kontakt: materialanalytik anwenderzentrum material- und ... · materialanalytik kontakt:...

2
Materialanalytik Kontakt: Anwenderzentrum Material- und Umweltforschung (AMU) Universität Augsburg Bereich Auftragsanalytik & Engineering (AAE) im TZA Am Technologiezentrum 5 86159 Augsburg Ansprechpartner Dr. Timo Körner / M.Eng. Christian Oblinger Mail: [email protected] Tel.: 0821 - 80903045 Weitere Informationen finden Sie unter: www.amu.uni-augsburg.de

Upload: vucong

Post on 12-Aug-2019

237 views

Category:

Documents


0 download

TRANSCRIPT

Page 1: Kontakt: Materialanalytik Anwenderzentrum Material- und ... · Materialanalytik Kontakt: Anwenderzentrum Material- und Umweltforschung (AMU) Universität Augsburg Bereich Auftragsanalytik

MaterialanalytikKontakt:

Anwenderzentrum Material- und Umweltforschung (AMU)Universität AugsburgBereich Auftragsanalytik & Engineering (AAE) im TZAAm Technologiezentrum 586159 Augsburg

AnsprechpartnerDr. Timo Körner / M.Eng. Christian OblingerMail: [email protected].: 0821 - 80903045

Weitere Informationen fi nden Sie unter:www.amu.uni-augsburg.de

Page 2: Kontakt: Materialanalytik Anwenderzentrum Material- und ... · Materialanalytik Kontakt: Anwenderzentrum Material- und Umweltforschung (AMU) Universität Augsburg Bereich Auftragsanalytik

Phase und Struktur

Im Bereich der Kristallographie bieten wir Ihnen Röntgenbeu-gungs- und Ionenstrahlmethoden an. Diese Analysen umfassen die klassische Röntgenbeugung (XRD), Pulver-XRD, Hochauflösungs-XRD, Kristalldiffraktometrie, Elektronenbeugung, Bestimmung von Polfiguren oder Channeling.

Mechanisch

Zur Bestimmung mechanischer Eigenschaften stehen verschiedenePrüfvorrichtungen im Temperaturbereich von -196 °C und 300 °C und bei Prüfkräften von 1 mN bis 250 kN zur Verfügung. Als Ergänzung können Mikro- und Nanohärtebestimmungen (Nanoindenter und Universalprüfmaschinen), Haftfestigkeit von Beschichtungen, Tribologie und Verschleißmessungen, Schallemissions- und optische Verformungsanalysen durchgeführt werden.

Chemisch

Zur chemischen Analyse stehen zahlreiche zerstörungsfreie spekt-roskopische Methoden zur Verfügung. Wir können die chemische Zusammensetzung und deren Funktionalität bei hoher lateraler Auflösung bestimmen. Diese auch tiefenaufgelöst bis zur atomaren Skala durch Tiefenprofile. Die Methoden hierfür umfassen z.B. AES, XPS, RBS, EDX, UPS, EELS, SIMS oder Raman-Spektroskopie.Die element- und molekülspezifischen Spektroskopiemethoden um-fassen ATR, NMR, ESR, FT-IR und Fluoreszenz. Mit Hilfe von UV-VIS Messungen können zusätzlich Materialeigenschaften in Reflexion an Pulvern und in Transmission bzw. Absorption an Flüssigkeiten durchgeführt werden.Verfügbare massenspektrometrische Untersuchungsmethoden sind GC-MS sowie ESI- und LIFDI-TOF (mit Option zur Feinmassenbestim-mung sowie Fragmentierungsanalyse (MS-MS)).Eine quantitative Elementbestimmung kann mittels ICP-OES und Elementaranalyse (CHNS) durchgeführt werden.Zur Analyse von porösen Materialien stehen Sorptionsanalysen zur Verfügung (Bestimmung der Oberfläche (BET), Porengrößenvertei-lung).

Magnetisch

Für globale magnetische Eigenschaften stehen Magnetometrie-methoden wie SQUID und MOKE zur Verfügung. Magnetische Domänenstrukturen werden durch MFM und SMRM bis in den Nanometerbereich hinein abgebildet.

Elektronisch

Elektronische Transporteigenschaften werden durch Leitfähig-keits-, Hall-, und Seebeckmessungen bestimmt. Dielektrische Eigenschaften und Wechselwirkungen bis hin zu atomaren Längenskalen sind durch verschiedene Spektroskopiemethoden zugänglich.

Thermisch

Mit Hilfe von thermischen Verfahren können die physikalischen und chemischen Eigenschaften eines Stoffes oder Gemisches, sowie die freiwerdenden Gase in Abhängigkeit der Temperatur analysiert werden. Als Methoden stehen u.a. TGA-IR-GCMS, DDK, DSC, DTA, DMA, DEA, Dilatometrie (thermo-mechanisch) oder Wärmeleitfähigkeitsbestimmung zur Verfügung.

Mikroskopie und Topographie

Wir verfügen über eine Vielzahl an Messmethoden zur Analyse von Defekten, Probenstrukturen und Oberflächen bis in den Nano-meterbereich hinein. Diese umfassen u.a. Elektronenmikroskopie (REM, TEM) kombiniert mit EDX, EBSD und EELS. Optische Digital-mikroskopie und Röntgen-Computertomographie.Die Darstellung der Oberflächenbeschaffenheit (Topographie) und die Bestimmung der Oberflächenrauigkeiten können zwei- oder dreidimensional mit Hilfe von Rasterkraftmikroskopie (AFM) und Profilometrie (DEKTAK, UNAT) erfolgen.

Wir greifen auf die Analysemethoden und das Know-how derInstitute für Physik und Materials Resource Management zurück