norma chilena oficial nch 44.of2007
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Procedimientos de muestreo para inspección por atributos- Planes de muestreo indexados por nivel de calidad aceptable (AQL) para la inspección lote por lote
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Edgardo Ojeda Barcos
Note
Temas a tratar Muestrarios de defectos. Diferencias entre los niveles de inspección. Las muestras no crecen como los lotes.
Edgardo Ojeda Barcos
Note
El tamaño de muestra 2000 es enorme Defectos y defectuosos No hay diferencia en la protección entre el muestreo doble y el simple. Diseñar una planilla de control de entradas de lotes y verificar AQL`s y control del proveedor Al bajar por las flechas el n solicitado podría se mayor que el lote ingresado.
Edgardo Ojeda Barcos
Note
Cuando me conviene ir a muestreo doble o quedarme en el simple
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