaracterstica consta de ms elementos de lnea. Loselementos de lnea tienen que introducirseconsecutivamente, en sentido de las agujas del reloj,alrededor de una caracterstica, de forma que elsoftware calcule correctamente los puntos deinterseccin.

Si es necesario definir una caracterstica cerrada,seleccione Cerrar figura. Esto garantiza que el ltimoelemento de la lista se configura automticamentecomo si la caracterstica estuviera cerrada.

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Objeto en Prueba

??Caracteristicas predefinidasCaracteristicas predefinidas Lente o Tomate:Lente o Tomate:?Distance Ajustes de Zona:

La caracterstica lentes permite en concreto una mejor adaptacin a un rea ms grande comparada con laimpedancia pura o caracterstica Offset-MHO.

Alcance alcance (en ohmios) hacia adelante (linea).

Offset alcance (en ohmios) hacia la barra.

ngulo ngulo del rel de la caracterstica, en grados ().

Ancho A ancho de la caracterstica (en ohmios)

A/B relacin de A con la longitud B = alcance + offset


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Vista de Diagrama Vectorial

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Vista de Diagrama Z/t


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Vista de la Prueba?Prueba de disparo:

Resultado de la Prueba

Impedancia de PruebaImpedancia porcentual relativaZona de referenciaTiempo nominal de OperacinTiempo real de OperacinDesviacin de la pruebaTiempo Mn y Mx. de operacinTipo de Prueba (Vcte, Icte, Zcte)

Lazo de falta actual

La Prueba de Disparo de AdvacedDistance permite procesarsecuencialmente los puntos deprueba definidos en el plano deimpedancia para verificar lacorrecta operacin de Reles deDistancia


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Vista de la Prueba??Prueba de disparoPrueba de disparo Configuracin de la Prueba:?Mediante el Teclado:??Punto a Punto al tipo de falta visualizado:Punto a Punto al tipo de falta visualizado:

??Punto a Punto a cualquier tipo de falta:Punto a Punto a cualquier tipo de falta:

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Vista de la Prueba??Prueba de disparoPrueba de disparo Configuracin de la Prueba:?Grficamente:


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Vista de la Prueba?Prueba de Verificacin:


Impedancia del Punto de Origen

Longitud relativa de la Linea de Verificacin

Zona de referencia


En la Prueba de Verificacin deAdvaced Distance, los puntos de pruebase establecen automticamente en loslmites de tolerancia de las zonas,posibilitando una rpida verificacin delcumplimiento de las especificaciones, loque es muy til durante las pruebas derutina

Angulo de la Lnea de Verificacin

Longitud de la Lnea de Verificacin

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Vista de la Prueba??Prueba dePrueba de VerificacinVerificacin Configuracin de la Prueba:?Numricamente??Punto a Punto al tipo de falta visualizado:Punto a Punto al tipo de falta visualizado:

??Punto a Punto a cualquier tipo de faltaPunto a Punto a cualquier tipo de falta


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Vista de la Prueba??Prueba dePrueba de VerificacinVerificacin Configuracin de la Prueba:?Numricamente??Secuencia de Prueba:Secuencia de Prueba:

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Vista de la Prueba??Prueba dePrueba de VerificacinVerificacin Configuracin de la Prueba:?Grficamente en el Plano de Impedancia

??Para aadir una lnea de prueba a la Lista dePara aadir una lnea de prueba a la Lista deprueba, pulsar y con el botn izquierdoprueba, pulsar y con el botn izquierdodel mouse pulsado arrastrar una lnea dedel mouse pulsado arrastrar una lnea deprueba con el ngulo y longitud deseado.prueba con el ngulo y longitud deseado.

??Para ejecutar una prueba de verificacinPara ejecutar una prueba de verificacinindividual, pulsar y con el botnindividual, pulsar y con el botnizquierdo del mouse pulsado arrastrar unaizquierdo del mouse pulsado arrastrar unalnea de prueba con el ngulo y longitudlnea de prueba con el ngulo y longituddeseado. La prueba se inicia apenas se dejedeseado. La prueba se inicia apenas se dejede pulsar el botn izquierdo del mouse.de pulsar el botn izquierdo del mouse.


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Vista de la Prueba?Prueba de Busqueda


Impedancia del Punto de Origen

Longitud relativa de la Linea de VerificacinZona de referencia


Con la Prueba de Busqueda deAdvaced Distance, se puede determinarautomticamente el alcance exacto delas zonas individuales.

Para ello se aplica varios disparos a lolargo de una lnea de bsqueda. Elnmero de disparos se calculaautomticamente utilizando laresolucin de bsqueda (ver ajustes).

Angulo de la Lnea de VerificacinLongitud de la Lnea de Verificacin

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Vista de la Prueba??Prueba dePrueba de BusquedaBusqueda Configuracin de la Prueba:?Numricamente??Punto a Punto al tipo de falta visualizado:Punto a Punto al tipo de falta visualizado:

??Punto a Punto a cualquier tipo de faltaPunto a Punto a cualquier tipo de falta


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Vista de la Prueba??Prueba dePrueba de BusquedaBusqueda Configuracin de la Prueba:?Numricamente??Secuencia de Prueba:Secuencia de Prueba:

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Vista de la Prueba??Prueba dePrueba de BusquedaBusqueda Configuracin de la Prueba:?Grficamente en el Plano de Impedancia

??ParaPara aadiraadir unauna lnealnea dede BsquedaBsqueda aa lalaListaLista dede lneaslneas dede bsqueda,bsqueda, hagahaga unun clicclicizquierdoizquierdo ++ arrastrearrastre elel ratnratn parapara definirdefinirunauna lnealnea dede bsquedabsqueda partiendopartiendo deldelpuntopunto dede origenorigen hastahasta lala longitudlongituddeseadadeseada.. UtiliceUtilice AadirAadir parapara aadiraadir lalaposicinposicin enen lala listalista dede lneaslneas dede bsquedabsqueda..

??ParaPara aadiraadir directamentedirectamente unauna lnealnea dedebsquedabsqueda aa lala lista,lista, presionepresione CtrlCtrl ++ clicclicizquierdoizquierdo ++ arrastrearrastre elel ratnratn desdedesde elelorigenorigen hastahasta lala longitudlongitud deseadadeseada parapara lalabsquedabsqueda


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Vista de la Prueba?Ajustes:

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Vista de la Prueba?Ajustes:

La bsqueda para la impedancia de bsqueda actual se para, si la diferencia en laimpedancia entre dos disparos consecutivos, ambos identificados en zonasdiferentes, es menor que la resolucin de bsqueda ajustada

El ajuste de la corriente de carga tiene como finalidad verificar el comportamiento excepcional de determinadosreles (Ejem. SEL 421) que reaccionan de forma diferente si hay corrientes durante la pre-falta.Cuando se activa la corriente de carga, esta se aplica durante toda la secuencia de prueba (pre-falta y falta),durante la falta la corriente de carga se superpone a las magnitudes de falta.

Al ejecutar una prueba de bsqueda de caractersticas nominales conocidas, los disparos iniciales que sebuscan para los alcances de zona estn situados en los lmites de tolerancia de los alcances de zona.

Si no se conocen caractersticas nominales del rel, entonces los disparos iniciales estn situados a distanciasfijas de intervalos de bsqueda sobre la lnea de bsqueda. Si se espera un alcance de zona entre dos disparos,entonces se prueba desde la resolucin de bsqueda especificada.

Incluso si hay zonas definidas para un rel, se puede usar la opcin para ignorar las caractersticas, a fin dealcanzar el mismo comportamiento que con caractersticas desconocidas.


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Vista de la Prueba?Trigger:

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Advaced DifferentialAdvaced Differential

SoftwareSoftware


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Advanced Differential

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El software Advanced Differential es una familia de mdulos de prueba para verificar losrels diferenciales de proteccin. Se han creado mdulos de prueba especficos paraprobar caractersticas especficas de un rel diferencial.

?? Diff ConfigurationDiff Configuration sirve principalmente para poner en servicio sistemas diferenciales deproteccin, o para encontrar una falta de la configuracin o del cableado. Con este mdulose pueden detectar y corregir todas las faltas que estn ubicadas en el bastidor deproteccin (incluidos los transformadores interpuestos).

?? Diff Operating CharacteristicDiff Operating Characteristic se usa para verificar la funcin adecuada de la caractersticade operacin de la proteccin diferencial. Este mdulo prueba la capacidad del rel paradiferenciar entre faltas dentro de la zona protegida y faltas fuera de esas zonas usandolas tolerancias del dispositivo de proteccin.

?? Diff Trip Time CharacteristicDiff Trip Time Characteristic verifica si los tiempos de disparo de la proteccin diferencialestn dentro de las bandas de tolerancia.El mdulo de prueba ofrece la posibilidad de determinar el tiempo de disparo para un parde valores Idiff / Ipol determinado.

?? Diff Harmonic RestraintDiff Harmonic Restraint se usa para verificar el comportamiento correcto del rel defrenado por armnicos de la proteccin diferencial, por ejemplo, en las funciones del relde avalancha y sobreflujo/sobrexcitacin.La prueba tiene por objeto verificar los parmetros de la caracterstica de frenado porarmnicos ixf = f(Idiff).

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Objeto en Prueba

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Objeto en Prueba

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Objeto en Prueba

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Objeto en Prueba

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Objeto en Prueba?Differential Ficha Disp. De Proteccin:Ficha Disp. De Proteccin:

El clculo de la corriente de polarizacin se trata de distintas maneras por los diferentes fabricantes de rels:Mtodo Fabricante(|Ip|+|Is|)/K1 Serie de rels digitales Siemens 7UT51..., K1=1

Serie de rels digitales GEC KBCH..., K1=2SEL serie de rels digitales Schweitzer SEL5..., K1=2

(Ip+Is)/K1 Serie de rels digitales AEG PQ7...: K1=2Varios rels convencionales: K1=1

(|Ip|+|Is|*K2)/K1 Rel digital GE Multilin SR 745K2 por el momento fijado en 1, K1=2 y para transformadores de tres devanados K1=3

mx (|Ip|, |Is|) Serie de rels digitales ELIN DRS...: K1=1

La funcin Duracin mx. prueba. restringe el tiempo mximo de prueba para proteger el rel.

Tiempo de retardo es el tiempo entre pruebas sucesivas que necesita el rel para su rearme.

La eliminacin de homopolar es relevante solamente para faltas monofsicas. Se puede ajustar tambin como:IL - I0: Corriente de lnea corriente homopolarTransformador interpuesto YDTransformador interpuesto YDYninguno

Para probar el comportamiento sin eliminar el homopolar, se debe ajustar ninguno.

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Objeto en Prueba

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Objeto en Prueba

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El mdulo Diff Configurationprueba el cableado y laconfiguracin del equipo enprueba mediante la simulacinde faltas localizadas fuera dela zona protegida.

Si, no obstante, en un caso deprueba de este tipo el reldispara, esto indica un errorde la configuracin o delcableado dentro del bastidorde proteccin.

Diff Configuration

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Ventana Datos de PruebaEn esta ventana se introducen los valores Ipru para los cuales se tiene que realizar un paso de prueba.Se puede aadir puntos de prueba, para ellos introdzcalos en el campo Ipru y luego haga click en elboton Aadir. Se puede aadir una secuencia de puntos de prueba pulsando el botn Aadir barrido

Diff Configuration

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Ventana PruebaDiff Configuration

Aqu se configura los valores que el operador va a leer/medir e introducir en los campos de entradadurante la prueba. Los campos de entrada cambian dependiendo del tipo de datos seleccionado.Los datos introducidos son almacenados e incluidos en el informe.

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Ventana GeneralDiff Configuration

Aqu se configura que devanados deben probarse, cal es el lado de falta y cual es el lado de suministro,la corriente de carga y el tiempo mximo de la prueba.Todas las pruebas son posibles cuando esta implicado el devanado primario. Por lo tanto, resultan dosposibilidades de prueba para transformadores de dos devanados y cuatro para transformadores de tresdevanados.

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Ventana Salida BinariaDiff Configuration

Aqu se configura la posicin de las salidas binarias habilitadas en la opcin de hardware.

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1. Ajuste los parmetros de Equipo en prueba

2. Ajuste la Configuracin del hardware

3. Opcionalmente, Si el equipo protegido es un transformador de tres devanados:Asegrese de que en la ficha General de los parmetros de la prueba DiffConfiguration la direccin de la prueba y los devanados incluidos en la mismase hayan ajustado correctamente.

4. Opcionalmente, Ajuste un tiempo de prueba mximo en la ficha General parael proceso de prueba. Este parmetro acta como proteccin para el rel.

5. En la ficha Datos de prueba , defina puntos de prueba (corrientes de falta Ipru)y el tipo de falta que desee.

Ejecucin de la PruebaEjecucin de la PruebaDiff Configuration

6. Inicie la prueba con Prueba.Los puntos de prueba de la tabla se ejecutan. Las corrientes correspondientesse muestran en el diagrama.

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8. Ajuste los parmetros de Equipo en prueba Evale el resultado en lasfichas Prueba o Datos de prueba como "correcto" o "incorrecto".

10. Puede ver los vectores de corriente cambiando al diagrama vectorial

Ejecucin de la PruebaEjecucin de la PruebaDiff Configuration

11. Podr ver el informe cambiando a la vista Informe

9. Repita estos procedimientos hasta que probar todos los puntos de prueba.

7. Opcionalmente, Si el informe debe contener las corrientes del lado primario odel secundario, o las corrientes diferenciales y de polaridad: Introduzca losvalores de corriente que se leen o miden en el rel en la ficha Prueba.

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La caracterstica de operacin seprueba simulando faltas dentro yfuera de la zona protegida.

Existen dos modos de prueba: Modo de prueba de disparo Modo de prueba de bsqueda

Los puntos de la pruebadeterminan los disparos o lasbsquedas.

Diff Operating Characteristic

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Diff Operating CharacteristicVentana Prueba de DisparoLos puntos de prueba (par de valores Idiff/Ipol) se introducen en la tabla y el software mide e introduce los

tiempos de actuacin tact

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Diff Operating CharacteristicVentana Prueba de busquedaSe configura los puntos de prueba en funcin de Ipol para un par de valores Idiff/Ipol y el softwaremide e introduce los valoresde Idiff encontrados en la prueba de bsqueda.

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Diff Operating CharacteristicVentana GeneralAqu se configura si se ha de considerar o no la caracterstica nominal del rele bajo prueba, lacorriente y el tiempo de pre-falta, la condicin del trigger, etc.

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Diff Operating CharacteristicVentana Salida binariaAqu se configura la posicin de las salidas binarias habilitadas en la opcin de hardware.

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1. Ajuste los parmetros de Equipo en prueba2. Ajuste la Configuracin del hardware

3. Opcionalmente, Si el equipo protegido es un transformador de tres devanados:Asegrese de que en la ficha General de los parmetros de la prueba DiffOperating Characteristic la direccin de la prueba y los devanados incluidos enla misma se hayan ajustado correctamente.

4. Opcionalmente, En la ficha General de los parmetros de la prueba, ajuste unestado pre-falta (indique el "t de pre-falta" y la "I de pre-falta)

5. En la ficha Prueba de Disparo , especifique los puntos de prueba (pares devalores Idiff/Ipol) y el tipo de falta de inters.

6. Inicie la prueba con Prueba.Los puntos de prueba de la tabla se ejecutan. Las corrientes correspondientesse resaltan en el diagrama.

7. Es posible realizar la prueba de un punto individual o una salida esttica


Diff Operating CharacteristicEjecucin de la Prueba en el Modo de Disparo

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5. En la ficha Prueba de Busqueda , especifique los puntos de prueba (Ipol), eltipo de falta de inters y la resolucin de bsqueda deseada

6. Inicie la prueba con Prueba.Los puntos de prueba de la tabla se ejecutan. Se prueba la lnea Ipolcorrespondiente con diferentes valores Idiff en el grfico.



Diff Operating CharacteristicEjecucin de la Prueba en el Modo de Busqueda

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La prueba de caracterstica deltiempo de disparo abarca las faltasde simulacin dentro y fuera de lazona protegida. Por lo tanto, setoman en cuenta las tolerancias deldispositivo introducidas.Usando la tabla de la prueba, seprueban puntos especficos de lacaracterstica de operacin parasus tiempos de disparo.La prueba se presenta a lo largo dela lnea de prueba en el planoIdiff/Ipol.Una corriente diferencial Idiffespecifica cada punto de pruebaindividual. El valor correspondienteIpol resulta de la posicin de lalnea de prueba. Para cada puntode prueba, el tiempo de disparo semide y se evala.

Diff Trip Time Characteristic

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Diff Trip Time CharacteristicVentana PruebaLos puntos de prueba (par de valores Idiff/Ipol) se introducen a partir del ingreso de la Idiff en la tablade prueba y el software mide e introduce los tiempos de disparo.

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Diff Trip Time CharacteristicVentana GeneralAqu se configura si se ha de considerar o no la Corriente de pre-falla, la pendiente de la linea deprueba y la condicin del trigger.

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Diff Trip Time CharacteristicVentana FactoresAqu se configura si se ha de considerar o no factores de tolerancia y lo svalores de estos. Estosvalores reemplazan a los valores configurados en el Objeto de Prueba.

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Diff Trip Time CharacteristicVentana Salida binariaAqu se configura la posicin de las salidas binarias habilitadas en la opcin de hardware.

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5. Si se desea ajustar tolerancias especiales para esta prueba, en la fichaFactores , ajuste los factores de Idiff y tdiff y active Usar factores deevaluacin. (Nota: estos factores reemplazan a las tolerancias del dispositivoajustadas globalmente).

6. Ajuste la "Pendiente de la lnea de prueba" en la ficha General . (Pendiente dela lnea de prueba = Idiff/Ipol).

7. En la ficha Prueba, especifique los puntos de prueba (valores "Idiff") y el Tipode falta que desee.

Diff Trip Time CharacteristicEjecucin de la Prueba

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6. Inicie la prueba con Prueba.Acto seguido se ejecutarn los puntos de prueba de la tabla de prueba,resaltndose en el grfico los puntos correspondientes



Diff Trip Time CharacteristicEjecucin de la Prueba

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Diff Harmonic RestraintEsta prueba esta proyectadapara determinar la habilidaddel rel diferencial parabloquear el disparo bajocondiciones de energizacindel transformador u otrasposibles condiciones delsistema.Las corrientes de prueba seinyectan nicamente en eldevanado de referencia.Existen dos modos deprueba: Prueba de disparo Prueba de bsqueda

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Diff Harmonic RestraintVentana Prueba de disparoLos puntos de prueba (par de valores Idiff/Ipol) se introducen a partir del ingreso de la Idiff enla tabla de prueba y el software mide e introduce los tiempos de disparo.

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Diff Harmonic RestraintVentana Prueba de busquedaSe configura los puntos de prueba en funcin de Idiff para un par de valores Idiff/Ipol y el softwaremide e introduce la relacin actual entre el armnico seleccionado y la corriente diferencial (Idiff)

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Diff Harmonic RestraintVentana GeneralAqu se configura si se ha de considerar tiempo de post-falta, asi como la condicin del trigger.

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Diff Harmonic RestraintVentana Salida binariaAqu se configura la posicin de las salidas binarias habilitadas en la opcin de hardware.

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3. En la ficha Disparo especifique:? Idiff , El valor Idiff nominal (la corriente diferencial nominal).? "Ixf/Idiff, El valor Ixf/Idiff nominal (relacin nominal entre la corriente del

armnico seleccionado y la corriente diferencial).? "ngulo (Ixf,Idiff), El ngulo de desfase entre lxf e Idff.

4. Seleccione la fase que se va a probar.5. Seleccione el armnico que desee

Nota: El armnico seleccionado se aplica a todas las lneas de la tabla depuntos de prueba; es decir, los armnicos slo se pueden probar de uno enuno).

Diff Harmonic RestraintEjecucin de la Prueba en el Modo de Prueba de Disparo

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Diff Harmonic RestraintEjecucin de la Prueba en el Modo de Prueba de Disparo




9. Opcionalmente:

? En la ficha General , puede especificarse una post-falta. Si se deseaajustar un tiempo de post-falta, introduzca el valor correspondiente en elcuadro de texto "Tiempo de post-falta" y seleccione "Aplicar".

? Caso sea requerido, es posible definir el mismo punto de prueba / la mismalnea de bsqueda usando un desfase diferente para el armnico.

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3. En la ficha Disparo especifique:? Idiff , El valor Idiff (lnea de bsqueda como la relacin de la corriente de

un determinado armnico con la corriente diferencial).? Res. Busqueda, Resolucin de bsqueda (Un punto de la caracterstica se

considera "encontrado" cuando un valor Ixf/Idiff que provoca el disparo delrel y otro valor en el cual no dispara estn ms cerca uno de otro de lo quese ha definido en la resolucin de bsqueda)

? "ngulo (Ixf,Idiff), El ngulo de desfase entre lxf e Idff.4. Seleccione la fase que se va a probar.5. Seleccione el armnico que desee

Nota: El armnico seleccionado se aplica a todas las lneas de la tabla depuntos de prueba; es decir, los armnicos slo se pueden probar de uno enuno).

Diff Harmonic RestraintEjecucin de la Prueba en el Modo de Prueba de Busqueda

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9. Opcionalmente:

? En la ficha General , puede especificarse una post-falta. Si se deseaajustar un tiempo de post-falta, introduzca el valor correspondiente en elcuadro de texto "Tiempo de post-falta" y seleccione "Aplicar".

? Caso sea requerido, es posible definir el mismo punto de prueba / la mismalnea de bsqueda usando un desfase diferente para el armnico.

Diff Harmonic RestraintEjecucin de la Prueba en el Modo de Prueba de Busqueda


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Advaced TransplayAdvaced Transplay

SoftwareSoftware


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Advanced Transplay

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Se usa para importar, editar e inyectar datos transitorios a un equipo en prueba. Estosdatos transitorios son creados a partir de eventos reales o simuladas anticipadamente.

? Con cada canal analgico, se puedeintroducir la potencia detransformacin del convertidor paraposibilitar un cambio de escala yconvertir los datos primarios ensecundarios.

? Se pueden insertar repeticiones deuna o toda la seal

? Se pueden asignar marcadores deestado al registro de datos, porejemplo, para identificar pre-faltasy faltas

? Pueden aadirse y aplicarseseales binarias definidas por elusuario al equipo en prueba outilizarse para la evaluacin de laprueba.

? Archivos soportados: Comtrade,PL4, TRF

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El mdulo Advanced Transplay, proporciona cuatro vistas diferentes, que son:

?? Vista de Detalle:Vista de Detalle: En esta vista se realizan todos los ajustes necesarios para la ejecucin dela prueba. Se asigna las seales analgicas transitorias a los canales analgicos dela CMC,se interconectan las seales binarias y se definen las condiciones de trigger.

?? Oscilografa:Oscilografa: Esta vista se activa una vez que se haya cargado (importado) un registro dedatos. La vista presenta las corrientes y tensiones transitorias, las seales binarias, etc.Es en esta vista que se puede editar los registros de datos y adaptarlos segn la pruebaplaneada. Por ejemplo: Repetir secciones de la oscilografa, insertar marcadores deestado, insertar nuevas seales binarias, etc.

?? Medidas:Medidas: En esta vista se definen los valores nominales para las medidas de tiempo.Durante la prueba, cada condicin de medida se analiza respecto a su tolerancia y seevalua como correcta o incorrecta.

?? Informe:Informe: presenta los resultados de la prueba. El contenido de esta vista puede serdefinido por el usuario o se puede usar los ajustes estndar.

Vistas disponibles


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Vistas de DetalleSalidas analgicas Salidas Binarias

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Vistas de DetalleTrigger General


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Vistas de Oscilografa

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Vistas de Oscilografa


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Vistas de Medidas

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Ejecucin de la Prueba

Importar un registro de datos:Para importar un registro de datos se debe:Seleccione Archivo | Importar... para abrir el cuadro de dilogo estndar que se utiliza para seleccionar un archivo.Busque el archivo en la carpeta correspondiente, mrquelo y luego haga clic en Aceptar.Resultado: Se carga el registro de datos y aparece la oscilografa con las seales transitorias.

Cambiar la salida anlgica para una seal de un registro de datos:Se puede cambiar el bloque de cableado de las seales transitorias que conecta con las salidas analgicas del CMCen Detalle | Salidas analgicas.Haga clic en la casilla para la que se quiere cambiar el bloque de cableado.En la lista desplegable, seleccione la seal deseada.

Cambiar la frecuencia de muestreo:La frecuencia de muestreo que debe utilizarse para la salida de los datos transitorios se puede cambiar enDetalle | General.La frecuencia de muestreo original es el ajuste por defecto. Se indica este valor y tambin la frecuencia demuestreo mxima posible.En el cuadro de texto situado al lado de "Usada", introduzca la frecuencia de muestreo que le interese. Se permitentodos los valores inferiores a la frecuencia de muestreo mxima.


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Ejecucin de la PruebaAjustar la Condicin de Trigger:Especificando las condiciones del trigger se determina el momento de iniciar la emisin de los datos transitorios.Este ajuste se hace en Detalle | Trigger.En el cuadro superior, seleccione una condicin de trigger activando la casilla de verificacin situada al lado de lacondicin de trigger.Si se ha seleccionado trigger binario, con cada entrada binaria, seleccione el estado requerido en la listadesplegable de los estados disponibles (la ruta de las entradas binarias se ha tomado de Configuracin delhardware | Entradas binarias). Un 1 indica una seal binaria "activa", un 0 una seal binaria "inactiva" y X indicaque la seal de ese canal se desestima en la comparacin lgica.Seleccione si los ajustes deben relacionarse por medio de un operador lgico AND u OR haciendo clic en el botnde radio situado junto a la condicin requerida.

Realizando Repeticiones de Pruebas:Realizar repeticiones de pruebas significa que la lectura de los datos transitorios para el equipo en prueba serealiza varias veces seguidas. Con cada repeticin, se verifican las condiciones de la medida y se evala la pruebaotra vez.En Detalle | General introduzca el nmero de repeticiones. 0 x significa que no se efectan repeticiones. Por tanto,la prueba slo se ejecuta una vez. El nmero de repeticiones est limitado a 999.Se pueden visualizar los resultados de las pruebas individuales en los "resultados de la prueba" del modooscilografa, introduciendo la repeticin deseada en el campo "N de medidas".

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Ejecucin de la PruebaInsertar Marcadores de Estado:En el oscilograma, los marcadores de estado se ajustan para sealar momentos especficos, p. ej. cambios deestado. Estos marcadores se pueden utilizar entonces para la definicin de las condiciones de la medida en la vistaMedidas.En el oscilograma, active el modo "expandido" y mueva el Cursor 1 a la posicin donde debe ajustarse el marcadorde estado.Seleccione Edicin | Insertar un marcador de estado para abrir el cuadro de dilogo "Marcadores de estado".En el campo Nombre, introduzca el nombre del marcador de estado y verifique el momento especificado. Acontinuacin puede editarlo en el campo.Haga clic en "Aceptar" para cerrar el cuadro de dilogo.

Insertar Marcadores de Datos Tipo Repeticin:En el oscilograma, active el modo "original" y seleccione el rango de tiempo que desea con los cursores (tenga encuenta que el Cursor 1 marca el principio y el Cursor 2 el fin del rango).Seleccione Edicin | Insertar la repeticin... para abrir el cuadro de dilogo.En el campo Nombre introduzca el nombre de la repeticin y compruebe que las posiciones de los cursores definencorrectamente el principio y la duracin. De no ser as, se pueden editar en el campo.Introduzca el nmero de repeticiones. El valor por defecto es 1x; es decir, el rango se emite una vez repetido.Haga clic en "Aceptar" para cerrar el cuadro de dilogo.


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Ejecucin de la PruebaDefinir Seales Binarias:Se pueden definir seales binarias, por ejemplo, para aplicarlas al equipo en prueba, o para utilizarlas como sealde referencia para la definicin de condiciones de medida en Medidas.En el oscilograma, active el modo "expandido" y mueva el Cursor 1 y 2 a las posiciones de tiempo donde la sealbinaria ha de alternar su estado (posteriormente se pueden definir otros cambios de lmite).Seleccione Edicin | Insertar la seal binaria... para abrir el cuadro de dilogo "Seales binarias".

En el campo Nombre introduzca el nombre de la seal binaria y establezca qu estado debera tener la seal dentrodel rango incluido entre los cursores.Como el cuadro de dilogo es "no modal" se mantiene abierto hasta hacer clic en "Cancelar". Por esta razn, sepueden definir otros cambios en los lmites en la oscilografa cambiando las posiciones de los cursores yajustando el rango incluido a "cero" o "uno".

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Ejecucin de la Prueba

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HerramientasHerramientas de pruebade prueba

SoftwareSoftware



TransplayTransplay

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Reproduccin de Transitorios.

? Transplay soporta formatosCOMTRADE de IEEE y WAV

? Capacidad de sincronizacin pormedio de una seal de iniciproveniente de un GPS.

? Permite cargar y reproducirarchivos de transitorios quecontienen formas de onda detensin y corriente.

? Prueba de reles con fallas realescapturadas por un registrador defallas digital o prueba contransitorios generados por unprograma de simulacin (EMTP).

TransplayTransplay



Ayuda

Guardar lista de archivos

Ver seal

Reproducir archivos

Temas de ayuda

Abrir lista de archivos

Configuracin del Hardware

Propiedades

TransplayTransplay

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Ventanas :

Vista de la prueba1

1Vista de Seal2

2

3 Vista de propiedades

3

TransplayTransplay


Prueba :TransplayTransplay

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EnerLyzerEnerLyzer


Multmetro de parmetros elctricos .

? Permite configurar las entradasbinarias 6, 8 y 10 de la CMC 256para convertirlas en entradasbinarias, o entradas analgicaspara medir tensiones ocorrientes.

Nota:? Opcionalmente puede adquirirse la

licencia completa del mduloEnerlyzer que permite a la CMCser utilizada como:

? Registrador de perturbaciones.? Registrador de tendencias.? Analizador de calidad de energa.? Etc.

EnerLyzerEnerLyzer

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Parar

Configuracin de Entradas

Aadir al Informe

Borrar InformeIniciar

Configuracin del Hardware

Configuracin del Trigger de Tiempo

Ver Informe

Anlisis de Armnicos

Valores Secundarios

Modo Multmetro

Registrador de Transit.

Valores Primarios

Registrador de Tendencias

EnerLyzerEnerLyzer


Configuracin de EntradasEnerLyzerEnerLyzer

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HarmonicsHarmonics


Generacin de armnicos con frecuencia de hasta 1000 Hz con armnicos pares e impareshasta el 16avo armnico para 60 Hz y 20avo armnicos para 50 Hz.

? Incluye un temporizador quearranca en el momento deinicio de la inyeccin armnicay se detiene con un evento detrigger.

? Indicacin de la DistorsinArmnica Total de la sealgenerada para cada canal.

? Generacin directa de sealesanalgicas o generacin dearchivos COMTRADE.

? Inyeccin de la sealcompuesta por tres estados:Pre-seal, Seal y Post-seal.

HarmonicsHarmonics

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Iniciar prueba

Guardar

Tiempo en segundos

Abrir

Tiempo en ciclos

Configurar Hardware

Encendido / Apagado (salida esttica)

Nuevo

Pausar prueba

Borrar prueba

HarmonicsHarmonics


Ventanas :

Entradas Binarias2

2

3 Barra de Sobrecarga 3

Vista de la prueba1

11

HarmonicsHarmonics

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Prueba :

HarmonicsHarmonic

omicron test universe.pdf

Documents

mdulo de pruebamdulo

prueba advadv

v tpica

v garantizada

dems salidas

hardwarehardwareensys

prueba quickcmcquickcmc4

prueba rampingramping5