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GERAÇÃO MODULAR AUTOMÁTICA DE ARQUITETURA PARA TESTES DE CIRCUITOS ELETRÔNICOS BASEADO NO PADRÃO
IEEE 1149.1
Orientador:Prof. Ms. Tiago da Silva Almeida
Discentes:Nágila de Araújo Vaz
Ródney dos Santos Mazuqui
JALES – SPNovembro, 2013
UNIJALES - Centro Universitário de Jales
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Circuitos
• O que são circuitos?• Como funcionam?
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Circuitos
• O sinal nas trilhas de um circuito.
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Circuitos
• Como era realizado o teste.
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Circuitos
• Como era realizado o teste.
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Circuitos de múltiplas camadas
• Circuitos de múltiplas camadas.• Sistemas complexos quase impossíveis
de serem testados.
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Circuitos de múltiplas camadas
• Parte da solução:• -Dividir um sistema complexo
em sub sistemas menores;• -Estabelecer padrões dos valores
de entrada e saída destes sub sistemas;• -Estabelecer quantos nós terá
o sub sistema.
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Testes
• O que o observar em um teste? • Controlabilidade é a capacidade de controlar nós
definidos dentro de um circuito;• Observabilidade é a capacidade de
observar os valores de nós definidosdentro de um circuito.
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Padrão de testes IEEE 1149.1
• É um padrão de testes homologado que facilita:-Detectar aberturas nas conexões entre circuitos integrados
• -Detectar e localizar falhas de ligações.• -Permite o uso de bibliotecas para circuitos.
-Pode ser usado em circuitos mistos
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Controlador TAP
• Controlador TAP - Test Acess Port
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Simulador Boundary Scan
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Framework
• Desenvolvimento de um framework de testes com a linguagem BSDL.
• C++ tem maior flexibilidade e reutilização de código.• A implementação em outros projetos se torna
mais fácil.
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Referências
• ALMEIDA, T. da S. Ambiente computacional para projetos de sistemas com tecnologia mista. 144 p. Dissertação (Mestrado) | Universidade Estadual Paulista, 2009.
• ALMEIDA, T. da S.; SILVA, A. C. R. da; SAMPAIO, D. J. B. Computacional tool to support design of dac converter model ad7528 with the object code in xml. In:
• Electronics, Robotics and Automotive Mechanics Conference (CERMA), 2012 IEEE. Cuernavaca, México: [s.n.], 2012. p. 1{6.
• ASHENDEN, P. J.; PETERSON, G. D.; TEEGARDEN, D. A. The System Designers Guide to VHDL-AMS. California, USA: Elsevier Science, 2003.
• ATHANASOPOULOU, E.; LI, L.; HADJICOSTIS, C. N. Maximum likelihood failure diagnosis in nite state machine under unreliable observations. IEEE Transactions on Automatic Control, v. 55, n. 3, p. 579{593, 2010.
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