Impegno del gruppo di Napoli per NEMO-RD

-Test elettronica di piano (funzionamento, controllo qualita’, calcolo affidabilita’)

-Implementazione di elettronica rivolta all’acquisizione e trasmissione dati

-partecipazione all’integrazione dei piani per le fasi 1 e 2.

-progettazione realizzazione meccanica di componenti necessari all’integrazione nellefasi 1 e 2.

-algoritmi di trigger e simulazioni (nuovo) (prof. Longo).(non conteggiato in FTE)

+collaborazione di A.Aloisio (P.A) e F.Cevenini (P.O.) gruppo 5/NA exp. Dream:ottimizzazione Link ottici sincroni con applicazione a NEMO-RD

Controllo Qualità e Calcolo di Affidabilità per l’elettronica di NEMO fase1, fase 2 & KM3

Qualifica (spec. MIL 883)

Guasti infantili:•Termografia•Test termici in camera climatica•Test di vibrazione

Calcolo Affidabilità(spec. MIL 217F)

Guasti casuali

•tempo di vita dei dispositivi

Test da effettuare sull’elettronica esistente(FE, FCM, Slow control …)

QualificaTest termici (termografia)

TX @ 51.5C20 C 60 C

PCB @ ~40C I2C Probe @ 54.5CRX @ 58C

Analisi termografica dell’elettronica (ricerca di hot spot)

LDO @ 40.6C

LDO @ 33C

DWDM @ 26C

60 C

20 C

QualificaTest termici (camera climatica)

Elettronica sottoposta a cicli termici standard e controllata attraverso sensori (mortalità componenti)

Qualifica:Test vibrazionali

Elettronica sottoposta a cicli di vibrazione standard e controllata attraverso accelerometri (test montaggio componenti)

Test completo: termico----vibrazioni----termico

Calcolo affidabilità

Calcolo tempo di vita medio dei componenti

(t)

t

guastiinfantili

guasticasuali

guastiper usura

Test termicie vibrazionali

Calcolo tempo di vita

Elettronica di nuova concezione

In fase di progettazione:•Test FMECA•Calcolo affidabilità

In fase di realizzazione:•Test termografici•Test termici•Test vibrazione

Test da effettuare durante lo sviluppocon feedback sul progetto

-Giancarlo Barbarino (P.O.)-Davide De Caro (Assegnista)-Napoli Ettore (P.A.)-Giuseppe Osteria (ricercatore INFN)-Stefano Russo (dottorando)-Petra Nicola (Dottorando)-Antonio Strollo (P.O.) totale 4.3 FTE + ….

nuovo: Giuseppe Longo (P.A.)Massimo Brescia (ricercatore)Antonino Staiano (assegnista)

Napoli In NEMO

Richieste integrative 2005Per continuare collaborazioneIn NEMO:

M.I.: 10 keuroConsumo: 12 keuro

Materiale inventariabile NEMO-RD/Napoli

I due strumenti che si intendono acquistare (telecamera a raggi infrarossi e cameraclimatica) permettono di migliorare notevolmente l’affidabilita’ dei circuiti elettro-nici soprattuto quando in condizioni di inaccessibilita’, ed e’ il caso di NEMO, venga richiesta una alta affidabilita’.Il primo, prodotto dalla ditta AGEMA permette di fare immagini termografiche di un circuito elettronico e relativi componenti allo scopo di individuare le regioni di maggioreriscaldamento e quindi ottimizzare il progetto riducendo i rischi di rotture. La camera climatica permette di effettuare test di funzionamento di circuiti elettroniciin diverse condizioni di temperatura dell’ambiente circostante. permette inoltre di fare test di invecchiamento precoce (burn-in), verificando l’eventuale rottura dei componenti nelle prime ore di funzionamento. Questi testvengono effettuate secondo standard e protocolli internazionali (MIL/NASA).

Gli strumenti descritti consentiranno di fare sull’elettronica di NEMO test di affidabilita’ seguendo quei protocolli tipici di alta affidabilita’ per ambienti ostili dovel’intervento umano si rende impossibile (spazio, profondita’marine).