freddy espinosa larriva seis sigma

8/9/2019 Freddy Espinosa Larriva Seis Sigma

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SIXSIGMASIXSIGMA

Mejorar procesosresolviendo problemas

Freddy Espinosa LarrivaDoctorado Ciencias Administrativas

UNMSM 2005


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SIXSIGMA

Seis SIGMASeis SIGMAComo mtrica: Manera de medir el desempeo deun proceso en cuanto a su nivel de productos oservicios fuera de especificacin.

Como filosofa de trabajo: Mejoramiento continuo

de procesos y productos apoyado en la aplicacinde una metodologa que incluye el uso deherramientas estadsticas.

Como meta: Procesos de clase mundial; al noproducir servicios o productos defectuosos (hasta3,4 DPMO).


3/52

SIXSIGMA

Seis SIGMASeis SIGMA

Es una estrategia de negocios basada en unenfoque hacia el cliente, en un manejo eficiente delos datos, metodologas y diseos robustos, quepermite eliminar la variabilidad en los procesos y

alcanzar un nivel de defectos menor o igual a 3,4defectos por milln.

Otros efectos adicionales son: la reduccin de lostiempos de ciclo, reduccin de los costos, altasatisfaccin de los clientes y, ms importante an,efectos espectaculares en el desempeofinanciero de la organizacin.


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5/52

SIXSIGMA

LAS ETAPAS DE LA METODOLOGASeis Sigma

D EF

INE

I

M

P

R

O

V

E

A N A L Y ZE

ME

A

SU

R

E


6/52

SIXSIGMA

Cadena transportadora6 x 30,000 Lbs


7/52SIXSIGMA

Aplicacin de la cadena transportadoraAplicacin de la cadena transportadora


8/52SIXSIGMA

Tenemos que pasar de ser una

empresa que corrige sus productos

defectuosos, a otra que corrige sus

procesos defectuosos

Jack Welch

La esencia del Seis Sigma


9/52SIXSIGMA

Lo que no se mide no se conoce.Si no podemos expresar nuestroconocimiento en forma de nmeros,

realmente no conocemos mucho.Si no conocemos lo suficiente, nopodemos controlar.

Si no podemos controlar estamos amerced del azar.Mikel J. Harry

POR QU MEDIR?


10/52SIXSIGMA

LAS DOS CARAS DE Seis SigmaLAS DOS CARAS DE Seis Sigma

Seis Sigma es a la vez GESTIN y

ESTADSTICA. La GESTIN sin ESTADSTICA es

intuicin, muchas veces peligrosa.

La ESTADSTICA sin GESTIN es unmero ejercicio terico.


11/52SIXSIGMA

Desempeos comparativos de Seis SIGMACuatro Sigma (99,38% conforme)

Siete horas sin energiaelctrica por mes

Una hora sin energiaelctrica cada 34 aos

5.000 operaciones quirrgicasincorrectas por semana

1,7 operaciones quirrgicasincorrectas por semana

3.000 cartas extraviadas porcada 300.000 despachadas

Una carta extraviada por cada300.000 cartas despachadas

200,000 recetas mdicaserrneas cada ao

68 recetas mdicas errneascada ao

Seis Sigma (99,99966% conforme)

Agua potable contaminadadurante quince minutos/da

Dos aterrizajes largos-cortos/da en mayores aeropuertos

Agua contaminada duranteun minuto/siete meses

Un aterrizaje largo o cortocada cincoaos


12/52SIXSIGMA

DEFINICION DEL PROBLEMA

Se trata de una empresa metalmecnica, una de cuyas

unidades de negocio se dedica a la manufactura decadenas transportadoras, de aplicacin en las plantasprocesadoras de harina de pescado.

Problema: En las ltimas semanas algunos clientes hanrealizado devoluciones de cadenas transportadoras, por noreunir las especificaciones tcnicas respecto a:

Dureza de algunos componentes, yResistencia a la traccin


13/52SIXSIGMA

FIGURA 1: Grfico de tendencias del indicadorde devoluciones en los ltimos meses

GRAFICO DE TENDENCIAS

Ago Set Oct Nov Dic Ene Feb Mar Abr May

JunJul

-5

0

5

10

15

20

25

MES

DEVOLUCIONES


14/52

MES REGISTRO INTERNO DEDEVOLUCIONES

Ago-03 1

Set-2003 2Oct-03 1

Nov-03 1

Dic-03 1

Ene-04 2

Feb-04 1

Mar-04 1

Abr-04 1

May-04 1

Jun-04 19

Jul-04 21


15/52

Smbolo Tipo de Defecto Cantidad (# )

A Paso mal calibrado entroquelado

1

B Baja Dureza en la placa 33C Baja Dureza en el pin 38D Baja dureza en la bocina 35

E Deficiencia en el acabadosuperficial

3

F Error en las dimensiones 2

G Error en la forma 2H Error de montaje 1

TOTAL 115


16/52SIXSIGMA

Histograma de Frecuencias de defectos (En

Devoluciones)

1

33

3835

3 2 2 1

0

5

10

15

20

25

30

35

40

A B C D E F G H

Defectos

Frecuencia


17/52

Defectos Nmero Porcentaje Acumulado %-Acum.

C 38 0.33 0.33 33.04

D 35 0.30 0.63 63.48

B 33 0.29 0.92 92.17

E 3 0.03 0.95 94.78

F 2 0.02 0.97 96.52G 2 0.02 0.98 98.26

A 1 0.01 0.99 99.13

H 1 0.01 1.00 100.00115


18/52SIXSIGMA

Grfico de Pareto

0510

1520253035404550556065707580859095

100105

0 1 2 3 4 5 6 7 8

Defectos

%A

cumu

lado

B C E F G A D H


19/52


20/52

Di d I hik D t i i d l i blDi d I hik D t i i d l i bl


21/52

SIXSIGMA

Diagrama de Ishikawa: Determinacin de las variablesDiagrama de Ishikawa: Determinacin de las variablessignificativassignificativas

Evaluacin del sistema de medicin


22/52

Evaluacin del sistema de medicin


23/52

SIXSIGMA

Tabla 14

Dureza Resistencia a la Traccin

Media 27.10 31,073

Desviacin estndar 7.00 4,620

Lmite de control inferior 20.10 26,453

Lmite de controlsuperior

34.10 35,692

Hallando los lmites decontrol (Inestable)


24/52

SIXSIGMA

Histograma de la variable crtica Dureza

0

2

4

6

8

10

12

14

13.5-18.5 18.5-23.5 23-5-28.5 28.5-33.5 33.5-38.5

Durezas (HRC)

Frecu

encia


25/52

Grfico de dispersin de durezas (devoluciones)

13141516171819202122232425262728

2930313233343536373839

40414243

0 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10111213 1415 16171819202122 23242526 2728 29303132 33343536 37383940

Nro. de pieza devuelta

DurezaRockwell"C"

LCS

LCI

LES

LEI


26/52

SIXSIGMA

Niv e l d e in e s ta b ilid a d d e l p

-5

0

5

1 0

1 5

1 01 11 21 31 41 51 61 71 81 92 02 12 22 32 42 52 62 72 82 93 03 13 23 33 43 53 63 73 83 94 04 14 24 3

D u r e z a

Frecuencias

L C I L C L E I L E S


27/52

SIXSIGMA

Histograma de la variable Resistencia

a la Traccin (Devoluciones)

0

2

4

6

8

10

12

14

16400-

19400

19400-

22400

22400-

25400

25-400-

28400

28400-

31400

31400-

34400

34400-

37400

37400-

40400

Resistencia a la traccin

Frecuencia


28/52

Grfico de Dispersin de Resistencia a la Traccin (devoluciones)

16,00017,00018,00019,00020,00021,00022,00023,00024,00025,000

26,00027,00028,00029,00030,00031,00032,00033,00034,00035,00036,00037,00038,000

39,00040,00041,00042,00043,00044,00045,00046,00047,00048,00049,00050,00051,00052,00053,00054,00055,00056,000

0 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 1213 14 15 16 17 18 19 2021 22 23 24 25 26 27 2829 30 31 32 33 34 35 3637 38 39 40

Pieza devuelta N

Libra

LCS

LCI

LEI

LES


29/52

SIXSIGMA

Nivel de inestabilidad del proceso

(Resistencia a la traccin)

-2

0

2

4

6

8

10

12

14

10000 15000 20000 25000 30000 35000 40000 45000 50000 55000

Resistencia a la Traccin (Lbs)

Frecuenci

LCI LCS LEI LES

Pruebas de repetibilidad


30/52

SIXSIGMA

Pruebas de repetibilidad


31/52

SIXSIGMA


32/52

SIXSIGMA


33/52

40.6 47,125

40.7 54,386

40.5 51,222

40.4 47,050

40.9 47,123

42.7 54,987

40.2 54,896

40.8 51,179

40.8 51,188

40.8 51,176

40.6 54,987

40.8 54,868

40.8 47,500

40.8 47,95940.8 47,345

40.5 47,569

40.8 47,652

40.8 47,097

40.8 47,20840.8 54,778

Tabla de probetas (Proceso Estable)



34/52

40.8 54,768

41 54,387

40.8 54,776

40.8 54,768

41.3 55,296

41.3 54,678

41.3 51,395

41.3 51,909

41.3 51,49541.3 51,388

41.3 54,890

41.3 51,989

41.3 51,223

41.3 51,230

41.3 47,777

41.3 47,090

40.8 47,987

40.8 47,324

41.2 51,443

40.8 51,368



35/52

SIXSIGMA

Tabla 14


Media 40,96 51.112

Desviacin estndar 0,41 3091,41

Lmite de control inferior 39,73 44.929

Lmite de controlsuperior 42,19 57.295

Hallando los lmites decontrol (estable)


36/52

SIXSIGMA

Grfico de dispersin de durezas

38

39

40

41

42

43

0 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10111213141516171819202122232425262728293031323334353637383940

Probetas

DurezaRockwell"C"

DUREZA ROCKWELL "C" Serie2 Serie3 Serie4 Serie5

LCS

LCI

LEI

LES


37/52

SIXSIGMA

H is tog ram a d e l a va r iab le c r tic

0

5

1 0

1 5

2 0

2 5

4 0 .2 -4 0 .7 4 0 .7 -4 1 .2 4 1 .2 -4 1 .7 4 1 .7 -4 2 .2 4 2 .2 -4 2 .7

D u r e z a s (H

Frecuencias


38/52

SIXSIGMA

Nivel de Estabilidad del proceso

-5

0

5

10

15

20

25

39 39,5 40 40,5 41 41,5 42 42,5 43

Durezas

F

recuencia

LCS LCSLEI LES


39/52

SIXSIGMA

Grfico de Estabilidad de Resistencia a la Traccin

43.000

44.000

45.000

46.000

47.000

48.000

49.000

50.000

51.000

52.000

53.000

54.000

55.000

56.000

57.000

58.000

0 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 1 1 12 1 3 14 1 5 16 1 7 18 1 9 20 2 1 22 2 3 24 2 5 26 2 7 28 2 9 30 3 1 32 3 3 34 3 5 36 3 7 3 8 39 4 0

Pruebas

Libras

LCS

LCI

LES

LEI


40/52

SIXSIGMA

OPTIMIZACION DEL PROCESO

Hemos visto que, como consecuencia del anlisis conapoyo del Diagrama de Ishikawa, detectamos que elsistema de control de calidad basado en inspecciones noha tenido la eficacia requerida; por lo tanto, lo hemosreestructurado, modificndolo por otro basado en controles

en la fuente.

Pruebas diarias, sucesivas, a lo largo de la semana del 19al 24 de julio, tanto para dureza como para resistencia a

la traccin, nos dieron como resultado una optimizacin delproceso, al eliminar una causa comn existente en nuestroproceso estable.

D i i d l ti i dD i i d l ti i d


41/52

SIXSIGMA

Descripcin del proceso optimizadoDescripcin del proceso optimizado

SIXSIGMA


42/52

SIXSIGMA


43/52

SIXSIGMA


44/52

SIXSIGMA

bl d i i d ( )


45/52

41.1 50,896

41.2 50,879

41.2 50,76841.1 50,768

41.1 50,854

41.2 50,764

41.1 50,876

41.2 50,263

41.2 50,663

41.1 50,782

41.2 51,030

41.2 51,054

41 51,054

41 51,188

40.9 51,188

40.8 51,188

41 51,188

40.9 51,188

41 51,188

Tabla de proceso optimizado (Capaz)


46/52

40.8 51,188

40.9 51,188

41 50,765

40.8 50,764

40.9 50,738

41.1 50,893

41.1 50,345

41.1 50,234

41 50,244

41 50,645

41 50,345

41 50,345

40.9 50,789

41 50,334

40.8 50,224

40.9 50,234

41.1 50,344

41.2 51,022

41.1 51,023

40.9 51,080

41 51,025

Tabla de proceso optimizado (Capaz)


47/52

SIXSIGMA


Media 41.03 50,789

Desviacin estndar 0.13 32,48

Lmite de controlinferior

40.78 50,124

Lmite de controlsuperior 41.28 51,454

Hallando los lmites de control (capaz)


48/52

SIXSIGMA

Grfico de dispersin de durezas

3939,239,4

39,639,8

4040,240,440,640,8

4141,241,441,641,8

4242,2

0 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10111213141516171819202122232425262728293031323334353637383940

Nro. de pieza devuelta

D

urezaRockwell

"C

DUREZA ROCKWELL "C" Serie2

Serie3 Serie4

Serie5

LCS

LCI

LEI

LES


49/52

SIXSIGMA

H istogram a d e la variab le crtica D u

0

2

4

6

8

1 0

1 2

4 0 .8 -4 0 .9 4 0 .9 -4 1 .0 4 1 .0 -4 1 -1 4 1 .1 -4 1 .2 4 1 .2 -4 1 .3

Du rezas (HR

Frecuencias


50/52

SIXSIGMA

Nivel de capacidad del proceso

0

2

4

6

8

10

12

39 39,5 40 40,5 41 41,5 42 42,5 43

Durezas

F

recuencia

LE LESLCI LCS


51/52

SIXSIGMA

Grfico de Capacidad (Resistencia a la Traccin)

43.000

44.000

45.000

46.000

47.000

48.000

49.000

50.000

51.000

52.000

53.000

54.000

55.000

56.000

57.000

58.000

0 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10111213141516171819202122232425262728293031323334353637383940

Pieza de Proceso

Libra

LES

LEI

LCS

LCI


52/52

A pesar de que el proceso resultante tiene unespectacular nivel de reduccin de losdefectos, debemos seguir monitoreando y

mantener el control del proceso.Para ello es necesario desarrollar algunasacciones cruciales, como son los Anlisis deModo y Efecto de Fallas (AMEF), con el

apoyo de tcnicas afines como las Grficasde Control, y otras.

CONTROLAR EL PROCESO Y MEJORARCONTINUAMENTE

freddy espinosa larriva seis sigma

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