emum 2018 analiz Ücretleriemum.deu.edu.tr/wp-content/uploads/2018/10/emum-fiyat-katalogu.pdf ·...

EMUM 2018 Analiz Ücretleri

ANALİZ ADI BİRİM BİRİM FİYATI XPS Analizi Adet 250.00 TL

XRD (Toz ve katı malzemeler için) pattern çekimi Adet 60.00 TL

XRD (İnce film malzemeler için) Adet 200.00 TL

XRD pattern çekimi sonrası faz analizi (Search match) Adet 150.00 TL

XRD (Tekstür analizi) Adet 600.00 TL

SEM-Numune hazırlama* Adet 75.00 TL

SEM İncelemesi Saat 250.00 TL

Yanmazlık (Alev geciktirme) testi, (UL 94 standardı) Adet 250.00 TL

ICP-OES numune hazırlama* Adet 50.00 TL

ICP-OES (Her bir element için) Element 60.00 TL

Nano partikül boyut ölçüm (Numune Hazırlama)* Adet 50.00 TL

Nano partikül boyut ölçümü (0.5 nm-10mikron arası) Adet 150.00 TL

Zeta potansiyeli (Numune Hazırlama)* Adet 50.00 TL

Zeta potansiyeli ölçümü Adet 150.00 TL

Nano öğütücü kullanım hizmeti Saat 250.00 TL

Nano indentasyon (Sertlik, Elestisite Modülü) 5 iz/numune 250.00 TL

AFM Saat 300.00 TL

DTA-TGA (Hava/Azot ortamında, max. 1000 oC) Adet 150.00 TL

FT-IR Adet 100.00 TL

Spektrofotometre (absorbans, kırılma ve geçirgenlik) Adet 100.00 TL

Fotoluminesans (PL) (Emission, Excitation) ölçümü Adet 100.00 TL

Floresans Decay zaman ölçümü (piko, nano ve mikro saniye aralıklarında) (Nano and microsecond flash lamp)

Adet 100.00 TL

VSM (Manyetik özellikler için) Adet 200.00 TL

HIP (1000-15000 psi arası)* Saat Sarf Bedeli + 200 TL/saatHIP (15000-30000 psi arası)* Saat

CIP (Max. 60000 psi) Saat 200.00 TL

Üniversitelere, Tübitak, San-Tez, vb. projelere % 50 indirim uygulanır.

(*) işareti bulunan analizlere indirim uygulanmaz.

Fiyatlara KDV (%18) dahil değildir.

Analizlerin Türkçe ve İngilizce cihaz sorumlusu tarafından yorumlanması ekstra ücrete tabidir.

Analiz sonrası 90 gün içerisinde geri alınmayan numunelerin sorumluluğu merkezimize ait değildir.

Numune Kabul ve başvuru:

Cesim Narmanoğlu

Tel: +90 (232) 301 90 10 Sekreterlik Tel: +90 (232) 301 90 01

E-posta: [email protected] [email protected]

Sarf Bedeli + 300 TL/saat

mailto:[email protected]

mailto:[email protected]

X-ışını Fotoelektron Spektroskopisi (XPS)

Cihazın Durumu: Çalışıyor

Cihazın Adı: Thermo Scientific Al K-Alpha

Cihaz hakkında: X-ışını fotoelektron spektroskopisi (XPS) malzemenin yüzeyi ile ilgili olarak

atomik ve moleküler bilgi sağlanması amacıyla kullanılan sayısal bir analiz tekniğidir. Çekirdek

seviyelerinin incelenmesi ve bunu takiben yayılan çekirdek fotoelektronların analiz edilmesiyle

numune yüzeyinin bileşimi ve elektrostatik seviyesi hakkında bilgi verir. XPS tüm katı

yüzeylerin elementel (H ve He hariç) ve kimyasal hal bilgisinin analizi için kullanılabilir.

Yüzeyden 10 nm’ lik bir derinlikte veri alarak elementel ve kimyasal analiz gerçekleştirir.

Aşağıdaki soruların cevabını bize sağlar;

Numune yüzeyinde hangi elementler bulunuyor?

Bu elementlerin hangi seviyeleri mevcut?

Farklı seviyelerde bulunan farklı elementlerden ne kadar mevcut?

Malzemelerin üç boyuttaki dağılımı nedir?

Malzeme yüzeyde ince bir tabaka halinde mevcut ise, derinliğe bağlı her katmandaki

elementel durum nedir?

Film kalınlığı düzenli mi? Filmin kimyasal bileşimi düzenli mi?

Uygulama Alanları:

XPS saf ve uygulamalı tüm bilim dallarında- bunun yanı sıra sorun giderme ve kalite güvence

amaçlı- yaygın olarak kullanılmaktadır. En çok kullanılan uygulama alanları bazı ana

başlıklar altında toplanabilir.

• Metaller ve alaşımların yüzeylerinin mikroanalizi

• Mineral yüzey çalışmaları

• Polimer çalışmaları

• Tıbbi amaçlı kullanılan malzemelerinin analizi

• Çimento ve beton yüzeyleri çalışmaları

• Temel atomik fizik çalışmaları

Cihaz Bilgileri:

Analyzer: 180° double focusing hemispherical analyzer with 128-channel detector

X-ray source: Al-Ka micro-focused monochromator with variable spot size (30-400µm in

5µm steps)

Ion Gun: Energy Ranges (100-4000eV)

Charge Compensation: Dual beam source

Vacuum System: 2x 260L/s turbo molecular pumps for entry and analysis chambers

Analyze modes: Point Analysis (General + Partial), Linear Analysis, Mapping and Depth

Profiling

Örnek Teslim Şartları:

• Numune Tutucu: 4-eksenli örnek tutucu, 60x60mm örnek alanı, 20mm maksimum

numune kalınlığı

• Numunelere asla el değmemeli ve temiz olmalıdır. Aksi takdirde cihazda kirlilik tespit

edilebilir. Bu da sonuçlarınızı değiştirebilir.

• Toz numunelerin miktarı minimum 5 mm çapındaki bir alanı dolduracak seviyede

olmalıdır.

*Numuneler kesinlikle nem içermemelidir !!!

Fiyat Listesi için Tıklayınız.

X-ışını Difraktometresi (XRD)


Cihazın Adı: Thermo Scientific ARL K-Alpha

Cihaz hakkında: X-Işını Kırınım yöntemi (XRD), her bir kristalin fazın kendine özgü atomik

dizilimlerine bağlı olarak, X-ışınlarını karakteristik bir düzen içerisinde kırması esasına

dayanır. Her bir kristalin faz için bu kırınım profilleri nicel olarak o kristali tanımlar. X-Işını

Kırınım analiz metodu, analiz sırasında numuneyi tahrip etmez ve çok az miktardaki

numunelerin dahi analizlerinin yapılmasını sağlar. XRD cihazıyla numunelerin kırınım

profilleri ile birlikte faz analizi (search match) ve tekstür analizleri de yapılabilmektedir.

Uygulama Alanları:

• Toz, bulk ve ince film kaplamaların kırınım profillerinin çıkarılmasında,

• Minerallerin ve kayaçların tanımlanmasında,

• Metal ve alaşım analizlerinde,

• Polimerlerin analizinde,

• Kırınım profili çıkarılan numune için fazların belirlenmesinde,

• Polikristal katı malzemelerde tekstür analizi ile kristallerin tercihli yönlenmelerinin

belirlenmesinde kullanılır.

Cihaz Bilgileri:

Angular resolution: <0.04o FWHM

X-ray source: Cu-Kα

Normal scan speed: (0.1° 2θ/s)


• Toz numunelerin miktarı minimum 5 mm çapındaki bir alanı dolduracak seviyede ince

öğütülmüş şekilde (min. 100-150 mg) olmalıdır.

• İnce film ve katı malzeme örnekleri, min 0.5x0.5 cm - max. 2x2 cm boyutlarında

olmalı, maksimum numune kalınlığı 7 mm olmalıdır.


Taramalı Elektron Mikroskobu (SEM)


Cihazın Adı: COXEM EM-30 Plus Taramalı Elektron Mikroskobu (SEM)

Cihaz hakkında: SEM görüntüsü, yüksek voltaj ile hızlandırılmış elektronların, yüksek vakum

ortamında, numune üzerine odaklanması, bu elektron demetinin numune yüzeyinde taratılması

sırasında elektron ve numune atomları arasında oluşan çeşitli etkileşimler sonucunda oluşan

ürünlerin uygun algılayıcılarda toplanması ve sonuç olarak ekrana aktarılmasıyla elde edilir.

SEM analizlerinde temel olarak algılanan ürünler ikincil elektronlar (secondary electrons, SE)

olarak tanımlanır. İkincil elektronlar numune yüzeyinin 10 nm veya daha düşük derinlikten

geldiği için numunenin yüksek çözünürlüğe sahip topografik görüntüsünün elde edilmesinde

kullanılır. İkincil elektronların yanında geri saçılan elektronlar (BSE), karakteristik X-ışınları,

ışık (katot ışını) (CL), numune akımı ve aktarılan elektronlarla da numuneden çeşitli sinyaller

elde edilerek amaca uygun topografi ve kompozisyon analizleri yapılır. Ayrıca cihazda bulunan

düşük vakum moduyla kaplama yapılmamış yalıtkan örnekler, polimerler, cam örneklerin

analizi yapılabilmektedir.

Uygulama Alanları:

• Doğal kaynakların morfolojisini araştırma uygulamaları,

• Malzemelerin sahip olduğu kusurların ve aşınma özelliklerinin saptanması,

• Malzemelerin yüzey özellikleri, kaplama kalınlığı, partikül boyutu, morfolojisi gibi

özelliklerin belirlenmesinde kullanılır,

• İmal edilen bileşenlerin rutin analizler sonucunda kalite standartlarına ve dayanıklılık

gereksinimlerine uyup uymadığının araştırılması,

Cihaz Bilgileri:

Magnification: x20 ~ x150,000 (Effective :~ x80,000)

Accelerating Voltage: 1kV to 30kV

Electron Gun: Tungsten Filament(w)

Detector: SE Detector, BSE Detector

Maxium Sample Size: 45mm (H), 60mm (Diameter)

Vacuum System:· Turbo molecular pump (less than 3min), low vacuum mode


• Toz numuneler minimum 30 mg olmalıdır.

• Numunelerin iletken yada yalıtkan olduğu belirtilmelidir.

• Numuneler nem içermemelidir.

• Katı numune ve ince film numune boyutları max 3x3 cm, yüksekliği de max 2 cm

olmalıdır.


Diferansiyel Termal Analiz – Termogravimetrik Analiz Sistemi

(DTA-TGA)


Cihazın Adı: Perkin Elmer STA 6000 Diferansiyel Termal Analiz – Termogravimetrik

Analiz Cihazı

Cihaz hakkında: Termal Analiz yöntemi, malzemelerin fiziksel özelliklerinin sıcaklığa bağlı

olarak değişiminin incelendiği bir yöntemdir. Termal Analiz, malzemelerin kontrollü bir

şekilde ısıtılarak, malzemelerin fiziksel özelliklerinde (ağırlık, absorplanan ya da açığa çıkan

ısı vs.) meydana gelen değişimin sıcaklığın bir fonksiyonu olarak ölçüldüğü yöntemleri içerir.

DTA-TGA sisteminde numune ve referans arasındaki sıcaklık farkını ve ağırlık değişimini eş

zamanlı olarak ölçmeye yarayan bir sistemdir. Sıcaklık farklılıkları, numunedeki sıcaklığın

değişimiyle meydana gelen endotermik ve/veya ekzotermik reaksiyonlar sonucunda

oluşmaktadır. TGA-DTA cihazı ile değişik malzemelerin erime, camsı geçiş sıcaklığı,

süblimleşme sıcaklıkları, kütle kaybı/kazancı, faz değişimi ve oksitlenme gibi özellikleri

belirlenebilir.

Uygulama Alanları:

• Toz ve katı malzemelerdeki ağırlık kaybı,

• Bozulma sıcaklığı tayini,

• Ekzotermik/endotermik reaksiyonların belirlenmesi,

• Reaksiyonlarda meydana gelen entalpi değişimi,

• Polimerlerde camsı geçiş sıcaklığının belirlenmesi,

• Diferansiyel termogravimetrik analiz eğrisinin çıkarılması.

Cihaz Bilgileri:

Sensor: Pure platinum pan holder and reference ring

Balance resolution: 0.1 µg

Temperature range: Room temperature to 1000 oC

Heating rate: 0.1 to 100 oC/min

Sample pans: Alumina 180 µl


• Toz numunelerin miktarı minimum 5-15 mg arasında olmalıdır.

• Katı malzeme örnekleri, max 3x3 mm boyutlarında olmalı, maksimum numune

kalınlığı 3 mm olmalıdır (toz halinde olmaları tercih edilir).

• Analizin gerçekleştirileceği atmosfer ortamı (Azot/Hava) ve sıcaklık belirtilmelidir.


FOURİER DÖNÜŞÜMLÜ KIZILÖTESİ SPEKTROSKOPİSİ (FT-IR)


Cihazın Adı: Thermo scientific NICOLET iS10

Cihaz hakkında: Infrared (IR) spektroskopisi; moleküllerdeki çeşitli bağların titreşim frekanslarını ölçer ve moleküldeki fonksiyonel gruplar hakkında bilgi verir. İnfrared spektroskopisinin en çok kullanıldığı alan organik bileşiklerin tanımlanmasıdır; bu maddelerin spektrumlarında çok sayıda maksimum ve minimumların olduğu absorbsiyon bantları bulunur ve bunlar maddelerin birbirleriyle kıyaslanmasına olanak verir.

Aşağıdaki soruların cevabını bize sağlar;

1) Organik bileşiklerin yapısındaki fonksiyonel gruplar nelerdir?2) Yapısı bilinmeyen iki organik bileşik aynı mıdır?

Uygulama Alanları:

Fourier Dönüşümlü Kızılötesi Spektroskopisi (FT-IR) çeşitli alanlarda daha çok nitel analiz ve karakterizasyon çalışmaları için kullanılmakla beraber nicel analiz için de kullanılan bir yöntemdir.

• Organik bileşiklerin yapısının aydınlatılmasında• Karbohidrat, fosfolipit, aminoasit ve proteinlerin yapı analizlerinde• Polimerler ve Plastiklerin karakterizasyonunda• Farmasötik bileşiklerin yapılarının aydınlatılmasında

Cihaz Bilgileri:

Spektrum Aralığı: 7800-350 cm-1 optimized, mid-infrared KBr beamsplitter

11000-375 cm-1 XT KBr extended range mid-infrared optics

Derinlik: 550 mm

ATR Aparatı

Cihaza ait dayanıklı, yüksek performanslı elmas ATR yüksek kalite spektral veri alınmasını sağlar Ayrıca uçucu sıvıların analizine de olanak sağlar.


1) Örnekler sıvı veya katı formda olabilir.


Nano İndentasyon Test Cihazı


Cihazın Adı: The IBIS nanoindentation System

Cihaz hakkında:

- Nano indentasyon test cihazı değişik malzemelerden oluşturulan ince filmlerin mekanik

özelliklerini (sertlik, elastisite modülü) belirlemekte kullanılır. Uygun bir indenter kullanılarak

örnek yüzeyine dik olacak şekilde belirlenen bir maksimum değere kadar yük uygulanır ve bu

maximum yük değerine ulaştıktan sonra tekrar dereceli olarak geri yükleme yapılır. Yükleme

ve geri yükleme sonucunda elde edilen Yük (N) - Derinlik (nm) eğrileri analiz edilerek

numunenin mekanik özellikleri belirlenir.

- Scratch test cihazı ince film ve kaplamaların yüzeylerinin kırılma, deformasyon ve yapışma

gibi mekanik özelliklerini belirlemek için kullanılır. Aynı zamanda altlık ve film sisteminin

sürtünme ve yapışma kuvvetini karakterize etmede kullanılır.

Uygulama Alanları:

• Değişik türdeki malzemelerin (yarıiletkenler, camlar, seramikler, kompozitler ve

biyomalzemeler) sertlik ve elastisite modülü ölçümleri,

• İnce film ve kaplamaların yüzeylerinin kırılma, deformasyon ve yapışma gibi mekanik

özelliklerini belirlenmesi,

• İnce film kaplamaların yüzey incelemeleri,

• Organik ve inorganik malzemelerin yüzey incelemeleri.

Cihaz Bilgileri:

Nanoindentasyon Test Cihazı:

Load range: 0‐500 mN

Digital resolution: 0.01 µN

Normal scan speed: (0.1° 2θ/s)

Scratch Test Cihazı:

Lateral force range: ±20 mN/ ±200 mN dual range. Higher ranges available to order to ±1 N

Theoretical resolution: 0.0006 mN/ 0.006 mN

Actual noise floor: 0.005 mN/ 0.01 mN

Maximum scratch length: 66 mm

Maximum scratch speed: 2000 µm/sec


• Bütün örnekler düz ve parlatılmış olmalıdır.

• Örnekler maksimum 15 milimetrelik bir çap içerisine yerleştirilebilmelidir.

• İncelenecek yüzey yerleştirme yüzeyine paralel ve 8 milimetreden küçük olmalıdır.


Atomik Kuvvet Mikroskobu (Atomic Force Microscope-AFM)


Cihazın Adı: DME Tools DS 95-50

Cihaz hakkında: Atomik boyutlara kadar sivriltilmiş bir iğne ucu yardımıyla, yüzeyin yüksek

çözünürlükte, üç boyutlu görüntülenmesini sağlar. Görüntüleme, iğne ucunun yüzey ile

etkileşiminin incelenmesi sonucunda gerçekleştirilir. Değişik amaçlar için farklı iğne uçları

kullanılır. Atomik kuvvet mikroskopu üç farklı teknik ile kullanabilmektedir. Bunlar; iğnenin

yüzeye temas ettirilerek uygulandığı temas yöntemi, iğnenin yüzeye temas etmediği temassız

yöntem ve iğnenin yüzeye vurularak uygulandığı vurma yöntemidir.

Uygulama Alanları:

• İnce film kaplamaların yüzey incelemeleri.

• Organik ve inorganik malzemelerin yüzey incelemeleri.

• Yüzey incelemeleri yüzey düzgünlüğü konularında yapılabilmektedir.

Cihaz Bilgileri:

Scanner Modes: Contact mode (DC), intermittent mode (AC)

Scan range: 50 µm x 50 µm x 5 µm

Accuracy and noise: Hardware linearized scan motion in z direction

Noise Level < 0.05 nm rms in vertical direction (Z)

Scan Speed: up to 100 µm/s (DS 95 50)

Detection: Self adjusting laser / cantilever deflection system

Min. amplitude setting in AC mode < 1 nm


Örnekler maksimum 20 milimetrelik bir çap içerisine yerleştirilebilmelidir.

İncelenecek yüzey yerleştirme yüzeyine paralel ve pürüzlülüğü max. 500 nm olmalıdır.


Partikül Boyut Analizi ve Zeta Potansiyeli Ölçüm Sistemi


Cihazın Adı: Malvern Zetasizer Nano ZS Partikül Boyut ve Zeta Potansiyel Ölçüm Cihazı

Cihaz hakkında: 90 derecelik açıda bulunan dedektörü ve dinamik ışık saçılımı metodu ile,

giriş seviyesinde partikül ve moleküler boyut ölçümü yapan bir cihazdır. Ayrıca, Laser Doppler

Microelectrophoresis metodu ile zeta potansiyel ve elektroforetik mobilite; Statik Işık Saçılımı

metodu ile de moleküler ağırlık ölçümüne olanak sağlar. Zeta potansiyel, taneler arasındaki

itme veya çekme değeri ölçümüdür. Zeta potansiyel ölçümü dağılma mekanizmaları ile ilgili

ayrıntılı bilgi verir. Belli bir yükteki tane, süspansiyon içerisindeki karşı yükteki iyonları çeker,

sonuç olarak, yüklü tanenin yüzeyinde güçlü bir bağ yüzeyi oluşur ve daha sonra da yüklü

tanenin yüzeyinden dışa doğru yayılmış bir yüzey oluşur. Yayılmış bu yüzey içersinde "kayma

yüzeyi" diye adlandırılan bir sınır bulunur. Yüklü tane ve onun etrafında bulunan iyonların

kayma yüzey sınırına kadar olan kısım tek bir parça olarak hareket eder. Bu kayma yüzeyindeki

potansiyel zeta potansiyeli olarak isimlendirilir.

Uygulama Alanları:

• Toz metalürjisi,

• Pigmentler,

• Nanopartiküller,

• Partikül boyut dağılımının belirlenmesi,

• Zeta potansiyeli ölçümü,

• Isoelektrik.noktanın belirlenmesi.

Cihaz Bilgileri:

Particle size measurement:

Measurement range: 0.3nm – 10.0 microns (diameter)

Measurement principle: Dynamic Light Scattering

Minimum sample volume: 12µL

Zeta potential measurement:

Measurement range: 3.8nm – 100 microns (diameter)

Measurement principle: Electrophoretic Light Scattering

Minimum sample volume: 150µL (20µL using diffusion barrier method)

General:

Temperature control range: Room temperature - 90°C,

Light source: He-Ne laser 633nm, Max 4mW.


• Sıvı içerisinde % 2’den az katı içeren min. 5 cm3 sıvı hazırlanmalıdır.

• Sıvı içerisindeki katının ultrasonik banyo içerisinde tutularak homojen dağılımı

sağlanmalıdır.


UV-VIS SPEKTROFOTOMETRESİ


Cihazın Adı: SHIMADZU UVmini-1240

Cihaz hakkında: Ultraviyole ve görünür ışık (UV-Vis) absorpsiyon spektroskopi bir ışın demetinin bir örnekten geçtikten veya bir örnek yüzeyinden yansıtıldıktan sonraki azalmasının ölçülmesidir. Işığın şiddetinin azalması absorplamanın arttığını gösterir. Örneğin derişimi belirli bir dalgaboyundaki absorpsiyonunu ölçerek bulunur. UV-Vis spektroskopi genellikle çözeltideki moleküller veya inorganik iyon ve komplekslerin ölçümünde kullanılır. Birçok molekül UV veya Vis dalgaboylarını absorplar ve farklı moleküller farklı dalga boylarını absorplarlar. Bir absorpsiyon spektrumu molekülün yapısını gösteren birçok absorplama bantlarından oluşmaktadır.

Uygulama Alanları:

• Su ve çevre analizleri • İlaç uygulamaları • Biyokimyasal uygulamalar

Cihaz Bilgileri:

Spektrum Bant Genişliği: 5nm

Dalga Boyu Aralığı: 190.0~1100.0nm

Dalga Boyu Kesinliği: ± 1.0nm

Dalga Boyu Tekrarlanabilirliği: ± 0.3nm

Tarama Hızı: Dalga Boyu Değişimi: Yaklaşık olarak 3800nm/min Tarama: 24~1400nm/min

Işık Kaynağı: 20W Halojen Lamba

Döteryum Lambası (socket type)

Maksimum Duyarlılık için otoayarlama mevcuttur.

Monokromatör: Incorporates aberration-correcting concave blazed holographic grating

Detektör: Silikon Fotodiyot


Örnek çözelti halindeyse, çözücü ve kullanılan örnek hazırlama prosedürü ayrıntılı olarak

belirtilmelidir. Örnek çözeltisi berrak olmalı ve kör ölçümleri için yeterli miktarda çözücüde

getirilmelidir.


UV-VIS SPEKTROFOTOMETRESİ


Cihazın Adı: Thermoscientific Evolution 600

Cihaz hakkında: Ultraviyole ve görünür ışık (UV-Vis) absorpsiyon spektroskopi bir ışın demetinin bir örnekten geçtikten veya bir örnek yüzeyinden yansıtıldıktan sonraki azalmasının ölçülmesidir. Işığın şiddetinin azalması absorplamanın arttığını gösterir. Örneğin derişimi belirli bir dalgaboyundaki absorpsiyonunu ölçerek bulunur. UV-Vis spektroskopi genellikle çözeltideki moleküller veya inorganik iyon ve komplekslerin ölçümünde kullanılır. Birçok molekül UV veya Vis dalgaboylarını absorplar ve farklı moleküller farklı dalga boylarını absorplarlar. Bir absorpsiyon spektrumu molekülün yapısını gösteren birçok absorplama bantlarından oluşmaktadır.

Uygulama Alanları:

• Yaşam Bilimleri

• Malzeme Bilimi

• Farmasötik

Cihaz Bilgileri:

Lamba: Xenon Flash Lamp

Detektör: Dual Matched Silicon Photodiodes

Kesinlik: ±0.004A at 1A, ±0.004A at 2A, ±0.006A at 3AÅ

Tarama hızı: 1 - 3,800 nm/min

Dalga boyu aralığı: 190 to 1100nm

Dalga boyu kesinliği: ±0.20 nm (546.11 nm Hg emission line); ±0.3 nm for 190 - 900 nm


1) Örnek katı formda olmalıdır.

2) İnce film ölçümleri için kaplamanın kuvartz cam üzerine yapılmış olması gereklidir.


Titreşen Örnek Magnetometresi (Vibrating Sample

Magnetometer-VSM)


Cihazın Adı: VSM550-100, Dexing Magnet Tech. Co.

Cihaz hakkında: Malzemelerin Histeresis döngüleri, Manyetizasyon eğrisi, Isıtma eğrisi,

Isıtma/Soğutma eğrisi, Soğutma eğrisi ve benzeri gibi manyetik materyallerin temel

özelliklerinin ölçümü için VSM kullanılabilir. Zaman değiştikçe sıcaklığın değişimi,

manyetizasyonun doymuş manyetik alan kuvveti, geride kalması, zorlayıcı kuvveti, maks.

Enerji ürünü, curie sıcaklığı ve manyetik iletkenlik (ilk manyetik iletkenlik dâhil edilir) gibi

değerleri elde edebiliriz.

Uygulama Alanları:

• Diamagnetic, Paramagnetic, Ferromagnetic, Ferrimagnetic, Antiiferromanyetik

malzemeler ve Anizotropik malzemeler

• Partikül ve sürekli manyetik kayıt malzemeleri ve GMR, CMR, değişimli ve spinvalve

malzemeleri

• Manyetik-optik malzemeler

• Bulk malzemeler, tozlar, ince filmler, tek kristaller ve sıvılar kolayca yerleştirilir

Cihaz Bilgileri:

Measure the scope of the magnetic moment: 10-2emu—300emu（Sensitivity：5×10-

5emu).

Relative accuracy (30emu): Better than ±1%

Repeatability (30emu): Better than ±1%.

Stability (30emu): Preheating 24 hours, 24 hours of continuous work superior ±1%.

Temperature range: From -196℃ to 900℃.

The magnetic Pole pitch for a fixed spacing is 40 mm, the pole face diameter is 60 mm.

Magnetic field: Supplied by the electromagnet, from 0 to 3.5T.


VSM ölçümleri için toz numuneler en az 300 mg olmalıdır.

Katı numuneler max. 4 mm çapında ve 10 mm uzunluğunda olmalıdır.


Sıcak İzostatik Presleme (Hot Isostatic Press-HIP)


Cihazın Adı: American Isostatic Presses (Hot Isostatic Press-HIP)

Cihaz hakkında: Sıcak izostatik presleme yöntemi (HIP), malzeme özelliklerini geliştirmek

veya toz metalürjiden net parça üretmek için yüksek basınç ile sıcaklığın es zamanlı

uygulandığı imalat ve ısıl işlem yöntemidir.

Basınç, genellikle argon veya benzeri asal gazlar tarafından uygulanırken sıcaklık grafit gibi

ısıtma elemanları tarafından sağlanmaktadır. Basınç 1035 - 3100 bar (15,000 - 45,000 psi) ve

Sıcaklık 500 - 2200°C (900-3990 F) değerlerindedir. Sıcak izostatik Preslerde tavsiye edilen

basınçlı kap kablo sarımlı ve ön-stres uygulanmış tasarımdır. (Wire Wound and Pre-stressed

Pressure Vessels).

Yüksek sıcaklık ve basınç değerleri malzemelerin özelliklerine göre değişkenlik gösterip

ergime sıcaklığının altında tutulmaktadır. Üretimde oluşan iç boşlukları ve gözenekliliği

ortadan kaldırmak için kritik uygulamalara yönelik üretilen parçaların HIP işlemine tabi

tutularak hatalarının giderilip mekanik özelliklerinin iyileştirilmesi sağlanmış olur. Sıcak

izostatik Presleme yöntemi, aynı zamanda iki veya daha fazla malzemenin bir arada katı veya

toz formunda bağlanmasına veya kaplanmasına imkân verir.

Sıcak Izostatik Presleme yöntemi, toz metalürjisinde tozu tam yoğun parçalara dönüştürmekte

de kullanılır. Bu şekilde, geleneksel eritme, presleme ve sinterleme üretim teknolojileriyle elde

edilenden daha ustun mekanik özellikler elde edilir. Toz, şekillendirilmiş sac metal içine

hapsedilir ve net şekle çok yakın parçalar üretmek için HIP işlemine tabi tutulabilir.

Uygulama Alanları:

-Seramik malzemeler,

-Döküm,

-İlaç sanayi

Cihaz Bilgileri:

HIP Specifications

Equipment Specifications:

Pressure vessel Forged body, shell, and end closures.

End closures Fully threaded.

Code Stamping ASME code stamped

Maximum Pressure 30,000 PSI

Vessel cooling Water cooled

Pressure Controls Automatic and manual

Temperature Controls Automatic and manual

Ambient temperature limits 15 ˚C to 40 ˚C

Ambient relative humidity 10% to 90%

Pressure Ramping Ramping from low pressure to 30,000 PSI

Graphite Furnace Specifications:

Furnace Configuration Modular, blind plug in.

Heating Element Carbon-Carbon composite

Element Support Self Supporting

Thermal Barrier Graphite composite structure

Thermocouples Type “C”

Working Hot Zone 3.25” Diameter x 5.0” Long

Temperature uniformity Better than + 15 ˚C at 1800 ˚C Steady State

Maximum air exposure temperature 200 ˚C

Heating / Cooling rate Up to 40 ˚C per minute depending on pressure.

Heating zones Single heating zone.

Steady State Power Consumption 8.5 kW @ 1800 ˚C and 30,000 PSI

Furnace Weight 20 pounds

Maximum Workload Weight 20 pounds

Maximum Working Temperatures 1700 ˚C under vacuum

1800 ˚C below 500PSI

2200 ˚C 500 PSI to 30,000 PSI

Environment Argon or Nitrogen

Expected Furnace Life:

Thermal barrier 200+ cycles

Plug in components 500 cycles, dependant on handling

Hot Zone 150+ to 1800 ˚C with periodic maintenance

Thermal barrier Graphite composite structure

Thermocouples Dependent on temperature and handling


Numune çapı (max): 40 mm

Numune yüksekliği (max): 80mm

Numunelere ön şekil verilmiş olmalıdır. !!!


Soğuk İzostatik Presleme (Cold Isostatic Press-CIP)


Cihazın Adı: American Isostatic Presses (Cold Isostatic Press)

Cihaz hakkında: Soğuk izostatik presleme basıncın sürekli ve her yönden eşit olarak

uygulandığı bir sıkıştırma yöntemidir. Bu yöntemde toz malzemeler kalıp olarak hizmet eden

esnek bir elastik kap içerisine yerleştirilir. Kalıp basınç kabının içindeki bir sıvı ortamına

daldırılır ve böylece sıvıya uygulanan yüksek basınç sıvı yardımıyla sıkıştırılacak tozlara

iletilerek, tozlar üzerinde bir hidrostatik basınç oluşturulur. Daha sonra kalıp basınç kabından

çıkarılarak her bir parçanın kalıptan boşaltılması sağlanır. Sıvı ortam olarak su, yağ veya gaz

kullanılabilir. Sıkıştırma işlemi bir izostatik ortamda gerçekleştiği için basınç homojen bir

şekilde dağılmakta ve böylece uniform bir yoğunluk elde edilmektedir. Tek eksenli preslerin

aksine kalıp duvarı ile pres arasında sürtünmeden doğan kalıcı gerilmeler oluşmamaktadır.

Ayrıca sürtünme olmadığından herhangi bir bağlayıcı veya yağlayıcı ilavesine de gerek

kalmamaktadır. Karmaşık şekillerin son şekle çok yakın oranlarda ve çok küçük hata

toleransları ile üretimi mümkündür.

Uygulama Alanları:

-Seramik malzemeler,

-Döküm,

-İlaç sanayi

Cihaz Bilgileri:

Specifications

Vessel Type AIP, VCN060-03-12, monolithic forging, fully threaded

top closure.

Vessel Size 3” inside diameter x 12” inside length.

Max Operating Pressure 60,000 PSI

Pump Haskel, Model DXHF-002, air driven pump, 60,000 PSI.

Pressure Fittings Coned and threaded high pressure style, 60,000 PSI rated.

Valve “V” style with replaceable Stellite tipped stem and seat,

60,000 PSI.

Controls Astra, Bourdon tube type gauge, with adjustable contact,

Omron timer.

Safety Relief Rupture disk with 65,000 PSI burst rating.

Recommended Fluid Houghton International Co., Hydrolubric water soluble oil

#2A, or similar. Water based glycol solution is also

acceptable.(fluid must inhibit rust)

Temperature Limits 15 ˚C to 40 ˚C

Electrical 120V, 60Hz, 10 Amps, 3 wire grounded.

Weight 550 pounds

Dimensions 24” x 24” x 39” high


Numune çapı (max): 80 mm

Numune yüksekliği (max): 200 mm

Numunelere ön şekil verilmiş olmalıdır. !!!


Zaman Çözümlemeli Optik Spektroskopi


Cihazın Adı: Edinburgh Instruments FLSP920 Fluorescence Spectrometer (Steady State,

Lifetime, Phospherescence)

Cihaz hakkında: Floresans veya fosforesans özellik gösteren organik ya da inorganik

maddelerin eksitasyon, emisyon spektrumlarını ölçmede kullanılır. Ölçümler çözelti içerisinde

ya da katı fazda gerçekleştirilebilir. Bu yolla maddenin absorpsiyon ve emisyon yaptığı dalga

boyları belirlenebilir. Standart ölçümlerde 200 - 900 nm arasında çalışır. Belli dalga boylarında

(görünür bölge ve IR) pulslu lazer ışık kaynakları ile uyarma yapılarak nano saniye düzeyindeki

“decay time” ölçümleri (floresans ömrü) gerçekleştirilir. Mikro second flash lamb ile uyarılarak

mikro saniye düzeyindeki floresans ömrü ölçümleri alınabilir.

Uygulama Alanları: Fotofizik, fotokimya, biyofizik ve yarı iletken araştırmalarının geniş

alanlarında uygulamalar mevcuttur. Tek ve Çoklu Üssel Bozukluklar, Zamana Bağlı Emisyon

Spektroskopisi (TRES), Monomer Eksimer Kinetiği, Zamana Bağlı Floresans Anizotropisi,

Çözücü Gevşeme Dinamiği

• Biyomedikal,

• Malzeme fiziği,

• İlaç sektörü

• Sensör uygulamaları.

Cihaz Bilgileri:

Işık Kaynakları: Xe900 sürekli xenon lamba (200-900 nm), μF920 microsecond

flashlamp, nF920 nanosecond flashlamp

Detektörler: Single Photon Counting PMT, NIR dedektör (900-1500 nm)

Veri toplama Teknikleri: Single Photon Counting, MCS and TCSPC (spectral scanning,

kinetic measurements, fluorescence and phosphorescence decay

acquisitions)

Sistem Geometrisi: Optik Konfigürasyon Sağ açı geometrisi (standart)


Toz malzemeler (min. 1 gr ve homojen)

Katı malzemeler (min. 10 mm çapında ve min. 3 mm kalınlığında)

Sıvı malzemeler (min 10 ml)


emum 2018 analiz Ücretleriemum.deu.edu.tr/wp-content/uploads/2018/10/emum-fiyat-katalogu.pdf ·...

Documents